Центры коллективного пользования

Томский региональный центр коллективного пользования научным оборудованием (ТРЦКП ТГУ)

ЦКП создан в 2006 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 3.1.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы»
Данный университет является победителем конкурсного отбора программ развития университетов, в отношении которых устанавливается категория «национальный исследовательский университет (НИУ)»
Адрес
  • Сибирский, Томская область
  • 634050, г. Томск, пр. Ленина, 36
  • 🌎www.ckp.tsu.ru
Руководитель
  • 👤Алексеенко Кира Викторовна
  • 📞(3822) 783714
  • ckp@mail.tsu.ru
Контактное лицо
  • 👤Аронова Юлия Викторовна
  • 📞(3822) 783714
  • ckp@mail.tsu.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да959526.59
Базовая организация

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет"

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

ТРЦКП ТГУ, состоящий из нескольких специализированных центров проводит широкий круг исследований, измерений и испытаний: определение состава, структуры, физико-химических, механических, оптических, радиофизических и других свойств, биологической токсичности разнообразных материалов, продукции, отходов, природных материалов, вод и горных пород, наноматериалов различного состава и природы.

Штат ТРЦКП состоит из ~50 высококвалифицированных сотрудников, в основном кандидатов и докторов наук. Для проведения измерений/испытаний в центре помимо ГОСТов разработано более 50 методик в виде стандартов организации, из них более 20 прошли метрологическую аттестацию.

ТРЦКП ТГУ аккредитован для:
– проведения испытаний для целей обязательной и добровольной сертификации продукции в системе ГОСТ Р: химического состава полимеров, керамик, композитов, металлов; механических, теплофизических, оптических, размеров в нанометровом диапазоне для различных материалов, аттестат аккредитации РОСС RU.0001.22НН07;
– проведения аналитических исследований характеристик природных объектов, вод, полезных ископаемых, включая их токсичность, производственного контроля за состоянием атмосферного воздуха, промышленных выбросов, сточных, очищенных, питьевых и природных вод, почв, качественного анализа ювелирных вставок в системе аналитических лабораторий (СААЛ), аттестат аккредитации РОСС RU.0001.517686;
– определения размерных характеристик, химического состава и свойств различных наноматериалов в системе добровольной сертификации продукции наноиндустрии «Наносертифика», аттестат аккредитации РОСС RU.В50.04НЖ00.70.04.0026.

Направления научных исследований

    Химическое материаловедение, сорбция и катализ, геология, геохимия, радиофизические измерения, исследования ионосферы, проектирование технологических устройств, высокопроизводительные вычисления, безопасность наноматериалов, лазерная физика, экология и генетика, охрана окружающей среды

634050, г. Томск, пр. Ленина, 36
📷

Оборудование (133)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Анализатор лазерный дифракционный Malvem Mastersizer 2000
Великобритания Malvern Instruments Ltd 2007
Лазерный анализатор размеров частиц "Анализетте-22"
Германия MicroTec plus 2012
Стерилизатор паровой (автоклав) ВК-75-ПТ (ТЗМОИ)
Россия ТЗМОИ ВК-75-ПТ 2014
ЯМР-спектрометр AVANCE III HD 400 МГц (Bruker)
Германия Bruker Corporation AVANCE III HD 2013
Рефрактометр оптический ABBE NAR-2T (Atago)
Япония Atago ABBE NAR-2T 2015
Высокопроизводительный секвенатор NexSeq 500 (Sequencing System)
Соединённые Штаты Америки Sequencing System NexSeq 500 2014
Система для количественной ПЦР Agilent AriaMx (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent AriaMx 2015
Ферментер-биореактор SGM-10SL (Shanghai BaiLun)
КНР Shanghai BaiLun SGM-10SL 2015
Рентгено-флюоресцентный спектрометр ED-2000 (Oxford Instruments)
Великобритания Oxford Instruments ED-2000 2014
Просвечивающий электронный микроскоп СМ 30 (Philips)
Германия Philips СМ 30 2014
Настольная одноколонная универсальная электромеханическая испытательная машина Instron 3343
Великобритания Instron 3343 2014
Микробиологический инкубатор MIR-162 (Sanyo)
Япония Sanyo Electric Co., Ltd MIR-162 2015
Лазерный микродиссектор Palm Micro Beam (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Palm Micro Beam 2015
Аппаратно-программный электроэнцефалографический комплекс МИЦАР-ЭЭГ-03/35-201
Россия МИЦАР МИЦАР-ЭЭГ-03/35-201 2013
ИК-Фурье спектрометр TENSOR 27 (Bruker)
Германия Bruker Corporation TENSOR 27 2015
Векторный анализатор цепей E8363В (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) E8363В 2014
Вакуумный тестер VAC-V1 (Vacuum Technologies)
Германия Vacuum Technologies VAC-V1 2014
Автоматический кулонометрический титратор 899 Coulometer (Metrohm)
Швейцария Metrohm 899 COULOMETER 2013
Ламинарный шкаф Purifier Logic A2 (Labconco) II класса биозащиты с микропроцессорным управлением
Соединённые Штаты Америки Labconco Corporation Purifier Logic A2 2013
Иономер-pH-метр SevenCompact S200 (Mettler Toledo)
Швейцария Mettler Toledo Seven Compact S200 2015
Шейкер орбитальный Unimax 2010 (Heidolph)
Германия Heidolph RUS Unimax 2010 2014
Термостат электрический суховоздушный ТС-1/80 СПУ (СКТБ)
Россия СКТБ ТС-1/80 СПУ 2015
Бокс абактериальной воздушной среды БАВп-01-Ламинар-С.-1,2 (LamSystems)
Соединённые Штаты Америки LamSystems БАВп-01-Ламинар-С.-1,2 2013
Стандарт частоты и времени водородный VCH-1006 (Vremya-CH)
Россия Vremya-CH VCH-1006 2013
Суховоздушный шкаф стерилизатор с естественной конвекциeй ED 53
Германия Binder ED 53 2013
Атомно-эмиссионный спектрометр "Гранд" (ВМК Оптоэлектроника) с многоканальным анализатором спектров в комплексе с полихроматором и генератором
Россия ООО "ВМК Оптоэлектроника" "Гранд" 2008
Газовый хроматограф 7890 Agilent Technologies
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) 7890 2013
Калориметр реакционный Syrris (Atlas)
Великобритания Atlas Syrris 2012
Микротом-криостат CryoStar NX70 (Thermo Fisher Scientific)
Соединённые Штаты Америки Thermo Fisher Scientific CryoStar NX70 2015
Микроскоп биологический для лабораторных исследований Axio Observer.Z1 (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss Group 2015
Масс-спектрометр квадрупольно-времяпролетный высокого разрешения Agilent 1260/6550 (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent 1260/6550 2015
Автоматизированный комплекс регистрации акустических полей
Россия 2011
Автоматизированный комплекс грозооповещения
Россия 2011
Измеритель модуля передачи и отражения (скалярный анализатор) Р2-4м (Микран)
Россия ООО «Микран» Р2-4м 2007
Устройство НКММ-11-11Р (Микран)
Россия НПФ «Микран» НКММ-11-11Р 2009
Измерительная линия ПК1-18-11Р-11Р (Микран)
Россия НПФ «Микран» ПК1-18-11Р-11Р 2009
Спектрофотометр УФ-Вид UV-1800 (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) UV-1800 2013
Весовой влагомер МХ-50 (AD RUS)
Япония AD RUS МХ-50 2013
Прибор для определения точки плавления и точки кипения М 560 (Buchi)
Швейцария Buchi M-560 2013
Микроскоп поляризационный Leica DM2500P (Leica Mirosystems GmbH)
Германия Leica Geosystems AG Leica DME2500P 2007
Стереомикроскоп Leica EZ4 (Leica Mirosystems GmbH)
Германия Leica Mirosystems GmbH Leica EZ4 2007
Спектроскоп KL14/1504 (Kruss RUBIN)
Бельгия Kruss RUBIN Kruss KL14/1504 2007
Спектрофлуориметр RF-5301PC (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) RF-5301PC 2009
Ультразвуковой гомогенизатор Sonopuls HD2200 (Bandelin)
Германия Bandelin Sonopuls HD2200 2009
Климатическая камера MLR-351Н (Electric Co. Ltd)
Япония Electric Co. Ltd MLR-351Н 2010
Сухожаровой стерилизатор MOV 212S (Panasonic)
Япония Bandelin MOV 212S 2014
Микробиологический инкубатор MIR-162 (Sanyo)
Япония Sanyo Electric Co., Ltd MIR-162, MIR-262 2008
Концентратомер "Биотестер-2" (Спектр-М)
Россия Спектр – М Биотестер-2 2007
Микроскоп оптический инвертированный GX-71F (Olympus)
Япония Olympus GX-71F 2003
Микроскоп оптический ближнепольный BX-51M DIC (Olympus)
Япония Olympus BX-51 2007
Система Renishaw inVia Basis (Carl Zeiss) для рамановского спектральногоанализа с длинами волн возбуждения 785, 532 и 405мм
Германия ZEISS Renishaw inVia Basis 2014
Микроскоп биологический лазерный сканирующий для лабораторных исследований LSM 780 NLO (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) LSM 780 NLO 2014
Элементный CHNS-анализатор EA3000 (EuroVector)
Италия EuroVector EA3000 2012
Автоматическая система для анализа катализаторов с возможностью проведения анализов при повышенном давлении
Россия 2011
Проточная каталитическая установка ПКУ-2 (СОЛО) при атмосферномдавлении и температуре в реакторе до 600С
Россия 2014
Прибор синхронного термического анализа STA 449 F1 Jupiter (Netzsch)
Германия Netzsch (Geratebau GnbH) STA 449 F1Jupiter 2014
Цифровой рефрактометр LiquiPhysics Excellence (Mettler Toledo)
Швейцария Mettler Toledo LiquiPhysics Excellence 2013
Газовый хроматограф Agilent 7890A (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent 7890A 2013
Каталитическая установка MCB (Vinci Technologies)
Великобритания Vinci Technologies MCB 2013
Аналитический комплекс для определения качественного и количественного состава жидких компонентов
Соединённые Штаты Америки 2013
Усилитель мощности для ионозонда "ТОМИОН" (Tomco Electronics Pty Ltd)
Австралия Tomco Electronics Pty Ltd ТОМИОН 2013
Анализатор цепей векторный N5247A PNA-X (Agilent Technologes)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologes Agilent N5247A PNA-X 2011
Комплекс для проектирования, обработки данных и управления объектами и технологическими процессами NI Elvis II (National Instruments)
Соединённые Штаты Америки National Instruments 2012
Крейт-контроллер с модулями National Instruments
Соединённые Штаты Америки National Instruments 2012
Спектрофотометр UV 3600 (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) UV 3600 2010
Фемтосекундная оптика и оборудование для построения терагерцового спектрометра
Россия 2010
Аппаратура для измерения характеристик лазерного излучения
Россия 2010
Комбинированный фемтосекундный лазерный усилитель Tsunami
Россия 2010
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager.M2 (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Axio Imager.M2 2013
Стерилизатор/аэратор Steri-Vac 3М (STERI-VAC TM)
Соединённые Штаты Америки STERI-VAC TM Steri-Vac 3М 2013
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Lab. A1 (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss Microscopy GmbH Axio Lab. A1 2013
Кулонометрический титратор С20D (Mettler Tolledo)
Швейцария Mettler Tolledo С20D 2013
Испаритель тонкопленочный TLE 100-20J (ASAHI) с дозирующей емкостью 50 л
Япония ASAHI ASAHI TLE100-20J 2013
Спектрометр Agilent 4100 MP-AES (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent 4100 MP-AES 2013
Высокоэффективный жидкостной хроматограф Agilent 1200 (Agilent Technologes)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologes Agilent 1200 2013
Измеритель прочности гранул ИПГ-1М (УНИХИ)
Россия ОАО Уральский научно-исследовательский химический институт с Опытным заводом ИПГ-1М 2013
Система для определения газопроницаемости материалов манометрическим методом
Россия 2012
Комплекс аналитический исследования структуры и фазового состава Advanced AZtecHKL на основе детектора NordllysMax
Германия 2012
Дифрактометр рентгеновский Panalytical X Pert Powder (Nalkho Techno)
Нидерланды Nalkho Techno Panalytical X Pert Powder 2012
Хроматограф LC-20 Promince (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) LC-20 Promince 2012
Автоматический поляриметр АР-300 (ATAGO)
Япония ATAGO АР-300 2012
Люминометр AutoLumat LB 953 (BERTHOLD TECHNOLOGIES)
Германия BERTHOLD TECHNOLOGIES GmbH Co. KG AutoLumat LB 953 2012
Высокотемпературный трибометр ТНТ (CSM-Instruments SA)
Швейцария CSM-Instruments SA ТНТ 2012
Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRD (PANalytical)
Нидерланды PANalytical (Philips Analytical) X Pert PRO 2012
Ручной цветной лазерный 3D сканер Zscanner 700CX (Z corporation)
Соединённые Штаты Америки Z corporation Zscanner 700CX 2012
Оверхаузеровский магнитометр-градиентометр GSM-19WG (GEM Systems)
Канада GEM Systems GSM-19WG 2012
Лазерная роботизированная сканирующая система Trimble VX (Trimble Navigation)
Соединённые Штаты Америки Trimble Navigation Trimble VX 2012
Цифровой тахеометр Trimble M3 DR W(5”) (Trimble Navigation)
Соединённые Штаты Америки Trimble Navigation Trimble M3 DR W(5”) 2011
Автоматический потенциометрический титратор Metrohm 809 Titrando
Швейцария Metrohm Metrohm 809 titrando 2011
Газовый анализатор UGA-300 (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки AgilentTechnologes UGA-300 2011
Автоматическая система для анализа катализаторов с возможностью проведения анализов при повышенном давлении на базе хроматографа Agilent 7890А (AgilentTechnologes)
Соединённые Штаты Америки AgilentTechnologes 2011
Масс-спектрометр API-2000 на базе тройного квадруполя с системой высокоэффективной жидкостной хроматографии ULTIMATE 3000 (Agilent Technologes)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologes API-2000 2011
Настольная система наноиндентирования ТТХ-ТНТ Nano Hardness Tester (CSM-Instruments SA) с видеомикроскопом
Швейцария CSM-Instruments SA Nano Hardness Tester 2011
Станок шлифовально-полировальный ручной METASERV 250 (CSM-Instruments SA)
Швейцария CSM-Instruments SA METASERV 250 2011
Электроэрозионный проволочно-вырезной станок для 4-х координатной обработки АРТА 153 (НПК Дельта-Тест)
Россия ООО НПК "Дельта-Тест" "АРТА 153" 2011
Станок плоскошлифовальный с УЦИ, модель ЛШ-630-2 (ЗАО ЛСП)
Россия ЗАО "Липецкое станкостоительное предприятие" ЛШ-630-2 с УЦИ 2011
Прибор дифференциальный сканирующей калориметрии DSC 204 F1 PHONIX (NETZSCH)
Германия NETZSCH-Geratebau GmbH DSC 204 F1 2011
Высокочастотный усилитель мощности Р-140
Россия 2011
Система элементного анализа покрытий GD-Profiler HR™ (HORIBA)
Япония HORIBA (Хориба) GD-Profiler HR 2011
Интерферометр Маха-Цендера ЛКО-4
Россия ОАО КДП - 2010
Спектрометр терагерцового диапазона СТД-21 (ОАО КДП)
Россия ОАО КДП СТД-21 2010
Комплекс аппаратно-программный на базе хромотографа "Кристалл 5000.2"
Россия ЗАО СКБ "Хроматэк" Кристалл 5000.2 2010
Спектрофлуориметр СМ 2203 (Солар) с функцией спектрофотометра
Белоруссия ЗАО «Солар» СМ2203 2010
Жидкостной хроматограф Agilent LC-1200 (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent LC1200 2009
Титратор DL 15 (Mettler-Toledo AG)
Швейцария Matter-Toledo AG, Analytical DL 15 2009
Каталитическая установка с многоканальным реактором "Катакон"
Россия ООО “Катакон” - 2009
Анализатор площади поверхности и пористости Tristar 3020 (Micromeritics Instrument Corporation)
Соединённые Штаты Америки Micromeritics Instrument Corporation Tristar 3020 2009
Анализатор многоканальный атомно-эмиссионных спектров "Колибри-2" (ВМК-Оптоэлектроника)
Россия "ООО "ВМК-Оптоэлектроника" "МАЭС "Колибри-2" 2009
Рентгенофлуоресцентный анализатор металлов Альфа-8000 LZX (Innov-X Systems Inc.)
Соединённые Штаты Америки Innov-X Systems Inc. Альфа-8000 LZX 2009
Спектрофлуориметр RF-5301F (Shimadzu)
Ямайка Shimadzu (Шимадзу) RF-5301F 2007
Прибор синхронного термического анализа STA 409 PC Luxx (Netzsch)
Германия Netzsch-Geraetebau GmbH STA 409 PC Luxx 2007
Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7500cх (Agilent Technologies) в комплекте с оборудованием для пробоподготовки
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent 7500cх 2007
Система суточного мониторирования ЭКГ Welch Allyn Protocol
Соединённые Штаты Америки Welch Allyn Protocol Welch Allyn Protocol 2006
Трибометр Tribotechnik, работающий по схеме Pin-on-Disk
Франция Tribotechnik - 2007
Анализатор хемосорбции ChemiSorb 2750 (Micromeritics)
Соединённые Штаты Америки Micromeritics Instrument Corporation ChemiSorb 2750 2007
Автоматический комплекс на базе твердомера Duramin-5 (Stuers А/S)
Дания Stuers А/S Duramin-5 2007
Индукционная плавильная вакуумная печь с холодным тиглем УИПВ-40-22-0,005 (ЗАО РЕЛТЕК)
Россия ЗАО РЕЛТЕК УИПВ-40-22-0,005 2007
Универсальный твердомер Duramin-500 (Stuers А/S) с автоматическим датчикомсилы по Виккерсу, Бринеллю, Роквеллу
Дания Stuers А/S Duramin-500 2007
Машина для испытания на сжатие (гидравлический пресс) МИС-6000 (НИКЦИМ)
Россия НИКЦИМ, Точмаш-прибор МИС-6000 2007
Газовый анализатор высокого давления High Pressure Anelizers QMS 300 (Stanford Research System)
Соединённые Штаты Америки Stanford Research System QMS 300 2007
Ионозонд Dinasond-21 (ВЧ-радар в комплекте с приемными антеннами)
Соединённые Штаты Америки Dinasond-21 Dinasond-21 2007
Термоанализатор синхронный STA409РС (Netzsch-Geratebau)
Германия Netzsch-Geratebau GmbH STA409РС 2007
Спектрометр рентгенофлуоресцентный волно-дисперсионный последовательного действия XRF-1800 (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) XRF 1800 2007
Микроскоп просвечивающий электронный СМ-12 (Philips)
Нидерланды Philips СМ 12 2007
Настольная универсальная электромеханическая испытательная машина Instron 3369
Соединённые Штаты Америки Instron Instron 3369 2007
Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор Oxford ED 200 (Oxford Instruments)
Великобритания Oxford Instruments Oxford ED 200 2007
Система рентгеновского энергодисперсионного и волно-дисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 350 (Oxford Instruments)
Великобритания Oxford Instruments Oxford INCA Energy350 2007
Атомно-силовой микроскоп с вакуумной камерой Solver HV (НТ-МДТ)
Россия ЗАО «НТ-МДТ» Solver HV 2006
Вычислительный кластер KBK Skif-Cyberia (Т-Платформы)
Россия ОАО Т-Платформы (T-Platforms) KBK Skif-Cyberia 2006
Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D (FEI Company)
Соединённые Штаты Америки FEI Company Quanta 200 3D 2006
Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadzu) в комплекте с монохроматором, низкотемпературной камерой и азотной низкотемпературной системой
Япония Shimadzu (Шимадзу) XRD6000 2004
Просвечивающий электронный микроскоп СМ-30
Нидерланды Philips СМ 30 2002
Сканирующий электронный микроскоп SEM 515 (Philips) в комплекте с системой управления и построения изображения Genesis XM260SEM515
Нидерланды Philips SEM 515 2002

Услуги (321)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Измерение диэлектрической проницаемости композиционного материала на основе углеродных наноструктур (СФТИ)
Рациональное природопользование
Измерение диэлектрической проницаемости влажных почв
Рациональное природопользование
моделирование лекарственных препаратов
Индустрия наносистем
работа в сфере образования
Индустрия наносистем
Измерение диэлектрической проницаемости стеклокерамики
Рациональное природопользование
моделирование метеорологической ситуации и качества атмосферного приземного воздуха вблизи крупных населенных пунктов
Информационно-телекоммуникационные системы
моделирование задач астрофизики и образования галактик
Транспортные и космические системы
моделирование новых наноструктурных материалов и процессов молекулярной динамики
Индустрия наносистем
Исследование твердофазных материлов методом неизотермической кинетики
Индустрия наносистем
Очистка и концентрирование веществ методом ротационного испарения
Индустрия наносистем
Исследование каталитической активности катализаторов в услоиях повышенных давлений
Индустрия наносистем
Оптимизация условий жидкофазного химического синтеза
Индустрия наносистем
Измерение магнитной и диэлектрической проницаемостей напорошков Касатонова (Набережные Челны)
Индустрия наносистем
Исследование качественного состава газовых проб методм масс-спектрометрии
Индустрия наносистем
Определение состава жидких проб методом жидкостной хроматографии
Индустрия наносистем
Определение состава газовых и ждиких проб методом газовой хроматографии
Индустрия наносистем
Исследование срока службы каталитических систем
Индустрия наносистем
Измерение диэлектрической проницаемости дважды ионизованной воды
Рациональное природопользование
Измерение удельной поверхности
Индустрия наносистем
Замеры физических полей окружающей среды
Рациональное природопользование
Определение физиологического состояния человека
Рациональное природопользование
Мониторинг ионосферы
- наиболее востребованная услуга
Рациональное природопользование
Термогравиметрия (ТГ) горных пород, минералов, минерального сырья и продуктов его переработки
Рациональное природопользование
Отбор минеральных монофракций
Рациональное природопользование
Кристалломорфологический анализ цирконов
Рациональное природопользование
Полуколичественный минералогический анализ шлихов
Рациональное природопользование
Полуколичественный минералогический анализ проб-протолочек
Рациональное природопользование
Петрографическое описание шлифов
Рациональное природопользование
Экспертиза материала и природы ювелирной вставки с расчетом базовой стоимости ювелирных вставок без оправы и в составе ювелирных изделий
Рациональное природопользование
Анализ фазового состояния поверхности неорганического материала с получением файла изображения
Индустрия наносистем
Анализ морфологии топографической поверхности неорганического материала с получением файла изображения
Индустрия наносистем
Полуколичественное определение химического состава фазы в локальной точке поверхности
Рациональное природопользование
Дифференциально-сканирующая калориметрия (ДСК или ДТА) горных пород, минералов, минерального сырья и продуктов его переработки
Рациональное природопользование
Количественное атомно-эмиссионное определение одного из элементов в горных породах и рудах
Рациональное природопользование
Количественный атомно-эмиссионный (спектральный) анализ горных пород и руд на содержание V, Cu, Ni, Zn, Sn, Pb, Cr
Рациональное природопользование
ED диагностика неорганических материалов природного и искусственного происхождения
Рациональное природопользование
Полуколичественный рентгенофлуоресцентный анализ неорганических материалов природного и искусственного происхождения на содержание S, Cl, Sc, V, Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Hf, Hg, Ta, W, Tl, Pb, Bi, Ag, Cd, I, La, Ce, Th, U, Nb, Mo, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, Pr, Nd
Рациональное природопользование
Количественный рентгенофлуоресцентный анализ горных пород и руд на содержание Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, K2O, СaO, TiO2, MnO, Fe2O3 (общ)
Индустрия наносистем
Рентгенофазовый анализ неорганических материалов природного происхождения.
Рациональное природопользование
Количественный ИСП-МС анализ биологических объектов растительного происхождения на содержание Ag, Al, As, Au, Ba, Be, Bi, B, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ge, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Pt, Rb, P, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr
Рациональное природопользование
Количественный ИСП-МС анализ природной воды на содержание Li, Be, B, Al, P, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Nb, Zr, Mo, Ru, Rh, Ag, Pd, Cd, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Ta, W,Re, Os, Ir, Pt, Au, Tl, Pb, Bi, Th, U
Рациональное природопользование
Количественный ИСП-МС анализ горных пород и руд на содержание Be, Sc, Ti, V, Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Cd, Cs, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Tb, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Pb, Th, U
- наиболее востребованная услуга
Рациональное природопользование
Количественный ИСП-МС-анализ горных пород и руд на содержание Be , V, Bi, W, Ga, Hf, Ge, Fe, Au, Cd, Co, Mn, Cu, Mo, As, Ni, Nb, Sn, Pd, Pt, Ru, Pb, Se, Ag, Sb, Ta, Te, P, Cr, Zn
Рациональное природопользование
Дифференциальный термический анализ, масс-спетрометрия и рентгеноструктурный анализ образцов детонационного наноалмаза
Индустрия наносистем
Электронно-микроскопическое исследование волокнистых материалов
Индустрия наносистем
Исследование структуры и фазового состава титановых и циркониевых сплавов
Индустрия наносистем
Исследование сплавов ВТ1-0 и ВТ6 после электронно-ионно-плазменной обработки и электрокоррозии методами оптической, сканирующей электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа и путем измерения твердости
Индустрия наносистем
Исследования изменения свойств материалов при термическом воздействии
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ 3-х образцов СМК никеля после низкотемпературного отжига и электролитического насыщения водородом
Индустрия наносистем
Исследование морфологии поверхности и внутренней структуры тонких металлических пленок
Индустрия наносистем
Проведение физико-химических методов анализа и определение состава представленных материалов (веществ)
Индустрия наносистем
Определение химического состава представленных деталей смесителя
Индустрия наносистем
Исследование структуры электронно-лучевых покрытий
Индустрия наносистем
Физико-химические исследования цементных композиций
Индустрия наносистем
Исследования изменения свойств материалов при термическом воздействии
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ покрытий диоксида титана
Индустрия наносистем
Исследование биокомпозитов и покрытий медицинского назначения
Индустрия наносистем
Исследование структуры наноматериалов
Индустрия наносистем
Измерение механических свойств спеченных алюминиевых образцов методом испытания на сжатие при комнатной температуре на универсальной настольной электромеханической испытательной машине Instron 3369. Исследование структуры и состава поверхности спеченных, подвергнутых интенсивной деформации образцов
Индустрия наносистем
Исследование сплавов ВТ1-0 и ВТ6 после электронно-ионно-плазменной обработки и электрокоррозии методами оптической, сканирующей электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа и путем измерения твердости
Индустрия наносистем
Проведение элементного химического анализа 3-х образцов:известняк кондиционный; известняк некондиционный;ангидрит природный
Индустрия наносистем
Исследование характеристик целевых материалов для обеспечения конверсии исследовательского реактора ИРТ-Т
Индустрия наносистем
Исследование свойств поверхностных сплавов
Индустрия наносистем
Определение предела прочности на изгиб образцов на основе карбидных материалов
Индустрия наносистем
Исследование проб керна
Индустрия наносистем
Фрактографическое исследование металлических обазцов с покрытием
Индустрия наносистем
Исследование морфологии поверхности износостойких высокотемпературных покрытий
Индустрия наносистем
Проведение структурных исследований образцов, полученных с помощью коаксиального магнитоплазменного ускорителя
Индустрия наносистем
Исследование образцов шламовых отходов комбината "Тувакобальт":кека от водного выщелачивания и продукта от обжига"
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ оксидных покрытий
Индустрия наносистем
Измерение фазового состава образцов каталитических материалов методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование оцинкованного профлиста на толщину и элементный состав покрытия
Индустрия наносистем
Получение дериватограмм с порошковых наплавочных материалов
Индустрия наносистем
Анализ отложений Шингинского и Западно-Лугинецкого месторождений
Индустрия наносистем
Исследование элементного и фазвого составов порошков фосфатов кальция и керамик на его основе
Индустрия наносистем
Исследование пленки нитрида кремния методом РФА
Индустрия наносистем
Дифрактометрические исследования тонкопленочных алюминиевых покрытий
Индустрия наносистем
Исследование физико-химических, механических свойств и морфологии поверхности гибридных биоматериалов
Индустрия наносистем
Исследование методами РФА, РЭМ полиуретановых композиций
Индустрия наносистем
Исследование проб керна
Индустрия наносистем
Исследование образцов методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование основных свойств ультрадисперсных оксидов с помощью РФА, ПЭМ-методик
Индустрия наносистем
Исследование образцов на оборудовании ТМЦКП
Индустрия наносистем
Исследование структуры наноматериалов
Индустрия наносистем
Проведение рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа оксидных порошков
Индустрия наносистем
Исследование образцов методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Структурные исследования циркониевых и титановых сплавов
Индустрия наносистем
Исследование электрофизических свойств пленок гидрогенизированного аморфного кремния
Индустрия наносистем
Структурное исследование образцов наноуглеродного материала
Индустрия наносистем
Определение текстуры для стали 12ГБА в СМК состоянии методом EBSD-анализа на электронном микроскопе Quanta 200 3D и исследование изломов данной стали на растровом электронном микроскопе Philips SEM-515
Индустрия наносистем
Исследование образцов методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование структуры и состава поверхности покрытий
Индустрия наносистем
Исследование токопроводящих серебросодержащих паст
Индустрия наносистем
Исследование прочности и пластичности образцов интерметаллического соединения с различным структурно-фазовым состоянием на установке для механических испытаний "Инстрон"
Индустрия наносистем
Контроль электрорадиоизделий (ЭРИ) на растровом микроскопе Quanta 200 3D
Индустрия наносистем
Исследование морфологии полимерных композиционных материалов методом растровой электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурные исследования образцов из СВМПЭ с прививкой
Индустрия наносистем
Исследование нанокомпозитов материала карбонитрида титана
Индустрия наносистем
Рентгенографическое, микроскопическое и металлографическое исследования поверхности хроматографических сорбентов
Индустрия наносистем
Подготовка образца подложки из стали Х18Н10Т, легированная углеродом
Индустрия наносистем
Исследование образцов металлокерамических композитов методом наноиндентирования
Индустрия наносистем
Проведение осаждения образцов Ti-Al-Si-Cu-N
Индустрия наносистем
Нанесение оксидных покрытия ZrO2:Y2O3
Индустрия наносистем
Прессование ВТ1-0
Индустрия наносистем
Проведение подготовки образцов из компактов механокомпозитов на основе меди и алюминия для электронной микроскопии методом ионного утонения
Индустрия наносистем
Проведение подготовки образцов покрытий Ti-Al-Si-Cu-C-N для электронной микроскопии методом ионного утонения
Индустрия наносистем
Проведение подготовки образцов покрытий Ti-Al-Si-Cu-N-C-O для электронной микроскопии методом ионного утонения
Индустрия наносистем
Проведение дополнительного утонения фольг из деформированных образцов алюминия для электронной микроскопии методом ионного утонения
Индустрия наносистем
Подготовка образцов из компктов механокомпозитов на основе меди и алюминия для электронной микроскопии методом ионного утонения
Индустрия наносистем
Измерение микротвердости стали
Индустрия наносистем
Измерение микротвердости обазцов титана и циркония с покрытием
Индустрия наносистем
Измерение микротвердости образцов стали 304
Индустрия наносистем
Измерения микротвердости титановых сплавов и Ni
Индустрия наносистем
Измерения микротвердости образцов стали 10Г2ФТ, 06МБФ
Индустрия наносистем
Измерения твердости образцов стали марки 2
Индустрия наносистем
Измерения микротвердости образцов титана ВТ1-0
Индустрия наносистем
Исследование образцов полиэтилен высокого давления, оксида цинка методом атомно-силовой микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали нержавеющей медицинской методом атомно-силовой микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов на основе системы Ni-Al методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов полимеров методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов полиэтилена методом дифференциально-сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов 3Ni+Al методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов 3%Nb+Al методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом дифференциальной сканирующей каллориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов гидроксиапатита методом термического анализа и масс-спектроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методо синхронного термического анализа и масс-спектроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов катализаторов методом синхронного термического анализа и масс-спектроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов SiO2, SiO2/10P2O5(HNO3), SiO2/30P2O5(HNO3), SiO2/50P2O5(HNO3), SiO2/30P2O5(H3PO4) методом ТГ-ДСК/МС
Индустрия наносистем
Исследование образцов ZrO2*WO3, ZrW2O8 методом термогравиметрического и дифференциально-сканирующего каллометрического анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов 2-метилимидазола методом термического анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов наночастиц серебра методом синхронного ТГ-ДТА/ДСК
Индустрия наносистем
Исследование образцов 3Ni+Al методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов ZrO(OH)2+Y2O3 методом ТГ-ДСК-МС
Индустрия наносистем
Исследование образцов кости и кожи методом термического анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов сплава СВС Ni-Al методом дилатометрии
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитной стали методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов покрытий TiN после отжига и оксидирования методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов из стали с титановым покрытием методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 10Г2ФТ методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование обрзацов аустенитной стали методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов с покрытием после скрэтч-теста и Калотест испытаний методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследования образцов стали 10 Г2ФТ, 06МБФ методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом оптической металлографии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов химического состава методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов титана с покрытием методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов чугуна методом рентгенофлуорисцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов углеродного остатка методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов чугуна методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al, Cr методом ренгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов V-Cr-Zr-W-Fe методом рентгенофлуоресцентным анализом
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al-Cr-Si-Ti-Cu методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца Al-Cr-Si-Ti-Cu методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ag/SiO2, Ag/Co3O4/SiO2, Ag/CeO2/SiO2, Ag/ZrO2/SiO2 методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов порошка песочного цвета методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов кремния с Zn-Al-O покрытием методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ag/P2O5/SiO2 методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Zn-Al-O2 методом рентгенофлуоресцентного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов после деформационных обработок методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов дисперсии наночастиц металлов и полупроводников методом просвечивающей элеткронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов бора методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов пластин методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов водных и эталоных дисперсий наночастиц методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образца дисперсии наночастиц методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов оксида титана, алюминия и титана методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов после деформационных обработок методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al 0.25-Cu 0.3, VF-Alex методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов C, Si, SiC методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов термомодифицированного торфа методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов высокодисперсного углеродного материала методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов ванадиевых сплавов методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов смеси фуллеренов методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 304 методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали ЭК-181 методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов Тi-Al-Si-Cu-N, Тi-Cu-N методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов Nb+Al после механоактивации методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов V-4Ti-4Cr методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 05Г2МФБ методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование образцов V-Ti-Cr методом просвечивающей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов стали
Индустрия наносистем
Циклические испытания образцов титановых сплавов
Индустрия наносистем
Механические испытания образца полипропилена
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов стали
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов Al
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов низкоуглеродистой стали
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов Ni54Fe19Ga27 (ат. %), Ni54Fe19Ga27 Со6 (ат. %)
Индустрия наносистем
Механические испытания образцов Co35Ni35Al30
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni-Al методом растровой элеткронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов пластин методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцовCaSO4 методом растровой электронной микроскопии,EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов гликолурила методом раствовой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Fe+C методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца бора методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов графитового микроволокна методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов композиционных материалов методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов никелида титана методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni-Cr, покрытие ZrO2, ВК8+Ti покрытие, Т40+Ti покрытие методом растровой электронной микроскопии, ERDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ZrO2, TiC методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов титанохромовых ферросплавов методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов графитофого микроволокна методом растровой электроники, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов из стали с титановым покрытием методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов с покрытием методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов никелида титана методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцовВТ-6 С SiC покрытием методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ti методом расторовой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механоактивированных порошков на основе Ta и Ni-Al методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов осадков сульфидов металлов методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов спор папоротника видов Dryopteris, Pteridium, Cystopteris методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ZrO2, TiC методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов пластины поликристаллического кремния методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов сплава СВС Ni-Al методом растровой электронной миркоскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ti-Al-Si-Cu-N-C-O методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов из титана с CaP покрытием методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Т40 методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов порошков сплава СВС методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов фосфатных покрытий методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики методом растровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов 40Х методом ратсровой электронной микроскопии, EDAX-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов полигликолидлактида с наночастицами серебра методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов никелида титана методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом растровой элеткронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов никелида титана методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Fe+C методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ti-Al-Si-Cu-N-C-O методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики ZrO2-TiC методом растровой электронной микроскопиил, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al-Cr-Si-Ti-Cu методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов с покрытием методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al 0.25-Cu 0.1+Fluorel, Al 0.35-Cu 0.18+Fluorel, Al 0.35-Cu 0.1+Fluorel, Al 0.35-Cu 0.2+Fluorel методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al 0.25-Cu 0.3, VF-Alex методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ванадиевых сплавов после механических испытаний при различных температурах методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитная сталь Fe-13Mn-1,3C методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Mo, Al, BT16, BT6 методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ZrO2, Al2O3, WC методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов подложка медь М1 (Cu-99,9%), покрытие SiAlN толщиной 10мкм, 6мкм и 3мкм методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ti-Cu-N-C-O методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца Ni (экструзия) методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ванадиевого сплава после различных обработок методом растровой электронной микроскопии, EBSD-анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов конденсированного продукта сгорания методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni-11ат.%Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца стали легированной методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитной стали методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов на основе Cu и Nb методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ti-Ti+Al методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов покрытий Ti-Al-Si-N-C-O методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитной стали методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов на основе Ni-Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов многокомпонентных покрытий системы Al-Cr-Si-Ti-Cu методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов на основе Cu и Ni-Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механокомпозитов на основе системы Ni-Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов порошков наночастиц методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов титана с покрытием методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов чугуна методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов La9.33SiO26+2.9%Li2O, La9.83Si5.5 Al0.5O26.5+2.9%Li2O, La9.83Si5.5 Al0.5O26.5+1%Li2O, La9.83Si5.5 Al0.5O26.5+1.8%Li2O методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов твердого сплава ВК-8 с титановым покрытием, обработанных электронным пучком, методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов чугуна методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al, Cr методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ta методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование обрзацов нержавеющей стали методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al(OH)3 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni3Al+3%Cалм, Ni3Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов V/Ni-подложка GaAs-GaxOy-V/Ni методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов AIOOH методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследовние образцов TiO2/SiO2 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов ВК8 (WC-8%Co)+Ti покрытие+электронный пучок методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов диспергированного минерала брусита методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Co-ZrP методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al-Cr-Si-Ti-Cu методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитной стали методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов тантала методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов керамики методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов никелида титана методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов сталь 18Cr-8Ni-Ti методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов La10Si5AlO26.5, La9.83Si5.5Al0.5O26.5, Pb2SnO4 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов подложки Mo, покрытие на основе TiC с аморфным углеродом методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитных сталей методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Ni+Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца Al-Cr-Si-Ti-Cu методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Та методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов TiO2/Al2O3 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов порошка черного цвета, рудного концентрата методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов фуллеренов методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов – Co/Zr(6%)-P(2%)/Al2O3, Zr(7,75%)/SiO2, Co/Zr(7,75%)/SiO2, Co/Zr(7,75%)/SiO3 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образца порошка наночастиц методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование обрзацов порошка микро- и нанопорошков полупроводников методо рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование обрзацов Zr(6%)-P(2%)/Al2O3, Co/Zr(6%)-P(2%)/Al2O3 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 18Cr-8Ni-Ti методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов 3Ni+Al методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование обрзацов Ti, C, Mo, S методом рентгенографического анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов TiO2/Al2O3 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов аустенитной стали методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов 5_Ag/SiO2, 5_Ag/10_Co3O4/SiO2, 5_Ag/5_CeO2/SiO2, 5_Ag/5_ZrO2/SiO2 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов наноразмерых феррошпинелей и гескаферритов методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов оксида титана, алюминия и титана методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 304 методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов хлорида кобальта методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Fe3O4 методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов глиоксаля методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов порошка наночастиц металлов и оксидов методом рентгенофазового анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали ЭК-181 методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов стали 18Cr-8Ni-Ti методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов механоактивированных порошков Ta методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al 0.25-Cu 0.3, VF-Alex методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов Al2O3 (100-400мкм)-Al0.15Ga0.85N (15 нм)-In0.15Ga0.85N (10 нм)-GaN (4 мкм) методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов метастабильных сплавов методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем
Исследование образцов TiNi-2L-14, TiNi-5L-26,29,34,46 методом рентгеноструктурного анализа
Индустрия наносистем

Методики (89)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Стали и сплавы. Анализ элементного состава методом оптико-эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом. СТО ТГУ 128-2014 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 10:14:00
Лазерная микродиссекция. Методические рекомендации по выделению отдельных клеточных популяций из образцов опухолевой ткани. СТО ТГУ 148-2015 АНО "Институт независимых экспертиз" 28.12.2015 10:11:00
Энзимогистохимические исследования. Выявление активности β-d-галактозидазы в криостатных срезах. СТО ТГУ 147-2015 АНО "Институт независимых экспертиз" 28.12.2015 10:10:00
Лазерная конфокальная микроскопия. Правила и рекомендации по проведению измерений линейных размеров не флюоресцирующих объектов. СТО ТГУ 146-2015 АНО "Институт независимых экспертиз" 28.12.2015 10:09:00
Лазерная конфокальная микроскопия. Рекомендации по проведению съемки объектов, обладающих автофлюоресценцией. СТО ТГУ 145-2015 АНО "Институт независимых экспертиз" 28.12.2015 10:07:00
Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по изменению основных морфологических параметров высших наземных растений. СТО ТГУ 144-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:59:00
Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма danio rerio. СТО ТГУ 143-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:59:00
Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма равноресничных инфузорий paramecium сaudatum ehrenberg. СТО ТГУ 142-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:56:00
Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по параметрам метаболической активности почвенной микрофлоры методом мультисубстратного тестирования. СТО ТГУ 141-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:55:00
Водные дисперсные системы наноматериалов, высокодисперсные материалы, отходы производства и потребления, осадки сточных вод, содержащие наночастицы. Определение индекса токсичности по смертности тест-организма daphnia magna straus. СТО ТГУ 137-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:54:00
Плазма крови. Методика измерения массовой концентрации капецитабина методом высокоэффективной жидкостной хроматографии-тандемной масс-спектрометрии. СТО ТГУ 150-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:44:00
Плазма крови. Методика измерения массовой концентрации рамиприла методом высокоэффективной жидкостной хроматографии-тандемной масс-спектрометрии. СТО ТГУ 149-2015 Центр "СЕРТИМЕТ" АХУ УрО РАН 28.12.2015 09:41:00
Методика измерений критической силы нагрузки для оценки адгезионной прочности наноструктурированных неметаллических неорганических покрытий с использованием скретч-тестера (СТО ТГУ 093-2011) ФГУН "УНИИМ" 17.10.2011 21:00:00
Методика измерений массовых долей циркония и титана в материале стандартных образцов оксидных модификаторов черного и цветного литья методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии (СТО ТГУ 092-2011) СТО ТГУ 17.10.2011 21:00:00
СТО ТГУ 118-2012 Методика измерений содержания антимикробной композиции в синтетических рассасывающихся хирургических нитях Томский государственный университет 19.12.2012
СТО ТГУ 117-2012 Методика измерений жесткости синтетических хирургических нитей Томский государственный университет 19.12.2012
СТО ТГУ 116-2012 Методика измерений содержания остаточного CO2 после стерилизации синтетических рассасывающихся хирургических нитей Томский государственный университет 19.12.2012
СТО ТГУ 115-2012 Методика измерений срока рассасывания синтетических рассасывающихся хирургических нитей in vitrо Томский государственный университет, Институт хирургии им. Вишневского 19.12.2012
СТО ТГУ 112-2012 Методика измерений молекулярной массы сополимеров гликолевой и молочной кислот методом гель-хроматографии Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 111-2012 Методика измерений массовых долей примесей, содержащих карбоксильную группу, в мономерах лактида и гликолида титриметрическим методом с потенциометрическим окончанием Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 110-2012 Методика измерений массовой доли влаги в мономерах лактида и гликолида гравиметрическим методом Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 109-2012 Методика измерений массовых долей примесей в биоразлагаемых сополимерах атомно-абсорбционным методом (барий, медь, свинец, олово, хром, кадмий, железо, цинк) Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 108-2012 Методика измерений температуры плавления мономеров лактида и гликолида физическим методом с применением прибора фирмы Buchi Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 107-2012 Методика измерений массовых долей изомеров в растворе лактида поляриметрическим методом Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 106-2012 Методика измерений массовой доли молочной кислоты в водном растворе методом жидкостной хроматографии Томский государственный университет 12.07.2012
СТО ТГУ 105-2012 Методика измерений массовой доли гликолевой кислоты в водном растворе методом жидкостной хроматографии Томский государственный университет 12.07.2012
Методика определения физиологического состояния человека по данным ЭЭГ и ЭКГ Росстандарт, МинСоцЗдравРозвитеие(сертифицировано) 12.06.2004
методика определения экзо- и эндотерми ческих эффектов, потерь массы при термическом аналиизе горных пород минералов и руд Томский государственный университет 25.01.2013
ФР.1.31.2012.12201 Методика измерений массовой доли глиоксаля в пробах кристаллического глиоксаля методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 094 – 2011) " СТО ТГУ 18.10.2011
ФР.1.31.2012.12193 Методика выполнения измерений массовой доли формальдегида в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 085-2010) " СТО ТГУ 05.09.2011
ФР.1.31.2012.12192 Методика выполнения измерений массовой доли этиленгликоля в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 084-2010) " СТО ТГУ 26.07.2011
ФР.1.31.2012.12194 Методика выполнения измерений массовой доли глиоксаля в водных растворах методом газовой хроматографии (СТО ТГУ 086-2010) " СТО ТГУ 18.08.2011
ФР.1.31.2012.12191 Методика измерений удельной поверхности порошков неорганических методом многоточечного БЭТ (СТО ТГУ 071-2009) " СТО ТГУ 03.09.2010
МУ 1.2.2634-10 Микробиологическая и молекулярно-генетическая оценка воздействия наноматериалов на представителей микробиоценоза. Государственный комитет РФ по стандартизации и метрологии 06.09.2010
ФР. 1.39.2010.09103 «Методика определения индекса токсичности нанопорошков, изделий из наноматериалов, нанопокрытий, отходов и осадков сточных вод, содержащих наночастицы, по изменению оптической плотности тест-культуры водоросли Сhlorella vulgaris Beijer» ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 12.11.2010
ФР.1.39.2010.09102 «Методика определения индекса токсичности нанопорошков, изделий из наноматериалов, нанопокрытий, отходов и осадков сточных вод, содержащих наночастицы, по смертности тест-организма Daphnia magna Straus» " ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 12.11.2010
Методика выполнения измерений массовой доли глиоксаля в водном растворе глиоксаля методом газовой хроматографии. МВИ № 224.09.11.038/2009 ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 30.09.2010
Методика измерений удельной поверхности порошков методом мнотогочечного БЭТ. МВИ № 224.0078/01.00258/2010 ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 30.09.2010
Методика аттестации рабочих мест по условиям труда ГОСТ СССР, Росстандарт 05.12.2008
Методика вертикального зондирования ионосферы Земли АН СССР, АН РФ 24.06.1998
ФР. 1.31.2005.01881. Методика определения токсичности проб вод (природных, хозяйственно-питьевых, промышленных сточных) экспресс-методом с применением прибора «Биотестер». Государственный комитет РФ по стандартизации и метрологии 28.03.2007
ПНД Ф Т 14.1:2:3:4.10-04, 16.1:2:3:3.7-04. (ФР.1.31.2009.06643) Методика определения токсичности проб поверхностных пресных, грунтовых, питьевых, сточных вод, водных вытяжек из почвы, осадков сточных вод и отходов по изменению оптической плотности культуры водорослей хлорелла ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 28.03.2007
ФР. 1.39.2007.03222. Методика определения токсичности воды и водных вытяжек из почв, осадков сточных вод, отходов по смертности и изменению плодовитости дафний. ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы 17.10.2005
МР 2.1.7.2297-07 Обоснование класса опасности отходов производства и потребления фитотоксичности Главный государственный санитарный врач РФ Г.Г. Онищенко 28.12.2007
МР 1.2.2566-09 Оценка безопасности наноматериалов IN VITRO и модельных системах IN VIVO 2009 г Главный государственный санитарный врач РФ Г.Г. Онищенко 10.12.2009
Измерение диэлектрической проницаемости плоских диэлектриков с помощью квазиоптического открытого резонатора. Учебно-методическое пособие. СТО ТГУ 05.04.2009
СТО ТГУ 032 – 2009 Методика измерений эффективных значений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот. СТО ТГУ 01.04.2009
СТО ТГУ 064 – 2009 Методика измерения коэффициента отражения композитов на основе наноразмерных порошков ферритовых материалов в диапазоне частот 0.01 ÷ 4 ГГц СТО ТГУ 01.04.2009
СТО ТГУ 053 – 2009 Методика измерения спектров комплексной магнитной проницаемости нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот. Прямоугольный объемный резонатор. СТО ТГУ 01.04.2009
СТО ТГУ 046-2009. Методика качественного анализа фазового состава поверхностных слоев и тонких пленок рентгенографическим методом. СТО ТГУ 07.04.2009
СТО ТГУ 034. Методика качественного анализа фазового состава поликристаллических и порошковых наноразмерных неорганических соединений рентгенографическим методом. СТО ТГУ 16.04.2009
СТО ТГУ 033 – 2009 Методика измерений частотных зависимостей магнитной проницаемости нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот. СТО ТГУ 31.03.2009
СТО ТГУ 030-2009. Методика измерений магнитных параметров наноразмерных порошков ферритовых материалов по спектрам ферромагнитного резонанса. СТО ТГУ 31.03.2009
СТО ТГУ 031 – 2009 Методика измерений эффективных значений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь нанопорошков и композитов на их основе в диапазоне сверхвысоких частот. СТО ТГУ 01.04.2009
СПМПМ № 114-м Кристалломорфологическийй анализ циркона ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС) 26.07.2004
СПМПМ № 18-м Полуколличественное определение минерального состава проб пртолочек ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС) 24.06.1998
СПМПМ № 14-м Полуколличественное определение минерального состава шлихов ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС) 30.03.1998
СТО ТГУ 079-2010 методика качественного анализа фазового состава порошковых моно- и полиминеральных фаз рентгенографическим методом СТО ТГУ 22.11.2010
СТО ТГУ 048-2009 методика определения элементного состава горных пород методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой СТО ТГУ 31.03.2009
МУК 4.1.1483-03 Определение содержания химических элементов в диагностируемых биосубстратах, препаратах и биологически активных добавках методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной аргоновой плазмой Санитарно-эпидемиологическая служба Российской Федерации 30.06.2003
СТО ТГУ 049-2009 Методика определения оксидов кремния, алюминия, магния, железа, кальция, титана, марганца, калия и натрия методом рентгенофлюорисцентного анализа СТО ТГУ 31.03.2009
СТО ТГУ 063 – 2009 Методика определения материала и природы ювелирных вставок без оправы и в составе ювелирных изделий СТО ТГУ 27.05.2009
МВИ №08-47/200 масовых долей Zn, Pb, Sn, Ni, Cu, V, Cr в зольных остатках почв пород и торфов, методом пламенной атомно-эмиссионной спектрометрии Аккредитованная метрологическая служба Томского Политехнического Университета 09.02.2006
Методика № 480-Х «Определение элементного состава природных и питьевых вод методом ICP-MS» ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС) 13.04.2006
Методика № 481-Х Определение общей ртути в природных и питьевых водах методом ICP-MS ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н.М. Федоровского" (ФГУП ВИМС) 13.04.2006
МВИ № 001-ХМС-2007 «Методика выполнения измерений массовых долей элементов в горных породах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой». ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии" (ФГУП УИМ) 09.06.2007
Методика измерений массовых долей циркония и титана в материале стандартных образцов оксидных модификаторов черного и цветного СТО ТГУ 10.06.2011
Методика измерений массовых долей циркония и титана в пробах оксидных модификаторов черного и цветного литья "МС" методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии (СТО ТГУ 091-2011) СТО ТГУ 10.06.2011
Методика идентификации фазового состава по глубине неноструктурированных неметаллических нероганических покрытий с помошью рентгеновского дифрактометра (СТО ТГУ 097-2011) СТО ТГУ 10.06.2011
Методика измерений фазового состава и структуры оксидов циркония и титана в модификаторах черного и цветного литья методом рентгеновской дифракции (СТО ТГУ 096-2011) СТО ТГУ 10.06.2011
Методика измерений микротвердости (по Виккерсу) градиентных наноструктурированных неметаллических неорганических покрытий с использованием нанотвердомера (СТО ТГУ 090-2011) СТО ТГУ 10.06.2011
Методика выполнения измерений массовой доли титана, хрома, марганца, железа, никеля, меди, цинка, циркония, олова, свинца и висмута рентгенофлуоресцентным методом на анализаторе рентгенофлуоресцентном "ALPHA SERIES" (ФР.1.31.2008.04565) СТО ТГУ 20.04.2009
Правила испытания материалов на растяжение, сжатие и изгиб с использованием настольной электромеханической испытательной машины Instron 3369 (СТО ТГУ 067-2009) СТО ТГУ 31.08.2009
Методика исследования распределения контактной разности потенциала (поверхностного потенциала) на полупроводниковых сколах со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 059 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследования распределения падения напряжения на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 058 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследования емкостного контраста на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии при подаче напряжения через структуру (СТО ТГУ 057 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследования кости на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 056 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследования коллагена кожи на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 055 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследования трехмерной топологии поверхности тонких пленок и твердых тел на микронном и субмикронном уровне методом атомно-силовой микроскопии (СТО ТГУ 054 - 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика количественного анализа фазового состава поверхностных слоев и тонких пленок рентгенографическим методом (СТО ТГУ 046 – 2009) СТО ТГУ 08.05.2009
Металлы и сплавы. Метод определения температуры плавления (СТО ТГУ 045-2009) СТО ТГУ 01.04.2009
Методика анализа элементного состава твердых материалов и нанопорошков рентгенофлуоресцентным методом. Правила пробоподготовки (СТО ТГУ 044-2009) " СТО ТГУ 20.04.2009
Методика изготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии с помощью сфокусированного ионного пучка (СТО ТГУ 043-2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика исследований кристаллической структуры материалов методом дифракции обратно рассеянных электронов (СТО ТГУ 042-2009) СТО ТГУ 20.04.2009
Методика проведения исследований структуры поверхности твердого тела методом растровой электронной микроскопии (СТО ТГУ 041-2009) СТО ТГУ 01.04.2009
Методика изготовления поперечных сечений с помощью сфокусированного ионного пучка (СТО ТГУ 040-2009) " СТО ТГУ 20.04.2009
Правила проведения исследований структуры кристаллических материалов методом просвечивающей электронной микроскопии (СТО ТГУ 039-2009) СТО ТГУ 08.05.2009
Методика определения размера кристаллитов и микроискажений кристаллической решетки по уширению профилей Брэгговских максимумов (СТО ТГУ 035 – 2009) СТО ТГУ 20.04.2009
"Методика качественного анализа фазового состава поликристаллических и порошковых наноразмерных неорганических соединений рентгенографическим методом (СТО ТГУ 034 – 2009) " СТО ТГУ 20.04.2009

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий