Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр измерений свойств материалов

Сокращенное наименование ЦКП: ЦИСМ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Томский политехнический университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://portal.tpu.ru/departments/centre/cism_fti

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Томская область
  • 634050, г. Томск, пр. Ленина 2а, стр.4

Руководитель ЦКП:

  • Степанов Игорь Борисович, доктор технических наук
  • +7 (3822) 701613
  • stepanovib@tpu.ru

Контактное лицо:

  • Корнева Ольга Сергеевна
  • +7 (3822) 606232
  • oskar@tpu.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

    Пучковые и плазменные технологии обработки материалов, синтез смазывающих и порошковых материалов, композиционные мембраны, медицинские имплантаты, наноструктурные материалы для энергетики, авиационной, нефтегазовой и атомной промышленности.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Транспортные и космические системы

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 7 ед.)

Атомно-эмиссионный спектрометр ДФС-458С (Ситал)
Марка:  ДФС-458С
Фирма-изготовитель:  ОАО Ситал
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Высокотемпературный трибометр
Марка:  ТНТ-S-АХ0000
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Нанотвердомер
Марка:  NHT-S-AX-000X
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оже-электронный спектрометр "Шхуна-2" (Электрон)
Марка:  Шхуна-2
Фирма-изготовитель:  НПО «Электрон»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Прибор для измерения адгезионной прочности покрытий MST-S-AX-0000 (CSM Instruments)
Марка:  MST-S-AX-0000
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments SA
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2000
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прибор для измерения толщины покрытий Cat-S-AX-0000 (CSM Instruments)
Марка:  Cat-S-AX-0000
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments SA
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Трехмерный профилометр MICRO MEASURE 3D station (STIL)
Марка:  MICRO MEASURE 3D station
Фирма-изготовитель:  STIL
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП: (номенклатура — 7 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Определение элементного и изотопного состава проводящих и непроводящих твердых веществ

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследование коэффициента трения и износостойкости, в том числ в газовой среде и смазывающих жидкостях. Температура образца до 800 С. Нагрузка/разрешение (1-5000)Н/10мН

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследование нанотвердости и модуля Юнга

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Определение элементного и изотопного состава проводящих и непроводящих твердых веществ с чувствительностью до 10^-8 атомных процентов в объеме материалов, на поверхности и по глубине. Разрешение по глубине/чувствительность 0.5-1.0нм/0.1-0.5%ат

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследование адгезионной прочности пленок и покрытий. Нагрузка/разрешение (0.1 мН -30Н)/0.1мН. Длина царапины 20мм. Диаметр индентора - 20, 200 мкм. Оптическая микроскопия.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Измерение толщины тонких пленок, в том числе и многослойных. Исследование износостойкости. разрешение 0.1-100мкм

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследование морфологии поверхности и толщины тонких пленок. Расчет количества, площади, объема пор и включений. Более 200 расчетных и статистических функций. Размеры зоны сканирования (мм): 100х100; разрешение X и Y - 100нм, Z - 1 yv

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 14 ед.)

Методика выполнения измерения износостойкости
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения коэффициента трения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения шероховатости (Ra)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения толщины покрытий (трехмерный бесконтактный профилометр MICROMEASURE 3D station)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения толщины покрытий (Calo Test-S-AX-0000)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения нанотвердости HV
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения микротвердости
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения адгезионных свойств покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика количественного химического анализа покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения элементного состава и концентрации элементов с использованием методов электронной ОЖЭ- спектроскопии и вторичной ионной-масс-спектроскопии по ASTM E 1078
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения распределения элементов по глубине с использованием методов электронной ОЖЭ- спектроскопии и вторичной ионной-масс-спектроскопии по ASTM E 1078
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения модуля Юнга
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения толщины покрытий (нанотвердомер THT-S-AX000X)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерения шероховатости (Rz)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Томский политехнический университет
Дата аттестации:  09.11.2016
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран