Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения

Сокращенное наименование ЦКП: СЦСТИ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 1981

Сайт ЦКП: http://ssrc.inp.nsk.su/CKP/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, пр-т. Академика Лаврентьева, 11

Руководитель ЦКП:

  • Кулипанов Геннадий Николаевич, доктор физико-математических наук, академик РАН
  • +7 (383) 3294498
  • G.N.Kulipanov@inp.nsk.su

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 39Число публикаций, ед.: 50Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 79.45

Краткое описание ЦКП:

Проведение поисковых научно-исследовательских работ в области индустрии наносистем и материалов, энергетики и энергосбережения, рационального природопользования и живых систем с использованием синхротронного и терагерцового излучения, развитие материально-технической базы Центра коллективного пользования (ЦКП) СЦСТИ, а также обеспечение на имеющейся приборной базе ЦКП проведения исследований, испытаний, измерений и оказание услуг заинтересованным пользователям для обеспечения комплексных исследований по приоритетным направлениям развития науки, технологии и техники в Российской Федерации.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • проведение фундаментальных и прикладных исследований и разработка новых технологий с использованием пучков синхротронного и терагерцового излучения;
  • разработка и создание экспериментального оборудования для работ с пучками синхротронного и терагерцового излучения (каналы вывода излучения, экспериментальные станции, рентгеновская и терагерцовая оптика, монохроматоры, детекторы);
  • разработка и создание специализированных накопителей-источников синхротронного излучения, и лазеров на свободных электронах – мощных источников терагерцового излучения;
  • разработка и создание специальных генераторов синхротронного излучения-вигглеров, ондуляторов, сверхпроводящих поворотных магнитов;
  • обучение и профессиональная подготовка студентов и аспирантов в области синхротронного и терагерцового излучения.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 39 ед.)

Быстрый рентгеновский однокоординатный детектор
Марка:  ОД-3
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Взрывная камера
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  СКТБ Гидроимпульсной техники СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Высокоточная пространственная измерительная система на основе лазерного излучателя - лазер-трекер
Марка:  API Tracker 3
Фирма-изготовитель:  Automated Precision Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ИК-Фурье спектрометр
Марка:  IFS 66v/S
Фирма-изготовитель:  "Bruker Optics
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

ИК-Фурье спектрометр VECTOR-22 (Bruker)
Марка:  VECTOR-22
Фирма-изготовитель:  "Bruker Optics
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс на основе ближнепольной микроскопии (сканирующая зондовая нанолаборатория)
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплект для прецизионной обработки изделий и элементов
Фирма-изготовитель:  HAAS AUTOMAТION INC.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазер на свободных электронах на базе микротрона-рекуператора
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Метрологическая станция ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический длиннофокусный цифровой микроскоп в комплекте с антивибрационным штативом и объективами
Марка:  VHX-5000
Фирма-изготовитель:  KEYENCE
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский двухкоординатный детектор
Марка:  ДЕД-5
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский двухкоординатный детектор на основе запоминающих рентгеновских экранов
Марка:  mar345
Фирма-изготовитель:  MarResearch
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский дифрактометр
Марка:  ДРОН-4
Фирма-изготовитель:  НПО Буревестник
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1996
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский однокоординатный детектор DIMEX
Марка:  DIMEX
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий электронный микроскоп
Марка:  S-3400M тип 2
Фирма-изготовитель:  Hitachi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция химико-физических и биологических исследований на ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИЦиГ СО РАН, ИХКиГ СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция «Интроскопия и спектроскопия» на ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция EXAFS-спектроскопия
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН, ИК СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция LIGA-технология и рентгеновская литография
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция Аэродинамика на ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция ВЗРЫВ – субмикросекундная диагностика
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИГиЛ СО РАН, ИХТТМ СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция Дифрактометрия при высоких давлениях
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИХТТМ СО РАН, ИЯФ СО РАН, ИНХ СО РАН, ОИГГиМ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция Дифракционное кино (дифрактометрия с временным разрешением) и малоугловое рассеяние
Фирма-изготовитель:  ИХТТМ СО РАН, ИЯФ СО РАН, ИК СО РАН, ИТЭБ РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция для изучения химии металло-органических соединений под действием излучения ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИНХ СО РАН, ИХКиГ СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция КОСМОС на ВЭПП-4
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН,
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция Локальный и сканирующий рентгенофлуоресцентный элементный анализ
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН, ОИГГиМ СО РАН, ЛИН СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция Люминесценция с временным разрешением
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция Метрология и EXAFS-спектроскопия в мягком рентгеновском диапазоне
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИК СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция молекулярной спектроскопии на ЛСЭ
Фирма-изготовитель:  ИХКиГ СО РАН, ИЯФ СО РАН, ИОА СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция Прецизионная дифрактометрия и аномальное рассеяние
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИХТТМ СО РАН, ИЯФ СО РАН, ИК СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция Прецизионная дифрактометрия-2
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН, ИК СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция Рентгеновской микроскопии и томографии
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Станция Стабилизация положения пучка СИ
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИХТТМ СО РАН, ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Стенд измерений при криогенных температурах
Фирма-изготовитель:  Криомагнит
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Термограф СВИТ
Марка:  СВИТ
Фирма-изготовитель:  ИФП СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Уникальный девятиэлементный рентгеновский ППД
Марка:  GL0110S
Фирма-изготовитель:  Canberra
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Управляющий центр для прецизионной обработки элементов рентгеновской оптики
Фирма-изготовитель:  Fehlmann
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка вакуумного напыления и травления с контролем толщины слоя
Марка:  AUTO 500
Фирма-изготовитель:  BOC Edwards
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Хромато-масс-спектрометр
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Agilent
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП: (номенклатура — 19 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение основных параметров терагерцового излучения ЛСЭ, получение спектров поглощения различных веществ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Получение EXAFS спектров от образцов и извлечение структурной информации о локальном окружении атомов. Исследование зарядового состояния ионов в образце методом XANES-спектроскопии.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Глубокая рентгеновская литография в толстых (до 1 мм и более) резистивных слоях для изготовления микроструктур, в том числе рентгеношаблонов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  исследование различных процессов при взаимодействии терагерцового излучения с веществом в газообразном состоянии.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Безопасность и противодействие терроризму; Индустрия наносистем; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Исследование быстропротекающих (за микросекунды) процессов, в том числе, исследование ударно-волновых и детонационных процессов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Рентгендифракционные исследования образцов на энергии квантов 34 кэВ, в том числе, при высоких давлениях.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Исследование структурных превращений при химических реакциях и внешних воздействиях. Исследование эволюции структур в диапазоне размеров 10-600.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Транспортные и космические системы
Краткое описание услуги:  Исследования в ВУФ и мягком рентгеновском диапазоне спектра в области метрологии (калибровка рентгеновских детекторов, элементов рентгеновской оптики и др.).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Определение основного элементного состава и микропримесей в образцах. Определение распределения элементного состава в различных протяженных объектах с разрешением 100 мкм.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование спектральных и временных свойств люминесценции образцов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Исследование образцов и проб веществ различной природы методом малоуглового рентгеновского рассеяния.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Исследования в мягком рентгеновском диапазоне спектра в области метрологии (калибровка рентгеновских детекторов, элементов рентгеновской оптики и др.) и извлечение структурной информации о локальном окружении атомов лёгких элементов периодической системы.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Прецизионные исследования (получение порошковых дифрактограмм высокого разрешения) атомной структуры веществ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Прецизионные исследования (получение порошковых дифрактограмм высокого разрешения) атомной структуры веществ на фиксированных энергиях рентгеновских квантов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  изучение продуктов воздействия терагерцового излучения на вещество.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Масс-спектрометрическое изучение процессов распада металло-органики при поглощении излучения ЛСЭ в молекулярном пучке и на поверхности.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Исследование спектров поглощения газов в терагерцовом диапазоне, а также исследование пламен.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни; Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Исследование дисперсионного состава, морфологии и биологической активности продуктов абляции - десорбции биологических структур и неорганических материалов при воздействии терагерцового излучения на вещества.

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 39 ед.)

Методика выполнения измерений при проведении сканирующего рентгенофлуоресцентного микроанализа с использованием монохроматизированного синхротронного излучения в диапазоне энергий 12 - 26 кэВ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИГиМ СО РАН
Дата аттестации:  10.05.2012

Метод сверхбыстрой time-domain спектроскопии с использованием терагерцового излучения
Методика уникальна:  для России

Методика in sity дифрактометрии для исследования быстропротекающих структурных измерений
Методика уникальна:  для России

Методика аттестации свойств отражающих оптических элементов для мягкого рентгеновского и ВУФ диапазонов
Методика уникальна:  для России

Методика выполнения измерений высокотемпературных измерений температурного коэффициента линейного расширения кристаллических веществ методом дифракции СИ с использованием двух-координатного детектора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  30.04.2008
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений высокотемпературных измерений температурного коэффициента линейного расширения кристаллических веществ методом дифракции СИ с использованием одно-координатного детектора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  30.04.2008
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений массовой доли химических элементов в пробах биотканей методом РФА с использованием СИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП Уральский научно-исследовательский институт метрологии
Дата аттестации:  01.12.2006
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллических образцах методом рентгеновской дифракции на СИ с использованием двух-координатного детектора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  29.12.2006
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллических образцах методом рентгеновской дифракции на СИ с использованием одно-координатного детектора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  29.12.2006
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений плотности образцов с высоким временным разрешением с помощью СИ и детектора рентгеновского излучения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  30.04.2008
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений при проведении рентгенофлуоресцентного анализа с использованием рентгеновской концентрирующей оптики (поликапилярные линзы)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИГиМ СО РАН
Дата аттестации:  10.05.2012

Методика выполнения измерений рентгеновской микротомографии геологических алмазосодержащих объектов
Методика уникальна:  для России

Методика глубокой рентгеновской литографии в толстых (до 1 мм и более) резистивных слоях для изготовления микроструктур, в том числе рентгеношаблонов
Методика уникальна:  для России

Методика диагностики и контроля параметров терагерцового излучения
Методика уникальна:  для России

Методика измерений геометрических размеров слабоконтрастных образцов методом рентгеновской вычислительной микротомографии с использованием СИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП Уральский научно-исследовательский институт метрологии
Дата аттестации:  30.08.2010
Методика уникальна:  нет

Методика измерения мощности УФ-излучения с помощью детектора для нанолитографии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  20.10.2011
Методика уникальна:  нет

Методика измерения рентгеновских спектров поглощения (спектров EXAFS) методом полного внешнего отражения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИК СО РАН
Дата аттестации:  14.06.2012

Методика исследований биологических объектов с высоким временным разрешением с использованием малоуглового рассеяние СИ
Методика уникальна:  для России

Методика исследований при помощи малоуглового рентгеновского рассеяния с использованием полихроматического излучения
Методика уникальна:  для России

Методика исследования быстропротекающих (за микросекунды) процессов, в том числе, ударно-волновых и детонационных
Методика уникальна:  для России

Методика калибровки спектральной чувствительности измерителей мощности излучения ВУФ диапазона
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГНМЦ ФГУП СНИИМ
Дата аттестации:  28.02.2018
Методика уникальна:  для России

Методика компьютерной томографии и микроскопии на пучках СИ
Методика уникальна:  для России

Методика локального и сканирующего рентгенофлуоресцентного элементного анализа
Методика уникальна:  для России

Методика люминесцентной спектроскопии с высоким временным разрешением
Методика уникальна:  для России

Методика определения локальной структуры наноматериалов, аморфных веществ, катализаторов и вновь синтезируемых соединений методом EXAFS-спектроскопии
Методика уникальна:  для России

Методика определения зарядового состояния и симметрии окружения элементов в соединениях методом XANES-спектроскопии
Методика уникальна:  для России

Методика определения структуры вещества методом аномального рассеяния
Методика уникальна:  для России

Методика проведения высокотемпературных рентгендифракционных исследований образцов в ходе протекания химических реакций
Методика уникальна:  для России

Методика проведения порошковой дифрактометрии СИ высокого углового разрешения
Методика уникальна:  для России

Методика проведения рентгендифракционных исследований структуры веществ в условиях низких температур
Методика уникальна:  для России

Методика проведения рентгендифракционных исследований структуры веществ в условиях сдвига под давлением
Методика уникальна:  для России

Методика рентгеновской топографии, визуализации нарушений кристаллической решётки
Методика уникальна:  для России

Методика рентгенодифракционных исследований при высоких давлениях
Методика уникальна:  для России

Методика спектральной калибровки рентгеновских детекторов в белом пучке СИ с использованием селективных фильтров
Методика уникальна:  для России

Методика стабилизации координаты и угла пучков СИ
Методика уникальна:  для России

Методика исследования на сканирующем электронном микроскопе
Методика уникальна:  нет

Прямое измерение масс неорганических частиц с применением терагерцового излучения
Методика уникальна:  для России

Стандартизация производства биочипов с применением терагерцового излучения
Методика уникальна:  для России

Экспресс-метод измерения размеров наночастиц в диапазоне от 2 до 200 нанометров
Методика уникальна:  для России

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран