Центры коллективного пользования

Центр коллективного пользования «Нанотехнологии» (ЦКП-НТ)

ЦКП создан в 2008 году

Данный университет является победителем конкурсного отбора программ развития университетов, в отношении которых устанавливается категория «национальный исследовательский университет (НИУ)»
Адрес
Руководитель
  • 👤Васильев Владимир Николавевич
  • 📞(812) 2330089
  • mater@mail.ifmo.ru
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да3451.95
Базовая организация

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Основные виды деятельности:
-Научно-исследовательские работы
-Опытно-конструкторские и инновационные разработки
-Образовательная деятельность

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

    Нанофотоника, Наномеханика, Функциональные и композитные наноматериалы и наносистемы, Метаматериалы, Нанобиотехнологии, Нанодиагностика и наномодификация материалов, наноманипулирование.

Уникальные научные установки (УНУ) в составе оборудования ЦКП

197101, г. Санкт-Петербург, Кронверкский пр., д.49
📷

Оборудование (15)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Многофункциональная зондовая установка для проведения комплексных наномасштабных исследований оптических метаматериалов
Россия AIST-NT AIST SmartSPM™ AIST CombiScope™ Horiba LabRAM HR UV-VIS-NIR 2010
Система ввода-вывода излучения с тремя независимыми оптическими каналами и вспомогательными оптико-механическими элементами для стыковки сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром
Россия AIST-NT AIST-NT TrIOS 2012
Измеритель комплексных коэффициентов передачи и отражения «Р4М-18»
Россия ЗАО НПФ «Микран» Р4М-18 2008
Вакуумная напылительная установка SPI (SPI Supplies)
Германия SPI Supplies SPI 2008
Установка для вакуумного напыления Scancoat Six (BOC Edwards)
Великобритания BOC Edwards Scancoat Six 2008
Установка высокого давления КИ -250
Россия ООО«КемКо» КИ 250 2008
Микроскоп оптико-электронный Phenom (FEI)
Германия FEI Phenom 2008
Прибор синхронного термического анализа STA 449 Jupiter (NETZCH Geratebau)
Германия NETZCH Geratebau STA 449 Jupiter 2008
Спектрометр EPP2000-NIRX-SR InGaAs-512 (StellarNet)
Соединённые Штаты Америки StellarNet EPP2000-NIRX-SR InGaAs-512 2008
Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Соединённые Штаты Америки Varian, Inc. Cary Eclipse 2008
Лазерный анализатор размеров частиц динамического рассеяния света LB 550V (Horiba)
Япония Horiba Horiba LB 550V 2008
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager.Z1 (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss LSM 710 2008
Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV
Япония Rigaku Rigaku Ultima IV 2008
Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп SPM Probe VT AFM XA 650 (Omicron Nano Technology)
Германия Omicron Nano Technology SPM Probe VT AFM XA 650 2008
Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии CrossBeam 1540XB (Carl Zeiss)
Германия Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс) Neon 40ESB 2008

Услуги (22)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Измерение спектров отражения
Индустрия наносистем
Измерение спектров пропускания
Индустрия наносистем
Измерение спектров рассеяния
Индустрия наносистем
Измерение спектров комбинационного рассеяния света
Индустрия наносистем
МСМ-измерения
Индустрия наносистем
АСМ -измерения
Индустрия наносистем
Диагностика микро и нано-объектов различной природы на электронном микроскопе на безвозмездной основе
Индустрия наносистем
Диагностика структурного состояния микро- и нано-объектов методом электронной и ионной микроскопии на безвозмездной основе
Индустрия наносистем
Диагностика наноматериалов, графена, углеродных нанотрубок на безвозмездной основе
Индустрия наносистем
Диагностика наноматериалов, графена, углеродных нанотрубок
Индустрия наносистем
Технологический процесс пробоподготовки при разработке технологии производства оптических материалов
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Диагностика размерности нанопорошков, полученных методом гидротермального синтеза
Индустрия наносистем
Получение и диагностика оксидных предкерамических нанопорошков и материалов на их основе
Индустрия наносистем
Диагностика микро и нано-объектов различной природы на электронном микроскопе
Индустрия наносистем
Определение температуры плавления наноразмерных кристаллов методом дифференциально-сканирующей калориметрии на безвозмездной основе
Индустрия наносистем
Определение состава нанокристал лов галогенидов металлов в аморфной силикатной матрице стекла методом рентгеновского дифракционного анализа на безвозмездной основе
Индустрия наносистем
Определение теплоемкости, температуры и кинетики фазо вых переходов нанокомпозитных материалов методом ДСК
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Определение температуры плавления наноразмерных кристаллов методом дифференциально-сканирующей калориметрии
Индустрия наносистем
Определение состава нанокристаллов галогенидов металлов в аморфной силикатной матрице стекла методом рентгеновского дифракционного анализа
Индустрия наносистем
Гранулометрический анализ состава материала, характеристика дисперсности
Индустрия наносистем
Характеризация поверхности в сканирующем зондовом микроскопе, в т.ч: а) создание специализированных зондов на основе коллоидных наночастиц б) динамическая силовая литография в сканирующем зондовом микроскопе
Индустрия наносистем
Электронно-микроскопическая диагностика микро и нано-объектов и электронно-ионная литография, в т.ч. : 2а. Электронная литография на резисте (мет. 9,18) 2б. Ионно-лучевая литография (мет.7,6,18) 2в. Локальное осаждение и травление материала под действием электрон-ного/ионного пучка (мет.6) 2г. Создание специализированных зондов на основе вискерных структур(мет.7)
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем

Методики (21)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика испытаний исследовательской установки формирования приемно-передающих наноантенн (ИУ ФППН)
Методика испытаний исследовательской установки для измерения распределений локальных электромагнитных полей (ИУ «РЛЭП»)
Методика осаждения тонких пленок (технологический процесс напыления)
Методика проведения нанолитографии на оксидах переходных металлов
Методика создания специальных зондовых датчиков для сканирующей зондовой микроскопии различных мягких наносистем
Методика получения полимерных волноводов и Y- разветвителей на их основе с использованием наноимпринт технологии
Методика получения нанокомпозита с содержанием наночастиц ZnS, ZnO до 20 об%
Методика дифференциально-сканирующей калориметрии для определения температуры плавления наноразмерных кристаллов галогенидов металлов в стеклообразной матрице
Методика рентгеновская дифракционная для измерения состава и размеров нанокристаллов галогенидов металлов в монолитных стеклокристаллических материалах
Методика измерения распределения наночастиц и агломератов по размерам методом динамического светового рассеяния (HORIBA) Определение среднего размера наночастиц
Методика соногидротермального синтеза наночастиц (оригинальная) Получение наночастиц и нанокомпозиционных материалов
Методика совмещения СЗМ и РЭМ
Методика динамической силовой литографии в системе «металлическая пленка-полимер»
Методика разделения и детектирования биологических проб с использованием микрофлюидных биочипов
Методика создания углеродных нановискеров с помощью сфокусированного электронного пучка
Методика получения и диагностики зондов в виде стеклянных микро- и нанопипеток для микроскопии токов ионной проводимости
Методика получения и диагностики вольфрамовых нанозондов для СЗМ
Методика записи спектров люминесценции ближнего ИК диапазона с помощью спектрометра/флюориметра EPP2000-NIRX-SR(StellarNet)
Методика записи спектров люминесценции видимого диапазона с помощью флюориметра Cary Eclipse (Varian)
Методика получения спектров микро-комбинационного рассеяния света с помощью микрорамановского спектрометра inVia (Renishaw)
Методика получения конфокальных люминесцентных изображений с помощью лазерного сканирующего микроскопа LSM 710 (Zeiss)

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий