Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии»

Сокращенное наименование ЦКП: УЦКП СН УрФУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://nanocenter.urfu.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Уральский
  • Регион: Свердловская область
  • 620000, г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, д. 48

Руководитель ЦКП:

  • Шур Владимир Яковлевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (343) 2617436
  • vladimir.shur@urfu.ru

Контактное лицо:

  • Шур Владимир Яковлевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (343) 2617436
  • vladimir.shur@urfu.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 47Число публикаций, ед.: 185Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 46.58

Краткое описание ЦКП:

12 декабря 2007 года в Екатеринбурге был открыт Уральский Центр Коллективного Пользования «Современные нанотехнологии» Уральского федерального университета (УЦКП СН УрФУ).

За последние десять лет УЦКП СН УрФУ стал точкой притяжения для исследователей в области нанотехнологий, региональным консультативным центром. Деятельность центра собрала воедино три направления – образование, науку и инновационный процесс.

Основными задачами центра, объединяющего физиков, химиков и биологов, являются и решение широкого круга исследовательских задач для преподавателей и ученых УрФУ, вузов города и региона, институтов Уральского отделения РАН, а также, на договорной основе, предприятий Свердловской области, имеющих наукоемкое производство подготовка специалистов в области нанотехнологий. Особое место занимает обеспечение образовательного процесса по направлению бакалавриата и магистратуры «Нанотехнология».

В настоящее время УЦКП СН УрФУ является одним из наиболее хорошо оснащенных российских ЦКП в области нанотехнологий. В нем сосредоточены новейшие образцы аналитического и технологического оборудования, предназначенного для исследований и производства наноматериалов.

Оборудование УЦКП СН УрФУ позволяет проводить комплексные исследования разнообразных нанообъектов в вакууме и жидкости, в широком диапазоне температур, в том числе при 0,1К без применения жидких хладоагентов. Уникален набор сканирующих зондовых микроскопов: NTEGRA-Aura - с возможностью измерений в вакууме, NTEGRA-Therma - с возможностью измерений при повышенных температурах, NTEGRA-Spectra - с возможностями сканирующей оптической, ближнепольной и лазерной конфокальной микроскопии, и спектроскопии комбинационного рассеяния, Solver HV-MFM – для измерений в высоком вакууме и контролируемой атмосфере. Имеется сканирующий электронный микроскоп Auriga CrossBeam, Carl Zeiss со сфокусированным ионным пучком и системами рентгеновского микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, компенсации заряда и электронно-лучевой литографии. Оптический и механический профилометры обеспечивают измерение рельефа поверхности с субнанометровым разрешением. Анализаторы производства компаний Shimadzu, Brookhaven и Malvern позволяют измерять размеры нано- и субмикронных частиц. Имеется СКВИД-магнитометр MPMS XL7, Quantum Design с рекордной чувствительностью. В «чистой комнате» размещен комплект современного оборудования для фотолитографии. Имеется установка плазменного травления. Механическая обработка поверхности кристаллов обеспечивает шероховатость менее нанометра. Для изготовления наноструктурированных кристаллов и синтеза наночастиц используются технологические лазеры.

УЦКП СН УрФУ играет важную роль в развитии и популяризации наноиндустрии в Свердловской области. Центр регулярно посещают гости города, официальные лица, представители промышленности и науки, студенты и школьники. Общее количество посетителей за последние полтора года превысило тысячу человек.

Для развития наноиндустрии необходимо не только современное научное и технологическое оборудование, но и консультации ученых. Именно поэтому УЦКП СН рассматривается промышленными предприятиями Уральского региона не только как место проведения исследований с использованием самого современного оборудования, обслуживаемого высококлассными специалистами, но и как консультационный и координационный центр в области нанотехнологий. В свою очередь помощь предприятий востребована для инновационной деятельности ученых. Взаимодействие УЦКП СН с промышленными предприятиями включает: 1) проведение комплексных исследований на уникальном аналитическом оборудовании, 2) оказание услуг на технологическом оборудовании, 3) консультации по использованию и приобретению оборудования, 4) повышение квалификации и переподготовку специалистов в области нанотехнологий.

Подписаны соглашения о сотрудничестве с такими крупными промышленными предприятиями, как ОАО «ПО «Уральский оптико-механический завод», Екатеринбург; ФГУП НПО автоматики, Екатеринбург; ЗАО «Нанотехнология МДТ», Зеленоград; и ОАО «Пермская научно-производственная приборостроительная компания», Пермь. На примере ОАО НПК «Уралвагонзавод» реализуется пилотный проект по взаимодействию передовой промышленности и современной науки. Подписан договор о сотрудничестве, предусматривающий финансирование НИР и НИОКР, и повышение квалификации специалистов Предприятия в области нанотехнологий. Выполняется НИР «Исследование различных видов обработки конструкционных сталей для машиностроения методами сканирующей зондовой микроскопии». Использование уникальных методик, реализованных на оборудовании УЦКП СН, позволило получить качественно новую информацию о характеристиках наноструктурированных поверхностных слоев.

Образовательная деятельность УЦКП СН ведется с использованием оборудования коллективного пользования силами сотрудников УрФУ и привлечением ведущих российских и иностранных специалистов. Проводится переподготовка и повышение квалификации представителей образовательных учреждений и промышленных предприятий, а также других категорий заинтересованных слушателей.

Повышение квалификации сотрудников промышленных предприятий включает краткосрочное обучение руководящего состава и специалистов по 24 и 72-часовым программам. Содержание курсов изменяется в соответствии с интересами конкретного предприятия. Проводятся практические занятия на образцах заказчика. Используется дистанционное обучение с использованием «телемостов». Большой популярностью пользуются практические занятия на базе учебного класса СЗМ Наноэдьюкатор.

19 ноября 2009 года УЦКП СН в составе Испытательного центра веществ, материалов и продукции наноиндустрии ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии» был аккредитован Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии на техническую компетентность и независимость и получил аттестат аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.22НН02.

В 2014 г. Уральский Центр Коллективного Пользования "Современные нанотехнологии" успешно прошел аккредитацию и 23.12.2014 получил аттестат об аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.21УН01. Область аккредитации - нанопокрытия на основе черных металлов, нанопокрытия на основе цветных металлов,твердые тела, нанопорошки, жидкие и твердые (замороженные растворы и взвеси, стекла, порошки, поликристаллы, керамика) диэлектрики с малыми потерями на частотах 9-10 ГГц

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Формирование прецизионных периодических микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках для нелинейной оптики и функциональной электроники;
  • Эволюция микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках и релаксорах;
  • Использование лазерных технологий для создания устройств функциональной электроники;
  • Поиск, синтез и исследование свойств новых материалов;
  • Физико-химические основы создания новых полифункциональных кристаллических, гибридных и композитных материалов;
  • Морфология, свойства и доменная структура магнитных наносистем;
  • Разработка методик химического количественного определения элементов в магнитных сплавах;
  • Доменная структура и гистерезисные свойства тонких магнитных слоев;
  • Явления переноса и фазовых превращений в пористых, капиллярных и гетерогенных системах, газах и на межфазных границах;
  • Квантовые явления в низкоразмерных системах;
  • Фотоэмиссионные и люминесцентные свойства наноструктур и тонких пленок;
  • Магниторезонансные и спектроскопические исследования энергетического спектра, структуры и динамики дефектов в кристаллах;
  • Разработка технологий нанесения покрытий и электродов;
  • Реология полярных и высококонцентрированных суспензий;
  • Новые материалы для спиновой электроники;
  • Термодинамика, фазовые превращения и структура жидких кристаллов в механическом и магнитном полях;
  • Исследование полупроводниковых гетероструктур;
  • Исследование свойств высокомолекулярных соединений;
  • Тепломассоперенос и фазовые превращения в мелкопористых капиллярных системах;
  • Термодинамика структура и свойства многокомпонентных полимерных систем;
  • Синтез гибридных функционализированных органо-неорганических сорбционных материалов;
  • Нанотоксикология.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 37 ед.)

Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3000 (Micromeritics Instrument Corporation)
Марка:  TriStar 3000
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo(Thermo Scientific)
Марка:  iCAP 6500 Duo
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C (Netzsch)
Марка:  STA 409 Luxx/QMS 403 C
Фирма-изготовитель:  Netzsch (Geratebau GnbH)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Дилатометр DIL 402 C (Netzsch-Gerätebau GmbH)
Марка:  DIL 402 C
Фирма-изготовитель:  Netzsch-Gerätebau GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD 7000S (Shimadzu)
Марка:  XRD 7000S
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измерительная система DMS-1000 (Dryogenic)
Марка:  DMS-1000
Фирма-изготовитель:  Dryogenic
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Интерферометрический измерительный комплекс
Марка:  Thorlabs
Фирма-изготовитель:  Thorlabs
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс для измерения параметров лазерного излучения в составе: система FX50 BeamStar (Ophir), Импульсный твердотельный лазер с гармониками Brilliant (Quantel)
Марка:  FX50, Brilliant
Фирма-изготовитель:  BeamStar, Quantel
Страна происхождения:  Израиль; Франция
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс для исследования сегнетоэлектрических материалов: 1) Многофункциональная система AixACCT TF Analyzer 2000 2) Микроскоп исследовательский универсальный BX61 Olympus с системой системой высокоскоростной видео съемки FC13
Марка:  1) AixACCT TF Analyzer 2000; 2) BX61
Фирма-изготовитель:  1)AixACCT Systems GmbH; 2) Olympus
Страна происхождения:  Германия; Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс для прецизионной механической обработки кристаллических пластин в составе: Станок для прецизионной шлифовки и полировки PM5 (Logitech), Автоматическая установка резки DAAD 3220 (DISCO), Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco Instruments Inc),
Марка:  Model 15, PM5; DAAD 3220 (DISCO);Wyko NT 1100; Kestrel-200
Фирма-изготовитель:  Logitech; DISCO; Veeco Instruments Inc; Vision Engineering
Страна происхождения:  Великобритания; Соединённые Штаты Америки; Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для магнитных измерений: 1)Вибрационный магнитометр 7407 VSM (Lake Shore Cryotronics); 2) Измеритель свойств постоянных магнитов Permagraf-L; 3) Магнитооптический Керр-микроскоп Evico; 4) Установка автоматизированная для измерения ма
Марка:  1) 7407 VSM; 2) Permagraf-L; 3) Evico; 4) MagEq MMS
Фирма-изготовитель:  1) Lake Shore Cryotronics; 2) Magnet Physik GmbH; 3)Evico magnetics; 4) ООО ПМТиК
Страна происхождения:  Германия; Россия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс оборудования для синтеза коллоидных растворов наночастиц металлов: 1) Система прецизионной лазерной маркировки МиниМаркер 2 - М20; 2) Лазерная система для обработки материалов Fmark-20 RL; 3) Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano ; 4)Камера
Марка:  МиниМаркер 2 - М20; Fmark-20 RL; Zetasizer Nano; NEC H2640
Фирма-изготовитель:  ООО "Лазерный центр"; ООО «Центр лазерных технологий»; Malvern Instruments Ltd; ООО Диагностика
Страна происхождения:  Великобритания; Россия; Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для фотолитографии: 1. Чистое производственное помещение кл. ГОСТ ИСО 5, 2. Установка жидк. очистки пластин, 3. Центрифуга, 4. Установка совмещения фотошаблона и пластины 5.Система контроля качества фотолитографии
Марка:  1. Викинг-С, 2. OPTIwet ST30, 3. SM180-HP250HDMS, 4. SUSS MJB4, 5. Olympus BX-51
Фирма-изготовитель:  1. СК "РОСТ", 2. SSE GmbH (Sister Semiconductor Equipment GmbH), 3. Sawatec, 4. SUSS MicroTec, 5. Olympus Corporation
Страна происхождения:  Германия; Лихтенштейн; Россия; Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оптической спектрометрии: 1) ИК-спектрометр Фурье Nicolet 6700 ; 2) Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама ; 3)Двухлучевой прецизионный спектрофотометр Agilent Cary 5000
Марка:  1) Nicolet 6700; 2) Флюорат-02-Панорама; 3) Agilent Cary 5000
Фирма-изготовитель:  1)Thermo Scientific; 2) Группа компаний Люмэкс; 3) Agilent Technologies group
Страна происхождения:  Россия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная система для обработки материалов VL-300/40 (ЦЛТ)
Марка:  VL-300/40
Фирма-изготовитель:  ООО «Центр лазерных технологий»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп сканирующий зондовый MFP-3D Classic (Asylum Research)
Марка:  MFP-2D Classic
Фирма-изготовитель:  Asylum Research
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-AURA (НТ-МДТ)
Марка:  Ntegra-AURA
Фирма-изготовитель:  ЗАО «НТ-МДТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-SPECTRA (НТ-МДТ)
Марка:  Ntegra-SPECTRA
Фирма-изготовитель:  ЗАО «НТ-МДТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп электронный автоэмиссионный сканирующий Мerlin
Марка:  Carl Zeiss
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Портальный трехкоординатный робот Janome JC-3A00-0H3 с системой дозирования TAEHA THE-200
Марка:  Janome JC-3A00-0H3
Фирма-изготовитель:  ООО «Евроинтех»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния Alpha 300 AR (WiTec)
Марка:  Alpha 300 AR
Фирма-изготовитель:  WiTec
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Система подготовки сверхчистой воды Elix 10 (Millipore)
Марка:  Elix 10, SDS 200, Super-Q
Фирма-изготовитель:  Millipore Corporation
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер НаноСкан-4Д
Марка:  НаноСкан-4Д
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический инс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующий электронный микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss)
Марка:  EVO LS 10
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

СКВИД-магнитометр MPMS XL7 (Quantum Design)
Марка:  MPMS XL7
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр атомно-абсорбционный Solaar M6 (Thermo Scientific)
Марка:  Solaar M6
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный многофункциональный K-ALPHA (Thermo Fisher Scientific)
Марка:  K-ALPHA
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр рентгенофлуоресцентный Nanohunter на полном внутреннем отражении (Rigaku Corp.)
Марка:  Nanohunter
Фирма-изготовитель:  Rigaku Corp.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMX Plus (Bruker BioSpin Corp)
Марка:  EMXPlus
Фирма-изготовитель:  Bruker BioSpin Corp
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Термоанализатор STA 409 PC Luxx (Netzsch)
Марка:  STA 409 PC Luxx
Фирма-изготовитель:  Netzsch (Geratebau GnbH)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Термогравиметрический анализатор PYRIS 1 TGA (Perkin Elmer)
Марка:  PYRIS 1 TGA
Фирма-изготовитель:  Perkin Elmer
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка вакуумного напыления Auto 500 (BOC Edwards)
Марка:  Auto 500
Фирма-изготовитель:  BOC Edwards
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка магнетронного распыления ATC Orion 8 UHV (AJA Int.)
Марка:  Orion-8
Фирма-изготовитель:  AJA International
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка реактивно-ионного травления Plasmalab 80 plus RIE (Oxford Instruments)
Марка:  Plasmalab 80 plus RIE
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp)
Марка:  Xevo QTof UPLC
Фирма-изготовитель:  Waters Corp
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов AG-50kNXD (Shimadzu)
Марка:  AG-50kNXD
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Электронно-ионный микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss NTS) с cистемой пробоподготовки для микроскопии
Марка:  Work Station AURIGA CrossBeam
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss NTS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП: (номенклатура — 44 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 100 ед.)

«Методика определения прочности на изгиб стандартного образца при испытании на изгиб 3-х и 4-х точечным методом» МВИ

«Изучение закономерностей модифицирования оксидных поверхностей методом ИК - Фурье спектроскопии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений вязкости и напряжения сдвига в широком интервале скоростей сдвига методом ротационной вискозиметрии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей» МВИ

«Методика выполнения измерений массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом » МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений массовых долей примесей железа и меди в наноматериалах атомно-эмиссионным анализом с индуктивно-связанной плазмой» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений параметров функции распределения по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений пьезоэлектрических, пироэлектрических и сегнетоэлектрических свойств системой Aixacct TF Anyaliser 2000» МВИ

«Методика выполнения измерений размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений размеров частиц порошкообразных веществ методом оптической микроскопии» МВИ

«Методика выполнения измерений состава адсорбатов (H2O, CO, CO2, O2) в керамических наноструктурных материалах и оксидных нанопорошках методом газовой масс-спектрометрии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений температурной зависимости теплоемкости наноструктурных материалов релаксационным методом» МВИ

«Методика выполнения измерений термодинамических параметров взаимодействия в полимерсодержащих системах методом статической сорбции» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  10.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений удельной площади поверхности, удельного объема и среднего размера нанопор пористых материалов методом газовой адсорбции» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов методами рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа» МВИ

«Методика выполнения измерений электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом» МВИ

«Методика идентификации неорганических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ

«Методика идентификации органических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ

«Методика измерений g-фактора парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  18.12.2015
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений геометрических параметров периодических структур сегнетоэлектрических доменов методами сканирующей зондовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.07.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений дзета-потенциала коллоидных растворов анализатором частиц Zetasizer Nano ZS»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.04.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений количества парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  18.12.2015
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений линейных размеров и массовой доли элементов методом растровой электронной микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  11.05.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений линейных размеров трехмерных объектов на плоскости XY системой бесконтактных измерений Kestrel»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  23.03.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитного момента наноструктурных материалов на установке магнитоизмеительной MPMS-XL-7 EC магнитометрическим методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитных потерь магнитомягких наноматериалов замкнутой формы на установке контроля магнитных потерь УКМП 0,05-100 индукционным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитных характеристик магнитотвердых материалов в замкнутой магнитной цепи индукционно-непрерывным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений массовой доли ионов меди (II) в витаминно-минеральных комплексах методом капиллярного зонного электрофореза»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.02.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений массовых долей примесей свинца, сурьмы в медьсодержащих наноматериалах атомно-абсорбционным анализом с электротермической атомизацией» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  09.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  01.08.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений температуры стеклования, плавления, коэффициента термического расширения полимерных материалов методом термомеханического анализа» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений толщины нанопокрытий методом атомно-силовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  01.08.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов и изделий на их основе методом дилатометрии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  15.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерения внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки в наноразмерных объектах и наноматериалах методом рентгеновской дифракции» МВИ

«Методика измерения геометрических параметров рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллических пластин» МВИ

«Методика измерения параметров лазерных пучков» МВИ

«Методика измерения параметров преобразователей длины волны лазерного излучения» МВИ

«Методика измерения спектрального состава излучения материалов методом спектрофотометрии» МВИ

«Методика измерения спектров комбинационного рассеяния наноматериалов в режиме сканирующей лазерной конфокальной микроскопии» МВИ

«Методика изучения влияния лазерного излучения на физические и биологические объекты»

«Методика изучения электрофоретической подвижности методом капиллярного зонного электрофореза» МВИ

«Методика импедансной спектроскопии для комплексного исследования проводимости материалов, электролит-электродных наноструктур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот и значений проводимости, широком диапазоне температур и типов атмосфер» МВИ

«Методика механо-химической полировки поверхности монокристаллических материалов с шероховатостью в субнанометровом диапазоне»

«Методика определения валентных состояний примесей металлов с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ

«Методика определения величины гигантского магнитосопротивления с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ

«Методика определения кажущейся плотности наноматериалов посредством гидростатического взвешивания» МВИ

«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-абсорбционной спектроскопии» МВИ

«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой» МВИ

«Методика определения насыпной плотности сыпучих наноматериалов посредством взвешивания стандартного объема» МВИ

«Методика определения прочности на разрыв и пластичности наноматериалов при испытании на разрыв стандартного образца» МВИ

«Методика определения состава газовых смесей методом газовой хроматографии» МВИ

«Методика определения состава газовых смесей методом масс-спектрометрии» МВИ

«Методика определения удельной поверхности и пористости сложнооксидных материалов с помощью анализатора поверхности» МВИ

«Методика определения фазового состава материалов методом растровой электронной микроскопии» МВИ

«Методика определения элементного состава материалов методом энергодисперсионного электронного микроанализа» МВИ

«Методика получения изображений методом оптической микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений пространственного распределения намагниченности материалов с помощью магнито-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в бесконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в контактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности проводящих материалов с нанометровым пространственным разрешением методом сканирующей туннельной микроскопии» МВИ

«Методика получения пленок методом ионно-плазменного напыления»

«Методика получения тонких пленок диэлектриков методом электронно-лучевого испарения»

«Методика получения тонких пленок металлов магнетронным распылением»

«Методика получения тонких пленок металлов методом электронно-лучевого испарения»

«Методика прецизионной очистки монокристаллических пластин для нанесения слоя фоторезиста, металлических или диэлектрических тонких пленок»

«Методика проведения элементного анализа методом рентгеновской флуоресценции на полном отражении» МВИ

«Методика формирования металлических масок для фотолитографии с помощью лазерного излучения»

«Методика формирования прецизионного рисунка в диэлектрическом покрытии на поверхности монокристаллических пластин»

«Методика формирования прецизионного рисунка металлических электродов на поверхности монокристаллических пластин»

«Методика формирования прецизионного рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллической пластины»

«Методики измерения микротвердости и модуля упругости материалов методом нано-индентирования» МВИ

«Методики получения изображений поверхности гетерофазных систем в режиме фазового контраста атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методики получения изображений пространственного распределения электрического поля, электростатического потенциала концентрации и типа носителей заряда с нано-метровым разрешением с помощью сканирующей зондовой микроскопии» МВИ

«Методики Фурье УФ-ИК спектроскопии для определения типов связей и типов структур на поверхности наноразмерных объектов, в частности, углеродных наноматериалов» МВИ

«Определение содержания меди, железа, висмута, цинка методом атомной спектроскопии с индуктивносвязанной плазмой в наноматериалах на основе цветных металлов с помощью спектрометра iCAP 6500
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

Атомно-абсорбционное определение меди в электролитах с помощью спектрометра SOLAAR M6 фирмы Thermo Fisher Electron
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  09.12.2010
Методика уникальна:  нет

Методика измерений величины шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra SPECTRA
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д

Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  21.12.2015
Методика уникальна:  нет

Методика измерений массовой доли серебра в припоях оловянных и оловянно-свинцовых
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.11.2013
Методика уникальна:  нет

Методика измерений массовой доли элементов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10

Методика измерений массовой концентрации палладия в водных растворах сорбционно-атомно-абсорбционным методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  26.06.2016
Методика уникальна:  нет

Методика измерений размеров наночастиц с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений твердости и модуля упругости с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д

Методика масс-спектрометрического определения молекулярной массы соединений с помощью гибридного квадрупольного хромато-масс-спектрометра Xevo QTof UPLC
Методика уникальна:  нет

Методика измерения пьезоэлектрических свойств методами сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика
Методика уникальна:  нет

Методика травления поверхности сфокусированным ионным пучком
Методика уникальна:  нет

Методика исследования поверхности методом микроскопии модуляции силы
Методика уникальна:  нет

Методика исследование кристаллической структуры поверхности методом дифракции отраженных электронов
Методика уникальна:  нет

Методика измерения морфологии методом просвечивающей электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика определения химического состава методом рентгеновской фотоэлектронной спектрометрии
Методика уникальна:  нет

Методика измерения морфологии методом сканирующей электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран