Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Байкальский центр нанотехнологий

Сокращенное наименование ЦКП: БЦНТ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Иркутский национальный исследовательский технический университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2006

Сайт ЦКП: http://www.istu.edu/structure/54/3811/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Иркутская область
  • 664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83

Руководитель ЦКП:

  • Афанасьев Александр Диомидович, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (3952) 405000
  • aad@istu.edu

Контактное лицо:

  • Иванов Николай Аркадьевич, кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (3952) 405903
  • ivnik@istu.edu, plasma@istu.edu

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования «Байкальский центр нанотехнологий»  Иркутского национального исследовательского технического университета создан в 2006 году и представляет собой научно-организационную структуру, обладающую современным научным и аналитическим оборудованием, высококвалифицированными кадрами, и обеспечивающую на имеющемся оборудовании проведение научных исследований и оказание услуг (исследований, испытаний, измерений), в том числе в интересах внешних пользователей (физических лиц и сторонних организаций)

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Технологии наноструктурированнных материалов;
  • Оптика и лазерная физика;
  • Нелинейная спектроскопия;
  • Физика плазмы, плазменные технологии;
  • Технология получения и аналитика кремния;
  • Высокотемпературная сверхпроводимость;
  • Наноразмерные катализаторы;
  • Технологии полимерных материалов;
  • Порошковая металлургия;
  • Наноразмерные структуры с высокой абсорбционной емкостью;
  • Топливные элементы;
  • Информационно-измерительные и телекоммуникационные системы;
  • Промышленная безопасность.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
  • Информационно-телекоммуникационные системы

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 12 ед., нет данных о загрузке за 2018 год):

Газовый хромато-масс-спектрометр с авто-инжектором GCMS-QP2010 Plus (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  GCMS-QP2010 Plus
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Криостат с замкнутым циклом SHI-4-1 (Junis)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  SHI-4-1
Фирма-изготовитель:  Junis
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7700s (Agilent Technologies)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  Agilent 7700s
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Многолучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  JIB-4501
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Монохроматор-спектрограф с двойной дисперсией MSDD1000 (СОЛАР ТИИ)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  MSDD1000
Фирма-изготовитель:  СП "СОЛАР ТИИ" ООО
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Научный комплекс автоматизированных измерений физических свойств материалов в широком диапазоне магнитных полей и температур
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  PPMS
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 S (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  XRD-7000 S
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP
Фирма-изготовитель:  FEI Company
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (NT-MDT)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  Solver P47
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Спектрофлюориметр RF-5301PC
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  RF-5301PC
Фирма-изготовитель:  SHIMADZU
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофотометр UV-3600 (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  UV-3600
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Стенд ИК-Фурье спектрометр IRAffinity (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2018 год
Марка:  IRAffinity
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 50 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование методом сканирующей электронной микроскопии состава металлических сплавов

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 13 ед.):

Лабораторная методика контроля физико-химических свойств концентрата микроструктур диоксида кремния
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СНИИМ
Дата аттестации:  17.08.2017
Методика уникальна:  для России

Лабораторная методика контроля физико-химических свойств концентрата наноструктур углерода
Наименование организации, аттестовавшей методику :  СНИИМ
Дата аттестации:  17.08.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерения нелинейной оптической воприимчивости методом Z-сканирования при помощи ИК-Фурье спектрометра
Методика уникальна:  нет

Методика измерения оптического пропускания твердых и жидких веществ при помощи спектрофотометра
Методика уникальна:  нет

Методика измерения оптической плотности твердых и жидких веществ при помощи спектрофлюориметра
Методика уникальна:  нет

Методика измерения спектров люминесценции при лазерном возбуждении в температурном диапазоне 5-500 К
Методика уникальна:  нет

Методика измерения электропроводности и магнитных свойств материалов в температурном диапазоне 1.7-330 К
Методика уникальна:  нет

Методика определения состава смесей органических и неорганических соединений хромато-масс-анализатором
Методика уникальна:  нет

Методика определения фазового состава проб методом рентгеновской порошковой дифрактометрии
Методика уникальна:  нет

Методика определения формы и состава наноструктур сканирующей электронной микроскопией
Методика уникальна:  нет

Методика сканирующей зондовой микроскопии
Методика уникальна:  нет

Выполнение измерений массовых долей 62-х элементов в почвах,донных отложениях, горных породах и сплавах цветных металлов методом масс-спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой
Методика уникальна:  нет

Методика определения формы и состава наноструктур просвечивающей электронной микроскопией
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран