Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Региональный центр нанотехнологий

Сокращенное наименование ЦКП: РЦН

Базовая организация: Юго-Западный государственный университет

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2008

Сайт ЦКП: http://www.nano.kursk.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: Курская область
  • 305040, г. Курск, ул. 50 лет Октября, д. 94

Руководитель ЦКП:

  • Кузьменко Александр Павлович, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (4712) 222605
  • apk3527@mail.ru

Контактное лицо:

  • Кузьменко Александр Павлович, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (910) 3142901
  • ist462007@yandex.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Региональный центр нанотехнологий

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • электрофизические методы обработки материалов;
  • процессы перестройки в магнито- и сегнетоупорядоченных средах;
  • наноматериаловедение;
  • технологии углубленной переработки минерального сырья и техногенных продуктов;
  • синтез и применение поверхностно-активных веществ;
  • фазовые переходы жидкость-жидкость в водных растворах дифильных молекул и углеводородов;
  • мицеллярные механизмы синтеза и свойства наноматериалов;
  • ферромагнитные полупроводниковые структуры.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 27 ед.)

Ванна ультразвуковая QUICK 218-35
Марка:  218-35
Фирма-изготовитель:  QUICK
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Генератор сигналов специальной формы SFG-2110 (Good Will Instrument)
Марка:  SFG-2110
Фирма-изготовитель:  Good Will Instrument Co., Ltd (GW INSTEK)
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Голографический микроскоп DHM R2203 (Lyncee tec)
Марка:  DHM R2203
Фирма-изготовитель:  Lyncee
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния SAXSess mc2 (Anton Paar)
Марка:  SAXSess mc2
Фирма-изготовитель:  Anton Paar
Страна происхождения:  Австрия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр iS50 (Nicolet)
Марка:  Nicolet
Фирма-изготовитель:  Thermo scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Лазерный маркирующий комплекс FMark-20RL (ООО ЦЛТ)
Марка:  FMark-20RL
Фирма-изготовитель:  ООО ЦЛТ (Центр Лазерных Технологий)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Машина трения МТУ-01
Марка:  МТУ-01
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Низкоскоростной отрезной станок TechCut 4 (Allied High Tech Products)
Марка:  TechCut 4
Фирма-изготовитель:  Allied High Tech Products
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Осциллограф Tektronix TDS 2022C
Марка:  TDS 2022C
Фирма-изготовитель:  Tektronix
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Осцилограф Tektronix 1001A
Марка:  1001A
Фирма-изготовитель:  Tektronix
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Пикоамперметр Keithley 6487
Марка:  Keithley 6487
Фирма-изготовитель:  Keithley
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Плазменная установка низкого давления Plasma system (PIKO Spielwaren)
Марка:  Plasma system
Фирма-изготовитель:  PICO
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Полуавтоматический однодисковый шлифовально-полировальный станок BUEHLER Labo-Po12
Марка:  BUEHLER Labo-Po12
Фирма-изготовитель:  BUEHLER® SUM-MET™, USA
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments)
Марка:  JEOL JS-6610LV
Фирма-изготовитель:  JEOL, Oxford Instruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Рентгеновский порошковый дифрактометр GBC EMMA с высокотемпературной камерой (до 1600 С)
Марка:  Emma
Фирма-изготовитель:  GBC Scientific Equipment
Страна происхождения:  Австралия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Система Ленгмюра-Блоджетт KSV NIMA
Марка:  Ленгмюра-Блоджетт
Фирма-изготовитель:  KSV NIMA
Страна происхождения:  Швеция
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Система напыления тонких токопроводящих покрытий JFC 1600
Марка:  JFC 1600
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый микроскоп AFM SmartSPM (Aist NT)
Марка:  AFM SmartSPM
Фирма-изготовитель:  Aist NT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый, конфокальный микроскоп и рамановский микроспектрометр OmegaScope
Марка:  OmegaScope
Фирма-изготовитель:  АИСТ НТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Спектрофотометр СФ-2000 (СПЕКТР)
Марка:  СФ-2000
Фирма-изготовитель:  ООО ИнСпектр
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Ультразвуковой технологический диспергатор "Волна" УЗТА -0.4/22-ОМ
Марка:  Волна
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Универсальная машина для испытаний нанопокрытий на износ МТУ-1
Марка:  МТУ-1
Фирма-изготовитель:  ЗАO «Концерн Наноиндустрия»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр ES-2LED
Марка:  ES-2LED
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Установка Instek LCR-819 для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях
Марка:  Instek LCR-819, Instek LCR-7821
Фирма-изготовитель:  Instek
Страна происхождения:  КНР
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна Т
Марка:  Магна Т
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Фрезерно-сверлильный станок JMD 1JE50000020M (JET)
Марка:  JET JMD 1JE50000020M
Фирма-изготовитель:  JET
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Центрифуга MiniSpin plus (Eppendorf)
Марка:  MiniSpin plus
Фирма-изготовитель:  Eppendorf (Эппендорф)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП: (номенклатура — 1 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Извлечение наноразмерных частиц благородных металлов, включая редкоземельные, в процессе лазерной обработки техногенных продуктов и минерального сырья, когда осуществляется их дефрагментация, термокапиллярное извлечение и агломерация. Источники электрической энергии, в которых используются либо типовые конструктивные элементы содержащие добавки наноматериалов, либо работа которых основана на явлении твердофазного растворения меди (или другого переходного металла) в наноструктурированном графите. Использование электроконтактных пар в электротехническом оборудовании с наноструктурированными поверхностями, что устраняет искрение и электрическую эрозию, сокращает потери электрической энергии. Реально-временной экспресс-анализ минерального состава обогащаемой руды в условиях добывающих предприятий, основанный на комбинационном (рамановском) рассеянии электромагнитного излучения. Создание материалов, обладающих повышенной поглощательной способностью СВЧ-излучения.

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 20 ед.)

Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей) с использованием термостолика до 160С, 2011

Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей) с использованием термостолика до 160С, 2011

Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009

и неорганических материалов методом малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (с ПО SAXSquant 3.x) при температуре от-30 до 120С

Инфракрасная спектроскопия материалов в ближнем и среднем диапазонах, 2012

Магнито-силовая микроскопия распределений намагниченности (с латеральным разрешением не хуже 25 нм), 2011

Микрокартирование поверхностей материалов по гиперспектральным данным с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009

Микрорентгеноспектральный анализ на растровом электроном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии с распределением элементов), 2012

Микроспектральный анализ материалов методом комбинационного рассеяния света с локализацией возбуждающего излучения в точку с диаметром 0.4 мкм и спектральным разрешением до 0.8 см–1, 2009

Нанесение наномасштабных изображений при контактном силовом воздействии с разрешением до 20 нм на нетвердые материалы, 2010

Наноидентирование материалов, 2013

Получение микрофотографий на оптическом конфокальном микроскопе с полным увеличением (оптическое увеличение и электронный зум) до 15000, 2009

Получение спектров поглощения материалов от ультрафиолетового (190 нм) до инфракрасного диапазона (1100 нм)

Проведение атомно-силовых исследований с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил спектроскопии и других – по выбору) объектов с размерами вплоть до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009

Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) при н.у.

Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) с использованием высокотемпературной ячейки до 1600С

Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2010

Флуоресцентная микроскопия материалов при возбуждении одним их лазерных источников с длиной волны 473, 532, 785 и с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009

Электронно-микроскопические исследования на растровом электронном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением)

Электронно-микроскопические исследования на растровом электронном микроскопе с использованием детекторов вторичных электронов (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии в отраженных или вторичных электронах)

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран