Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

ЦКП «Лазерный, оптический и испытательный комплекс»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ЛОИК

Базовая организация: Федеральное государственное автономное научное учреждение «Центральный научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт робототехники и технической кибернетики»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://rtc.ru/ru/tsentr-kollektivnogo-polzovaniya

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Северо-Западный
  • Регион: г. Санкт-Петербург
  • 194064, г. Санкт-Петербург, Тихорецкий пр., 21

Руководитель ЦКП:

  • Грязнов Николай Анатольевич, кандидат физико-математических наук
  • +7 (812) 2944736
  • gna@rtc.ru

Контактное лицо:

  • Захаров Сергей Анатольевич
  • +7 (812) 5563351
  • szakharov@rtc.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования научным оборудованием  «Лазерный, оптический и испытательный комплекс»

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследование взаимодействия мощного излучения с веществом;
  • развитие методов прогнозирования и управления структурой при взаимодействии концентрированных потоков энергии с наноструктурированными материалами;
  • комплексное исследование лазерно-индуцированного синтеза наноструктурированных покрытий;
  • исследование и моделирование гибридных лазерно-световых и лазерно-дуговых технологий синтеза нанопорошков;
  • исследование физико-химических закономерностей процессов формирования наноструктур и наноматериалов;
  • исследование физико-химических закономерностей процессов разложения паров летучих органических токсичных веществ в низкотемпературной плазме при атмосферном давлении;
  • разработка оптических методов анализа токсичных микропримесей в воздушной среде (Фурье ИК-спектроскопия в многопроходных кюветах, УФ спектроскопия поглощения);
  • исследование физико-химических закономерностей плазмохимических процессов модификации поверхности различных конденсированных фаз с целью удаления различных загрязнений, в том числе бактериальных и химических;
  • исследование поверхностной морфологии различных твердых веществ с помощью атомно-силовой и сканирующей электронной микроскопий;
  • исследование и разработка конструкций и технологий изготовления химических источников тока для микросистемной техники;
  • исследование и разработка конструкций и технологий изготовления изделий микросистемной техники;
  • поиск и исследование новых физических принципов действия сенсорных систем, чувствительных к опасным средам и объектам типа радиоактивных, взрывчатых, химически и биологически опасных;
  • исследования лазерных и телевизионных методов проведения бесконтактных измерений;
  • исследования быстропротекающих процессов;
  • исследование алгоритмов управления мобильными робототехническими и манипуляционными комплексами;
  • исследования стойкости робототехнических комплексов к внешним возмущениям и помехам.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Информационно-телекоммуникационные системы
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 65 ед.):

Автоиспытательная лаборатория
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ООО Брабиль
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор лазерного пучка
Марка:  Ophir LBA-USB-L230
Фирма-изготовитель:  Ophir-Spiricon Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Барокамера
Марка:  Т140158
Фирма-изготовитель:  ЦНИИ РТК
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1986
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вибростенд электродинамический
Марка:  ВЭДС-1500
Фирма-изготовитель:  ПО ”Виброприбор”
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вибростенд электродинамический
Марка:  I250/SA5M
Фирма-изготовитель:  IMV
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вибростенд электродинамический
Марка:  ВЭДС-400А
Фирма-изготовитель:  ПО ”Виброприбор”
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вибростенд электродинамический
Марка:  TV-5220
Фирма-изготовитель:  TIRA Gmbh
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Высоковольтная измерительная испытательная установка для испытания электрической прочности изоляции напряжением постоянного или переменного тока,а также оценки тока утечки изоляции испытываемых объектов по постоянному току
Марка:  УПУ-21
Фирма-изготовитель:  МНИПИ
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Гелиевый масс-спектрометрический течеискатель
Марка:  MS40
Фирма-изготовитель:  Vacuum Instrument Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измеритель калориметрический и твердотельный.
Марка:  ИКТ1Н
Фирма-изготовитель:  з-д "Эталон"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Измеритель средней мощности и энергии лазерного излучения
Марка:  ИМО-2Н
Фирма-изготовитель:  з-д "Эталон"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Испытательная камера Atlas тепло-холод влага с солнечным излучением
Марка:  SC3 1000MHG
Фирма-изготовитель:  Atlas MTT
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Исследовательский комплекс «Зондовая нано лаборатория»
Марка:  Интегра
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Исследовательский лабораторный стенд на основе иттербиевого волоконного лазера
Марка:  ЛС-06
Фирма-изготовитель:  ООО НТО «ИРЭ-Полюс»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Исследовательский лабораторный стенд на основе иттербиевого волоконного лазера ЛС-06
Марка:  ЛС-06
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Исследовательский лабораторный стенд на основе иттербиевого волоконного лазера.
Марка:  ЛС-06
Фирма-изготовитель:  НТО "ИРЭ Полюс" г. Фрязино
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Исследовательский стенд на основе волоконного лазера (4-6 кВт).
Фирма-изготовитель:  ООО НТО «ИРЭ-Полюс»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Камера переменных температур Т25/1.2 (Gronland)
Марка:  Т25/1.2
Фирма-изготовитель:  Gronland
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Камера пыли
Марка:  КП3-05
Фирма-изготовитель:  п/я Г- 4685
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1978
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Камера солнечной радиации
Марка:  Atlas SC³1000 MHG
Фирма-изготовитель:  Vötsch Industrietechnik GmbH (Votsch Industrietechnik)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Камера термовакуумная
Марка:  TVAC-1400
Фирма-изготовитель:  Telstar Technologies SL
Страна происхождения:  Испания
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера
Марка:  КТК-3000
Фирма-изготовитель:  ILKA
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера
Марка:  VC-7250
Фирма-изготовитель:  Vötsch Industrietechnik GmbH (Votsch Industrietechnik)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера
Марка:  VC3-7060
Фирма-изготовитель:  Vötsch Industrietechnik GmbH (Votsch Industrietechnik)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера
Марка:  VC3-7018
Фирма-изготовитель:  Vötsch Industrietechnik GmbH (Votsch Industrietechnik)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера
Марка:  VCL-7010
Фирма-изготовитель:  Votsch
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  2
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Климатическая камера VC-7018 (Vötsch)
Марка:  7018
Фирма-изготовитель:  Vötsch Industrietechnik GmbH (Votsch Industrietechnik)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Климатическая камера тепла-холода-влаги объемом тестового пространства 100л
Марка:  CL-7010
Фирма-изготовитель:  Votsch
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лабораторный стенд на основе импульсно- периодического Nd:YAG лазера.
Марка:  база - Бета-марк
Фирма-изготовитель:  ЦЛТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный стенд на основе импульсно-периодического Nd YAG - лазера.
Марка:  БетаМарк 2000 RL
Фирма-изготовитель:  ООО «ЦЛТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный стенд на основе импульсно-периодического Nd:YAG лазера.
Марка:  БетаМАРК 2000
Фирма-изготовитель:  ЦЛТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  2
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный стенд на основе лазера с диодной накачкой.
Фирма-изготовитель:  Полюс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  2
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лабораторный стенд на основе лазера с диодной накачкой. Д-марк
Марка:  Д-марк
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Лабораторный стенд на основе лазера с диодной накачкой. ДМарк-06RL
Марка:  ДМарк-06RL
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный комплекс
Марка:  PLS6MW
Фирма-изготовитель:  ООО ЦЛТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный обрабатывающий центр с компьютерным управлением на базе лазера ЛТИ-502
Марка:  ОММЗ.158.008
Фирма-изготовитель:  ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1986
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный станок на базе модернизированного станка 4Р222Ф2 с компьютерным управлением. 4Р222Ф2-М
Марка:  4Р222Ф2-М
Фирма-изготовитель:  ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1

Лазерный технологический комплекс ПЛМК Д МАРК-06
Марка:  Д МАРК-06
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный технологический комплекс. СКАТ-301
Марка:  СКАТ-301
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный трекер
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Линзовый спектрограф с компенсацией астигматизма
Марка:  SL100M
Фирма-изготовитель:  СОЛАР
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  3
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Макет лазерного излучателя с управляемым интерферометром в качестве выходного зеркала
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЦНИИ РТК
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М
Марка:  ОММЗ.450.501-М
Фирма-изготовитель:  ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1

Микроскоп
Марка:  ТЕХИНВАЛ
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1975
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп интерференционный
Марка:  ИНТЕРФАКС
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1975
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Научный лазерный комплекс EKSPLA.
Марка:  PL-2143
Фирма-изготовитель:  EKSPLA
Страна происхождения:  Латвия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический стенд для исследования телевизионных систем с лазерной структурированной подсветкой.
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Прототип измерительного комплекса для реализации технологии высокоскоростной цифровой фотограмметрии.
Фирма-изготовитель:  ООО Центр лазерных технологий
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Система диагностики лазерного пучка
Марка:  WaveFront
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система измерения параметров импульса ударного ускорения и регистрации его формы по двум каналам
Марка:  Удар-ОС-1 Mobile
Фирма-изготовитель:  Центр АЦП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Стенд для исследования процессов микро и нанообработки
Марка:  LS-2134
Фирма-изготовитель:  СП «ЛОТИС ТИИ»
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Стенд имитации транспортирования
Марка:  VS-5060M
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Стенд ударный
Марка:  12МУЭ-20/1960-1
Фирма-изготовитель:  МЗЭМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Термобарокамера
Марка:  TBV-2000
Фирма-изготовитель:  NEMA
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Ударная установка
Марка:  12МУ50/1470-1
Фирма-изготовитель:  ПЯ Р-6746
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка вибрационная электродинамическая
Марка:  УВЭ-100/5-3000
Фирма-изготовитель:  Майский ЭМЗ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1988
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для проведения ударных испытаний
Марка:  TiraShock-4110M
Фирма-изготовитель:  Вибросервистест
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка комплексного исследования параметров лазерного пучка
Марка:  BeamPro
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка лазерной сварки на базе «Квант-15М»
Марка:  Квант-15М
Фирма-изготовитель:  УРЛЗ, г.Ульяновск, ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1986
Количество единиц:  1

Установка лазерной функциональной настройки на базе лазера ЛТИ-701.
Марка:  ООМ3.158.009
Фирма-изготовитель:  ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1984
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка прошивки отверстий на базе лазера ЛТИ-136, предназначенная для прошивки отверстий диаметром 50-150 мкм в металлах и керамике толщиной до 6 мм ОМ104.307 (ФГУП)
Марка:  ОМ104.307
Фирма-изготовитель:  ФГУП "НПП "Алмаз"
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1991
Количество единиц:  1

Фотометр лабораторный
Марка:  ФО-1
Фирма-изготовитель:  ЛОМО
Страна происхождения:  СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска:  1982
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Холодильная камера
Марка:  NZ280/75А
Фирма-изготовитель:  FPIDJERA
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Экспериментальный исследовательский стенд для исследования и моделирования воздействия лазерного излучения на полимерные материалы и биологические объекты на основе СО2 лазера с высокоточной системой позиционирования излучения.
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ООО «ЦЛТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Экспериментальный исследовательский стенд для исследования и моделирования гибридных лазерно-микроплазменных технологий воздействия на материалы на основе импульсного твердотельного лазера мощностью до 100 Вт с коаксиальным плазматроном прямого действия .
Фирма-изготовитель:  ООО «ЦЛТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 24 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Подбор и отработка режимов для глубокой гравировки твердосплавного инструмента.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Проведение вакуумных испытаний в диапазоне от 7,5 х102 мм.рт.ст до 10-7 мм.рт.ст, в том числе термовакуумные испытания в камере объемом 1,4 м3 в сочетании с температурой в диапазоне от минус 70°С до +150°С.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Проведение исследовательских и научных работ с имитацией различных условий окружающей среды.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Проведение климатических испытаний в диапазоне от минус 70°С до +180°С, в условиях повышенной или пониженной влажности в диапазоне от 10 до 98%, в том числе крупногабаритных изделий в различных камерах объемом до 3,0 м3 , на воздействие динамической пыли, на воздействие солнечной радиации.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Проведение координатных измерений методом лазерной триангуляции.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Проведение механических испытаний, на вибропрочность и виброустойчивость, определение резонансных частот, на воздействие синусоидальной вибрации и виброудар, на воздействие линейного ускорения, на ударную устойчивость и ударную прочность, одиночный и многократный удар с различными заданными параметрами, в том числе изделий массой до 500 кг.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка алгоритмов полутоновой маркировки материала заказчика.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Разработка технологии лазерной объемной гравировки на материале, заданном ТЗ заказчика.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка технологии термоупрочнения алюминиевого сплава.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка технологий гибридной сварки разнородных металлов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка технологий прецизионной газолазерной резки тонких металлических изделий.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка технологий прошивка пазов и отверстий в материале, заданном ТЗ заказчика.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Разработка технологий скрайбирования металлических материалов с целью создания условий нераспространения негативных явлений.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Формирование поверхностей на различных материалах при воздействии импульсным лазерным излучением.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 20 ед.):

Метод виртуальных эталонов для спектрального анализа биообъектов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  15.08.0006

Методика испытания активной системы технического зрения с электронным сканированием на УСУ «КИС РТК»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика исследования влияния параметров маркировки на качество изображения при нанесении текстовой и графической информации с помощью ПЛМК
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика исследования оптических параметров лазерного излучения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СГТУ
Дата аттестации:  15.02.0007

Методика калибровки оборудования для прецизионных измерений формы сложных крупногабаритных объектов по данным лазерно-телевизионной системы
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика лазерной гравировки материалов с размерами, превышающими размер рабочего поля лазера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика наладки лазерного оборудования
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика определения послойного состава покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  15.08.2006

Методика определения разброса значений шероховатостей по рабочим поверхностям плоских, выпуклых и вогнутых образцов на установках для измерения шероховатости и погрешности форм
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика определения размеров наночастиц, диспергированных под воздействием импульсного лазерного излучения.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика определения тепловых потоков лазерного излучения и распределение температурного поля в объёме обрабатываемого материала
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика определения элементного состава микровключений и частиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  15.08.2006

Методика определения элементного состава тонких напылений и покрытий (толщиной менее 100 мкм)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  15.08.2006

Методика получения поверхностей заданного профиля с помощью импульсного лазерного воздействия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Методика проведения лазерного оптического атомного спектрального микроанализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СГТУ
Дата аттестации:  15.08.0006

Методика проведения спектрального анализа сталей типа 1Х18Н9Т.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Лаборатория стандартных образцов при Уральском НИИ чёрных металлов.
Дата аттестации:  06.11.1988

Методика проведения спектрального анализа сталей типа Р9 и Р18.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Лаборатория стандартных образцов при Уральском НИИ чёрных металлов
Дата аттестации:  05.05.1989

Методика проведения спектрального анализа сталей типа ЭИ-696.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Лаборатория стандартных образцов при Уральском НИИ чёрных металлов
Дата аттестации:  08.06.0087

Методика сравнительного спектрального анализа волос
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  15.02.0007

Санитарные нормы и правила устройства и эксплуатации лазеров СаННип 5804-91
Наименование организации, аттестовавшей методику :  -
Дата аттестации:  01.01.2000

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран