Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Межрегиональный многопрофильный и междисциплинарный центр коллективного пользования перспективных и конкурентоспособных технологий по направлениям развития и применения в промышленности/ машиностроении отечественных достижений в области нанотехнологий

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ПиКТ

Базовая организация: Владимирский государственный университет имени Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://www.sci.vlsu.ru/main/center/ckp.aspx

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: Владимирская область
  • 600000, г. Владимир, ул. Горького, д. 87

Руководитель ЦКП:

  • Аракелян Сергей Мартиросович, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (4922) 479847
  • arak@vlsu.ru

Контактное лицо:

  • Аракелян Сергей Мартиросович, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (4922) 479847
  • arak@vlsu.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 110Число публикаций, ед.: 47Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 38.71

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования осуществляет развитие информационных видов научно-производственной и образовательной деятельности ученых и специалистов университета по направлениям машиностроения, приборостроения, материаловедения, нанотехнологии, физической электроники, лазерной техники, лазерно-информационным и лазерным технологиям. ЦКП образован на базе учебных и научных лабораторий структурных подразделений Владимирского государственного университета.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Конструкционные наноматериалы и поверхностная обработка изделий;
  • Наноструктурированные покрытия и пленки, мембранные технологии;
  • Машиностроение и промышленные средства измерений в нанометровом диапазоне для позиционирования инструмента;
  • Наноэлектроника и нанофотоника;
  • Нанометрология и микро наносистемная техника;
  • Нанобиотехнологии, нанобезопасность и экологическая безопасность;
  • Вибропоглощающие нанополимеры для изделий военной техники и аэрокосмического комплекса;
  • Наноструктуры, обеспечивающие защиту изделий военной техники и аэрокосмического комплекса от интенсивных внешних воздействий.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Информационно-телекоммуникационные системы
  • Рациональное природопользование

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 59 ед.)

Анализатор планшетный многофункциональный
Марка:  VICTOR X3
Фирма-изготовитель:  Perkin-Elmer
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Анализатор серы и углерода в металлах и сплавах ELTRA CS-800
Марка:  ELTRA CS-800
Фирма-изготовитель:  Eltra GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Анализатор химического состава металлов и сплавов Х-Мет 3000ТХ (OXFORD)
Марка:  Х-Мет 3000ТХ
Фирма-изготовитель:  OXFORD Instruments Analytical
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Аналитическая установка МЕТАВАК-АК (Эскан)
Марка:  МЕТАВАК-АК
Фирма-изготовитель:  ООО НПО «Эскан»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Атомно-силовая зондовая станция Ntegra Specta
Марка:  Интегра Specta
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Вертикальный обрабатывающий фрезерный центр повышенной точности
Марка:  МV204U
Фирма-изготовитель:  QUASER
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL ADVANT’X (Thermo Scientific)
Марка:  ARL ADVANTX
Фирма-изготовитель:  TermoFisher Scientific
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Высокопроизводительный вычислительный кластер СКИФ МОНОМАХ (Т-Платформы)
Марка:  СКИФ МОНОМАХ
Фирма-изготовитель:  ОАО Т-Платформы (T-Platforms)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Двухлучевой сканирующий УФ/В спектрофотометр LAMBDA 25 (Perkin-Elmer)
Марка:  LAMBDA 25
Фирма-изготовитель:  Perkin-Elmer
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Дуговая печь постоянного тока для плавки черных и цветных металлов
Марка:  Д ППТ-0,06
Фирма-изготовитель:  ООО «Толедо»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Камера климатическая автоматизированная со специальным программным обеспечением
Марка:  PSL-4KPH
Фирма-изготовитель:  ESPEC CORP
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс «Чистая вода», включающий модуль адсорбции и ионного обмена, модуль выпаривания и кристаллизации, модуль механических методов очистки, модуль обратноосмотический, модуль ультрафильтрации, модуль электрохимической обработки, пульт управления
Фирма-изготовитель:  ЗАО «БМТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Комплекс инфракрасной пайки с манипулятором, системой управления регистрации, моделирования и контроля (ERSA IR/PL650AC)
Марка:  IR/PL650А
Фирма-изготовитель:  ERSA CORP
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лаборатория виртуального инжиниринга реальности
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Parametric Technologies Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазер иттербиевый волоконный ЛС-3 в комплекте с чиллером IPG LC 72.01
Марка:  ЛС-3
Фирма-изготовитель:  НТО «ИРЭ-Полюс»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазер твердотельный волоконный ЛС-02
Марка:  ЛС-02
Фирма-изготовитель:  IPG-grup, ИРЭ-Полюс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Машина разрывная универсальная электромеханическая РЭМ-100-А-2
Марка:  РЭМ-100-А-2
Фирма-изготовитель:  ООО "МЕТРОТЕСТ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микровесы электронные Acculab ALC - 2100 d2 (Sartorius)
Марка:  Acculab ALC – 2100 d2
Фирма-изготовитель:  SARTORIUS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Микровесы электронные Acculab ALC - 2100 d4 (Sartorius)
Марка:  Acculab ALC – 210 d4
Фирма-изготовитель:  SARTORIUS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Микроскоп металлографический ММН-2 (ЛОМО)
Марка:  ММН-2
Фирма-изготовитель:  ООО «ЛОМО-Микросистемы»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  2
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроскоп растровый электронный Quanta 200 3D (FEI)
Марка:  Quanta 200 3D
Фирма-изготовитель:  FEi Inc.
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Микроскоп стереоскопический МСП-2 вар.1 (ЛОМО)
Марка:  МСП-2 вар.1
Фирма-изготовитель:  ООО «ЛОМО-Микросистемы»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  2
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскретч-тестер MСT с видеомикроскопом
Марка:  MST
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Мобильный лазерный маркер LDesigner FM
Марка:  LDesigner FM
Фирма-изготовитель:  Компания АТЕКО
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Пост микроконтроля оптоэлектронных излучающих устройств с системой автоматизации процесса измерения параметров
Марка:  МК-1
Фирма-изготовитель:  УП КБТЭМ-ИТЦ
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Принтер 3D Objet 30Pro настольный
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Промышленный комплекс раскроя металла Навигатор КС-5ВМД1
Марка:  Навигатор КС-5ВМД1
Фирма-изготовитель:  ЗАО "ВНИТЭП"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Реактор полунепрерывного действия синтеза углеродного наноматериала, вклюающий реактор синтеза УНМ, электродистиллятор, нейтрализатор, электроподогреватель, аппарат кислотной очистки, оборудование для подготовки и управления газовыми потоками
Марка:  Таунинт
Фирма-изготовитель:  ТГТУ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Рентгеновский дифрактометр (малоуглового рассеяния S3-MICRO HECUS или его аналоги) SAXSess mc²
Марка:  SAXISSS
Фирма-изготовитель:  HECUS X-Ray Systems
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Марка:  D8 ADVANCE
Фирма-изготовитель:  Bruker AXS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Рентгенофлуоресцентный анализатор РеСПЕКТ (ООО ПТ)
Марка:  РеСПЕКТ
Фирма-изготовитель:  ООО ПТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Робот промышленный FANUC M-710iC/50
Марка:  M-710iC/50
Фирма-изготовитель:  FANUC
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система трехмерной оцифровки класса High End opto TOP HE модульная топометрическая
Марка:  High End opto TOP HE
Фирма-изготовитель:  Breuckmann GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ)
Марка:  ИНТЕГРА Аура
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

СО2 Лазерный технологический комплекс для резки материалов
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Специализированный многолучевой СО2-лазер МКТЛ1500 (ЭНТЭК)
Марка:  МКТЛ1500
Фирма-изготовитель:  ЭНТЭК
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Станок вертикально фрезерный с ЧПУ (TM1-NE)
Марка:  TM1-NE
Фирма-изготовитель:  Haas Automation Inc
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станок проволочно вырезной 6-ти координатный
Марка:  ВА 8
Фирма-изготовитель:  Mitsubishi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Станция паяльная трехканальная многофункциональная (JBC AM 6800)
Марка:  AM6800
Фирма-изготовитель:  JBC
Страна происхождения:  Испания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Стенд диагностики и деградационных долговременных испытаний оптико-электронных термостабилизированных устройств
Марка:  MLD/I-200
Фирма-изготовитель:  ООО «АЛКОЛМ медика»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Трибометр TRB
Марка:  TRB-S-CE
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка бесфлюсовой пайки лазерных линеек
Марка:  UBP-400
Фирма-изготовитель:  ОАО «НПП Инжект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка вакуумная для нанесения нанокомпозитных покрытий UniCoaT 600SL
Марка:  UniCoaT 600SL
Фирма-изготовитель:  НПФ «Элан-Практик»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Установка вакуумная для нанесения припоя на теплоотвод
Марка:  THEBION EB4P3KWTH2-Ion
Фирма-изготовитель:  Torr International, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для измерения ближних полей лазерных линеек
Марка:  NFM-40
Фирма-изготовитель:  ОАО «НПП Инжект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для измерения магнитных свойств магнитотвердых материалов Permagraph L (MAGNET-PHYSIK)
Марка:  Permagraph® L
Фирма-изготовитель:  MAGNET-PHYSIK Dr. Steingroever GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Установка для измерения спектральных характеристик лазерных линеек
Марка:  SCLD-10-IR
Фирма-изготовитель:  ОАО «НПП Инжект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для измерения электрических и оптических параметров лазерных линеек
Марка:  IELD-8
Фирма-изготовитель:  ОАО «НПП Инжект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для термозвуковой варки контактов полупроводниковых лазерных линеек
Марка:  K&S4522
Фирма-изготовитель:  Kulicke &Soffa
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка лазерная миллисекундная
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка упорядоченного наноструктурирования объектов фемтосекундным излучением
Марка:  XENON
Фирма-изготовитель:  ООО «Авеста-Проект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка электродинамическая испытательная, автоматизированный вибростенд (VS-600/SA1M)
Марка:  VS-600/SA1M
Фирма-изготовитель:  IMV CORP
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Учебно-научный комплекс, зондовая станция Nanoeducator II
Марка:  Nanoeducator II
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петер
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Фемтосекундный многоцелевой лазерный комплекс Ti:Sp
Фирма-изготовитель:  ООО «Авеста-Проект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Фемтосекундный экспериментальный лазерный комплекс
Фирма-изготовитель:  ООО «Авеста-Проект»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Чистое помещение (ФЭЗ)
Фирма-изготовитель:  Фрязинский экспериментальный завод
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Шаровой шлиф (промышленный)
Марка:  CAT-S-AE
Фирма-изготовитель:  CSM Instruments
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Шкафы сухого хранения
Марка:  SD-302-02 Серия 02
Фирма-изготовитель:  Totech
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Эрозионный прошивной станок
Марка:  СМ-А53С + 75N
Фирма-изготовитель:  CHMER
Страна происхождения:  Китайская Республика
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП: (номенклатура — 10 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы
Краткое описание услуги:  Изготовление и поставка опытных образцов роликовинтовых передач РВП 32х6

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Робототехнические комплексы (системы) военного, специального и двойного назначения
Краткое описание услуги:  Услуга предполагает обработку материалов лазерным излучением (резка, наплавка, лазерное термоупрочнение). Характер обработки, объем предоставляемых услуг уточняется непосредственно с заказчиком в виду особенностей режимов обработки и габаритов обрабатываемых изделий.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 16 ед.)

Методика измерения 2D параметров рельефа наноструктурированных материалов методом растрового сканирования поверхности образцов пучком ускоренных ионов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  11.10.2008

Методика измерения 2D параметров рельефа наноструктурированных материалов методом растрового сканирования поверхности образцов пучком ускоренных электронов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  13.09.2008

Методика измерения высоты рельефа поверхности образцов наноструктурированных материалов в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме атомно-силового микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  11.10.2008

Методика измерения динамических физико-механических параметров и характеристик образцов наноструктурированных вибропоглощающих материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  08.09.2008

Методика измерения локальной поверхностной силы трения образцов наноструктурированных материалов в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме атомно-силового микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  11.11.2008

Методика измерения механического напряжения и упругой деформации демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  11.09.2008

Методика измерения спектральных параметров ЛЛД на установке SCLD-10-IR
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  23.05.2011

Методика измерения физико-механических параметров и характеристик демпфирующих наноструктурированных полимеров при распространении продольных звуковых упругих волн
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  27.10.2008

Методика измерения физико-механических параметров и характеристик образцов низкомодульных демпфирующих наноструктурированных полимеров в широком диапазоне температур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  08.09.2008

Методика измерения электрических и оптических параметров ЛЛД на установке IELD-8
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  23.05.2011

Методика измерения энергии механических потерь демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  13.10.2008

Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров при изгибных колебаниях
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  13.10.2008

Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов демпфирующих низкомодульных наноструктурированных полимеров
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  11.11.2008

Методика резонансного измерения физико-механических параметров и характеристик образцов наноструктурированных материалов, конструкций и изделий при гармоническом и случайном вибрационном воздействии
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  02.11.2008

Методика трехмерной оцифровки топометрическая
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  29.12.2008

Методика химического анализа наноструктурированных материалов методом рентгеновской спектрометрии поверхности образцов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВлГУ
Дата аттестации:  14.11.2008

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран