Центры коллективного пользования

Межрегиональный многопрофильный и междисциплинарный центр коллективного пользования перспективных и конкурентоспособных технологий по направлениям развития и применения в промышленности/ машиностроении отечественных достижений в области нанотехнологий (ЦКП ПиКТ)

ЦКП создан в 2007 году

Адрес
Руководитель
  • 👤Аракелян Сергей Мартиросович
  • 📞(4922) 479847
  • arak@vlsu.ru
Контактное лицо
  • 👤Аракелян Сергей Мартиросович
  • 📞(4922) 479847
  • arak@vlsu.ru
Сведения о результативности за 2017 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Владимирский государственный университет имени Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Центр коллективного пользования осуществляет развитие информационных видов научно-производственной и образовательной деятельности ученых и специалистов университета по направлениям машиностроения, приборостроения, материаловедения, нанотехнологии, физической электроники, лазерной техники, лазерно-информационным и лазерным технологиям. ЦКП образован на базе учебных и научных лабораторий структурных подразделений Владимирского государственного университета.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • Конструкционные наноматериалы и поверхностная обработка изделий;
  • Наноструктурированные покрытия и пленки, мембранные технологии;
  • Машиностроение и промышленные средства измерений в нанометровом диапазоне для позиционирования инструмента;
  • Наноэлектроника и нанофотоника;
  • Нанометрология и микро наносистемная техника;
  • Нанобиотехнологии, нанобезопасность и экологическая безопасность;
  • Вибропоглощающие нанополимеры для изделий военной техники и аэрокосмического комплекса;
  • Наноструктуры, обеспечивающие защиту изделий военной техники и аэрокосмического комплекса от интенсивных внешних воздействий.

Уникальные научные установки (УНУ) в составе оборудования ЦКП

Установка упорядоченного наноструктурирования объектов фемтосекундным излучением

600000, г. Владимир, ул. Горького, д. 87
📷

Оборудование (59)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Принтер 3D Objet 30Pro настольный
Китайская Республика 2014
Установка лазерная миллисекундная
Россия 2011
Робот промышленный FANUC M-710iC/50
Япония FANUC M-710iC/50 2014
Машина разрывная универсальная электромеханическая РЭМ-100-А-2
Россия ООО "МЕТРОТЕСТ" РЭМ-100-А-2 2014
Лазер иттербиевый волоконный ЛС-3 в комплекте с чиллером IPG LC 72.01
Россия НТО «ИРЭ-Полюс» ЛС-3 2013
Мобильный лазерный маркер LDesigner FM
Россия Компания АТЕКО LDesigner FM 2014
Промышленный комплекс раскроя металла Навигатор КС-5ВМД1
Россия ЗАО "ВНИТЭП" Навигатор КС-5ВМД1 2013
Специализированный многолучевой СО2-лазер МКТЛ1500 (ЭНТЭК)
Россия ЭНТЭК МКТЛ1500 2007
Рентгенофлуоресцентный анализатор РеСПЕКТ (ООО ПТ)
Россия ООО ПТ РеСПЕКТ 2007
Учебно-научный комплекс, зондовая станция Nanoeducator II
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петер Nanoeducator II 2012
Комплекс «Чистая вода», включающий модуль адсорбции и ионного обмена, модуль выпаривания и кристаллизации, модуль механических методов очистки, модуль обратноосмотический, модуль ультрафильтрации, модуль электрохимической обработки, пульт управления
Россия ЗАО «БМТ» 2008
Станок проволочно вырезной 6-ти координатный
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония Mitsubishi ВА 8 2008
Система трехмерной оцифровки класса High End opto TOP HE модульная топометрическая
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Breuckmann GmbH High End opto TOP HE 2007
Лаборатория виртуального инжиниринга реальности
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Parametric Technologies Corporation - 2007
Станок вертикально фрезерный с ЧПУ (TM1-NE)
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Haas Automation Inc TM1-NE 2006
Эрозионный прошивной станок
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Китайская Республика CHMER СМ-А53С + 75N 2007
Вертикальный обрабатывающий фрезерный центр повышенной точности
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Китайская Республика QUASER МV204U 2007
Высокопроизводительный вычислительный кластер СКИФ МОНОМАХ (Т-Платформы)
Россия ОАО Т-Платформы (T-Platforms) СКИФ МОНОМАХ 2007
СО2 Лазерный технологический комплекс для резки материалов
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия 2007
Реактор полунепрерывного действия синтеза углеродного наноматериала, вклюающий реактор синтеза УНМ, электродистиллятор, нейтрализатор, электроподогреватель, аппарат кислотной очистки, оборудование для подготовки и управления газовыми потоками
Россия ТГТУ Таунинт 2008
Установка вакуумная для нанесения нанокомпозитных покрытий UniCoaT 600SL
Россия НПФ «Элан-Практик» UniCoaT 600SL 2008
Чистое помещение (ФЭЗ)
Россия Фрязинский экспериментальный завод 2008
Микровесы электронные Acculab ALC - 2100 d2 (Sartorius)
Германия SARTORIUS Acculab ALC – 2100 d2 2008
Микровесы электронные Acculab ALC - 2100 d4 (Sartorius)
Германия SARTORIUS Acculab ALC – 210 d4 2008
Установка вакуумная для нанесения припоя на теплоотвод
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Torr International, Inc. THEBION EB4P3KWTH2-Ion 2008
Микроскоп металлографический ММН-2 (ЛОМО)
Россия ООО «ЛОМО-Микросистемы» ММН-2 2008
Микроскоп стереоскопический МСП-2 вар.1 (ЛОМО)
Россия ООО «ЛОМО-Микросистемы» МСП-2 вар.1 2008
Пост микроконтроля оптоэлектронных излучающих устройств с системой автоматизации процесса измерения параметров
- наиболее востребованное оборудование
Белоруссия УП КБТЭМ-ИТЦ МК-1 2008
Установка для измерения ближних полей лазерных линеек
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ОАО «НПП Инжект» NFM-40 2008
Установка для измерения спектральных характеристик лазерных линеек
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ОАО «НПП Инжект» SCLD-10-IR 2008
Установка для измерения электрических и оптических параметров лазерных линеек
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ОАО «НПП Инжект» IELD-8 2008
Установка для термозвуковой варки контактов полупроводниковых лазерных линеек
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Kulicke &Soffa K&S4522 2008
Установка бесфлюсовой пайки лазерных линеек
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ОАО «НПП Инжект» UBP-400 2008
Шкафы сухого хранения
- наиболее востребованное оборудование
Япония Totech SD-302-02 Серия 02 2008
Комплекс инфракрасной пайки с манипулятором, системой управления регистрации, моделирования и контроля (ERSA IR/PL650AC)
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония ERSA CORP IR/PL650А 2008
Стенд диагностики и деградационных долговременных испытаний оптико-электронных термостабилизированных устройств
- наиболее востребованное оборудование
Россия ООО «АЛКОЛМ медика» MLD/I-200 2008
Станция паяльная трехканальная многофункциональная (JBC AM 6800)
- наиболее востребованное оборудование
Испания JBC AM6800 2008
Камера климатическая автоматизированная со специальным программным обеспечением
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония ESPEC CORP PSL-4KPH 2008
Установка электродинамическая испытательная, автоматизированный вибростенд (VS-600/SA1M)
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония IMV CORP VS-600/SA1M 2008
Лазер твердотельный волоконный ЛС-02
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия IPG-grup, ИРЭ-Полюс ЛС-02 2007
Фемтосекундный многоцелевой лазерный комплекс Ti:Sp
Россия ООО «Авеста-Проект» 2007
Фемтосекундный экспериментальный лазерный комплекс
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ООО «Авеста-Проект» 2008
Микроскоп растровый электронный Quanta 200 3D (FEI)
Нидерланды FEi Inc. Quanta 200 3D 2008
Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ)
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT) ИНТЕГРА Аура 2007
Атомно-силовая зондовая станция Ntegra Specta
Россия ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT) Интегра Specta 2010
Установка упорядоченного наноструктурирования объектов фемтосекундным излучением
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ООО «Авеста-Проект» XENON 2010
Анализатор химического состава металлов и сплавов Х-Мет 3000ТХ (OXFORD)
Великобритания OXFORD Instruments Analytical Х-Мет 3000ТХ 2010
Дуговая печь постоянного тока для плавки черных и цветных металлов
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ООО «Толедо» Д ППТ-0,06 2010
Установка для измерения магнитных свойств магнитотвердых материалов Permagraph L (MAGNET-PHYSIK)
Германия MAGNET-PHYSIK Dr. Steingroever GmbH Permagraph® L 2010
Аналитическая установка МЕТАВАК-АК (Эскан)
Россия ООО НПО «Эскан» МЕТАВАК-АК 2010
Анализатор серы и углерода в металлах и сплавах ELTRA CS-800
Германия Eltra GmbH ELTRA CS-800 2010
Двухлучевой сканирующий УФ/В спектрофотометр LAMBDA 25 (Perkin-Elmer)
Соединённые Штаты Америки Perkin-Elmer LAMBDA 25 2010
Анализатор планшетный многофункциональный
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Perkin-Elmer VICTOR X3 2010
Трибометр TRB
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Швейцария CSM Instruments TRB-S-CE 2010
Микроскретч-тестер MСT с видеомикроскопом
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Швейцария CSM Instruments MST 2010
Шаровой шлиф (промышленный)
- наиболее востребованное оборудование
Швейцария CSM Instruments CAT-S-AE 2010
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL ADVANT’X (Thermo Scientific)
Россия TermoFisher Scientific ARL ADVANTX 2014
Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Германия Bruker AXS D8 ADVANCE 2011
Рентгеновский дифрактометр (малоуглового рассеяния S3-MICRO HECUS или его аналоги) SAXSess mc²
Россия HECUS X-Ray Systems SAXISSS 2011

Услуги (9)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Наноструктурирование поверхности металлов и полупроводников
Индустрия наносистем
Виртуальное представление и имитация поведения объектов авто- и машиностроения и строительства (сложные сборки, эргономика и безопасность производства, воспроизведение производственных и строительных объектов и т.д.)
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Разработка системы автоматизированного проектирования систем и средств прецизионной климатизации высокотехнологичных машино- и приборостроительных производств, в том числе термоконстантных и сверхчистых цехов
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Удаление нефтепродуктов и ионов тяжелых металлов в процессе водоподготовки методами соосаждения и комплексообразования
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Экспресс-анализ содержания углерода и серы в материалах
Транспортные и космические системы
Изготовление и поставка опытных образцов роликовинтовых передач РВП 32х6
Транспортные и космические системы
Разработка мехатронных модулей на базе высокофункциональных планетарных передач повышенной надежности
Транспортные и космические системы
Оцифровка макета модели транспортного средства (площадь поверхности составляет 1,3 кв м)
Транспортные и космические системы
Разработка технических условий на НаноСОЖ
Индустрия наносистем

Методики (16)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика трехмерной оцифровки топометрическая ВлГУ 29.12.2008
Методика измерения спектральных параметров ЛЛД на установке SCLD-10-IR ВлГУ 23.05.2011
Методика измерения электрических и оптических параметров ЛЛД на установке IELD-8 ВлГУ 23.05.2011
Методика измерения физико-механических параметров и характеристик образцов низкомодульных демпфирующих наноструктурированных полимеров в широком диапазоне температур ВлГУ 08.09.2008
Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров при изгибных колебаниях ВлГУ 13.10.2008
Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров ВлГУ 11.11.2008
Методика измерения механического напряжения и упругой деформации демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров ВлГУ 11.09.2008
Методика измерения физико-механических параметров и характеристик демпфирующих наноструктурированных полимеров при распространении продольных звуковых упругих волн ВлГУ 27.10.2008
Методика измерения энергии механических потерь демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров ВлГУ 13.10.2008
Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов наноструктурированных материалов, конструкций и изделий при гармоническом и случайном вибрационном воздействии ВлГУ 02.11.2008
Методика измерения динамических физико-механических параметров и характеристик образцов наноструктурированных вибропоглощающих материалов ВлГУ 08.09.2008
Методика химического анализа наноструктурированных материалов методом рентгеновской спектрометрии поверхности образцов ВлГУ 14.11.2008
Методика измерения 2D параметров рельефа наноструктурированных материалов методом растрового сканирования поверхности образцов пучком ускоренных ионов ВлГУ 11.10.2008
Методика измерения 2D параметров рельефа наноструктурированных материалов методом растрового сканирования поверхности образцов пучком ускоренных электронов ВлГУ 13.09.2008
Методика измерения локальной поверхностной силы трения образцов наноструктурированных материалов в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме атомно-силового микроскопа ВлГУ 11.11.2008
Методика измерения высоты рельефа поверхности образцов наноструктурированных материалов в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме атомно-силового микроскопа ВлГУ 11.10.2008

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий