Центры коллективного пользования

Байкальский центр нанотехнологий (БЦНТ)

ЦКП создан в 2006 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Данный университет является победителем конкурсного отбора программ развития университетов, в отношении которых устанавливается категория «национальный исследовательский университет (НИУ)»
Адрес
  • Сибирский, Иркутская область
  • 664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83
  • 🌎http://www.baikalnano.ru/
Руководитель
  • 👤Афанасьев Александр Диомидович
  • 📞(3952) 405000
  • aad@istu.edu
Контактное лицо
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да19328.35
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Иркутский национальный исследовательский технический университет»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Центр коллективного пользования «Байкальский центр нанотехнологий»  Иркутского национального исследовательского технического университета создан в 2006 году и представляет собой научно-организационную структуру, обладающую современным научным и аналитическим оборудованием, высококвалифицированными кадрами, и обеспечивающую на имеющемся оборудовании проведение научных исследований и оказание услуг (исследований, испытаний, измерений), в том числе в интересах внешних пользователей (физических лиц и сторонних организаций)

Направления научных исследований

  • Технологии наноструктурированнных материалов;
  • Оптика и лазерная физика;
  • Нелинейная спектроскопия;
  • Физика плазмы, плазменные технологии;
  • Технология получения и аналитика кремния;
  • Высокотемпературная сверхпроводимость;
  • Наноразмерные катализаторы;
  • Технологии полимерных материалов;
  • Порошковая металлургия;
  • Наноразмерные структуры с высокой абсорбционной емкостью;
  • Топливные элементы;
  • Информационно-измерительные и телекоммуникационные системы;
  • Промышленная безопасность.

664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83
📷

Оборудование (12)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Монохроматор-спектрограф с двойной дисперсией MSDD1000 (СОЛАР ТИИ)
Белоруссия СП "СОЛАР ТИИ" ООО MSDD1000 2010
Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7700s (Agilent Technologies)
Соединённые Штаты Америки Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз) Agilent 7700s 2012
Многолучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)
Япония JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол) JIB-4501 2010
Научный комплекс автоматизированных измерений физических свойств материалов в широком диапазоне магнитных полей и температур
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Quantum Design PPMS 2011
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company)
Нидерланды FEI Company Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP 2012
Криостат с замкнутым циклом SHI-4-1 (Junis)
Япония Junis SHI-4-1 2007
Газовый хромато-масс-спектрометр с авто-инжектором GCMS-QP2010 Plus (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) GCMS-QP2010 Plus 2008
Стенд ИК-Фурье спектрометр IRAffinity (Shimadzu)
Япония Shimadzu IRAffinity 2007
Спектрофотометр UV-3600 (Shimadzu)
Япония Shimadzu UV-3600 2008
Спектрофлюориметр RF-5301PC
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Япония SHIMADZU RF-5301PC 2008
Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 S (Shimadzu)
Япония Shimadzu (Шимадзу) XRD-7000 S 2008
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (NT-MDT)
Россия NT-MDT Solver P47 2007

Услуги (50)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Исследование физико-химических свойств материалов различного назначения
Индустрия наносистем
Исследование методом ИК одной пробы диэтиленгликоля на содержание воды
Индустрия наносистем
Исследование представляемых образцов
Индустрия наносистем
Физико-химические исследования катализаторов нефтепереработки
Индустрия наносистем
Исследование методом электронной микроскопии состава металлических сплавов
Индустрия наносистем
Исследование образцов алюминиевого порошка методом РФА
Индустрия наносистем
Исследование кварцевых гранул методом сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Качественный фазовый анализ содержания примесй в кварцевых порошках
Индустрия наносистем
Выполнение дипломных работ по специальности наноматериалы
Индустрия наносистем
Определение содержания серы и сернистых соединений во фракциях переработки нефти
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Определение состава и строения продуктов арилирования непредельных соединений (стирол и др.)
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Определение состава реакционных смесей гидрирования олефинов
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ водных осадков
Рациональное природопользование
Исследование кавитационных процессов в вихревом генераторе
Индустрия наносистем
Люминесцентные и абсорбционные низкотемпературные измерения
Индустрия наносистем
Спектрофотометрия кристаллических сред, измерение спектров люминесценции
Индустрия наносистем
Ионная имплантация и спектральные исследования образцов термолюминесцентных дозиметров
Индустрия наносистем
Атомно-силовая микроскопия поверхности стали, модифицированной углеродными нанотрубками в плазме дугового разряда
Индустрия наносистем
Исследование лазерных кристаллов фторида лития с наноструктурами
Индустрия наносистем
Измерение спектров поглощения тонких пленок с наноструктурами
Индустрия наносистем
Исследование процессов взаимодействия электромагнитного излучения с квантовыми системами в наноструктурированных материалах.
Индустрия наносистем
Исследование люминесценции образцов тонких пленок
Индустрия наносистем
Исследование дефектов кристаллической структуры имплантированных металлами образцов кристаллов
Индустрия наносистем
Исследование наноразмерных катализаторов в структуре цеолитов
Индустрия наносистем
Исследование тонких пленок фторида лития с наноструктурами
Индустрия наносистем
Исследование свойств образцов ВТСП
Индустрия наносистем
Кинетика люминесценции центров окраски в кристаллах
Индустрия наносистем
Исследование нелинейности методом Z-сканирования
Индустрия наносистем
Исследование полупроводниковых наночастиц в кристаллах
Индустрия наносистем
Лазерный отжиг наноразмерных частиц в кристаллах
Индустрия наносистем
Лабораторный практикум студентов 4-го курса специальности "Наноматериалы"
Индустрия наносистем
Атомно-силовая микроскопия поверхности стали, модифицированной углеродными нанотрубками в плазме дугового разряда
Индустрия наносистем
Исследование структуры планарных нагревательных элементов
Индустрия наносистем
Контроль качества оксидированного слоя на материалах из алюминиевого сплава
Индустрия наносистем
Исследование металлических наночастиц в кристаллах
Индустрия наносистем
Исследование углеродных наноматериалов
Индустрия наносистем
Высокотемпературные исследование фазовых превращений в сверхпроводящих материалах
Индустрия наносистем
Фазовый анализ цементного клинкера
Индустрия наносистем
Определение степени кристалличности целлюлозы
Индустрия наносистем
Качественный фазовый анализ содержания примесй в кремниевых порошках
Индустрия наносистем
Качественный фазовый анализ глины с различных месторождений
Индустрия наносистем
Качественный и количественный фазовый анализ угольной пены
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности цеолитов АСМ методами: semicontact topography; semicontact - phase contrast.
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности катализатора ПР-81(71) АСМ методами: semicontact - semicontact topography; semicontact - phase contrast.
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности цеолита Co-ZSM-12 АСМ методами: contact - contact topography; semicontact - Lateral Force.
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности и определение размера пор образцов наноматериалов АСМ методами: semicontact - semicontact topography; semicontact - phase contrast.
Индустрия наносистем
Определение топографии и шероховатости поверхности оксидов металлов АСМ методами: semicontact - semicontact topography; semicontact - phase contrast; contact - contact topography; semicontact - Lateral Force.
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности скола кристаллов LiF АСМ методами: semicontact - semicontact topography; semicontact - phase contrast.
Индустрия наносистем
Исследование топографии поверхности кристаллов LiF с ионной имплантацией Mg АСМ методами: semicontact - semicontact topography; semicontact - phase contrast
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Исследование распределения магнитных доменов по поверхности образцов конструкционной стали АСМ методами: semicjntact - Ac Magnetic Force; contact - Dc Magnetic Force
Индустрия наносистем

Методики (11)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Выполнение измерений массовых долей 62-х элементов в почвах,донных отложениях, горных породах и сплавах цветных металлов методом масс-спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой
Методика определения формы и состава наноструктур просвечивающей электронной микроскопией
Методика определения состава смесей органических и неорганических соединений хромато-масс-анализатором
Методика определения формы и состава наноструктур сканирующей электронной микроскопией
Методика измерения электропроводности и магнитных свойств материалов в температурном диапазоне 1.7-330 К
Методика измерения спектров люминесценции при лазерном возбуждении в температурном диапазоне 5-500 К
Методика измерения нелинейной оптической воприимчивости методом Z-сканирования при помощи ИК-Фурье спектрометра
Методика измерения оптического пропускания твердых и жидких веществ при помощи спектрофотометра
Методика измерения оптической плотности твердых и жидких веществ при помощи спектрофлюориметра
Методика определения фазового состава проб методом рентгеновской порошковой дифрактометрии
Методика сканирующей зондовой микроскопии

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий