Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

«Нанотехнологии» ЮРГПУ (НПИ) имени М.И. Платова

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://science.npi-tu.ru/ckp_nanotech

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Южный
  • Регион: Ростовская область
  • 346428, г. Новочеркасск, ул. Просвещения, д. 132

Руководитель ЦКП:

  • Чернышев Виктор Михайлович, доктор химических наук, профессор
  • +7 (8635) 255270
  • chern13@yandex.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2019 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 5Число публикаций, ед.: 23Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 1.45

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • определение качественного и количественного состава веществ и материалов;
  • получение и испытание гетерогенных катализаторов органического и нефтехимического синтеза;
  • разработка технологии в области неорганического, органического и нефтехимического синтезов;
  • органический синтез (гетероциклические соединения, хим. реактивы, мономеры и др.);
  • исследования молекулярной структуры органических веществ;
  • определение кинетических характеристик реакций;
  • определение фазового состава поликристаллических материалов;
  • исследования морфологии поверхности.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 9 ед., нет данных о загрузке за 2020 год):

Анализатор импульсной хемосорбции ТПД/ТПО/ТПВ и удельной площади поверхности ChemiSorb 2750 (Micromeritics)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ChemiSorb 2750
Фирма-изготовитель:  Micromeritics Instrument Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Аналитическое оборудование для специализированной лаборатории
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Agilent 7890a
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Дифрактометр порошковый рентгеновский ARL XTRA в комплекта
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ARL X’TRA
Фирма-изготовитель:  ThermoFisher Scientific
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп зондовый сканирующий Solver HV (NT-MDT)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Solver HV
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп растровый электронный Quanta 200 (FEI Company)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Quanta 200
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  EDAX
Фирма-изготовитель:  FEI
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

УФ-спектрофотометр Shimadzu UV-1800
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Shimadzu UV-1800
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Хроматограф жидкостной высокоэффективный с диодноматричным детектором (ОЦДИ)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  Agilent 1260 Infinity
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Энергодисперсионный рентгено-флуоресцентный спектрометр (ОЦДИ)
Загрузка прибора: нет данных за 2020 год
Марка:  ARL Quant'X
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 6 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 15 ед.):

Методика исследования колебательных спектров функциональных групп неорганических и органических материалов методом нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) с использованием аналитического оборудования для специализированной лаборатории

Методика исследования морфологии поверхности полупроводниковых и металлических материалов на сканирующем зондовом микроскопе Solver HV

Методика исследования морфологии поверхности полупроводниковых и металлических материалов на сканирующем электронном микроскопе Quanta200

Качественный и количественный состав органических веществ
Методика уникальна:  нет

Методика определения качественного состава и структуры катализаторов и адсорбентов с использованием порошкового рентгеновского дифрактометра ARL X'TRA

Методика определения кинетики процесса восстановления гетерогенных катализаторов
Методика уникальна:  нет

Методика определения площади поверхности катализаторов и адсорбентов с использованием анализатора импульсной хемосорбции, ТПД/ТПО/ТПВ и удельной поверхности с приставкой ChemiSorb TPx

Методика определения элементного состава полифункциональных материалов на энергодисперсионном рентгенофлуоресцентном спектрометре

Методика определения элементного состава полупроводниковых и металлических материалов на рентгеновском энергодисперсионном анализаторе EDAX Genesis

Методика температурно-программированной десорбции аммиака
Методика уникальна:  нет

Профильный анализ дифрактограмм порошковых материалов
Методика уникальна:  нет

Методика проведения измерений на высокоэффективном жидкостном хроматографе с диодно-матричным детектором
Методика уникальна:  нет

Методика проведения термопрограммируемого восстановления
Методика уникальна:  нет

Методика проведения температурно-программированной десорбции СО
Методика уникальна:  нет

Методика проведения измерений на УФ спектрофотометре
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран