Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Нижегородский региональный центр коллективного пользования научным оборудованием «Центр сканирующей зондовой микроскопии»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП СЗМ ННГУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 1997

Сайт ЦКП: http://spm.unn.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Приволжский
  • Регион: Нижегородская область
  • 603950, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, д. 23

Руководитель ЦКП:

  • Горшков Олег Николаевич, кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (831) 4623130
  • gorshkov@nifti.unn.ru

Контактное лицо:

  • Планкина Светлана Михайловна, кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (831) 4623310
  • plankina@phys.unn.ru

Сведения о результативности за 2018 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 5Число публикаций, ед.: 27Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 29.92

Краткое описание ЦКП:

ЦКП создан на базе Физического факультета и Научно-исследовательского физико-технического института Федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего профессионального образования «Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского».

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • проведение фундаментальных и прикладных исследований в области физики полупроводников, физики твёрдого тела, наноматериалов, наноструктур, микро- и наноэлектроники, микробиологии и иммунологии;
  • подготовка высококвалифицированных научных кадров в области физии твердотельных наноструктур, сканирующей зондовой микроскопии, электронной спектроскопии и микроскопии;
  • развитие методов исследования атомной структуры, физико-химических свойств твердых тел, морфологии поверхности и физических свойств наноструктрированных материалов на основе полупроводников, диэлектриков и металлов, свойств микро- и оптоэлектронных приборов и микробиологических объектов в нанометровом масштабе.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Информационно-телекоммуникационные системы
  • Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 6 ед., нет данных о загрузке за 2019 год):

Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией JEOL JEM-2100F-08 (комплекс оборудования)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  JEM-2100F-08
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Система для оптической спектроскопии (комплекс оборудования)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания; Россия; Соединённые Штаты Америки; Япония
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Специализированный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT NTegra
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  NTegra
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Специализированный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT Solver Pro М
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Solver Pro М
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (г. Зеленоград)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Уникальный сверхвысоковакуумный комплекс Omicron Multiprobe RM (комплекс оборудования)
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  Multiprobe RM
Фирма-изготовитель:  Omicron Nanotechnology
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2000
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Учебно-научная лаборатория сканирующей зондовой микроскопии NanoEducator
Загрузка прибора: нет данных за 2019 год
Марка:  NanoEducator
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП (номенклатура — 11 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе системы для оптической спектроскопии. Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/14/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга проводится на базе специализированного сканирующего зондового микроскопа NT-MDT Solver Pro М. Подробное описание оборудования, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-282/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга проводится на базе специализированного сканирующего зондового микроскопа NT-MDT Solver Pro М. Подробное описание оборудования, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-282/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Услуга проводится на базе специализированного сканирующего зондового микроскопа NT-MDT Solver Pro М. Подробное описание оборудования, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-282/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе просвечивающего электронного микроскопа с полевой эмиссией JEOL JEM-2100F-08 . Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/15/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе сверхвысоковакуумного комплекса Omicron Multiprobe RM (Omicron Nanotechnology GmbH). Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-197/.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе сверхвысоковакуумного комплекса Omicron Multiprobe RM (Omicron Nanotechnology GmbH). Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-197/

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга проводится на базе оптического микроскопа ближнего поля (NSOM) NT-MDT Solver SNOM.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе сверхвысоковакуумного комплекса Omicron Multiprobe RM (Omicron Nanotechnology GmbH). Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-197/

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе сверхвысоковакуумного комплекса Omicron Multiprobe RM (Omicron Nanotechnology GmbH). Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/13/item-197/

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни
Краткое описание услуги:  Услуга выполняется на базе системы для оптической спектроскопии. Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/14/.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 26 ед.):

Метод комбинированной сканирующей атомно-силовой/туннельной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика анализа химического состава поверхности методом сканирующей Оже-спектроскопии

Методика выполнения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Методика измерения магнитных свойств поверхности методом магнитно-силовой микроскопии

Методика измерения морфологии поверхности биологических объктов методом атомно-силовой микроскопии

Методика измерения морфологии поверхности и свойств твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии

Методика измерения морфологии поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика измерения оптоэлектронных свойств методом спектроскопии фотопроводимости
Методика уникальна:  нет

Методика измерения свойств поверхности методом атомно-силовой акустической микроскопии

Методика измерения спектров фото- и электролюминесценции

Методика измерения электрических свойств поверхности методом баллистической электронной эмиссионной микроскопии

Методика измерения электрических свойств поверхности методом зонда Кельвина

Методика измерения электрических свойств поверхности методом микроскопии сопротивления растекания

Методика измерения электрических свойств поверхности методом сканирующей емкостной микроскопии

Методика измерения электрических свойств поверхности методом электростатической силовой микроскопии

Методика исследования поперечного среза твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F в режимах прямого разрешения, микро- и нанопучковой дифракции

Методика исследования элементного состава твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур на просвечивающем электронном микроскопе с применением энергодисперсионного спектрального микроанализа (ЭДС-спектрометр INCAEnergyTEM 250 Х-Мах)

Методики препарирования поперечного среза и прецизионного ионного утонения подложечных материалов и сформированных на них твердотельных квантово-размерных гетеронаноструктур. (На основе технологии получения ПЭМ-образцов на оборудовании фирмы Gatan)

Параметры геометрические и оптические поверхностных наноструктур. Методика измерений методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Параметры геометрические поверхностных самоорганизованных наноостровков SiGe. Методика измерений методом атомно-силовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Параметры геометрические поверхностных самоорганизованных наноостровков на основе полупроводников A3B5. Методика измерений методом атомно-силовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Параметры морфологические фиксированных лимфоцитов крови. Методика измерений методом атомно-силовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Параметры морфологические фиксированных нейтрофильных гранулоцитов крови. Методика измерений методом атомно-силовой микроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Слои магнитного полупроводника Co(x)Si(1-x) наноразмерные. Методика измерений массовой доли кобальта и кремния методом электронной оже-спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области"
Дата аттестации:  30.09.2013
Методика уникальна:  для России

Слои полуметаллических соединений Mn(x)As(1-x) наноразмерные. Методика измерений массовой доли марганца и мышьяка методом электронной оже-спектросокпии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ "Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Нижегородской области"
Дата аттестации:  30.09.2013
Методика уникальна:  для России

Слои твердых растворов Si(x)Ge(1-x) наноразмерные. Методика измерений массовой доли германия и кремния методом электронной Оже-спекрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФБУ «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в нижегородской области»
Дата аттестации:  20.06.2011
Методика уникальна:  для России

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран