Центры коллективного пользования

Региональный центр нанотехнологий (РЦН)

ЦКП создан в 2008 году

Адрес
  • Центральный, Курская область
  • 305040, г. Курск, ул. 50 лет Октября, д. 94
  • 🌎http://www.nano.kursk.ru/
Руководитель
  • 👤Кузьменко Александр Павлович
  • 📞(4712) 222605
  • apk3527@mail.ru
Контактное лицо
  • 👤Кузьменко Александр Павлович
  • 📞(910) 3142901
  • ist462007@yandex.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Юго-Западный государственный университет

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Региональный центр нанотехнологий

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • электрофизические методы обработки материалов;
  • процессы перестройки в магнито- и сегнетоупорядоченных средах;
  • наноматериаловедение;
  • технологии углубленной переработки минерального сырья и техногенных продуктов;
  • синтез и применение поверхностно-активных веществ;
  • фазовые переходы жидкость-жидкость в водных растворах дифильных молекул и углеводородов;
  • мицеллярные механизмы синтеза и свойства наноматериалов;
  • ферромагнитные полупроводниковые структуры.

305040, г. Курск, ул. 50 лет Октября, д. 94
📷

Оборудование (27)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Осциллограф Tektronix TDS 2022C
Соединённые Штаты Америки Tektronix TDS 2022C 2015
Фрезерно-сверлильный станок JMD 1JE50000020M (JET)
Китайская Республика JET JET JMD 1JE50000020M 2012
Плазменная установка низкого давления Plasma system (PIKO Spielwaren)
Германия PICO Plasma system 2013
Низкоскоростной отрезной станок TechCut 4 (Allied High Tech Products)
Соединённые Штаты Америки Allied High Tech Products TechCut 4 2013
Ультразвуковой технологический диспергатор "Волна" УЗТА -0.4/22-ОМ
Россия Волна 2012
Ванна ультразвуковая QUICK 218-35
Китайская Республика QUICK 218-35 2014
Центрифуга MiniSpin plus (Eppendorf)
Германия Eppendorf (Эппендорф) MiniSpin plus 2015
Лазерный маркирующий комплекс FMark-20RL (ООО ЦЛТ)
Россия ООО ЦЛТ (Центр Лазерных Технологий) FMark-20RL 2015
Установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна Т
Россия Магна Т 2014
Система Ленгмюра-Блоджетт KSV NIMA
Швеция KSV NIMA Ленгмюра-Блоджетт 2014
Генератор сигналов специальной формы SFG-2110 (Good Will Instrument)
Китайская Республика Good Will Instrument Co., Ltd (GW INSTEK) SFG-2110 2015
Осцилограф Tektronix 1001A
Соединённые Штаты Америки Tektronix 1001A 2015
Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр ES-2LED
Соединённые Штаты Америки ES-2LED 2015
Голографический микроскоп DHM R2203 (Lyncee tec)
Соединённые Штаты Америки Lyncee DHM R2203 2015
Машина трения МТУ-01
Россия МТУ-01 2014
Спектрофотометр СФ-2000 (СПЕКТР)
Россия ООО ИнСпектр СФ-2000 2013
Система напыления тонких токопроводящих покрытий JFC 1600
Япония JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол) JFC 1600 2011
ИК-Фурье спектрометр iS50 (Nicolet)
Соединённые Штаты Америки Thermo scientific Nicolet 2012
Рентгеновский порошковый дифрактометр GBC EMMA с высокотемпературной камерой (до 1600 С)
Австралия GBC Scientific Equipment Emma 2012
Дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния SAXSess mc2 (Anton Paar)
Австрия Anton Paar SAXSess mc2 2011
Cканирующий зондовый, конфокальный микроскоп и рамановский микроспектрометр OmegaScope™
Россия АИСТ НТ OmegaScope™ 2009
Пикоамперметр Keithley 6487
Соединённые Штаты Америки Keithley Keithley 6487 2011
Установка Instek LCR-819 для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях
КНР Instek Instek LCR-819, Instek LCR-7821 2012
Универсальная машина для испытаний нанопокрытий на износ МТУ-1
Россия ЗАO «Концерн Наноиндустрия» МТУ-1 2011
Полуавтоматический однодисковый шлифовально-полировальный станок BUEHLER Labo-Po12
Соединённые Штаты Америки BUEHLER® SUM-MET™, USA BUEHLER Labo-Po12 2010
Сканирующий зондовый микроскоп AFM SmartSPM (Aist NT)
Россия Aist NT AFM SmartSPM 2009
Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments)
Великобритания JEOL, Oxford Instruments JEOL JS-6610LV 2012

Услуги (1)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Изучение структурных особенностей, состава и свойств создаваемых наноматериалов
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Методики (20)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Наноидентирование материалов, 2013
Инфракрасная спектроскопия материалов в ближнем и среднем диапазонах, 2012
Получение спектров поглощения материалов от ультрафиолетового (190 нм) до инфракрасного диапазона (1100 нм)
Нанесение наномасштабных изображений при контактном силовом воздействии с разрешением до 20 нм на нетвердые материалы, 2010
Магнито-силовая микроскопия распределений намагниченности (с латеральным разрешением не хуже 25 нм), 2011
Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей) с использованием термостолика до 160С, 2011
Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей) с использованием термостолика до 160С, 2011
Флуоресцентная микроскопия материалов при возбуждении одним их лазерных источников с длиной волны 473, 532, 785 и с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009
Микрокартирование поверхностей материалов по гиперспектральным данным с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009
Микроспектральный анализ материалов методом комбинационного рассеяния света с локализацией возбуждающего излучения в точку с диаметром 0.4 мкм и спектральным разрешением до 0.8 см–1, 2009
Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2010
Проведение атомно-силовых исследований с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил спектроскопии и других – по выбору) объектов с размерами вплоть до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009
Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009
Получение микрофотографий на оптическом конфокальном микроскопе с полным увеличением (оптическое увеличение и электронный зум) до 15000, 2009
Микрорентгеноспектральный анализ на растровом электроном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии с распределением элементов), 2012
Электронно-микроскопические исследования на растровом электронном микроскопе с использованием детекторов вторичных электронов (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии в отраженных или вторичных электронах)
Электронно-микроскопические исследования на растровом электронном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением)
и неорганических материалов методом малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (с ПО SAXSquant 3.x) при температуре от-30 до 120С
Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) с использованием высокотемпературной ячейки до 1600С
Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) при н.у.

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий