Вебинары РИЭПП17 мая запланировано проведение вебинара на тему «Нормативно-правовая база функционирования центров коллективного пользования научным оборудованием (ЦКП) и особенности работы с порталом ckp-rf.ru».

Записаться на вебинар и посмотреть программу других вебинаров.


Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Учебно-научное объединение «Электроника»» (ЦКП «УНО Электроника»)

ЦКП создан в 2004 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Адрес
Руководитель
  • 👤Сигов Александр Сергеевич
  • 📞(495) 4347474
  • sigov@mirea.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский технологический университет

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Комплекс научного оборудования ЦКП «УНО «Электроника» Московского технологического университета (МИРЭА) позволяет реализовать научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию функциональных наноматериалов для устройств микро-, оптоэлектроники и фотоники, проводить комплексные исследования их структуры и основных функциональных характеристик методами электронной, атомно-силовой, оптической и нелинейно-оптической микроскопии, оптической и нелинейно-оптической микроскопии ближнего поля, методами генерации второй оптической гармоники, оптической спектроскопии отражения/пропускания, однофотонной и двухфотонной люминесценции, в том числе – в области низких температур.

Направления научных исследований

  • Фундаментальные исследования в области микро-, опто- и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, квантовой электроники и электродинамики;
  • Исследования в области разработки электронной и оптоэлектронной компонентной базы, материалов и функциональных элементов сверхвысокочастотной оптоэлектроники;
  • Исследования в области информационно-телекоммуникационных систем;
  • Разработка методов и материалов для генерации и детектирования терагерцового излучения;
  • Разработка методов и материалов сверхбыстрой нанофотоники и наноплазмоники;
  • Подготовка научных кадров высшей квалификации.

Приоритетные направления
119454, г. Москва, пр-т Вернадского, д.78
📷

Оборудование (11)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec)
Германия WITec alpha 300s 2012
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Россия 2006
Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Соединённые Штаты Америки Agilent Tecnologies E5071B, E8363B, 8341B ; 2008
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Соединённые Штаты Америки HINDS-Instrument PEM-100 2009
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Россия Авеста-проект ASP-150 2008
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Россия Авеста-проект KIT50i 2006
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Соединённые Штаты Америки Spectra Physics MaiTai 2008
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Россия Буревестник ДРОН-3, ДРОН-4 1980
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Нидерланды FEI Quanta 200 3D FIB 2006
Установка ВЧ-распыления
Россия ATC - Semiconductor & Technology Equipment STE MS46 2004
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Россия ЗАО «РТИ технологии, приборы, материалы» optCRYO105 2005

Методики (10)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика спектроскопии временного разрешения МИРЭА
Методика фемтосекундной лазерной спектроскопии с высоким пространственным разрешением по одной угловой и двум линейным координатам 10.12.2010
Комплекс методик исследования свойств тонких пленок и наноструктур методом генерации второй оптической гармоники 10.12.2010
Методика исследования люминесценции в микро- и наноструктурированных материалах, в т.ч. в области низких температур 15.05.2010
Комплекс методик исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники 10.12.2010
Комплекс методик исследования структуры материалов на основе электронной и зондовой микроскопии 15.05.2010
Комплекс методик исследования структуры материалов методом рентгеноструктурного анализа 15.05.2010
Комплекс методик исследования структуры методом сканирующей оптической микроскопии
Комплекс методик исследования структуры и свойств наноматериалов методом компьютерного моделирования
Нелинейно-оптическая конфокальная микроскопия

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий