Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования приборами и оборудованием «Высокие технологии и аналитика наносистем НГУ»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ВТАН НГУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Новосибирский национальный исследовательский государственный университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2010

Сайт ЦКП: http://nsu.ru/ckp

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, ул. Пирогова, д. 2

Руководитель ЦКП:

  • Аржанников Андрей Васильевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (383) 3634019
  • nsm@nsm.nsu.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 3Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 22.30

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • проведение исследований структурных, оптических, электрофизических и механических свойств материалов в наноразмерном масштабе и реализация технологических операций на основе молекулярной и атомарной сборки;
  • выполнение научных, научно-технических и инженерно-технологических проектов, а также конкретных инженерно-конструкторских и технологических работ;
  • подготовка высококвалифицированных научных и инженерных кадров во время участия студентов, магистрантов и аспирантов в выполнении фундаментальных научных и инженерно-технологических исследований;
  • повышение квалификации научных и инженерных кадров в ходе пребывания на стажировке в ЦКП ВТАН НГУ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 35 ед.):

Автоматизированный микроскоп-интерферометр МИИ-4М-USB (Реверс)
Марка:  МИИ-4М-USB
Фирма-изготовитель:  ООО "Реверс"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Вакуумный мембранный насос KNF N 816.3 KT.45.18 (KNF Neuberger), в комплекте с манометром и клапаном точной регулировки вакуума
Марка:  N 816.3 KT.45.18
Фирма-изготовитель:  KNF
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Вакуумный спектральный эллипсометр КАТАКОН
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЗАО "КАТАКОН"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Газовый хроматомасс-спектрометр GCMS-QP2010NC Plus (Shimadzu)
Марка:  GCMS-QP2010NC Plus
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Генератор жидкого азота LNP-20 (Cryomech)
Марка:  LNP-20
Фирма-изготовитель:  Cryomech
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр ФТ-801 (СИМЕКС)
Марка:  ФТ-801
Фирма-изготовитель:  ООО НПФ "СИМЕКС"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Интерферометр
Марка:  Intellium Z100
Фирма-изготовитель:  ESDI
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Квазиоптический субтерагерцовый ЛОВ-спектрометр (КДП)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ОАО КДП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Комплекс мощных СВЧ генераторов: гиротрон (24 ГГц), магнетрон (2,45 ГГц)
Фирма-изготовитель:  ИПФ РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс спектрально-эллипсометрический быстродействующий КАТАКОН
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЗАО "КАТАКОН"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лабораторный газовый анализатор QIC-20 (Hiden Analitical)
Марка:  QIC-20
Фирма-изготовитель:  Hiden Analitical
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Лазерный генератор микроизображений и микроголограмм
Марка:  Лазерскан
Фирма-изготовитель:  ООО Корвет
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Мешалка магнитная с подогревом RH basic 2 (IKA-Werke)
Марка:  RH basic 2
Фирма-изготовитель:  IKA-Werke GmbH Co. KG
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Микроволновая система Discover S-Class
Марка:  Discover S-Class
Фирма-изготовитель:  CEM GmbH
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроволновая система Explorer 48
Марка:  Explorer 48
Фирма-изготовитель:  CEM GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроволновая система MARS XPRESS
Марка:  MARS XPRESS
Фирма-изготовитель:  CEM GmbH
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроволновая система Voyager Stop Flow (CEM)
Марка:  Voyager SF
Фирма-изготовитель:  CEM GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Многоцелевой имплантер ионов кислорода и водорода
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Отражательный электронный микроскоп JEOL
Марка:  Tabletop Microscope TM-1000
Фирма-изготовитель:  Hitachi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Печь MILA- 5000 для высокотемпературного отжига образцов в атмосфере кислорода или азота, или в высоком вакууме
Марка:  MILA- 5000-UHV
Фирма-изготовитель:  ULVAC Technologies Inc.
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO
Марка:  S3-MICRO
Фирма-изготовитель:  Hecus
Страна происхождения:  Австрия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский порошковый дифрактометр
Марка:  ARL X'TRA
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп с изменяемой температурой образца STM VT (CEO Omicron NanoTechnology)
Марка:  STM VT
Фирма-изготовитель:  CEO Omicron NanoTechnology GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый микроскоп АСМ/СТМ SOLVER NEXT (NT-MDT)
Марка:  SOLVER NEXT
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Сканирующий нанотвердомер Наноскан-3D (ТИСНУМ)
Марка:  Наноскан-3D
Фирма-изготовитель:  ФГУ ТИСНУМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующий оптический профилометр CHR-150-XY (Реверс)
Марка:  CHR-150-XY
Фирма-изготовитель:  ООО "Реверс"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Спектрометр комбинированного рассеивания T64000 (HORIBA)
Марка:  T64000
Фирма-изготовитель:  HORIBA Jobin Yvon Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Трансмиссионный электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Марка:  Libra 120
Фирма-изготовитель:  Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка для нанесения алмазоподобных и нанокомпозитных покрытий
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка измерительная электронная для измерения статических и высокочастотных емкостных характеристик
Марка:  E4980A Precision LCR Meter
Фирма-изготовитель:  Agilent
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка измерительная электронная для слаботочных измерений вольт-амперных характеристик
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Keithley Instruments Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка плазмохимического травления
Марка:  ПХТ-150
Фирма-изготовитель:  ОАО "НИИТМ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Центрифуга настольная CR2000 (Centurion Scientific)
Марка:  CR2000
Фирма-изготовитель:  Centurion Scientific
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Электронный просвечивающий микроскоп высокого разрешения JEM-2200FS-CS (JEOL)
Марка:  JEM-2200FS-CS
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Электронный сканирующий микроскоп JCM-5700 (Jeol) с энергодисперсионной приставкой
Марка:  JCM-5700
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП (номенклатура — 0 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию
Нет данных.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 1 ед.):

нет
Наименование организации, аттестовавшей методику :  нет
Дата аттестации:  01.01.2012

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран