Центры коллективного пользования

Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии» (УЦКП СН УрФУ)

ЦКП создан в 2007 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 3.1.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы»
Данный университет является федеральным университетом
Адрес
  • Уральский, Свердловская область
  • 620000, г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, д. 48
  • 🌎http://nanocenter.urfu.ru/
Руководитель
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да4513740.49
Базовая организация

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

12 декабря 2007 года в Екатеринбурге был открыт Уральский Центр Коллективного Пользования «Современные нанотехнологии» Уральского федерального университета (УЦКП СН УрФУ).

За последние семь лет УЦКП СН УрФУ стал точкой притяжения для исследователей в области нанотехнологий, региональным консультативным центром. Деятельность центра собрала воедино три направления – образование, науку и инновационный процесс.

Основными задачами центра, объединяющего физиков, химиков и биологов, являются и решение широкого круга исследовательских задач для преподавателей и ученых УрФУ, вузов города и региона, институтов Уральского отделения РАН, а также, на договорной основе, предприятий Свердловской области, имеющих наукоемкое производство подготовка специалистов в области нанотехнологий. Особое место занимает обеспечение образовательного процесса по направлению бакалавриата и магистратуры «Нанотехнология».

В настоящее время УЦКП СН УрФУ является одним из наиболее хорошо оснащенных российских ЦКП в области нанотехнологий. В нем сосредоточены новейшие образцы аналитического и технологического оборудования, предназначенного для исследований и производства наноматериалов.

Оборудование УЦКП СН УрФУ позволяет проводить комплексные исследования разнообразных нанообъектов в вакууме и жидкости, в широком диапазоне температур, в том числе при 0,1К без применения жидких хладоагентов. Уникален набор сканирующих зондовых микроскопов: NTEGRA-Aura - с возможностью измерений в вакууме, NTEGRA-Therma - с возможностью измерений при повышенных температурах, NTEGRA-Spectra - с возможностями сканирующей оптической, ближнепольной и лазерной конфокальной микроскопии, и спектроскопии комбинационного рассеяния, Solver HV-MFM – для измерений в высоком вакууме и контролируемой атмосфере. Имеется сканирующий электронный микроскоп Auriga CrossBeam, Carl Zeiss со сфокусированным ионным пучком и системами рентгеновского микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, компенсации заряда и электронно-лучевой литографии. Оптический и механический профилометры обеспечивают измерение рельефа поверхности с субнанометровым разрешением. Анализаторы производства компаний Shimadzu, Brookhaven и Malvern позволяют измерять размеры нано- и субмикронных частиц. Имеется СКВИД-магнитометр MPMS XL7, Quantum Design с рекордной чувствительностью. В «чистой комнате» размещен комплект современного оборудования для фотолитографии. Имеется установка плазменного травления. Механическая обработка поверхности кристаллов обеспечивает шероховатость менее нанометра. Для изготовления наноструктурированных кристаллов и синтеза наночастиц используются технологические лазеры.

УЦКП СН УрФУ играет важную роль в развитии и популяризации наноиндустрии в Свердловской области. Центр регулярно посещают гости города, официальные лица, представители промышленности и науки, студенты и школьники. Общее количество посетителей за последние полтора года превысило тысячу человек.

Для развития наноиндустрии необходимо не только современное научное и технологическое оборудование, но и консультации ученых. Именно поэтому УЦКП СН рассматривается промышленными предприятиями Уральского региона не только как место проведения исследований с использованием самого современного оборудования, обслуживаемого высококлассными специалистами, но и как консультационный и координационный центр в области нанотехнологий. В свою очередь помощь предприятий востребована для инновационной деятельности ученых. Взаимодействие УЦКП СН с промышленными предприятиями включает: 1) проведение комплексных исследований на уникальном аналитическом оборудовании, 2) оказание услуг на технологическом оборудовании, 3) консультации по использованию и приобретению оборудования, 4) повышение квалификации и переподготовку специалистов в области нанотехнологий.

Подписаны соглашения о сотрудничестве с такими крупными промышленными предприятиями, как ОАО «ПО «Уральский оптико-механический завод», Екатеринбург; ФГУП НПО автоматики, Екатеринбург; ЗАО «Нанотехнология МДТ», Зеленоград; и ОАО «Пермская научно-производственная приборостроительная компания», Пермь. На примере ОАО НПК «Уралвагонзавод» реализуется пилотный проект по взаимодействию передовой промышленности и современной науки. Подписан договор о сотрудничестве, предусматривающий финансирование НИР и НИОКР, и повышение квалификации специалистов Предприятия в области нанотехнологий. Выполняется НИР «Исследование различных видов обработки конструкционных сталей для машиностроения методами сканирующей зондовой микроскопии». Использование уникальных методик, реализованных на оборудовании УЦКП СН, позволило получить качественно новую информацию о характеристиках наноструктурированных поверхностных слоев.

Образовательная деятельность УЦКП СН ведется с использованием оборудования коллективного пользования силами сотрудников УрФУ и привлечением ведущих российских и иностранных специалистов. Проводится переподготовка и повышение квалификации представителей образовательных учреждений и промышленных предприятий, а также других категорий заинтересованных слушателей.

Повышение квалификации сотрудников промышленных предприятий включает краткосрочное обучение руководящего состава и специалистов по 24 и 72-часовым программам. Содержание курсов изменяется в соответствии с интересами конкретного предприятия. Проводятся практические занятия на образцах заказчика. Используется дистанционное обучение с использованием «телемостов». Большой популярностью пользуются практические занятия на базе учебного класса СЗМ Наноэдьюкатор.

19 ноября 2009 года УЦКП СН в составе Испытательного центра веществ, материалов и продукции наноиндустрии ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии» был аккредитован Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии на техническую компетентность и независимость и получил аттестат аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.22НН02.

В 2014 г. Уральский Центр Коллективного Пользования "Современные нанотехнологии" успешно прошел аккредитацию и 23.12.2014 получил аттестат об аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.21УН01. Область аккредитации - нанопокрытия на основе черных металлов, нанопокрытия на основе цветных металлов,твердые тела, нанопорошки, жидкие и твердые (замороженные растворы и взвеси, стекла, порошки, поликристаллы, керамика) диэлектрики с малыми потерями на частотах 9-10 ГГц

Направления научных исследований

  • Формирование прецизионных периодических микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках для нелинейной оптики и функциональной электроники;
  • Эволюция микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках и релаксорах;
  • Использование лазерных технологий для создания устройств функциональной электроники;
  • Поиск, синтез и исследование свойств новых материалов;
  • Физико-химические основы создания новых полифункциональных кристаллических, гибридных и композитных материалов;
  • Морфология, свойства и доменная структура магнитных наносистем;
  • Разработка методик химического количественного определения элементов в магнитных сплавах;
  • Доменная структура и гистерезисные свойства тонких магнитных слоев;
  • Явления переноса и фазовых превращений в пористых, капиллярных и гетерогенных системах, газах и на межфазных границах;
  • Квантовые явления в низкоразмерных системах;
  • Фотоэмиссионные и люминесцентные свойства наноструктур и тонких пленок;
  • Магниторезонансные и спектроскопические исследования энергетического спектра, структуры и динамики дефектов в кристаллах;
  • Разработка технологий нанесения покрытий и электродов;
  • Реология полярных и высококонцентрированных суспензий;
  • Новые материалы для спиновой электроники;
  • Термодинамика, фазовые превращения и структура жидких кристаллов в механическом и магнитном полях;
  • Исследование полупроводниковых гетероструктур;
  • Исследование свойств высокомолекулярных соединений;
  • Тепломассоперенос и фазовые превращения в мелкопористых капиллярных системах;
  • Термодинамика структура и свойства многокомпонентных полимерных систем;
  • Синтез гибридных функционализированных органо-неорганических сорбционных материалов;
  • Нанотоксикология.

Приоритетные направления
620000, г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, д. 48
📷

Оборудование (68)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный многофункциональный K-ALPHA (Thermo Fisher Scientific)
Великобритания Thermo Fisher Scientific K-ALPHA 2015
Сканирующий электронный микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) EVO LS 10 2014
Микроскоп электронный автоэмиссионный сканирующий Мerlin
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Carl Zeiss 2015
Комплекс для прецизионной механической обработки кристаллических пластин в составе: Алмазная дисковая и проволочная пила Model 15 , Станок для прецизионной шлифовки и полировки PM5 (Logitech)
Великобритания Logitech Model 15, PM5 2007
Комплекс для измерения параметров лазерного излучения в составе: система FX50 BeamStar (Ophir), Импульсный твердотельный лазер с гармониками Brilliant (Quantel)
BeamStar, Quantel FX50, Brilliant 2007
Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама (Люмэкс)
Россия Группа компаний Люмэкс Флюорат-02-Панорама 2011
Автоматическая установка резки DAAD 3220 (DISCO)
Япония DISCO DAAD 3220 2014
Установка автоматизированная для измерения магнитокалорического эффекта MagEq MMS (ПМТиК)
Россия ООО ПМТиК MagEq MMS 2015
Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD 7000S (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) XRD 7000S 2014
Анализатор термогравиметрический DynTherm LP-ST (Rubotherm)
Германия Rubotherm DynTherm LP-ST 2013
Камера инфракрасная H2640 (NEC)
Япония ООО Диагностика NEC H2640 2013
СКВИД-магнитометр MPMS XL7 (Quantum Design)
Соединённые Штаты Америки Quantum Design MPMS XL7 2008
Станок сверлильно-фрезерный Robodrill α-T14iFLb (FANUC)
Япония FANUC Fanuc Robodrill α-T14iFLb 2012
Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер НаноСкан-4Д
Россия ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический инс НаноСкан-4Д 2014
Двухлучевой прецизионный спектрофотометр Agilent Cary 5000
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies group Agilent Cary 5000 2013
Микроскоп сканирующий зондовый MFP-3D Classic (Asylum Research)
Соединённые Штаты Америки Asylum Research MFP-2D Classic 2013
Вибрационный магнитометр 7407 VSM (Lake Shore Cryotronics)
Соединённые Штаты Америки Lake Shore Cryotronics 7407 VSM 2013
Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния Alpha 300 AR (WiTec)
Германия WiTec Alpha 300 AR 2012
Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp)
Соединённые Штаты Америки Waters Corp Xevo QTof UPLC 2010
Проточно-циркуляционная каталитическая установка Bl-CATrEXP
Россия ООО "Современное лабораторное оборудование" Bl-CATrEXP 2012
Измеритель свойств постоянных магнитов Permagraf-L (Magnet Physik GmbH)
Германия Magnet Physik GmbH Permagraf-L 2012
Микроскоп исследовательский универсальный BX61 Olympus
Япония Olympus BX61 2011
Многофункциональная система AixACCT TF Analyzer 2000
Германия AixACCT Systems GmbH AixACCT TF Analyzer 2000 2012
Хромато-масс-спектрометр высокого разрешения DFS с двойной фокусировкой (Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific DFS 2011
Анализатор частотного отклика импедансметр / диэлектрический спектрометр Solartron 1260A
Великобритания Solartron Group Solartron 1260A 2010
Спектрометр рентгенофлуоресцентный Nanohunter на полном внутреннем отражении (Rigaku Corp.)
Япония Rigaku Corp. Nanohunter 2010
Рентгеновский дифрактометр EQUINOX 3000 (Enel)
Франция Enel EQUINOX 3000 2010
Электронно-ионный микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss NTS) с cистемой пробоподготовки для микроскопии
Германия Carl Zeiss NTS Work Station AURIGA CrossBeam 2010
Электронный микроскоп низковольтный LVEM5 (DeLong Instruments)
Соединённые Штаты Америки DeLong Instruments LVEM5 2010
Инвертированный оптический микроскоп Axio Observer A1 (Zeiss AG)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Axio Observer A1 2009
Система бесконтактных измерений Kestrel-200 / Peregrine (Vision Engineering)
Великобритания Vision Engineering Kestrel-200/Peregrine 2010
Анализатор импеданса E4491A-RF (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) E4491A RF 2010
Установка магнетронного распыления ATC Orion 8 UHV (AJA Int.)
Соединённые Штаты Америки AJA International Orion-8 2008
Установка вакуумного напыления Auto 500 (BOC Edwards)
Великобритания BOC Edwards Auto 500 2008
Установка реактивно-ионного травления Plasmalab 80 plus RIE (Oxford Instruments)
Великобритания Oxford Instruments Plasmalab 80 plus RIE 2008
Система подготовки сверхчистой воды Elix 10 (Millipore)
Франция Millipore Corporation Elix 10, SDS 200, Super-Q 2007
Комплекс оборудования для фотолитографии: 1. Чистое производственное помещение кл. ГОСТ ИСО 5, 2. Установка жидк. очистки пластин, 3. Центрифуга, 4. Установка совмещения фотошаблона и пластины 5.Система контроля качества фотолитографии
1. СК "РОСТ", 2. SSE GmbH (Sister Semiconductor Equipment GmbH), 3. Sawatec, 4. SUSS MicroTec, 5. Olympus Corporation 1. Викинг-С, 2. OPTIwet ST30, 3. SM180-HP250HDMS, 4. SUSS MJB4, 5. Olympus BX-51 2008
Лазерная система для обработки материалов Fmark-20 RL (ЦЛТ)
Россия ООО «Центр лазерных технологий» Fmark-20 RL 2008
Лазерная система для обработки материалов VL-300/40 (ЦЛТ)
Россия ООО «Центр лазерных технологий» VL-300/40 2008
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMX Plus (Bruker BioSpin Corp)
Германия Bruker BioSpin Corp EMXPlus 2007
Измерительная система DMS-1000 (Dryogenic)
Великобритания Dryogenic DMS-1000 2008
Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker Corporation)
Германия Bruker Corporation D8 Advance 2007
Система капиллярного электрофореза Капель 105 М (Люмэкс)
Россия ООО «Люмэкс» Капель 105 М 2007
ИК-спектрометр Фурье Nicolet 6700 (Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific Nicolet 6700 2008
Спектрометр атомно-абсорбционный Solaar M6 (Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific Solaar M6 2007
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo(Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific iCAP 6500 Duo 2007
Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов AG-50kNXD (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) AG-50kNXD 2008
Реометр ротационный Haake Mars (Thermo Electron)
Германия Thermo Electron Corp. Haake Mars 2008
Вискозиметр ротационный RN 4.1 (Rheotest)
Германия Rheotest RN 4.1 2007
Дилатометр DIL 402 C (Netzsch-Gerätebau GmbH)
Германия Netzsch-Gerätebau GmbH DIL 402 C 2007
Термоанализатор динамическо-механический TMA 202/1/G (Netzsch)
Германия Netzsch (Geratebau GnbH) TMA 202/1/G 2009
Термоанализатор STA 409 PC Luxx (Netzsch)
Германия Netzsch (Geratebau GnbH) STA 409 PC Luxx 2007
Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C (Netzsch)
Германия Netzsch (Geratebau GnbH) STA 409 Luxx/QMS 403 C 2007
Жидкостный хроматограф LC-20 (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) LC-20 2008
Газовый хроматограф Thermo Focus GC (Thermo Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Scientific Thermo Focus GC 2008
Газовый хроматограф / Хромато-масс-спектрометр GC/MS 600 D (Perkin Elmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer GC/MS 600 D 2007
Термогравиметрический анализатор PYRIS 1 TGA (Perkin Elmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin Elmer PYRIS 1 TGA 2008
Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов Sorbi N.4.1 (МЕТА)
Россия ЗАО «Мета» Sorbi N.4.1 2007
Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3000 (Micromeritics Instrument Corporation)
Соединённые Штаты Америки Micromeritics Instrument Corporation TriStar 3000 2007
Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano (Malvern Instruments Ltd)
Великобритания Malvern Instruments Ltd Zetasizer Nano 2009
Анализатор дисперсии наночастиц 90BI-Zeta Plus (Brookhaven Instruments Corporation)
Соединённые Штаты Америки Brookhaven Instruments Corporation 90BI-Zeta Plus 2007
Анализатор размеров частиц лазерный дифракционный SALD 7101 (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) SALD 7101 2007
Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco Instruments Inc)
Соединённые Штаты Америки Veeco Instruments Inc Wyko NT 1100 2007
Механический профилометр Dektak 150 (Veeco Instruments Inc)
Соединённые Штаты Америки Veeco Instruments Inc Dektak 150 2007
Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-SPECTRA (НТ-МДТ)
Россия ЗАО «НТ-МДТ» Ntegra-SPECTRA 2007
Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-THERMA (НТ-МДТ)
Россия ЗАО «НТ-МДТ» Ntegra-THERMA 2007
Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-AURA (НТ-МДТ)
Россия ЗАО «НТ-МДТ» Ntegra-AURA 2007
Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии Nanoeducator-10 с зондовой нанолабораторией Ntegra-PRIMA (НТ-МДТ)
Россия ЗАО «НТ-МДТ» Ntegra-PRIMA 2007

Услуги (44)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Исследования дисперсности и размера добавок в пластиковых пленках
Индустрия наносистем
Исследование содержания железа и молибдена в пробах после обаботки магнитным полем методом атомно-абсорбционной спектроскопии
Индустрия наносистем
Рентгенофазовый анализ порошков сложных оксидов
Индустрия наносистем
Исследование электрофоретической подвижности нанокластерных полиоксометаллатов на основе молибдена методом капиллярного зонного электрофореза
Индустрия наносистем
Микроскопические исследования поверхностей
Индустрия наносистем
Исследование содержания металлов методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой
Индустрия наносистем
Исследование содержания железа и молибдена в пробах биопсии мышей методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой
Индустрия наносистем
Исследование морфологии и элементного состава керамики висмутсодержащих материалов методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование морфологии диатомовых водорослей, определение текстуры кремния методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование морфологии и элементного состава низкоразмерных монокристаллов и высокоупорядоченных композитов на их основе методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование термического расширения сложных оксидов
Индустрия наносистем
Исследование топологии, структуры и состава наностуктурированных оксидных объектов и новых протонных проводников с помощью сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование полимерных материалов на основе DAC методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование структуры и фазового состава вольфраматов, ниобатов, цирконатов, танталатов и индатов ЩЗМ, молибдатов индия, скандия, европия и композитов на основе MeWO4 – WO3 методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование новых керамических и стеклообразных многокомпонентных материалов методами КР и СЭМ
Индустрия наносистем
Исследование процессов комплексообразования, деструкции и люминесценции в системе нанокластерных полиоксометаллатов
Индустрия наносистем
Выполнение элементного анализа методом рентгеновской флуоресценции на полном отражении
Индустрия наносистем
Исследование органо-неорганических полимерных пленочных материалов методом оптической микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование органо-неорганических полимерных пленочных нанокомпозитных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование параметров функции распределения сложнооксидных материалов по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света
Индустрия наносистем
Исследование дисперсии размеров частиц вермикулинового концентрата и наноструктурированного модифицированного селикогеля методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование структуры и состава сложнооксидных катализаторов, морфологии молекулярных кристаллов и агрегатов полиоксиметаллатов методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование морфологии поверхности глобул полиоксамолибдата Мо138+ПАВ методами сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование структуры и фазового состава вольфраматов, ниобатов, цирконатов, танталатов и индатов ЩЗМ, молибдатов индия, скандия, европия и композитов на основе MeWO4 – WO3 методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Рентгенофазовый анализ порошков сложных оксидов
Индустрия наносистем
Исследование топологии, структуры и состава наностуктурированных оксидных объектов и новых протонных проводников с помощью сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Получение ИК-спектров органических соединений
Индустрия наносистем
Получение ИК-спектров неорганических соединений
Индустрия наносистем
Определение суммарного объема и поверхности микро- и мезопор методом адсорбционной порометрии
Индустрия наносистем
Определение удельной поверхности порошков методом адсорбционной порометрии
Индустрия наносистем
Исследование полимерных соединений методами ДСК-ДТА, ТГ и квадрупольной масс-спектрометрии
Индустрия наносистем
Исследование качественного элементного состава и количественное определение содержания элементов методом атомно-эмиссионной спектроскопии
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Совершенствование топологии и технологии получения планарной наноструктурированной среды с гигантским магнитным импедансом
Индустрия наносистем
Исследование совместного взаимодействия магнитного поля и элементов электрохимической защиты от коррозии на водонефтяные среды
Индустрия наносистем
Исследование частотной зависимости удельных магнитных потерь в нанокристаллическом магнитном сплаве
Индустрия наносистем
Определение технологических параметров образцов активированного угля
Индустрия наносистем
Исследование вольт-амперных характеристик пленочных образцов
Индустрия наносистем
Разработка, изготовление и испытание нано-структурированных сред для сенсоров магнитного поля
Индустрия наносистем
Исследование плазмы крови с целью выявления наночастиц антропогенного происхождения
Индустрия наносистем
Определение морфологии липосом и композитных наночастиц на основе природных полимеров
Индустрия наносистем
Определение качественного и количественного состава газовых смесей с использованием метода газовой хроматомасс-спектрометрии
Индустрия наносистем
Исследование структуры дентина
Индустрия наносистем
Экспериментальное исследование эволюции доменных структур в монокристаллических пластинах ниобата и танталата лития
Индустрия наносистем
Исследование структуры и свойств драгоценных и цветных металлов и их сплавов
Индустрия наносистем

Методики (92)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика измерений массовой концентрации палладия в водных растворах сорбционно-атомно-абсорбционным методом ФГУП "УНИИМ" 26.06.2016 22:00:00
Методика измерений твердости и модуля упругости с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д
Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д
Методика измерений массовой доли элементов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10
Методика измерений линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10 ФГУП "УНИИМ" 21.12.2015 13:12:00
Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra SPECTRA ФГУП "УНИИМ" 27.11.2014 12:59:00
Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D ФГУП "УНИИМ" 27.11.2014 12:50:00
Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D ФГУП "УНИИМ" 27.11.2014 12:37:00
Методика измерений величины шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D ФГУП "УНИИМ" 27.11.2014 12:25:00
Методика измерений размеров наночастиц с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D ФГУП "УНИИМ" 27.11.2014 12:15:00
Методика измерений массовой доли серебра в припоях оловянных и оловянно-свинцовых ФГУП "УНИИМ" 12.11.2013 11:59:00
«Методика выполнения измерений пьезоэлектрических, пироэлектрических и сегнетоэлектрических свойств системой Aixacct TF Anyaliser 2000» МВИ
«Методика измерений температуры стеклования, плавления, коэффициента термического расширения полимерных материалов методом термомеханического анализа» МВИ ФГУП "УНИИМ" 12.04.2010
«Методика измерений массовой доли ионов меди (II) в витаминно-минеральных комплексах методом капиллярного зонного электрофореза» ФГУП "УНИИМ" 22.02.2012
«Методика измерений линейных размеров трехмерных объектов на плоскости XY системой бесконтактных измерений Kestrel» ФГУП "УНИИМ" 23.03.2012
«Методика измерений дзета-потенциала коллоидных растворов анализатором частиц Zetasizer Nano ZS» ФГУП "УНИИМ" 27.04.2012
«Методика измерений линейных размеров и массовой доли элементов методом растровой электронной микроскопии» ФГУП "УНИИМ" 11.05.2012
«Методика изучения электрофоретической подвижности методом капиллярного зонного электрофореза» МВИ
«Методика проведения элементного анализа методом рентгеновской флуоресценции на полном отражении» МВИ
«Методика определения валентных состояний примесей металлов с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ
«Методика определения величины гигантского магнитосопротивления с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ
«Методика определения состава газовых смесей методом масс-спектрометрии» МВИ
«Методика определения состава газовых смесей методом газовой хроматографии» МВИ
«Методика определения элементного состава материалов методом энергодисперсионного электронного микроанализа» МВИ
«Методика определения фазового состава материалов методом растровой электронной микроскопии» МВИ
«Методика определения удельной поверхности и пористости сложнооксидных материалов с помощью анализатора поверхности» МВИ
«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-абсорбционной спектроскопии» МВИ
«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой» МВИ
«Методика формирования металлических масок для фотолитографии с помощью лазерного излучения»
«Методика изучения влияния лазерного излучения на физические и биологические объекты»
«Методика получения изображений методом оптической микроскопии» МВИ
«Методика выполнения измерений размеров частиц порошкообразных веществ методом оптической микроскопии» МВИ
«Методика определения прочности на изгиб стандартного образца при испытании на изгиб 3-х и 4-х точечным методом» МВИ
«Методика определения прочности на разрыв и пластичности наноматериалов при испытании на разрыв стандартного образца» МВИ
«Методика импедансной спектроскопии для комплексного исследования проводимости материалов, электролит-электродных наноструктур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот и значений проводимости, широком диапазоне температур и типов атмосфер» МВИ
«Методики Фурье УФ-ИК спектроскопии для определения типов связей и типов структур на поверхности наноразмерных объектов, в частности, углеродных наноматериалов» МВИ
«Методика измерения внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки в наноразмерных объектах и наноматериалах методом рентгеновской дифракции» МВИ
«Методика измерения спектрального состава излучения материалов методом спектрофотометрии» МВИ
«Методика определения кажущейся плотности наноматериалов посредством гидростатического взвешивания» МВИ
«Методика определения насыпной плотности сыпучих наноматериалов посредством взвешивания стандартного объема» МВИ
«Методика получения изображений пространственного распределения намагниченности материалов с помощью магнито-силовой микроскопии» МВИ
«Методика измерения спектров комбинационного рассеяния наноматериалов в режиме сканирующей лазерной конфокальной микроскопии» МВИ
«Методики измерения микротвердости и модуля упругости материалов методом нано-индентирования» МВИ
«Методики получения изображений пространственного распределения электрического поля, электростатического потенциала концентрации и типа носителей заряда с нано-метровым разрешением с помощью сканирующей зондовой микроскопии» МВИ
«Методики получения изображений поверхности гетерофазных систем в режиме фазового контраста атомно-силовой микроскопии» МВИ
«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в бесконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ
«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ
«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в контактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ
«Методика получения изображений рельефа поверхности проводящих материалов с нанометровым пространственным разрешением методом сканирующей туннельной микроскопии» МВИ
«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)» МВИ
«Методика прецизионной очистки монокристаллических пластин для нанесения слоя фоторезиста, металлических или диэлектрических тонких пленок»
«Методика механо-химической полировки поверхности монокристаллических материалов с шероховатостью в субнанометровом диапазоне»
«Методика измерения параметров преобразователей длины волны лазерного излучения» МВИ
«Методика формирования прецизионного рисунка в диэлектрическом покрытии на поверхности монокристаллических пластин»
«Методика формирования прецизионного рисунка металлических электродов на поверхности монокристаллических пластин»
«Методика измерения геометрических параметров рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллических пластин» МВИ
«Методика формирования прецизионного рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллической пластины»
«Методика получения тонких пленок металлов методом электронно-лучевого испарения»
«Методика получения тонких пленок диэлектриков методом электронно-лучевого испарения»
«Методика получения тонких пленок металлов магнетронным распылением»
«Методика измерения параметров лазерных пучков» МВИ
«Методика получения пленок методом ионно-плазменного напыления»
«Методика идентификации органических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ
«Методика идентификации неорганических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ
Атомно-абсорбционное определение меди в электролитах с помощью спектрометра SOLAAR M6 фирмы Thermo Fisher Electron ФГУП "УНИИМ" 09.12.2010
«Определение содержания меди, железа, висмута, цинка методом атомной спектроскопии с индуктивносвязанной плазмой в наноматериалах на основе цветных металлов с помощью спектрометра iCAP 6500 ФГУП "УНИИМ" 13.12.2010
«Методика измерений количества парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus» ФГУП "УНИИМ" 18.12.2015
«Методика измерений g-фактора парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus» ФГУП "УНИИМ" 13.12.2010
«Методика измерений геометрических параметров периодических структур сегнетоэлектрических доменов методами сканирующей зондовой микроскопии» ФГУП "УНИИМ" 22.07.2013
«Методика выполнения измерений размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии» МВИ ФГУП "УНИИМ" 12.04.2010
«Методика измерений толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)» ФГУП "УНИИМ" 01.08.2013
«Методика измерений толщины нанопокрытий методом атомно-силовой микроскопии» ФГУП "УНИИМ" 22.09.2010
«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)» ФГУП "УНИИМ" 13.12.2010
«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии» ФГУП "УНИИМ" 18.12.2015
«Методика измерений магнитных характеристик магнитотвердых материалов в замкнутой магнитной цепи индукционно-непрерывным методом» ФГУП "УНИИМ" 24.12.2010
«Методика измерений магнитного момента наноструктурных материалов на установке магнитоизмеительной MPMS-XL-7 EC магнитометрическим методом» ФГУП "УНИИМ" 24.09.2010
«Методика измерений магнитных потерь магнитомягких наноматериалов замкнутой формы на установке контроля магнитных потерь УКМП 0,05-100 индукционным методом» ФГУП "УНИИМ" 24.09.2010
«Методика измерений профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии» ФГУП "УНИИМ" 01.08.2013
«Методика выполнения измерений температурной зависимости теплоемкости наноструктурных материалов релаксационным методом» МВИ
«Методика выполнения измерений электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом» МВИ
«Методика выполнения измерений магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей» МВИ
«Методика выполнения измерений фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов методами рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа» МВИ
«Методика выполнения измерений состава адсорбатов (H2O, CO, CO2, O2) в керамических наноструктурных материалах и оксидных нанопорошках методом газовой масс-спектрометрии» МВИ ФГУП "УНИИМ" 24.09.2010
«Изучение закономерностей модифицирования оксидных поверхностей методом ИК - Фурье спектроскопии» МВИ ФГУП "УНИИМ" 07.04.2010
«Методика выполнения измерений массовых долей примесей свинца, сурьмы в медьсодержащих наноматериалах атомно-абсорбционным анализом с электротермической атомизацией» МВИ ФГУП "УНИИМ" 09.09.2010
«Методика выполнения измерений массовых долей примесей железа и меди в наноматериалах атомно-эмиссионным анализом с индуктивно-связанной плазмой» МВИ ФГУП "УНИИМ" 07.04.2010
«Методика выполнения измерений вязкости и напряжения сдвига в широком интервале скоростей сдвига методом ротационной вискозиметрии» МВИ ФГУП "УНИИМ" 07.04.2010
«Методика выполнения измерений термодинамических параметров взаимодействия в полимерсодержащих системах методом статической сорбции» МВИ ФГУП "УНИИМ" 10.12.2010
«Методика выполнения измерений удельной площади поверхности, удельного объема и среднего размера нанопор пористых материалов методом газовой адсорбции» МВИ ФГУП "УНИИМ" 07.04.2010
«Методика выполнения измерений параметров функции распределения по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света» МВИ ФГУП "УНИИМ" 12.04.2010
«Методика выполнения измерений массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом » МВИ ФГУП "УНИИМ" 07.04.2010
«Методика измерений усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов и изделий на их основе методом дилатометрии» ФГУП "УНИИМ" 15.04.2010

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий