Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования «Высокоразрешающая спектроскопия газов и конденсированных сред»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП «Спектроскопия и оптика»

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://www.iae.nsk.su/index.php/ru/collab-center

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, пр-т. Академика Коптюга, 1

Руководитель ЦКП:

  • Корольков Виктор Павлович, доктор технических наук
  • +7 (383) 3333091
  • vkorolkov@yandex.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 18Число публикаций, ед.: 25Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 53.86

Краткое описание ЦКП:

Значительная часть исследований, выполняемых в ЦКП, связана с изучением свойств новых  (в том числе наноструктурированных) материалов, фотонных кристаллов, сенсоров и систем диагностики (в т.ч. на основе волоконной оптики). Исследования в этих областях открывают новые возможности для создания суперпризм, волноводов, оптических фильтров, микрорезонаторов, метаматериалов и т.д. Появляются новые перспективы в управлении оптическим излучением и его свойствами, в создании принципиально новых схем волоконных лазеров.  
Прикладные исследования, проводимые в ЦКП, связаны с развитием технологий элементов волоконной и дифракционной оптики. Эти исследования базируются на широком спектре технологического и метрологического оборудования.
Оборудование ЦКП «Спектроскопия и оптика» в основном распределено между шестью экспериментальными комплексами:
1.    Комплекс для исследования структуры материалов на нанометровых масштабах;
2.    Комплекс для создания и исследования оптических и нелинейно-оптических свойств нанокомпозитных сред;
3.    Комплекс для исследований материалов методами терагерцовой спектроскопии;
4.     Комплекс для изучения ультрахолодных атомов и ядерных спиновых изомеров молекул;
5.     Комплекс подготовки и тестирования оптоволоконных компонентов;
6.    Комплекс микроструктурирования поверхности оптических материалов;
7.     Комплекс прецизионного прототипирования.

    Все работы  в ЦКП выполняются под научным руководством специалистов мирового уровня. Регулярно проводятся совместные семинары с участием сотрудников институтов СО РАН.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследование физических процессов в газах и конденсированных средах методами нелинейной спектроскопии атомов и молекул, кластерных агрегатов;
  • Исследование структуры, динамики и релаксации на наномасштабах в кристаллах с дефектами, аморфных веществах и стёклах;
  • Исследование газовой кинетики в поле излучения;
  • Развитие технологий элементов волоконной и дифракционной оптики.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 22 ед.):

Атомно-силовой микроскоп Muiti View 2000 (Nanonics Imaging)
Марка:  Multi View 2000
Фирма-изготовитель:  Nanonics Imaging
Страна происхождения:  Израиль
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Двухканальный спектрофотометр UV-Probe 2000 (Shimadzu)
Марка:  UV-Probe 2000
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Дифференциальный сканирующий калориметр динамического теплового потока с системой охлаждения LN2 (Netzsch)
Марка:  Нетц-Групп
Фирма-изготовитель:  Netzsch (Geratebau GnbH)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для прецизионного прототипирования
Марка:  ВХ 300 А, MG1432E/1000, НТС45150, РР-50+50D+50F
Фирма-изготовитель:  Pinnacle Machine Tool Co., Ltd
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс подготовки и тестирования оптоволоконных компонент в составе: AQ6370 (Yokogawa), CW-200B (Lightel), FSM-17S и FSR-02 (Fujikura).
Марка:  Yokogawa AQ6370, Fujikura FSM-17S, Fujikura FSR-02, Lightel CW-200B
Фирма-изготовитель:  Yokogawa Electric Corporation, Fujikura, Lightel
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Комплекс цифрового анализа лазерного излучения и сигналов (Coherent, Thorlabs, Le Croy, Agilent, Mesa Photonics)
Марка:  Комплекс цифрового анализа лазерного излучения и сигналов (Coherent, Thorlabs, Le Croy, Agilent, Mesa Photonics)
Фирма-изготовитель:  Coherent, Thorlabs, Le Croy, Agilent, Mesa Photonics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Круговая лазерная записывающая система ЛФП CLWS-300IAE (ИАиЭ)
Марка:  CLWS-300IAE
Фирма-изготовитель:  ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1

Малогабаритный широкополосный терагерцовый спектрометр с разрешением во времени на базе волоконного лазера и малогабаритного генератора широкополосного терагерцового излучения
Фирма-изготовитель:  ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems)
Марка:  LEICA DM IRB
Фирма-изготовитель:  Leica Mirosystems GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп биологический лазерный сканирующий LSM 700
Марка:  LSM 700
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi) с системой микроанализа Quantax 70 и модулями нанесения углеродных (108С) и металлических пленок (108)
Марка:  TM-3000, Quantax70, Cressington Carbon coater 108 carbon/A, Cressington Sputter coater 108
Фирма-изготовитель:  Hitachi, Ted Pella, Inc., Bruker Nano, GmbH
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система нестационарной терагерцовой спектроскопии на основе титан-сапфирового лазера с многопроходным усилителем
Марка:  Интегрированный комплекс приборов произведенных в США, Великобритании и России.
Фирма-изготовитель:  ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Система синхронной регистрации электромагнитного излучения в различных диапазонах АВЕСТА
Марка:  Модули: Измеритель мощности Ophir с головкой Wega (пр-во Ophir Optronics Solutions Ltd, международная компания), Спектрометр ASP-100M (пр-во Авеста, Россия), Сканирующий автокоррелятор AA-20DD (пр-во Авеста, Россия)
Фирма-изготовитель:  Авеста и Ophir Optronics Solutions Ltd,
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Спектральный эллипсометр Спектроскан (ИФП СО РАН)
Марка:  Спектроскан
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

Спектрометр TFP-1 (JRS Scientific Instruments) в комплекте с источником излучения EXLSR-532-200-CD
Марка:  TFP-1
Фирма-изготовитель:  JRS Scientific Instruments
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
Марка:  Vertex 80 V
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Спектрофлюориметр Cary Eclipse (Agilent Technologies)
Марка:  Cary Eclipse
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Тройной Рамановский спектрометр
Марка:  TR777AS в комплекте с лазерами Quamtum Torus и Cobolt Flamenco
Фирма-изготовитель:  Princeton Instruments
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка для прецизионного магнетронного осаждения металлов АТС-2200Н (AJA)
Марка:  ATC 2200
Фирма-изготовитель:  AJA
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка осаждения покрытий VSE-PVD-100-2
Марка:  VSE-PVD-100-2
Фирма-изготовитель:  ООО Вакуумные системы и электроника
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Установка реактивного ионного травления Plasmalab 80 Plus (Oxford Instruments)
Марка:  Plasmalab 80 Plus
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Цифровая система многоканальной регистрации спектра Spec-10 System (Princeton Instruments)
Марка:  Spec-10 System
Фирма-изготовитель:  Princeton Instruments
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП (номенклатура — 22 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Изготовление волоконных: - Ответвителей 2х2 с заданным коэффициентом деления 0-99%. - Направленных спектральных ответвителей 2х2. Спектральный интервал: 600-2500 нм.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники
Краткое описание услуги:  Прямая лазерная запись на пленках фоторезиста или хрома дифракционных оптических элементов (ДОЭ) и микролинзовых растров (МЛР), характеризация оптических свойств ДОЭ и МЛР.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники
Краткое описание услуги:  5-ти осевой фрезерная обработка для изготовления сложных многосторонних деталей без потери точности и с наименьшими затратами времени. Технические характеристики: 1. Рабочая зона Перемещения по осям X / Y / Z 1140/610 Минимальное расстояние между торцом шпинделя и столом вертик.: 110~920; горизонт.: 355~1165 Скорость подачи стола, мм/мин 10000 2. Рабочий стол Размер стола 1300×610 Т-канавки (к-во х ширина х шаг) 18×125×5 Диаметр поворотного стола, мм Ø320 Нагрузка на стол, кг 810 Скорость поворотного стола, об/мин 22,2 3. Шпиндель Мощность главного двигателя 15/18кВт Внутренний диаметр подшипника Ø70 Конус шпинделя DIN40 Частота вращения шпинделя (об/мин) 15000 Тип привода Червячная передача Максимальный крутящий момент шпинделя, НМ 48/120 4. Перемещения по осям Ускоренное перемещение по осям X / Y / Z 36/36/24 5. Инструментальный магазин Максимальный диаметр инструмента Ø75 Максимальная длина инструмента 250 Максимальный вес инструмента 8 Револьверная головка(ВМТ) Количество инструментов 30(40,60) Тип смены инструмента Барабанного типа: PLATE; Манипуляторного типа DAUL ARM 6. Двигатели Y серво двигатель Крутящий момент по оси Z, Нм 11 Крутящий момент по по оси X, Нм 11 Точность станка Точность позиционирования 0,005

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Измерение оптического спектра волоконных источников в диапазонах: - 200-1100 нм методом дифракционной решетки. - 600-1700 нм методом дифракционной решетки. - 1000-2600 нм методом Фурье-спектроскопии.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Измерение энергии и мощности светового пучка Измерение пространственных характеристик светового пучка (критерий М2).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Анализ характеристик световых импульсов с длительностью в десятки фемтосекунд.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Анализ характеристик электрических импульсов (ширина полосы до 2 ГГц).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследование фотоэлектрических характеристик многоэлементных линейных твердотельных детекторов излучения и дифракционной эффективности вогнутых дифракционных решеток для задач разработки и сборки спектрометрического оборудования

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спектроскопия низкочастотного комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая определять форму и интенсивность бозонного пика, вклад быстрой релаксации, характеристики низкочастотных оптических фононов в кристаллических средах. Спектральный диапазон 2 -500 см-1, разрешение – порядка 1 см-1.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Люминесцентная спектроскопия. Содержание хим. элементов на уровне 100 ppb

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение теплоемкости методом дифференциальной сканирующей калориметрии для твердых и жидких материалов в диапазоне температур от -150 до 600 градусов Цельсия.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Нанесение тонких проводящих покрытий (металлы, углерод) методами испарения в вакууме (углерод) и магнетронного распыления (металлы) на образцы, позволяющее сохранить субмикронные детали рельефа поверхности. Толщина слоев от ~10 нм.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Магнетронное напыление металлических (Cr, Cu, Al) пленок на подложки до 300 мм в диаметре.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Напыление тонкопленочных покрытий на подложки до 30 мм диаметром. Металлические пленки: Cu, Al, Ti, Ni, Cr, Nb. Полупроводниковые пленки: Si. Диэлектрические покрытия: TiO2, SiO2, Al2O3.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спектроскопия комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, биологические клетки, растворы), позволяющая определять колебательный спектр исследуемого вещества. Спектральный диапазон 100 -5000 см-1, разрешение – порядка 1 см-1, предельное разрешение - 0.3 см-1

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Прецизионное измерение длины волны лазерного излучения.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Реактивное ионное травление кварцевых подложек через фоторезистную или металлическую маску. Диаметр подложек - до 200 мм. Толщина - до 25 мм. Глубина травления - до 5 мкм (для толщины подложек до 10 мм).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спектроскопия Мандельштама-Бриллюэна для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая бесконтактно определить скорости звука в гигагерцовом диапазоне, рассчитать модули упругости, времена и спектр релаксации. Спектральный диапазон 0.1-1000 ГГц, резкость – 1000, контраст инструментального контура до 1010.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спектрофлуориметрия жидкостей, твердых тел, порошков. Спектральное разрешение - до 1.5 нм, Спектральный диапазон - 200-900 нм, Временное разрешение - 1 мкс.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Нестационарная терагерцовая спектроскопия, дистанционная диагностика полупроводниковых материалов и структур, в т. ч. систем пониженной размерности, а также биологических объектов, без нарушения их функционирования. Спектральный диапазон, 0,1 – 2,5 ТГц, спектральное разрешение менее 10 ГГц, динамический диапазон более 60 дБ, временное разрешение менее 1 пс.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Электронная микроскопия поверхности нано- и микроструктур с возможностью предварительного напыления на них золота и углерода. Разрешение – до 30 нм. Увеличение – 30-30000 крат

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Идентификация и анализ количеств химических элементов в приповерхностном слое (~100 нм) образцов по спектрам рентгеновского излучения, возбуждаемого электронным пучком (Quantex70, Bruke Nano, Gmbh). Совмещение со сканирующим электронным микроскопом (TM-3000, Hitachi) позволяет получать поверхностное распределение элементов с высоким разрешением. Не требуется охлаждение жидким азотом. Детектируется большинство химических элементов, начиная с бора.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 21 ед.):

Метод время-разрешающей оптической спектроскопии возбуждения-зондирования (Pump-probe spectroscopy)
Методика уникальна:  нет

Методика определения химического состава микрообразцов по K-, L- эмиссионным спектрам химических элементов
Методика уникальна:  нет

Методика прямой лазерной записи фотошаблонов, угловых шкал, либмов и синтезированных голограмм на пленках хрома
Методика уникальна:  для России

Ближнепольная микроскопия поверхности нано- и микроструктур
Методика уникальна:  для России

Измерение спектров поглощения, люминесценции и комбинационного рассеяния света в ближнем и среднем ИК диапазоне

Методика измерения спектра оптического сигнала волоконных источников

Методика прямой лазерной записи многоуровневых дифракционных оптических элементов и микролинзовых растров в фоторезисте
Методика уникальна:  для России

Исследование характеристик вогнутых дифракционных решеток в видимом диапазоне

Исследование фотоэлектрических характеристик линейных фотодетекторов

Методика формирования микрорельефа на подложках из плавленного кварца
Методика уникальна:  для России

Методика измерения временных, мощностных и пространственных параметров интенсивности оптического сигнала.

Методика нанесения металлических и диэлектрических покрытий магнетронным распылением в атмосфере буферных газов.
Методика уникальна:  нет

Методика восстановления динамики терагерцовых спектров с субпикосекундным временным разрешением после предварительного возбуждения образца на длинах волн 800 и 400 нм.
Методика уникальна:  для России

Методика измерения опорного и сигнального терагерцовых импульсов, а также алгоритмы цифровой коррекции и решения обратной задачи для восстановления оптических и диэлектрических свойств материалов в терагерцовом диапазоне на основе измеренных импульсов.

Методика определения активности электрон-транспортной цепи в замораживаемых биологических клетках и эмбрионах по параметрам фотовыцветания линий резонансного КРС.

Методика определения распределения металлических наночастиц по размерам из спектров низкочастотного КРС.

Методика определения массы ДНК в клетках в крови по спектрам КРС (без использования красителей)

Методика измерения спектров низкочастотного комбинационного рассеяния света (до 4 см-1 от длины возбуждения лазера) от светорассеивающих веществ (порошки, коллоидные растворы, газогидраты)

Методика бесконтактного определения скорости звука в конденсированных средах в гигагерцовом диапазоне.

Метод Z-сканирования, позволяющий измерять дисперсию нелинейного показателя преломления и поглощения в области 0,4-2,5 мкм.
Методика уникальна:  для России

Методика подготовки и тестирования оптоволоконных компонент для спектрального диапазона 600-2500 нм (спектрально-селективные волоконные ответвители (0-99%), изготовление микро- и нановолокон с диаметром 1-10 мкм).
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран