Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования научным оборудованием по получению и исследованию наночастиц металлов, оксидов металлов и полимеров «Нанотехнологии и наноматериалы»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП «Нанотехнологии и наноматериалы»

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Казанский национальный исследовательский технологический университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://ckp.kstu.ru/

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Приволжский
  • Регион: Республика Татарстан
  • 420015, г. Казань, ул. Карла Маркса, д. 68

Руководитель ЦКП:

  • Дресвянников Александр Федорович, доктор химических наук, профессор
  • +7 (8843) 2314316
  • nich140@mail.ru

Контактное лицо:

  • Дресвянников Александр Федорович, доктор химических наук, профессор
  • +7 (8843) 2314316
  • nich140@mail.ru, nich326@mail.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 9Число публикаций, ед.: 19Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 50.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования (ЦКП) научным оборудованием по получению и исследованию наночастиц металлов, оксидов металлов и полимеров Казанского государственного технологического университета был создан в 2007 году на базе Института нефти, химии и нанотехнологий КГТУ.  ЦКП обладает квалифицированным персоналом, способным осуществлять научное руководство и проведение экспериментальных исследований, а также располагает научным оборудованием, необходимым для реализации проекта и подразделенным на различные группы по функциональному назначению (спектральные приборы излучения, ионные и электронные спектрометры и детекторы, микроскопы электронные и оптические, хроматографы, лазерная техника и источники синхротронного излучения, технологическое оборудование, вспомогательное оборудование, электроизмерительное оборудование, реакторы и др.). Созданная материальная и кадровая база позволяет осуществлять подготовку высококвалифицированных специалистов, в том числе и высшей квалификации, в области нанотехнологий. В рамках центра коллективного пользования оборудованием предлагается осуществлять научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ, проводимых в интересах сторонних организаций. К настоящему времени комплекс научных установок Центра позволяет освоить выпуск и обработку наноструктурированных материалов, в том числе и наночастиц пигментов, катализаторов. Кроме того, используются новые технологии на основе ВЧ-разряда, что позволяет получать опытные образцы на базе модифицированных на наноуровне плазменным методом натуральных высокомолекулярных материалов. В Центре есть возможность организации учебного процесса студентов и работы аспирантов. Студенты обучаются по основным образовательным программам: 210602 Наноматериалы, 240403 – Химическая технология природных энергоносителей и углеродных материалов; 240401 – Технология основного органического и нефтехимического синтеза; 240801 – Машины и аппараты химических производств; 200503 – Стандартизация и сертификация; 230102 – Автоматизированные системы обработки информации и управления и выполняют практические задания, проходят научно-производственную практику и выполняют выпускные квалификационные работы на базе научно-исследовательского инновационно-прикладного центра «Наноматериалы и нанотехнологии». На базе центра коллективного пользования будет проводиться подготовка инженеров и магистров по направлению «Нанотехнологии и наноматериалы», «Химическая технология и биотехнология» в рамках специальностей «Наноматериалы», «Технология неорганических веществ», «Технология электрохимических производств» и др. Одной из важных задач деятельности ЦКП является обеспечение подготовки научных и научно-педагогических кадров высшей квалификации – кандидатов и докторов наук – по научным специальностям, определяющим развитие науки, техники и технологий по приоритетным направлениям, а также организация стажировок и курсов повышения квалификации научных сотрудников. Исследования, проводимые в центре, обеспечивают подготовку докторских и кандидатских диссертаций на самом современном уровне и повышают процент защиты диссертаций.  Центр выполняет заказы вузов, институтов РАН, отраслевых научно-исследовательских институтов и предприятий близлежащих регионов химической и нефтехимической промышленности, машиностроения, авиастроения по фундаментальным исследованиям, поисковым и прикладным разработкам (Институты КНЦ РАН, ОАО «Нефтепромхим» и других). Потенциальными потребителями являются предприятия нефтегазохимического комплекса: ОАО «Нижнекамскнефтехим», ОАО «Татнефть», ОАО «Казаньоргсинтез», ОАО «Нефис Косметикс», ОАО «Казанский завод синтетического каучука», а также машино-, авиастроения: ОАО «Камаз», ОАО КМПО и т.д. Учитывая, что ориентировочная потребность промышленных предприятий Республики Татарстан в нанодисперсных порошках оценивается примерно в 10 000 т/год, представляется возможным проведения их тестирования по заказам промышленности. На сторонние организации тратится примерно 50% рабочего времени. Количество организаций-пользователей научного оборудования ЦКП - более 10.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Получение и модификация наночастиц оксидов металлов и неметаллов, металлов и полимеров ВЧ плазменными, электрохимическими, сверхкритическими и химическими методами;
  • Модификация полимерных нановолокон химическими и плазменными методами;
  • Получение полимерных наноструктурированных композиционных материалов;
  • Исследование свойств, состава и структуры наночастиц и композиционных материалов методами просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения и сканирующей электронной микроскопии, позволяющей визуализировать наноструктуры объекта и определять структурные параметры отдельных наночастиц;
  • Исследования спектроскопическими методами (ЯМР- и ЯГР-спектроскопия, атомно-эмиссионная и молекулярная спектроскопия, рентгенофлуоресцентный анализ и рентгеновская дифрактометрия), а также методом термического анализа и газовой хроматографии;
  • Поддержка высоких технологий и наукоемкого производства;
  • Подготовка высококвалифицированных специалистов и научных кадров для работы с новейшим аналитическим и технологическим оборудованием по основным направлениям деятельности ЦКП;
  • Предоставление возможности выполнения НИР ученым, аспирантам и студентам старших курсов структурных подразделений КГТУ и вузов региона.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 33 ед.)

Анализатор для исследования супрамолекулярных систем
Марка:  Zetasizer NanoZS
Фирма-изготовитель:  Malvern
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Марка:  ContrAA 700
Фирма-изготовитель:  Analytik Jena AG
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Дифрактометр рентгеновский
Марка:  XRD-7000S
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Дифрактометр рентгеновский порошковый
Марка:  D2 PHASER
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ИК-микроскоп
Марка:  AIM-8800
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

ИК-Фурье спектрометр
Марка:  Iraffinity-1
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс испытательного оборудования для исследования размера микронных и субмикронных систем
Марка:  Mastersizer 2000
Фирма-изготовитель:  Malvern Instruments Ltd
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Машина испытательная
Марка:  AG-50kNXD
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп 3D конфокальный лазерный сканирующий
Марка:  LEXT4000
Фирма-изготовитель:  Olympus Corporation
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп сканирующий зондовый
Марка:  Ntegra Therma
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп сканирующий зондовый с электрохимической приставкой
Марка:  Multimode V
Фирма-изготовитель:  Veeco Instruments Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп электронный
Марка:  БC-500
Фирма-изготовитель:  Tesla-Brno
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  1975
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп электронный растровый
Марка:  EVO LS 10
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп электронный сканирующий с элементным анализом
Марка:  EVEX Mini SEM SX-3000
Фирма-изготовитель:  EVEX
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микротвердомер
Марка:  HMV-2T
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Нанотвердомер сканирующий
Марка:  НСМТ-3Д
Фирма-изготовитель:  ООО КЕЛЕГЕН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Печь лабораторная
Марка:  BLF 18/8
Фирма-изготовитель:  Cfrbolite
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система диспергирования
Марка:  Thar Super ParticleRESS-100
Фирма-изготовитель:  ЗАО ШАГ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система микроанализа
Марка:  EVEX Gold
Фирма-изготовитель:  EVEX
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система пробоподготовки микроволновая
Марка:  МС-6
Фирма-изготовитель:  ООО Научно-техническая фирма ВОЛЬТА
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Смеситель лабораторный механического перемешивания
Марка:  СПЕМП-2/0,002-ОК-Р75
Фирма-изготовитель:  НПП ДИСПОД
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр атомно-эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой
Марка:  ICAP-6300
Фирма-изготовитель:  Thermo Electron
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр рентгено-флуоресцентный энергодисперсионный с полным внешним отражением
Марка:  TXRF S2 Picofox с High Efficiency Module
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр универсальный рентгенофлуоресцентный
Марка:  СУР-02 РЕНОМ-ФВ
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТЦ ЭКСПЕРТЦЕНТР
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр ядерного магнитного резонанса
Марка:  Tesla-567A
Фирма-изготовитель:  Tesla-Brno
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  1993
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Твердомер
Марка:  ИТ-5160
Фирма-изготовитель:  Экспериментальный завод ИМПУЛЬС
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Термоанализатор совмещенный (ДСК ТГА)
Марка:  SDT Q600
Фирма-изготовитель:  NF Instrument
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка высокочастотная
Фирма-изготовитель:  НПЦ СФЕРА
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка высокочастотная вакуумная плазменная
Марка:  ВАТТ 1500Р/Р-ПлазмаЗ
Фирма-изготовитель:  ЗАО «ФЕРРИ ВАТТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка высокочастотная емкостная плазменная
Марка:  ВЧЕ плазменная установка
Фирма-изготовитель:  ООО НПЦ Сфера
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка высокочастотная индукционная плазменная
Марка:  ВЧИ плазменная установка
Фирма-изготовитель:  НПЦ Сфера
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка ионноплазменная
Марка:  HHB 6,6 И1
Фирма-изготовитель:  ВИАМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Экспресс анализатор элементного состава лазерно-искровой
Марка:  ЛИЭС-2
Фирма-изготовитель:  Энерголаб
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП: (номенклатура — 13 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Масс-спектрометрия основана на определении отношения массы к заряду ионов, образующихся при ионизации представляющих интерес компонентов пробы. Один из мощнейших способов качественной идентификации веществ, допускающий также и количественное определение.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  ПЭМ является наиболее универсальным классическим методом исследования структурных дефектов кристаллов, используется непосредственно для анализа морфологических особенностей, ориентации дефектов относительно решетки матрицы, определения их размеров. Для работы на просвечивающих электронных микроскопах требуются специально приготовленные тонкие препараты – реплики или фольги, прозрачные для электронов. Реплики используются для наблюдения микрорельефа, фактуры поверхности исследуемого образца. Сама реплика – это тонкая пленка какого-то вещества, на которой получают отпечаток микрорельефа поверхности. Это осуществляется, например, путем напыления угольной пленки или нанесения пленки лака или желатина. Метод реплик позволяет получать информацию о структуре поверхности образцов. Фольги – тонкие пленки, которые получают из массивных образцов, причем утонение образца необходимо вести таким образом, чтобы не внести в исследуемую область дополнительных нарушений. Утоненный образец, как и снятую реплику, помещают на специальную сетку с крупными отверстиями и размещают в колонне микроскопа. Именно на фольгах ведутся исследования дефектообразования в кристаллах.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спепктроскопический метод анализа, основанный на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением, с целью выявления элементного состава представленного образца. С помощью него могут анализироваться различные элементы от бериллия до урана. Может быть применен в экологии и охране окружающей среды для определения тяжелых металлов в почвах, воде, воздухе и аэрозолях; в геологии и минералогии для определения качественного и количественного соствава почв, минералов и горных пород; в металлургии и химической индустрии для контроля качества сырья; в ювелирной промышленности измерения содержания ценных металлов; а такжк в нефтяной промышленности, археологии, искусстве, сельском хозяйстве и пищевой промышленности.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Спектироскопический метод позволяет обнаружить и определить вещества при помощи измерения их характеристических спектров. Преимуществом спектроскопического метода анализа является возможность проведения анализа бесконтактным путем, дистанционно, без какой-либо специальной подготовки объекта исследования.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Метод заключается в исследовании свойств образцов при изменении температуры, например, при сравнении исследуемого объекта с эталоном или при анализе изменения массы вещества с повышением или понижением температры

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Модифицирование наночастиц оксидов металлов и неметаллов, металлов и полимерных нановолокон путем обработки исходных образцов в высокочастотной плазме пониженного давления

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Заключается в определении в образце частиц различных размеров.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Осуществляется синтез наночастиц оксидов металлов и неметаллов, металлов и полимеров путем обработки исходных образцов в высокочастотной плазме пониженного давления

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Синтез осуществляется в сверхкритических условиях, при которых температура и давления находятся в точке выше критической.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Метод синтеза основан на протекании химической реакции между исходными реагентами. Метод является одним из самых простых в исполнении.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Данный метод позволяет получать частицы с различной морфологией и размером в нанометровом диапазоне.

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 41 ед.)

№ 104-Х Весовое определение двуокиси кремния в силикатах с дополнительным фотометрическим определением остаточной кремнекислоты. ВИМС,1971.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

№177-С Спектрофотографическое определение индивидуальных редкоземельных элементов, иттрия, тория и скандия в минеральном сырье. ИМГРЭ, 1980.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

№182-С Спектрографическое определение редких элементов-примесей в цирконах. ИМГРЭ, 1981.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

ГЭТ 163-2003 Государственный первичный эталон единиц дисперсных параметров аэрозолей, взвесей и порошкообразных материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  11.03.2011
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 8.774- 2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Дисперсный состав жидких сред. Определение размеров частиц по динамическому рассеянию света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  13.12.2011
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 8.698-2010 ГСИ. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  10.02.2010
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 26874-86 Спектрометры энергий ионизирующих излучений. Методы измерений основных параметров
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт СССР
Дата аттестации:  21.04.1986
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 8.594-2009 «ГСИ. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации
Дата аттестации:  11.11.2009
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 8.777-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Дисперсный состав аэрозолей и взвесей. Определение размеров частиц по дифракции лазерного излучения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  13.12.2011
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 8.774-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Дисперсный состав жидких сред. Определение размеров частиц по динамическому рассеянию света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  13.12.2011
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 23402-78 Порошки металлические. Микроскопический метод определения размеров частиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт СССР
Дата аттестации:  22.12.1978
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 11772-73 Дисперсии полимеров и сополимеров водные. Микрофотографический метод определения размера частиц
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт СССР
Дата аттестации:  05.04.1973
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  10.02.2010
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 55845-2013 Реактивы и особо чистые вещества. Определение примесей химических элементов атомно-эмиссионной спектрометрией с индуктивно связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  22.11.2013
Методика уникальна:  нет

ПНД Ф 14.1:2:4.135-98 Количественный химический анализ вод. Методика выполнения измерений массовой концентрации элементов в пробах питьевой, природных, сточных вод и атмосферных осадков методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Государственный комитет Российской Федерации по охране окружающей среды
Дата аттестации:  25.06.1998
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р ЕН ИСО 14596-2008 Нефтепродукты. Определение содержания серы методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  25.12.2008
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 51947-2002 Нефть и нефтепродукты. Определение серы методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт России
Дата аттестации:  09.10.2002
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 53203-2008 Нефтепродукты. Определение серы методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  25.12.2008
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 32984-2014 Топливо твердое минеральное. Определение макро- и микроэлементов в золе методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  21.04.2015
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 32139-2013 Нефть и нефтепродукты. Определение содержания серы методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  14.08.2013
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 32984-2014 Топливо твердое минеральное. Определение макро- и микроэлементов в золе методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  21.04.2015
Методика уникальна:  нет

РД 34.44.216-96 Топливо нефтяное для газотурбинных установок. Определение ванадия методом атомно-абсорбционной спектрофотометрии (прямой метод)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  РАО ЕЭС России
Дата аттестации:  24.12.1996
Методика уникальна:  нет

МЕТОДИКА ЦВ 3.21.12-00"А" Методика выполнения измерений концентрации ртути в водах методом беспламенной атомно-абсорбционной спектрофотометрии (метод "холодного пара")
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр исследования и контроля воды
Дата аттестации:  02.11.2005
Методика уникальна:  нет

ГОСТ 22761-77 Металлы и сплавы. Метод измерения твердости по бринеллю переносными твердомерами статического действия
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт СССР
Дата аттестации:  31.10.1977
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 56757-2015 Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). ЧАСТЬ 7. Определение кинетики кристаллизации
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  24.11.2015
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 56755-2015 Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). ЧАСТЬ 5. Определение характеристических температур и времени по кривым реакции, определение энтальпии и степени превращения
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  24.11.2015
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 56724-2015 Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). ЧАСТЬ 3. Определение температуры и энтальпии плавления и кристаллизации
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  19.11.2015
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 55135-2012 Пластмассы. Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). ЧАСТЬ 2. Определение температуры стеклования
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  16.11.2012
Методика уникальна:  нет

ГОСТ Р 53293-2009 Пожарная опасность веществ и материалов. материалы, вещества и средства огнезащиты. Идентификация методами термического анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Дата аттестации:  18.02.2009
Методика уникальна:  нет

Нанокристаллические оксиды кремния и металлов. Рентгеноспектральный флуоресцентный метод определения кремния и металлов. Методика выполнения измерений.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Нанопорошки металлов, оксидов металлов и полимеров. Определение среднего размера частиц с помощью сканирующего зондового микроскопа. Методика выполнения измерений.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Нанопорошки металлов, оксидов металлов и полимеры. Определение термогравиметрических и термических характеристик процессов фазовых превращений. Методика выполнения измерений
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Нанопорошки металлов. Атомно-эмиссионное спектральное определение массовых долей элементов. Методика выполнения измерений.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Получение диоксида кремния нанодисперсного в соответствии с техническими условиями ТУ 17210-049-02069639-2009
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Получение нанопорошка кобальта в соответсвии с техническими условиями ТУ 17210-047-02069639-2009
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Получение нанопорошка оксида алюминия в соответствии с техническими условиями ТУ 17210-048-02069639-2009
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Получение полиизобутилена нанодисперсного в соответсвии с техническими условиями ТУ 17210-050-02069639-2009
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Стандарт предприятия № 11А-15-02. Определение содержания структурного (изоморфного) трехвалентного железа в каолинитах методом электронного парамагнитного резонанса (ЭПР).
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Стандарт предприятия №11Т.27-02 Определение гранулометрического состава минерального сырья на лазерном дифракционном микроанализаторе "Analisitte-22"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Стандарт предприятия №12А-34-03 Оценка качества кварцевого сырья прецизионными физическими методами.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Стандарт предприятия №36А-22-03 Определение концентраций редкоземельных элементов в природных и техногенных объектах методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (МС-ИСП).
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП ВНИИР
Дата аттестации:  06.03.2009

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран