Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования «Высокоразрешающая спектроскопия газов и конденсированных сред»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП «Спектроскопия и оптика»

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://www.iae.nsk.su/index.php/ru/collab-center

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, пр-т. Академика Коптюга, 1

Руководитель ЦКП:

  • Корольков Виктор Павлович, доктор технических наук
  • +7 (383) 3331065
  • victork@iae.nsk.su

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2019 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Значительная часть исследований, выполняемых в ЦКП, связана с изучением свойств новых  (в том числе наноструктурированных) материалов, фотонных кристаллов, сенсоров и систем диагностики (в т.ч. на основе волоконной оптики). Исследования в этих областях открывают новые возможности для создания суперпризм, волноводов, оптических фильтров, микрорезонаторов, метаматериалов и т.д. Появляются новые перспективы в управлении оптическим излучением и его свойствами, в создании принципиально новых схем волоконных лазеров. Прикладные исследования, проводимые в ЦКП, связаны с развитием технологий элементов волоконной и дифракционной оптики. Эти исследования базируются на широком спектре технологического и метрологического оборудования. Все работы  в ЦКП выполняются под научным руководством специалистов мирового уровня. Регулярно проводятся совместные семинары с участием сотрудников институтов СО РАН.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследование физических процессов в конденсированных средах методами нелинейной спектроскопии;
  • Исследование структуры, динамики и релаксации на наномасштабах в кристаллах с дефектами, аморфных веществах и стёклах;
  • Развитие технологий элементов волоконной, интегральной и дифракционной оптики;
  • Развитие технологий лазерного 3D послойного синтеза прецизионных изделий из термостойких и композиционных порошковых материалов;
  • Разработка аналитических приборов и технологических и систем для выполнения задач, возникающих в ЦКП и под заказ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 29 ед., средняя загрузка — 1%):

Генератор фемтосекундного излучения накачки TERA ATs G
Загрузка прибора: 33%
Марка:  TERA ATs G
Фирма-изготовитель:  ООО "Авеста-проект"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Измеритель длин волн лазерного излучения
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  WS-5VISIR
Фирма-изготовитель:  ООО “Ангстрем”
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный микроскоп проходящего света
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  BX43
Фирма-изготовитель:  Olympus
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Лазерный интерферометр ФИЗО ЗАО «ДИФРАКЦИЯ» ФТИ-100PS-GbE-R
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ФТИ-100PS-GbE-R
Фирма-изготовитель:  ЗАО "Дифракция"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оборудование для подготовки и тестирования оптоволоконных компонент в составе: AQ6370 (Yokogawa), CW-200B (Lightel) и FSR-02 (Fujikura).
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Yokogawa AQ6370, Fujikura FSR-02, Lightel CW-200B
Фирма-изготовитель:  Yokogawa Electric Corporation, Fujikura, Lightel
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Оборудование для цифрового анализа лазерного излучения и сигналов (Coherent, Thorlabs, Le Croy, Textronix, Agilent, Mesa Photonics)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Комплекс цифрового анализа лазерного излучения и сигналов (Coherent, Thorlabs, Le Croy, Agilent, Mesa Photonics)
Фирма-изготовитель:  Thorlabs, Tektronix, Le Croy, Agilent, Coherent, Mesa Photonics, HighFinesse
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Одномодовый волоконный лазер 500Вт с волокном 25 мкм (в комплекте с коллиматором и чиллером)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  MFS-500W-LLS
Фирма-изготовитель:  Maxphotonics Co., Ltd.
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  КНР
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Оптическая система контроля
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  "Колибри-2"
Фирма-изготовитель:  ВМК "Оптоэлектроника"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Прецизионный круговой позиционер Aerotech APR150DR-135-RE-AS-A TTM-NOBK-Haiar
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  APR150DR-135-RE-AS-A TTM-NOBK-Haiar
Фирма-изготовитель:  Aerotech
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Прибор для определения профиля поверхности на микро- и нано- масштабах (АСМ) с системой плазменной подготовки поверхности образцов
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  XE15
Фирма-изготовитель:  Park Systems
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Республика Корея
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Резервное оборудование ЦКП (для прецизионного прототипирования)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ВХ 300 А, НТС45150, РР-50+50D+50F
Фирма-изготовитель:  Pinnacle Machine, SMTCL, PEIPING
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Китайская Республика
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Резервное оборудование ЦКП (спектрометрическое)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Спектроскан, Малогабаритный широкополсный терагерцовый спектрометр, Spec-10, UV-2501,
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН, ИАиЭ СО РАН, Princeton Instruments, Shimadzu
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Резервное оборудование ЦКП (технологическое)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Plasmalab 80 Plus, CLWS-300IAE
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments, ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Резервное оборудование ЦКП для анализа топологии и состава поверхности
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Multi View 2000, LSM 700, DM IRB, TM-3000
Фирма-изготовитель:  Nanonics Imaging, Ziess, Leica, Hitachi
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Израиль
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рефлектометр высокого разрешения
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  OBR 4600
Фирма-изготовитель:  Luna Innovations
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Система для сварки и обработки оптического волокна
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  LZM-100
Фирма-изготовитель:  Fujikura
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система мультиспектральной синхронной генерации фемтосекундных лазерных импульсов
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Фирма-изготовитель:  ООО "Фемтоника"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система нестационарной терагерцовой спектроскопии на основе титан-сапфирового лазера с многопроходным усилителем
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Интегрированный комплекс приборов произведенных в США, Великобритании и России.
Фирма-изготовитель:  ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Система синхронной регистрации электромагнитного излучения в различных диапазонах АВЕСТА
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Модули: Измеритель мощности Ophir с головкой Wega (пр-во Ophir Optronics Solutions Ltd, международная компания), Спектрометр ASP-100M (пр-во Авеста, Россия), Сканирующий автокоррелятор AA-20DD (пр-во Авеста, Россия)
Фирма-изготовитель:  Авеста и Ophir Optronics Solutions Ltd,
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Спектрометр TFP-1 (JRS Scientific Instruments) в комплекте с источником излучения EXLSR-532-200-CD
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  TFP-1
Фирма-изготовитель:  JRS Scientific Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Vertex 80 V
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Спектрофлюориметр Cary Eclipse (Agilent Technologies)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Cary Eclipse
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Стенд для лазерной литографии Х-Y ЛНЛ
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Х-Y ЛНЛ
Фирма-изготовитель:  ИАиЭ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Терагерцовая лазерная спектроскопическая платформа Toptica TERASCAN1550
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  TERASCAN1550
Фирма-изготовитель:  Toptica
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Тройной Рамановский спектрометр
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  TR777AS в комплекте с лазерами Quamtum Torus и Cobolt Flamenco
Фирма-изготовитель:  Princeton Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Усилитель пикосекундных импульсов
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Фирма-изготовитель:  Ampliconyx
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Финляндия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для прецизионного магнетронного осаждения металлов АТС-2200Н (AJA)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ATC 2200
Фирма-изготовитель:  AJA
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка осаждения покрытий VSE-PVD-100-2
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  VSE-PVD-100-2
Фирма-изготовитель:  ООО Вакуумные системы и электроника
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Фемтосекундный лазер PHAROS-20 Вт
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  РН1-20
Фирма-изготовитель:  Light Conversion
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Литва
Год выпуска:  2019
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП (номенклатура — 21 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Краткое описание услуги:  Изготовление волоконных: - Ответвителей 2х2 с заданным коэффициентом деления 0-99%. - Направленных спектральных ответвителей 2х2. Спектральный интервал: 600-2500 нм.

Краткое описание услуги:  Изготовление дифракционных оптических элементов для задач оптического контроля методов сканирующей лазерной записи и реактивного ионного травления.
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Прямая лазерная запись на пленках фоторезиста или металлов микроструктурированных оптических элементов, характеризация оптических свойств изготовленных элементов.
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Измерение КРС при возбуждении ИК-лазером с помощью комплекса спектрометра ИК-Фурье Vertex 80 V и блока RAMII.
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Измерение методами интерферометрии формы оптических компонентов с поверхностями плоской, сферической и асферической формы.
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Измерение оптического спектра волоконных источников в диапазонах: - 200-1100 нм методом дифракционной решетки. - 600-1700 нм методом дифракционной решетки. - 1000-2600 нм методом Фурье-спектроскопии.

Краткое описание услуги:  Измерение энергии и мощности светового пучка Измерение пространственных характеристик светового пучка (критерий М2).

Краткое описание услуги:  Измерение спектров пропускания конденсированных сред в среднем ИК диапазоне на спектрометре ИК-Фурье Vertex 80 V
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  По спектру светового сигнала отраженного от брегговских решеток производится измерение температуры или механических деформаций вдоль оптического волокна с высоким пространственным разрешением
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Измерение формы микро-нано-рельефа поверхности на атомно-силовом микроскопе PARK XE-15
Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20):  цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Краткое описание услуги:  Анализ характеристик световых импульсов с длительностью в десятки фемтосекунд.

Краткое описание услуги:  Анализ характеристик электрических импульсов (ширина полосы до 2 ГГц).

Краткое описание услуги:  Спектроскопия низкочастотного комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая определять форму и интенсивность бозонного пика, вклад быстрой релаксации, характеристики низкочастотных оптических фононов в кристаллических средах. Спектральный диапазон 2 -500 см-1, разрешение – порядка 1 см-1.

Краткое описание услуги:  Люминесцентная спектроскопия. Содержание хим. элементов на уровне 100 ppb

Краткое описание услуги:  Магнетронное напыление металлических (Cr, Cu, Al) пленок на подложки до 300 мм в диаметре.

Краткое описание услуги:  Напыление тонкопленочных покрытий на подложки до 30 мм диаметром. Металлические пленки: Cu, Al, Ti, Ni, Cr, Nb. Полупроводниковые пленки: Si. Диэлектрические покрытия: TiO2, SiO2, Al2O3.

Краткое описание услуги:  Спектроскопия комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, биологические клетки, растворы), позволяющая определять колебательный спектр исследуемого вещества. Спектральный диапазон 100 -5000 см-1, разрешение – порядка 1 см-1, предельное разрешение - 0.3 см-1

Краткое описание услуги:  Прецизионное измерение длины волны лазерного излучения.

Краткое описание услуги:  Спектроскопия Мандельштама-Бриллюэна для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая бесконтактно определить скорости звука в гигагерцовом диапазоне, рассчитать модули упругости, времена и спектр релаксации. Спектральный диапазон 0.1-1000 ГГц, резкость – 1000, контраст инструментального контура до 1010.

Краткое описание услуги:  Спектрофлуориметрия жидкостей, твердых тел, порошков. Спектральное разрешение - до 1.5 нм, Спектральный диапазон - 200-900 нм, Временное разрешение - 1 мкс.

Краткое описание услуги:  Нестационарная терагерцовая спектроскопия, дистанционная диагностика полупроводниковых материалов и структур, в т. ч. систем пониженной размерности, а также биологических объектов, без нарушения их функционирования. Спектральный диапазон, 0,1 – 2,5 ТГц, спектральное разрешение менее 10 ГГц, динамический диапазон более 60 дБ, временное разрешение менее 1 пс.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 26 ед.):

Методика измерений температурной и временной зависимости теплоемкости методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерений глубины бинарного микрорельефа дифракционных оптических элементов по спектру отражения света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерения глубины и искажений формы микрорельефа многоуровневых рельефно-фазовых оптических элементов путем анализа профиля синусоидальных тестовых структур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для всего мира

Методика измерения временных, мощностных и пространственных параметров интенсивности оптического сигнала
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  нет

Методика измерения спектра оптического сигнала волоконных источников
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Измерение спектров поглощения, люминесценции и комбинационного рассеяния света в ближнем и среднем ИК диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерения эталонного и сигнального терагерцовых импульсов и определение оптических и диэлектрических характеристик материалов в терагерцовом диапазоне с помощью алгоритмов решения обратной задачи и цифровой коррекции ошибок
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерения нелинейных показателей преломления и поглощения методом продольного сканирования (Z-scan) в видимой и ближней ИК области спектра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерения скорости звука в конденсированных средах в гигагерцовом диапазоне частот бесконтактным способом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Исследование кинетики терагерцовых спектров с субпикосекундным временным разрешением после возбуждения образца импульсами оптического излучения с длинами волн 800 и 400 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.11.2018
Методика уникальна:  для России

Методика измерения температуры или механических деформаций вдоль оптического волокна с высоким пространственным разрешением
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИАиЭ СО РАН
Дата аттестации:  30.12.2019
Методика уникальна:  для России

Методика измерения параметров ВБР решеток
Методика уникальна:  для России

Методика измерения рельефа с помощью конфокального микроскопа
Методика уникальна:  нет

Метод время-разрешающей оптической спектроскопии возбуждения-зондирования (Pump-probe spectroscopy)
Методика уникальна:  нет

Методика определения химического состава микрообразцов по K-, L- эмиссионным спектрам химических элементов
Методика уникальна:  нет

Методика прямой лазерной записи фотошаблонов, угловых шкал, лимбов и синтезированных голограмм на пленках металлов
Методика уникальна:  для всего мира

Методика прямой лазерной записи многоуровневых дифракционных оптических элементов и микролинзовых растров в фоторезисте
Методика уникальна:  для России

Исследование характеристик вогнутых дифракционных решеток в видимом диапазоне
Методика уникальна:  для России

Исследование фотоэлектрических характеристик линейных фотодетекторов
Методика уникальна:  для России

Методика формирования микрорельефа на подложках из плавленного кварца
Методика уникальна:  для России

Методика нанесения металлических и диэлектрических покрытий магнетронным распылением в атмосфере буферных газов.
Методика уникальна:  нет

Методика определения активности электрон-транспортной цепи в замораживаемых биологических клетках и эмбрионах по параметрам фотовыцветания линий резонансного КРС.

Методика определения распределения металлических наночастиц по размерам из спектров низкочастотного КРС.

Методика определения массы ДНК в клетках в крови по спектрам КРС (без использования красителей)

Методика измерения спектров низкочастотного комбинационного рассеяния света (до 4 см-1 от длины возбуждения лазера) от светорассеивающих веществ (порошки, коллоидные растворы, газогидраты)

Методика подготовки и тестирования оптоволоконных компонент для спектрального диапазона 600-2500 нм (спектрально-селективные волоконные ответвители (0-99%), изготовление микро- и нановолокон с диаметром 1-10 мкм).
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран