Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Омский региональный центр коллективного пользования СО РАН

Сокращенное наименование ЦКП: ОмЦКП СО РАН

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://www.oscsbras.ru/o-centre/struktura/omskiy-regionalnyy-tsentr-kollektivnogo-polzovaniya-omtskp-so-ran.php

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Омская область
  • 644040, г. Омск, ул. Нефтезаводская, д. 54

Руководитель ЦКП:

  • Тренихин Михаил Викторович, кандидат химических наук, доцент
  • +7 (3812) 672216
  • tremv@yandex.ru

Контактное лицо:

  • Миллер Максим Александрович, доктор экономических наук, доцент
  • +7 (3812) 371751
  • millerma@oscsbras.ru

Сведения о результативности за 2018 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 4Число публикаций, ед.: 9Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 36.25

Краткое описание ЦКП:

Омский региональный ЦКП СО РАН создан по Постановлению Президиума CО РАН №106 28.03.2002 как структурное подразделение Омского научного центра СО РАН (ОНЦ СО РАН), г. Омск. Общепринятое сокращенное название - ОмЦКП СО РАН. Институтами-организаторами на тот момент явились Омский филиал Института катализа им. Г.К. Борескова  СО РАН, г. Новосибирск (в настоящее время ИППУ СО РАН); Конструкторско-технологический институт технического углерода СО РАН, г Омск (в настоящее время ИППУ СО РАН); Институт сенсорной микроэлектроники СО РАН, г. Омск

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • химический анализ (рентгенофлуоресцентная, атомно-абсорбционная и атомно-эмиссионная с индуктивно-связанной плазмой спектроскопия, газовая хромато-масс-спектрометрия);
  • структурный анализ (рентгеновская дифракция, оптическая и электронная микроскопия с рентгеновским микроанализом, методы ИК-УФ-КР спектроскопии, радиоспектроскопия ЯМР и ЭПР);
  • анализ текстуры и дисперсности (методы адсорбции, газовая пикнометрия, ртутная порометрия);
  • синхронный термический анализ (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ и сканирующая микрокалориметрия с масс-спектрометрией);
  • изучение реакционной способности веществ и материалов (температурно-программируемые методы восстановления – ТПВ, окисления – ТПО, десорбции –ТПД.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 34 ед., нет данных о загрузке за 2019 год):

Автоматический эллипсометр АСЭБ-10 М (ИФП СО РАН)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  АСЭБ-10 М
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Адсорбционная установка Sorptomatic-1900 (Carlo Erba)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Sorptomatic-1900
Фирма-изготовитель:  Carlo Erba
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Италия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Анализатор поверхности и пористости ASAP-2020 (Micromeritics)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  ASAP-2020
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Анализатор удельной поверхности СОРБТОМЕТР-М (ИК СО РАН)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  СОРБТОМЕТР-М
Фирма-изготовитель:  ИК СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Аналитический комплекс на базе жидкостного хроматографа Милихром А-02 (Эконова)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  МиллиХром А-02
Фирма-изготовитель:  Эконова
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Атомно-абсорбционный спектрометр AA-6300 (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  AA-6300
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Атомно-силовой микроскоп ACM MP 3D c принадлежностями Stand Alone (Asylum Research)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Stand Alone
Фирма-изготовитель:  Asyses
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Австралия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  ЛЭФ-959
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Высокоэффективный жидкостной хроматограф Ultimate-3000 RSLC (Dionex Thermo)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Ultimate-3000 RSLC
Фирма-изготовитель:  Dionex Thermo
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Газовый хромато-масс-спектрометр Agilent 5973N/6890N (Agilent)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  5973N/6890N
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Гелиевый пикнометр AccuPyc-1330 (Micromeritics)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  AccuPyc-1330
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Дифференциально-термический анализатор DTG-60Н (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  DTG-60Н
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

ИК-Раман-Фурье-спектрометр RFS 100/S (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  RFS 100/s
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1

ИК-спектрометр IR-Prestige 21 (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  IR-Prestige21
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр Nicolet-5700 с ИК-микроскопом Continium (Thermo Fisher Scientific)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Nicolet-5700 с ИК-микроскопом Continium
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Импульсная лазерная установка синтеза необычных форм углерода ИЛУ-2 (ИЛФ СО РАН)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  ИЛУ-2
Фирма-изготовитель:  ИЛФ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комбинированная КРС-установка, включающая конфокальный Раман-микроскоп с дисперсионным Раман-спектрометром Nicolet DXR Smart Raman (Thermo Fisher Scientific Corporation)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Nicolet DXR Smart Raman
Фирма-изготовитель:  Thermo Electron Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный анализатор размера частиц SALD-2101 (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  SALD-2101
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Магнитная мультиколлекторная масс-спектрометрическая система Delta V Advantage (Thermo Finnigan) для анализа стабильных изотопов
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Delta V Advantage
Фирма-изготовитель:  Thermo Finnigan
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой 710-ES Varian (Agilent)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  710-ES Varian
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический материаловедческий микроскоп Axio Imager 1Am (Carl Zeiss)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Axio Imager 1Am
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-250
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  JEM-2100
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Проточная газофазная химическая установка для синтеза массивов углеродных нанотрубок CVD-4 (ИНХ СО РАН)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  CVD-4
Фирма-изготовитель:  ИНХ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Рентгеновский дифрактометр D8 Advance с высокотемпературной HТK16 и реакционной камерами XRK-900 (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  D8 Advance
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский флуоресцентный спектрометр ARL OPTIM’X (Thermo Techno)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  ARL OPTIM’X
Фирма-изготовитель:  Thermo Techno
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Синхронный термоанализатор, сопряженный с квадрупольным масс-спектрометром, STA-449C (Netzsch)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  STA-449C
Фирма-изготовитель:  Netzsch (Geratebau GnbH)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-350
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  JSM-6610LV
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофотометр UV-VIS 2501PC (Shimadzu), с приставкой ISR-240A
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  UV-VIS 2501PC
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка механического утонения Dimple Grinder, модель 656 для препаративной подготовки образцов к просвечивающим и сканирующим электронным микроскопам (Gatan)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Dimple Grinder, модель 656
Фирма-изготовитель:  Gatan
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Хемосорбционная установка AutoChem-2920 (Micromeritics)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  AutoChem-2920
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Хроматограф имитированной дистилляции на базе GC-2010 (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  GC-2010
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Элементный C,H,N,S,O,Cl анализатор Vario EL Cube (Elementar)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Vario Cube
Фирма-изготовитель:  Elementar
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ЭПР-спектрометр EMXPlus (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  EMXPlus
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ЯМР-спектрометр Avance-400 (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Avance-400
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 6 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Методом сканирующей электронной микроскопии с энергодисперсионным анализом проведено исследование белого налета, образовавшегося на стальных деталях, имеющих цинковое покрытие с хроматированием,

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Методом рентгеновской дифракции исследование фазового состава образцов химических веществ биологического происхождения (конкрементов)

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Методом сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа проведено определение качественного состава (основных химических элементов) провода обмотки датчика перемещения

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой проведено определение содержания основных элементов в проводе обмотки датчика перемещения

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Методом атомно-эмиссионной спектроскопии проведено определение элементного состава в сухом мелкодисперсном отработанном катализаторе

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Методом рентгенофлуоресцентного анализа проведено определение элементного состава в сухом мелкодисперсном отработанном катализаторе

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 31 ед.):

Определение содержания элементов в неорганических соединениях методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  22.05.2018
Методика уникальна:  нет

Определение содержания элементов в неорганических соединениях методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  21.05.2018
Методика уникальна:  нет

Определение качественного и количественного состава двух образцов платинового сплава (ПлИ-10)» методами атомно-эмиссионной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии с энергодисперсионным анализом, рентгеновской флуоресцентной спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  30.03.2017
Методика уникальна:  нет

Определение состава и структуры бетона методами рентгеновской дифрактометрии, термического анализа, сканирующей электронной микроскопии с энергодисперсионным анализом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  12.06.2017
Методика уникальна:  нет

Анализ состава и структуры образцов растительного происхождения методами ядерно-магнитного резонанса и атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  24.05.2016
Методика уникальна:  для всего мира

Морфологический анализ и идентификация микро- состава поверхности композитных материалов, включая полимеры, эластомеры и резины, методами сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) и рентгеновской энергодисперсионной спектроскопии (ЭДС)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  15.05.2016
Методика уникальна:  для всего мира

Определение дисперсного состава широкого класса углеродных материалов, включая технический углерод разной структурированности и физико-химической обработки, методом лазерной дифракции в ПАВ содержащих суспензиях на анализаторе SALD-2101
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  05.06.2016
Методика уникальна:  для всего мира

Идентификация полиароматических углеводородов (ПАУ) в углеводородных смесях и в техническом углероде (ТУ) методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО ОмГУ им. Ф. М. Достоевского
Дата аттестации:  16.12.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Изучение термостабильности полимеров и модифицированных углеродных материалов методом синхронного термического анализа с масс-спектрометрией.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  01.02.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Моделирование дифракционных картин для одномерно разупорядоченных кристаллов на примере слоистой структуры гидроталькита с разным соотношением двух и трех- валентных катионов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  18.08.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Определение количественной связи между скелетной плотностью по гелию и истинной рентгеновской плотностью.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  22.04.2015
Методика уникальна:  нет

Использование стабильных изотопов 13С, 12С и 1H, 2H для изучения стадий процесса риформинга и межмолекулярного переноса водорода в реакциях каталитического крекинга с применением изотопного масс-спектрометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  13.05.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Анализ никеля и ванадия в катализаторах крекинга.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  18.02.2015
Методика уникальна:  для России

Применение метода рентгеноструктурного анализа к уточнению структур солей методом Ритвельда в программе ТОПАЗ 3.0
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Омский научный центр СО РАН
Дата аттестации:  09.02.2012
Методика уникальна:  для всего мира

Анализ на серу и кислород сложных гидрогенизационныхуглеродных катализаторров Slurri -процессов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  20.02.2012
Методика уникальна:  для всего мира

Многоэлементный количественный анализ углеродсодержащих материалов, твердых, жидких и вязких
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  04.02.2012
Методика уникальна:  для России

Методом атомно силовой микроскопии анализ срезов эластомеров, включая каучуки и резины
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  05.02.2012
Методика уникальна:  для всего мира

Идентификация типа сополимеризации углеводородов методом ЯМР 13С и 1
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  21.11.2012
Методика уникальна:  для России

Моделирование дифракционных картин для одномерно разупорядоченных кристаллов на примере слоистой структуры гидроксида магния
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Омский научный центр СО РАН
Дата аттестации:  11.02.2012
Методика уникальна:  для всего мира

Рентгенофазовый, термохимический анализ и исследование поверхности методом сканирующей электронной микроскопии объектов на основе оксалатов и фосфатов кальция, включая биоматериалы
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  13.06.2016
Методика уникальна:  для всего мира

Методика анализа размера и распределения частиц разной химической природы методом лазерной дифракции.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  01.02.2015
Методика уникальна:  нет

Определение фазового состава биологических кристаллических объектов (конкрементов) методом рентгеновской дифракции
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  13.01.2015
Методика уникальна:  нет

Определение относительного количества связанной и свободной воды в молочных продуктах методом ЯМР релаксометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  21.09.2015
Методика уникальна:  для России

Экспресс-методика определения величин площади удельной поверхности по БЭТ веществ и материалов разной дисперсности и химии на приборах типа СОРБТОМЕТР
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  27.04.2016
Методика уникальна:  для России

Проведение методом сканирующей электронной микроскопии на электронном микроскопе JSM-66100LV, JEOL морфологического и локального микроанализа поверхности металлов, сплавов, оксидов и других неорганических соединений и функциональных материалов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  28.11.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Определение объёма, среднего диаметра и распределения пор по размерам в диапазоне 20-300 нм наноматериалов различного химического состава методом низкотемпературной адсорбции азота.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИППУ СО РАН
Дата аттестации:  08.02.2015
Методика уникальна:  для России

Определение методом просвечивающей электронной микроскопии на электронном микроскопе JEM-2100 JEOL диаметра первичных частиц (глобул) углеродных материалов, в т.ч. технического углерода включая построение гистограмм и статистическую обработку данных
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  30.01.2015
Методика уникальна:  для России

Идентификация разнообразных форм углерода методом спектроскопии комбинационного рассеяния света (Раман-спектроскопия). Определение разупорядоченности глобулярного технического углерода по D- и G-линиям КРС.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  16.03.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Определение содержания серы в дизельном топливе методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  25.03.2015
Методика уникальна:  для России

ИКС-идентификация качественного состава функционального покрова углеродных наноматериалов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  22.01.2015
Методика уникальна:  для всего мира

Исследование структуры, морфологии и рельефа поверхности резиновых изделий методом атомно-силовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОНЦ СО РАН
Дата аттестации:  28.04.2016
Методика уникальна:  для всего мира

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран