Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования «Нанотехнологии»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП-НТ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2008

Сайт ЦКП: http://research.ifmo.ru/ru/stat/190/CKP_Nanotechnology.htm

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Северо-Западный
  • Регион: г. Санкт-Петербург
  • 197101, г. Санкт-Петербург, Кронверкский пр., д.49

Руководитель ЦКП:

  • Васильев Владимир Николавевич, доктор технических наук, профессор, член-корреспондент РАН
  • +7 (812) 2330089
  • ckp_nt@corp.ifmo.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 2Число публикаций, ед.: 21Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.34

Краткое описание ЦКП:

Основные виды деятельности:
-Научно-исследовательские работы
-Опытно-конструкторские и инновационные разработки
-Образовательная деятельность

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

    Нанофотоника, Наномеханика, Функциональные и композитные наноматериалы и наносистемы, Метаматериалы, Нанобиотехнологии, Нанодиагностика и наномодификация материалов, наноманипулирование.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 15 ед.)

Вакуумная напылительная установка SPI (SPI Supplies)
Марка:  SPI
Фирма-изготовитель:  SPI Supplies
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Измеритель комплексных коэффициентов передачи и отражения «Р4М-18»
Марка:  Р4М-18
Фирма-изготовитель:  ЗАО НПФ «Микран»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный анализатор размеров частиц динамического рассеяния света LB 550V (Horiba)
Марка:  Horiba LB 550V
Фирма-изготовитель:  Horiba
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager.Z1 (Carl Zeiss)
Марка:  LSM 710
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп оптико-электронный Phenom (FEI)
Марка:  Phenom
Фирма-изготовитель:  FEI
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Многофункциональная зондовая установка для проведения комплексных наномасштабных исследований оптических метаматериалов
Марка:  AIST SmartSPM™ AIST CombiScope™ Horiba LabRAM HR UV-VIS-NIR
Фирма-изготовитель:  AIST-NT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Прибор синхронного термического анализа STA 449 Jupiter (NETZCH Geratebau)
Марка:  STA 449 Jupiter
Фирма-изготовитель:  NETZCH Geratebau
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV
Марка:  Rigaku Ultima IV
Фирма-изготовитель:  Rigaku
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп SPM Probe VT AFM XA 650 (Omicron Nano Technology)
Марка:  SPM Probe VT AFM XA 650
Фирма-изготовитель:  Omicron Nano Technology
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система ввода-вывода излучения с тремя независимыми оптическими каналами и вспомогательными оптико-механическими элементами для стыковки сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром
Марка:  AIST-NT TrIOS
Фирма-изготовитель:  AIST-NT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Марка:  Cary Eclipse
Фирма-изготовитель:  Varian, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр EPP2000-NIRX-SR InGaAs-512 (StellarNet)
Марка:  EPP2000-NIRX-SR InGaAs-512
Фирма-изготовитель:  StellarNet
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка высокого давления КИ -250
Марка:  КИ 250
Фирма-изготовитель:  ООО«КемКо»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка для вакуумного напыления Scancoat Six (BOC Edwards)
Марка:  Scancoat Six
Фирма-изготовитель:  BOC Edwards
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии CrossBeam 1540XB (Carl Zeiss)
Марка:  Neon 40ESB
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП: (номенклатура — 22 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа и конфокального рамановского спектрометра с высоким разрешением

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследования с использованием конфокального рамановского спектрометра с высоким разрешением

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение спектров отражения с использованием системы ввода-вывода излучения с тремя независимыми оптическими каналами и вспомогательными оптико-механическими элементами для стыковки сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение спектров пропускания с использованием уникальной системы ввода-вывода излучения с тремя независимыми оптическими каналами и вспомогательными оптико-механическими элементами для стыковки сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Система ввода-вывода излучения с тремя независимыми оптическими каналами и вспомогательными оптико-механическими элементами для стыковки сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследования с использованием сканирующего зондового микроскопа с микроспектрометром в режиме «на отражение»

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 21 ед.)

Методика динамической силовой литографии в системе «металлическая пленка-полимер»

Методика дифференциально-сканирующей калориметрии для определения температуры плавления наноразмерных кристаллов галогенидов металлов в стеклообразной матрице

Методика записи спектров люминесценции ближнего ИК диапазона с помощью спектрометра/флюориметра EPP2000-NIRX-SR(StellarNet)

Методика записи спектров люминесценции видимого диапазона с помощью флюориметра Cary Eclipse (Varian)

Методика измерения распределения наночастиц и агломератов по размерам методом динамического светового рассеяния (HORIBA) Определение среднего размера наночастиц

Методика осаждения тонких пленок (технологический процесс напыления)

Методика получения и диагностики вольфрамовых нанозондов для СЗМ

Методика получения и диагностики зондов в виде стеклянных микро- и нанопипеток для микроскопии токов ионной проводимости

Методика получения конфокальных люминесцентных изображений с помощью лазерного сканирующего микроскопа LSM 710 (Zeiss)

Методика получения нанокомпозита с содержанием наночастиц ZnS, ZnO до 20 об%

Методика получения полимерных волноводов и Y- разветвителей на их основе с использованием наноимпринт технологии

Методика получения спектров микро-комбинационного рассеяния света с помощью микрорамановского спектрометра inVia (Renishaw)

Методика проведения нанолитографии на оксидах переходных металлов

Методика разделения и детектирования биологических проб с использованием микрофлюидных биочипов

Методика рентгеновская дифракционная для измерения состава и размеров нанокристаллов галогенидов металлов в монолитных стеклокристаллических материалах

Методика совмещения СЗМ и РЭМ

Методика создания специальных зондовых датчиков для сканирующей зондовой микроскопии различных мягких наносистем

Методика создания углеродных нановискеров с помощью сфокусированного электронного пучка

Методика соногидротермального синтеза наночастиц (оригинальная) Получение наночастиц и нанокомпозиционных материалов

Методика испытаний исследовательской установки формирования приемно-передающих наноантенн (ИУ ФППН)
Методика уникальна:  нет

Методика испытаний исследовательской установки для измерения распределений локальных электромагнитных полей (ИУ «РЛЭП»)
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран