Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования МГУ им. М.В. Ломоносова «Технологии получения новых наноструктурированных материалов и их комплексное исследование» (ЦКП МГУ)

ЦКП создан в 2003 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Базовая организация данного ЦКП является координатором технологической платформы: Биоиндустрия и биоресурсы - БиоТех2030, Национальная суперкомпьютерная технологическая платформа
Адрес
  • Центральный, г. Москва
  • 119991, г. Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2
  • 🌎http://ckp-nano.msu.ru/
Руководитель
  • 👤Федянин Андрей Анатольевич
  • 📞(495) 9382210
  • info@physics.msu.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • выполнение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию наноматериалов;
  • исследование состава, структуры и основных физико-химических свойств наноматериалов методами массспектроскопии, газовой, газо-жидкостной и жидкостной хроматографии, дифференциальной сканирующей калориметрии теплового потока, термогравиметрического анализа, дифференциального термического анализа, капиллярного электрофореза, дифрактометрии, электронной (растровой и просвечивающей) и зондовой (туннельной, атомно-силовой и ближнепольной) микроскопии;
  • прецизионные спектральные исследования наноматериалов, включая фемтосекундную спектроскопию, низкотемпературную фотолюминесцентную спектроскопию, инфракрасную спектроскопию отражения и пропускания, спектроскопию комбинационного рассеяния, спектроскопию электронного парамагнитного и ядерного магнитного резонансов, мессбауэровскую спектроскопию;
  • работы по нанобиотехнологии, наномедицине и нанодиагностике с предоставлением возможности использования таких методов, как конфокальная и флуоресцентная микроскопия, комплекс молекулярно-биологических, иммунохимических и иммуногистохимических, биохимических методов.

119991, г. Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2

Оборудование (74)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35 (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки PerkinElmer Inc. Lambda 35 2002
ИК-спектрофотометр Spectrum One (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки PerkinElmer Inc. Spectrum One 2008
СКВИД магнитометр S700 (Cryogenic) с VSM модулем
Соединённые Штаты Америки Cryogenic Limited S700 2006
Установка для измерения комплексной магнитной восприимчивости APD SCC (Cryogenic)
Соединённые Штаты Америки Cryogenics APD SCC 1993
Настольная напылительная установка Q150T Turbo-Pumped Sputter (Carbon Coater)
Соединённые Штаты Америки Carbon Coater Q150T Turbo-Pumped Sputter 2014
Аналитический просвечивающий электронный микроскоп Libra 200MC (Carl Zeiss) с комплектом оборудования для пробоподготовки
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Libra 200MC 2012
Нанокалориметр Nanocalorimeter 1 (Mikromash)
Эстония Mikromash Nanocalorimeter 1 2007
Электрохимический потенциостат Solartron 1287 (Solartron Analytical Uni)
Великобритания Solartron Analytical Uni Solartron 1287 1999
Планетарная моно-мельница Pulverisette 6 (FRITCH)
Германия FRITCH Pulverisette 6 2014
Трехзонная лабораторная печь EVC 12/450 (Carbolite)
Соединённые Штаты Америки Carbolite EVC 12/450 2014
Установка для распылительной сушки Mini Spray Dryer B-290 (BUCHI)
Испания BUCHI Mini Spray Dryer B-290 2015
Лазерный анализатор частиц Analysette 22 NANOTEC (FRITSCH)
Германия Fritsch Analysette 22 NANOTEC 2014
Лазерный масс-спектрометр LAMMA-1000 (LEYBOLD-HERAEUS)
Германия LEYBOLD-HERAEUS LAMMA-1000 2013
Масс-анализатор ионов и нейтральных частиц INA-3 (LEYBOLD-HERAEUS)
Германия LEYBOLD-HERAEUS INA-3 2013
Микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21 (ЛОМО)
Россия ОАО ЛОМО МЕТАМ РВ-21 2013
Сублиматор криохимический SMH-15 (USIFROID)
Франция USIFROID SMH-15 1993
Микрозондовый аналитический комплекс LEO1455VP (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) LEO1455VP 2003
Ультрамикротом Ultracut-R (Leica Microsystems)
Германия Leica Microsystems Ultracut-R 2003
Жидкостный хромато-масс-спектрометр с двойной фокусировкой 1100LC (Agilent Technologies)
Германия Agilent Technologies Agilent 2004
Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов (Alcatel)
Франция Alcatel - 2005
Оптический тензитометр
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки FirstTenAngstrom FTA 1000B 2010
Анализатор удельной площади поверхности и пористости
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Gemini Gemini2390t 2010
Оборудование для ультратомии (ультрамикротом)
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Leica Micro-systems ULTRACUT UC6 2009
Спектральный комплекс на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов (Hamamatsu)
Германия Hamamamа-tsu, Advanced Research Systems Inc., LTBLaser-technik Berlin GmbH нет 2000
Люминесцентный спектрометр с приставками LS-55 (Perkin Elmer)
Соединённые Штаты Америки "Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc" LS-55 2009
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-510 Meta (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss MicroIma-ging GmbH LSM-510 Meta 2004
Сканирующий электронный микроскоп
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония JEOL Ltd. JSM-6380LA 2005
Просвечивающий электронный микроскоп
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония JEOL Ltd. JEM-1011 2005
Спектрофотометр Specord 50 PC (Analytik Jena)
Германия Analytik Jena AG Specord 50 PC 2003
Исследовательский микроскоп c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений Axioplan-2 Imaging (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss MicroImag-ing GmbH Axioplan-2 Imaging 2003
Проточный цитометр
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Beckman Coulter, Inc. FC500 2006
Электрохимическая система потенциостат/гальваностат (включая модуль спектроскопии)
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Нидерланды Eco Chemie B.V. AutoLab PGSTAT302 2008
Автоматизированная система высокого давления для синтеза наноматериалов Parr 4592 (Parr Instrument Company)
Соединённые Штаты Америки Parr Instrument Company Parr 4592 2007
Система формирования планарных структур PixDro LP50 (HQ Pixdro b.v.)
Нидерланды HQ Pixdro b.v. PixDro LP50 2007
Сухой бокс с контролируемой атмосферой Protector CA (Labconco)
Соединённые Штаты Америки Labcono Corporation Labconco Protector CA 2006
Сканирующий зондовый комплекс с регулируемым внешним магнитным полем ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Россия НТ-МДТ ИНТЕГРА Аура 2006
Нанокалориметр Nanocalorimeter 1 (Mikromasch)
Эстония Mikromasch Mikromash Nanocalo-rimeter 1 2009
Газовый хроматограф высокого разрешения с масс-спектроскопическим детектором Clarus 600 (Perkin Elmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc. Clarus 600 2007
Сублиматор
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Labcono Corporation Labcono Freezone 18 2006
Система для характеризации наночастиц Malvern Zetasizer Nano ZS
Великобритания Malvern Instruments Ltd Malvern Zetasizer Nano ZS 2007
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
Соединённые Штаты Америки Quantachrome Instruments Boynton Beach Quantachrome NOVA 4200e 2005
Металлографический микроскоп с термостатируемым держателем
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония Nikon Eclipse 600 pol 2004
Лазерный анализатор частиц FRITCH Analyzette 22
Германия FRITCH FRITCH Analyzette 22 2009
Комплекс дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc. Diamond Pyris TG/DTA 2002
Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид/БлИК-диапазона с оптической скамьей Lambda 950 (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Inc. Perkin-Elmer Lambda 950 2006
Атомно-эмиссионный спектрометр с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500 Optima ICP 5300DVK (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences, Optima ICP 5300DVK 2006
Рамановский спектрометр/микроскоп InVia (Renishaw)
Великобритания Renishaw plc Renishaw InVia 2007
Люминесцентный спектрометр LS-55 (Perkin Elmer) в комплекте с приставками
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences LS-55 2004
Установка для измерения комплексной магнитной восприимчивости Cryogenic Limited
Великобритания Cryogenic Limited Cryogenic Limited 2004
Масс-спектрометр ELAN DRC-II (PerkinElmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer Life And Analytical Sciences Perkin-Elmer ELAN DRC-II 2007
Рентгеновский дифрактометр c вращающимся анодом ultraX D/MAX-2500V/PC (Rigaku)
Япония Rigaku Corporation D/MAX-2500V/PC 2006
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа INCA Energy Oxford Supra 50 VP LEO
Германия LEO (Karl Zeiss Group) Supra 50 VP LEO 2003
Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2000 FXII (JEOL)
Япония JEOL Ltd. JEOL JEM-2000 FXII 1988
Фурье ЯМР спектрометр Avance III 400
Германия Bruker Bruker AVANCE 400 2004
Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP (Carl Zeiss)
Германия LEO (Karl Zeiss Group) LEO EVO 50XVP 2007
Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P (STOE Cie GmbH)
Германия STOE STOE STADI P 2006
Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7500 (Agilent Technologies)
Германия Agilent Technologies Agilent 7500 2004
Препаративный жидкостный хроматограф Agilent 1100 (Agilent Technologies)
Германия Agilent Technologies Agilent 1100 2003
ИК-Фурье спектрометр с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Bruker EQUINOX 55 2004
ЭПР-спектрометр ELEXSYS-E500-10/12 (Bruker)
Германия Bruker ELEXSYS-E500-10/12 2003
Газовый хроматограф Agilent 6890N (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies Agilent 6890N 2005
Прибор синхронного термического анализа
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия NETZSCH NETZSCH STA 449 C/4/G Jupiter 2006
Микроанализатор поверхности Autosorb 1-C/TCD/MS (Quantachrome)
Соединённые Штаты Америки Quantachrome Instruments Boynton Beach Quantochrome Autosorb 1-C/TCD/MS 2006
Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos
Германия NETZSCH NETZSCH 403C Aeolos 2005
Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 200 F3 Maya (NETZSCH-Geratebau)
Германия NETZSCH-Geratebau GnbH DSC 200 F3 Maya 2006
Термомикровесы
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия NETZSCH-Geratebau GnbH TG 209 F1 Iris 2006
Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix (NETZSCH-Geratebau)
Германия NETZSCH-Geratebau GnbH DSC 204 F1 Phoenix 2006
Времяпролетный масс-спектрометр с ионизацией МАЛДИ Autoflex II (Bruker)
Германия Bruker Autoflex II 2005
Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства Integra Aura (НТ-МДТ)
Россия ЗАО "Нанотехнология МТД" INTEGRA 2006
Дифрактометр STADI/P CuK (STOE)
Германия STOE STOE STADI P 2009
Микро Раман спектрометр
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Франция Horiba Jobun Yvon S.A.S. LabRAM HR Visible 2009
Инфракрасный спектрометр в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Bruker BRUCKER IFS-66v/S 2003
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12 (Bruker)
Германия Bruker ELEXSYS-E500-10/12 2005
Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера (ООО АВЕСТА ПРОЕКТ)
Литва ООО "АВЕСТА ПРОЕКТ" 2006

Услуги (21)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Синтез углеродных нанотрубок; замещенных фуллеренов; нанокомпозитов с периодической структурой; магнитных нанокластеров и наноструктур; инвертированных фотонных кристаллов; кремниевых анизотропных наноструктур; молекулярных наноструктур
Индустрия наносистем
Анализ наночастиц: измерение площади, пористости, размеров, контактного угла и каталитической активности
Индустрия наносистем
Исследование полевых и температурных зависимостей магнитной восприимчивости
Индустрия наносистем
Исследование методами импедансной спектроскопии
Индустрия наносистем
Исследование методами газовой, газо-жидкостной и жидкостной хроматографии
Индустрия наносистем
Исследования методом дифференциальной сканирующей калориметрии теплового потока
Индустрия наносистем
Исследования методом термогравиметрического анализа
Индустрия наносистем
Исследования методом дифференциального термического анализа
- наиболее востребованная услуга
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Исследование методом рентгеновской дифрактометрии и рентгеновский анализ
Индустрия наносистем
Исследование методами оптической, в т.ч. конфокальной, флуоресцентной, металлографической микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование методом масс-спектроскопии
Индустрия наносистем
Исседование материалов методом ближнепольной оптической микроскопии/спектроскопии
Индустрия наносистем
Исследование материалов методом электронной (растровой и просвечивающей) и зондовой (атомно-силовой и ближнепольной) микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование радионуклидного состава твердых и жидких тел
Индустрия наносистем
Измерение сигналов второй и третьей оптический гармоники
Индустрия наносистем
Спектроскопия ядерного магнитного резонанса
Индустрия наносистем
Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса
Индустрия наносистем
Фотолюминесцентная спектроскопия
Индустрия наносистем
Исследование структуры и состава наноматериалов методами ИК-спектроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния
Индустрия наносистем
Спектроскопия комбинационного рассеяния
Индустрия наносистем
спектрофотометрия, ИК-спектроскопия
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем

Методики (119)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика определдения содержания вулканизаторов и неэкстрагируемых наполнителей методом термогравиметрии в резинах и их производных
Методика определения содержания экстрагирующегося растворителя в резинах
Методика определения обычной температуры стеклования метолдом термического анализа в пластмассах и резинах
"Методики измерений методом кросс-корреляционной спектроскопии параметров угловой дисперсии времени жизни бегущих плазмонов в одномерно и двумерно наноструктурированных элементах МИ №66/11 01.00276-2008" ФГУП “ВНИИОФИ» 30.11.2011
Методика измерений методом кросс-корреляционной спектроскопии значений времени жизни бегущих поверхностных плазмонов, возбуждаемых в пленках благородных металлов нанометровой толщины при резонансной геометрии возбуждения МИ №65/11 01.00276-2008 ФГУП “ВНИИОФИ» 30.11.2011
Методика измерений значений нелинейнооптической восприимчивости для процессов самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниках методом накачка-зонд. МИ №25/11-01.00276-2008 ФГУП “ВНИИОФИ» 19.10.2011
Методика измерений дисперсии показателя преломления наноструктурированных образцов методом спектроскопии пропускания и отражения в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах. МИ №26/11-01.00276-2008 ФГУП “ВНИИОФИ» 19.10.2011
NF T 46-047/ Rubber and rubber products - Determination of composition of vulcanizates and uncured compounds by thermogravimetry (Notification n° KCM 7300/275)
NF T 46-100/ Rubber - Determination of solvent extract (Notification n° KCM 7300/275)
1405/ Plastics and rubbers - Conventional glassy transition temperature (thermal analysis) (Notification n° KCM 7300/275) Renault Technologies Romania Department of Engineering Materials - DIMat-R ***
Методика измерения потери массы (стандарт ISO/CD 11358) на термовесах NETZSCH TG 209 F1 ***
Методика определения температуры и энтальпии фазовых переходов между конденсированными фазами (стандарт ISO/CD 11357-1).на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***
Методика определения суммарного содержания примесей в фармацевтических препаратах (стандарт ASTM E 928-85) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***
Методика измерения теплоемкости индивидуальных веществ (стандарт ASTM E 1269 - 95) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix***
Методики вольтамперометрии (линейная, циклическая), хроноамперометрии и хронопотенциометрии., электрохимической спектроскопия импеданса для количественной характеристики электродных процессов и материалов.
Методики определения коэффициентов само- и гетеродиффузии в кристаллы дисперсных фаз при 280-360 К с помощью изотопного обмена и сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500
Методики определения содержания и распределения радионуклидов на поверхности твердых тел авторадиографическим методом и методами радионуклидной спектрометрии на базе сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500
Методики определения радионуклидного состава жидких и твердых тел и фонового содержания нуклидов в различных средах на базе сцинтилляционного спектрометра модель LS 6500
Методика определения концентрации и g-фактора парамагнитных центров в твердотельных наноматериалах с помощью спектрометра электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12
Методика измерения электропроводности наноматериалов на установке для измерения электрофизических параметров наноматериалов
Методика выполнения измерений среднего времени жизни люминесценции на спектральном комплексе на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов
Методика измерения проводимости и емкости наноструктур на различных частотах
Измерение площади поверхности с помощью микроанализатора поверхности Quantochrome Autosorb 1
Методики определения клеточных структур с изображений, полученных на сканирующем и просвечивающем электронных микроскопах JEM-1011 и JSM-6380LA.
Методика компьютерной обработки данных спектрофотометра Specord 50 PC, полученных в диапазоне 200-430 нм
Методики проведения многопараметрического анализа по результатам проточной цитометрии на приборе FC500 (проточный цитометр)
Методика получения объемного изображения органов объекта с помощью метода иммунофлюоресценции на инвертированном микроскопе Axiovert 200M.
Методика компьютерного редактирования изображений структур органов животных, полученных на микроскопе Axioplan-2 Imaging.
Методика изготовления ультратонких и полутонких срезов объектов для электронной микроскопии с помощью ультратома Leica Ultracut-R.
Методика измерения спектров комбинационного рассеяния света на приставке FRA-106 к Фурье-спектрометру Equinox 55, Bruker.
Методика измерения спектров диффузного отражения веществ в ИК диапазоне длин волн на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.
Методика измерения спектров отражения веществ в ИК диапазоне длин волн на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.
Методика измерения спектров нарушенного полного внутреннего отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.
Методика измерения спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ в широком диапазоне длин волн (ИК, дальнем и ближнем ИК, видимом ) на Фурье-спектрометре Equinox 55, Bruker.
Методика определения температуры и энтальпии фазовых переходов между конденсированными фазами (стандарт ISO/CD 11357-1).на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.
Методика определения суммарного содержания примесей в фармацевтических препаратах (стандарт ASTM E 928-85) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.
Методика измерения теплоемкости индивидуальных веществ (стандарт ASTM E 1269 - 95) на дифференциальном сканирующем калориметре DSC 204 F1 Phoenix.
Методика измерения спектров ЯМР высокого разрешения на различных ядрах в широком диапазоне температур вплоть до -100 С на ЯМР-спектрометре Bruker AVANCE 400.
Методика определения строения химических соединений и механизмов химических процессов в конденсированных средах на ЯМР-спектрометре Bruker AVANCE 400.
Методика определения строения комплексов переходных металлов с органическими лигадами различного строения и количественного состава смесей таких комплексов на жидкостном хроматомасс-спектрометре с двойной фокусировкой1100LC.
Методика проведение полного дифференциально-термического и термогравиметрического анализа материалов на термоаналитическом комплексе Diamond Pyris TG/DTA.
Методика определения температурной зависимости пороводимости на электрохимической системе потенциостат Solartron 1287/анализатор частот Solartron 1255B.
Методика измерения вольтамперных и частотных характеристик проводников на электрохимической системе потенциостат Solartron 1287/анализатор частот Solartron 1255B.
Методика измерения релаксационных зависимостей намагниченности в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.
Методика измерения полевых зависимостей намагниченности в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.
Методика измерения температурных зависимостей намагниченности в постоянном магнитном поле в интервале температур 2 - 350 К в полях до 6,5 Т на SQUID магнетометре Cryogenic S700.
Методика профильного количественного элементного анализа твердых веществ на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой и системой лазерной абляции Solis 500.
Методика определения количественного элементного состава твердых веществ на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой и системой лазерной абляции Solis 500.
Методика определения количественного элементного состава растворов и жидких смесей на атомно-эмиссионном спектрометре Optima 5300 (Perkin Elmer) с индуктивно связанной плазмой.
Методика определения площади удельной поверхности распределения пор по размерам и толщины адсорбционных слоев пористых веществ на анализаторе поверхности QuantaChrome Nova 4200e.
Методика уточнения кристаллической структуры веществ с использованием полнопрофильного анализа на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика анализа текстуры материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика определения степени кристалличности материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика количественного фазового анализа материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика определения размеров кристаллитов и микродеформаций материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика определения параметров кристаллической решетки веществ на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика определения фазового состава наноструктурированных материалов на дифрактометре D/MAX-2500V/PC, Rigaku.
Методика локального элементного анализа состава материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.
Методика определения фазового состава материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.
Методика определения размеров и морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.
Методика определения параметров микроструктуры материалов на сканирующем электронном микроскопе Supra 50 VP, LEO.
Методика определения фазового состава материалов на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.
Методика определения размеров и морфологии частиц на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.
Методика исследования кристаллической структуры веществ на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol.
Методика определения параметров микроструктуры материалов на просвечивающем электронном микроскопе JEM 2000 FXII, Jeol
Методика определения элементного состава органических и полимерных пленок на электронном просвечивающем микроскопе LEO912AB, Karl Zeiss.
Методика анализа кристаллической структуры нанокристаллитов на электронном просвечивающем микроскопе LEO912AB, Karl Zeiss.
Методика проведения измерений сигнала второй гармоники от излучения фемтосекундного лазера на кристалле хром-форстерита.
Методика проведения измерений концентрации парамагнитных дефектов на ЭПР-спектрометре ELEXSYS-E500 BRUKER.
Методика измерения времени релаксации люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer
Методика измерения квантового выхода люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.
Методика измерения эффективности люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.
Методика измерения спектров люминесценции на люминесцентном спектрометре LS 55, Perkin Elmer.
Методика измерения ширины запрещенной зоны полупроводников на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика измерения концентрации веществ на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика измерения спектров диффузного отражения веществ и материалов на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика измерения коэффициента отражения на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика измерения коэффициента пропускания на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика измерения оптической плотности на спектрофотометре Lambda 35 Perkin Elmer.
Методика проведения измерений комбинационного рассеяния света на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.
Методика проведения измерений спектров абсолютного коэффициента отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.
Методика проведения измерения спектров нарушенного полного внутреннего отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.
Методика проведения измерений спектров отражения тонких пленок при переменных углах падения и отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.
Методика проведения измерений оптического пропускания и отражения на инфракрасном Фурье-спектрометре IFS-66v /S BRUKER.
Методика проведения измерений оптического пропускания и отражения на инфракрасном спектрометре с Фурье преобразованием Perkin Elmer RX-1.
Методика калибровки. Фотоэлектронный умножитель Hamamatsu H9858-20. № МК 02-2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика калибровки. Счетчик фотонов Hamamatsu H7421-40. № МК 01-2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов №ФР.1.27.2010.07804 в реестре методик измерений, св. об атт. № 13/2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов №ФР.1.27.2010.07803 в реестре методик измерений, св. об атт. № 14/2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266 №ФР.1.27.2010.07800 в реестре методик измерений, св. об атт. № 10/2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник №ФР.1.27.2010.07801 в реестре методик измерений, св. об атт. № 11/2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка №ФР.1.27.2010.07802 в реестре методик измерений, св. об атт. № 12/2010 ФГУП “ВНИИОФИ» 14.09.2010
МВИ № 109-08 Методика выполнения измерений массовой доли кислоторастворимой формы 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в почве методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 21.10.2008
МВИ № 108-08 (взамен МВИ № 37-02*) Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах мягких частей растений методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 21.10.2008
МВИ № 103-08 (взамен МВИ № 1-02*) Методика выполнения измерений массовой доли нитрозодиметиламина (НДМА) в почве методом обращенно-фазовой высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим детектированием. ВНИИМС 21.10.2008
МВИ № 102-08 (взамен МВИ № 3-02*) Методика выполнения измерений массовой концентрации нитрозодиметиламина (НДМА) в природной воде методом обращенно-фазовой высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим детектированием. ВНИИМС 21.10.2008
МВИ № 37-08 Методика выполнения измерений массовой доли углеводородного горючего "Нафтил" в почве методом газовой хромато-масс-спектрометрии ВНИИМС 05.03.2008
МВИ № 81-05 Методика выполнения измерений массовой доли 1,1-диметилгидразина в почве методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 23.11.2005
МВИ № 57-05 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина, гидразина, метилгидразина и тетраметилтетразена в образцах природных вод методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием. ВНИИМС 14.10.2005
МВИ № 2-05 Методика выполнения измерений массовой концентрации хлоргексидина и триклозана в образцах жидких дезинфицирующих средств методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с градиентным элюированием и спектрофотометрическим детектированием. ВНИИМС 10.02.2005
МВИ №29-04 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина в атмосферном воздухе методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием. ВНИИМС 12.09.2004
МВИ №28-04 Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1-диметилгидразина в образцах природных вод методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием ВНИИМС 12.09.2004
МВИ № 45-03 Методика выполнения измерений летучих фенолов в сточных водах предприятий целлюлозно-бумажной промышленности способом газо-жидкостной хроматографии. ВНИИМС 20.03.2003
МВИ №40-03 Методика выполнения измерений массовой доли подвижных форм 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах почв методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием. ВНИИМС 20.03.2003
МВИ № 39-03 Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного 1,1-диметилгидразина (НДМГ) в образцах мягких частей растений методом ионной хроматографии с предварительным on-line концентрированием и амперометрическим детектированием. ВНИИМС 20.03.2003
МВИ № 38-02 Методика выполнения измерений массовой доли несвязанного НДМА в образцах мягких частей растений методом ОФ ВЭЖХ со спектрофотометрическим детектированием. ВНИИМС 20.10.2002
МВИ № 36-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в крови методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 20.10.2002
МВИ № 35-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в моче методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 20.10.2002
МВИ № 34-02 Методика выполнения измерений массовой доли НДМГ в образцах мышечной ткани методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием ВНИИМС 20.10.2002
МВИ № 4-02 Методика выполнения измерений массовой концентрации тетраметилтетразена (ТМТ) в образцах природных вод методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием. ВНИИМС 17.03.2002
МВИ № 2-02 Методика выполнения измерений массовой доли тетраметилтетразена (ТМТ) в образцах почв методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием. ВНИИМС 17.03.2002
МВИ № 41-01 Методика выполнения измерений массовой доли подвижных форм 1.1-диметилгидразина в пробах почвы методом ионной хроматографии с амперометрическим детектированием. ВНИИМС 12.11.2001
МВИ № 34-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации паров керосина Т-1 в атмосферном воздухе. ВНИИМС 20.09.2001
МВИ № 33-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации паров керосина Т-1 в почвах. ВНИИМС 20.09.2001
МВИ № 26-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации оксидов азота в атмосферном воздухе. ВНИИМС 20.09.2001
МВИ № 24-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации сероводорода в атмосферном воздухе. ВНИИМС 20.09.2001
МВИ № 25-01 Методика выполнения измерений массовой концентрации оксидов серы в атмосферном воздухе ВНИИМС 20.09.2001
МВИ № 4-99 (ВНИИМС) Методика выполнения измерений массовой концентрации анионов (фторидов, хлоридов, нитритов, нитратов, фосфатов и сульфатов) при их совместном присутствии в природных и очищенных сточных водах методом ионной хроматографии. ВНИИМС 15.10.1999
МВИ № 1-99 (ВНИИМС) Методика выполнения измерений массовой концентрации 1,1 диметилгидразина в образцах природных вод методом ионной хроматографии с вольтамперометрическим детектированием ВНИИМС 15.10.1999

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий