Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Технологии наноструктурирования полупроводниковых, металлических, углеродных, биоорганических материалов и аналитические методы их исследования на наноуровне» (ЦКП «Наноструктуры»)

ЦКП создан в 2003 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 3.1.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы»
Адрес
  • Сибирский, Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, пр-т Академика Лаврентьева, д. 13
  • 🌎http://www.isp.nsc.ru/ckp/
Руководитель
  • 👤Латышев Александр Васильевич
  • 📞(383) 3309082
  • latyshev@isp.nsc.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да10850.97
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Задачей ЦКП "Наноструктуры" является предоставление научно-исследовательским, инновационным и технологическим организациям Сибирского региона возможности использования в своих работах современных уникальных и дорогостоящих приборов, входящих в структуру ЦКП.
ЦКП специализируется в области исследований физико-химических свойств поверхности и границ раздела и объемных физических и химических свойств полупроводниковых кристаллических и некристаллических систем.
Деятельность ЦКП "Наноструктуры" строится на основе Положения о центрах коллективного пользования СО РАН, утверждённого на заседании Президиума СО РАН от 01.11.2001 г., Соглашения между организациями, входящими в состав ЦКП и Положения о ЦКП и Регламента ЦКП.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии и химического состава широкого класса материалов из различных областей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, катализ, минералогию и биологию;
  • оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии;
  • определение элементного и химического состава поверхности твердых тел методами Оже, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС);
  • создание массивов наноструктур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики методами оптической, электронной, ионной и зондовой литографии;
  • совершенствование и развитие экспериментальных методов диагностики и литографии применительно к системам пониженной размерности;
  • обучение, стажировки и повышение квалификации персонала Заказчика, эксплуатирующего дорогостоящее аналитическое оборудование, включая подготовку научно-технического персонала других центров коллективного пользования и научно-образовательных комплексов.

Приоритетные направления
Уникальные научные установки (УНУ) в составе оборудования ЦКП

Уникальная научная установка «Многофункциональный аналитический субангстремный сверхвысоковакуумный комплекс»

630090, г. Новосибирск, пр-т Академика Лаврентьева, д. 13
📷

Оборудование (19)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Оптический прямой микроскоп Olympus BX53
Япония Olympus Olympus BX53 2016
Система ионно-лучевой обработки IM150, Oxford Applied Research, UK
Великобритания Oxford Applied Research IM150 2015
Лазерный комплекс Multi Mode 8 (Bruker) для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах
Соединённые Штаты Америки Bruker Corporation Multi Mode 8 2015
Сверхвысоковакуумная установка COMPACT-21T (Riber)
Франция RIBER COMPACT-21T 2014
Высокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп SU 8280 (Hitachi) с приставкой для EDX анализа
Япония Hitachi SU 8280 2014
Модернизированный микроинтерферометр измерительный
Россия КТИ НП, Новосибирск МНП-1 2013
Оптический микроскоп Axio Imager z1m (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Axio Imager z1m 2009
Многофункциональный комплекс плазмохимической обработки для создания сложных структур и устройств на их основе
Ангилья PlasmaLab PlasmaLab 2012
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng)
Республика Корея SunPlaEng SunPla 600 TEM 2013
Генератор изображения лазерный многоканальный ЭМ-5189- 01
Белоруссия КБТЭМ-ОМО ЭМ-5189- 01 2012
Сверхвысоковакуумный туннельный сканирующий микроскоп
Германия OMICRON VT-STM 2008
Cверхвысоковакуумный отражательный электронный микроскоп СВВ-ОЭМ на базе ПЭМ JEM-7A
Россия ИФП СО РАН СВВ-ОЭМ на базе ПЭМ JEM-7A 2011
Установка фокусированных ионных пучков CROSS BEAM 1540XB (Carl Zeiss)
Германия Zeiss 1540XB 2006
Комплекс пробоподготовки для микроскопии PIPS™ (Precision Ion Polishing System) модель 691 (Gatan)
Соединённые Штаты Америки Gatan PIPS™(Precision Ion Polishing System) модель 691 2007
Микроскоп электронный сканирующий LEO-1430 (Carl Zeiss) с приставкой ЕDX
Германия Zeiss LEO-1430 2013
Микроскоп электронный растровый с литографической приставкой
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Raith Raith-150 2010
Сканирующая зондовая нанолаборатория
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия NTMDT Ntegra Vita 2008
Высокоразрешающий электронный микроскоп
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония JEOL JEM-4000EX 1990
Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп с корректором аберраций объектива и приставками EDX и EELS TITAN 80-300 (FEI)
Нидерланды FEI TITAN 80-300 2010

Услуги (6)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Создание атомно-гладких поверхностей кремния большой площади.
Индустрия наносистем
Фотолитография, изготовление шаблонов
Индустрия наносистем
Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
Науки о жизни
Препарирование объектов для электронной микроскопии
Науки о жизни
Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
Науки о жизни
Исследования атомной структуры веществ методами высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, включая исследования на просвет планарных структур и поперечных сечений.
- наиболее востребованная услуга
Науки о жизни

Методики (12)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика создания атомно-гладких поверхностей кремния большой площади. ФГУП "СНИИМ" 05.02.2014 20:24:00
Методика измерений линейных латеральных размеров углеродных нанотрубок на поверхности твердотельных структур любых подложках с применением сканирующего зондового микроскопа ФГУП "СНИИМ" 05.02.2014 20:20:00
Методика измерений линейных латеральных размеров углеродных нанотрубок на поверхности твердотельных структур любых подложках с применением сканирующего электронного микроскопа ФГУП "СНИИМ" 05.02.2014 20:18:00
Методика элементного анализа твердого вещества на базе анализа EDX спектров при исследованиях с помощью сканирующей электронной микроскопии ФГУП "СНИИМ" 05.02.2014 20:14:00
Методика выполнения измерений межплоскостных расстояний с помощью высокоразрешающего просвечивающего электронного микроскопа с использованием метода геометрической фазы ФГУП "СНИИМ" 05.02.2014 20:09:00
Методика измерений распределения электрического потенциала по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT. ФГУП "СНИИМ" 06.02.2014 19:57:00
Методика измерений линейных размеров и количества слоев углеродных нанотрубок с применением высокоразрешающего просвечивающего электронного микроскопа .
Высокоточная сверхвысоковакуумная методика трёхмерных измерения линейных размеров элементов структур, микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред за счет привязки в естественным размерам атомных решеток кристаллов ФГУП "Сибирский государственный ордена Трудового красного знамени научно-исследовательский институт метрологии" 12.06.2009
Компьютерная методика количественного анализа механических напряжений в гетероэпитаксиальных системах на основе обработки оцифрованных картин высокоразрешающей электронной микроскопии. ФГУП "СНИИМ" 06.02.2014
Методика количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением сканирующего электронного микроскопа LEO-1430 ФГУП "Сибирский государственный ордена Трудового красного знамени научно-исследовательский институт метрологии" 06.02.2014
Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT ФГУП "Сибирский государственный ордена Трудового красного знамени научно-исследовательский институт метрологии" 06.02.2014
Методика количественного размерно-морфологического анализа различных типов материалов и измерений характеристик электронной дифракционной картины в веществе с применением просвечивающей электронной микроскопии ФГУП "Сибирский государственный ордена Трудового красного знамени научно-исследовательский институт метрологии" 06.02.2014

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий