Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

ЦКП УрО РАН Геонаука

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП УрО РАН "Геонаука"

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2001

Сайт ЦКП: http://www.geo.komisc.ru/institute_of_geology/research/ccu

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Северо-Западный
  • Регион: Республика Коми
  • 167982, г. Сыктывкар, ул. Первомайская, д.54

Руководитель ЦКП:

  • Бурцев Игорь Николаевич, кандидат геолого-минералогических наук, старший научный сотрудник
  • +7 (8212) 245353
  • burtsev@geo.komisc.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 16Число публикаций, ед.: 60Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 5.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования научным оборудованием УрО РАН «Геонаука» при Федеральном государственном бюджетном учреждении науки Институте геологии имени академика Н.П. Юшкина Коми научного центра Уральского отделения Российской академии наук организован путем объединения региональных центров коллективного пользования: «Центр микро- и наноминералогических исследований», «Моделирование кристаллообразующих процессов», «Центр спектроскопических исследований», «Региональный центр изотопных исследований», «Центр палеонтологических исследований», созданных в соответствии с письмом Заместителя председателя УрО РАН член-корреспондента РАН Э.С. Горкунова от 22.03.2001 г. № 16205-9311/107, утвержденных Постановлением президиума УрО РАН от 02.10.2001 г. № 8-6.
Центр создан приказом директора ИГ Коми НЦ УрО РАН № 26 от 24 марта 2010 г., утвержден Постановлением президиума УрО РАН от 13 октября 2010 г. № 9-5.
Концепцией развития ЦКП «Геонаука» выделены следующие основные направления:
–  моделирование кристаллообразующих процессов;
–  микро- и наноморфология минералов и горных пород;
–  высокоразрешающая рентгеновская диагностика;
–  геохимия изотопов и геохронология;
–  спектроскопия и кристаллохимия минерального вещества;
–  технология минерального сырья;
–  палеонтология и биособытийная стратиграфия;
–  физические поля геосферы.
Общее научно-методическое руководство и контроль за деятельностью ЦКП УрО РАН «Геонаука» осуществляется Советом по научному оборудованию УрО РАН и Объединенным ученым советом по наукам о Земле УрО РАН.
Вся экспериментальная база ЦКП объединена в единый организационный комплекс.
Штат ЦКП укомплектован из штатных высококвалифицированных специалистов, способных самостоятельно решать исследовательские задачи на оборудовании центра.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • моделирование кристаллообразующих процессов;
  • микро- и наноморфология минералов и горных пород;
  • высокоразрешающая рентгеновская диагностика, геохимия изотопов и геохронология, спектроскопия и кристаллохимия минерального вещества;
  • разработка технологии минерального сырья;
  • палеонтология и биособытийная стратиграфия, физические поля геосферы.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Науки о жизни
  • Рациональное природопользование

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 51 ед.):

Аппарат для разгонки нефтепродуктов
Марка:  АРН-ЛАБ-03
Фирма-изготовитель:  ЗАО "ЛОИП"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Аппарат для определения микрококсового остатка
Марка:  ACR-M3
Фирма-изготовитель:  Tanaka
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Аппарат рентгеновский
Марка:  АРОС
Фирма-изготовитель:  Красный Октябрь
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1984
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Аппаратно-программный комплекс для расшифровки интерферограмм
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Аппаратно-программный комплекс на базе газового хроматографа
Марка:  Кристалл 2000М
Фирма-изготовитель:  СКБ "ХромаТек"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Атомно-силовой микроскоп
Марка:  ARIS-3500
Фирма-изготовитель:  Burleigh
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Бинокулярный исследовательский микроскоп Биолам-И (ЛОМО)
Марка:  Биолам "И"
Фирма-изготовитель:  Labor-microscopes
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Быстродействующий калориметр сжигания
Марка:  БКС-2х
Фирма-изготовитель:  РТИ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Внешний источник возбуждения KP спектров для KP-микроскопа LABRAM HR (HORIBA)
Марка:  LABRAM HR
Фирма-изготовитель:  Horiba, Jobin Yvon
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Газовый хромато-масс спектрометр
Марка:  GCMC-QP2010 Ultra EI
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Газовый хромато-масс спектрометр
Марка:  QP5050A
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Дериватограф 1500
Марка:  OD 1500
Фирма-изготовитель:  MOM
Страна происхождения:  Венгрия
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Калориметр высокотемпер. термограф.
Марка:  DTG-60H CEMARK
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Криотермостолик
Марка:  Lincam
Фирма-изготовитель:  Lincam
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Лабораторная установка для измерения удельной поверхности и размера пор
Марка:  Nova 1200
Фирма-изготовитель:  Quantachrome Instruments
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Масс-спектрометр
Марка:  МИ-1201Т
Фирма-изготовитель:  ПО "Электрон"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Масс-спектрометр
Марка:  FINNIGAN DELTA V ADVANTAGE
Фирма-изготовитель:  ThermoFisher Scientific
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7700x ICP-MS (Agilent Technologies)
Марка:  Agilent 7700x
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies (Аджилент Текнолоджиз)
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Мессбауэровский спектрометр
Марка:  MS-1104Em
Фирма-изготовитель:  РГУ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп исследовательский поляризационный
Марка:  OLYMPUS BX51
Фирма-изготовитель:  OLYMPUS
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроскоп электронный
Марка:  БС-500
Фирма-изготовитель:  TESLA
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  1978
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроскоп электронный сканирующий с энергодисперсионной приставкой и EBSD детектором
Марка:  Vega 3 LMH
Фирма-изготовитель:  TESCAN
Страна происхождения:  Чехия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроскопический комплекс на базе поляризационного микроскопа
Марка:  ЛабоПол-3 ЛПО вар.3
Фирма-изготовитель:  Labor-microscopes
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Напылительная установка для вакуумного осаждения металла
Марка:  JFC-1600
Фирма-изготовитель:  Jeol
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой
Марка:  Vista MPX Rad
Фирма-изготовитель:  Varian
Страна происхождения:  Австралия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Поляризационный микроскоп Eclipse LV100ND (Nikon)
Марка:  Nikon Eclipse LV100ND
Фирма-изготовитель:  Nikon
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Рамановский спектрометр с внешним источником возбуждения KP спектров
Марка:  LabRAM HR Visible 400-1100 нм
Фирма-изготовитель:  Horiba, Jobin Yvon
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский дифрактометр с высокотемпературной камерой и приставкой для измерения микрообъектов
Марка:  XRD-6000
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский монокристалический дифрактометр
Марка:  Р4
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800
Марка:  XRF-1800
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Система водоподготовки
Марка:  Спектр-ОСМОС
Фирма-изготовитель:  МетаХром
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система для детектирования изотопов водорода
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ThermoScientific
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Система микроволнового разложения МDS-10 (Sineo)
Марка:  МDS-10
Фирма-изготовитель:  Sineo
Страна происхождения:  КНР
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп с системой волнового и энергодисперсионного микроанализа
Марка:  JSM 6400
Фирма-изготовитель:  Jeol
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1996
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Спектрометр SE/X-2547 (RadioPAN)
Марка:  S/X-2547
Фирма-изготовитель:  Radiopan
Страна происхождения:  Польша
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1

Спектрометр динамического рассеяния света
Марка:  Photocor Complex
Фирма-изготовитель:  Photocor
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Спектрофотометр инфракрасный
Марка:  Спекорд ИР-75
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Спектрофотометр Спекорд М-80 (Carl Zeisse)
Марка:  Спекорд М-80
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1

Туннельный микроскоп
Марка:  ARIS-2200
Фирма-изготовитель:  Burleigh
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1996
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии
Марка:  Ntegra Prima
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для высокоскоростной прецизионной резки и шлифовки петрографических тонких шлифов
Марка:  MetaServ 250
Фирма-изготовитель:  Buehler
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Фурье-спектрометр
Марка:  ИнфраЛЮМ ФТ-02
Фирма-изготовитель:  Люмекс
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Хроматограф газовый
Марка:  GC 17AAF
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Хроматограф газовый
Марка:  Кристалл 2000М вариант 4
Фирма-изготовитель:  СКБ "ХромаТек"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Хроматограф газовый
Марка:  Цвет-800
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Цифровая сейсмическая станция
Марка:  UGRA
Фирма-изготовитель:  НПП "Геотех"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Цифровая сейсмическая станция
Марка:  SDAS v.3.1 с блоком TTS v.3.0
Фирма-изготовитель:  НПП "Геотех"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Цифровая сейсмическая станция
Марка:  SDAS
Фирма-изготовитель:  НПП "Геотех"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Шлифовально-полировальный станок
Марка:  PetroThin
Фирма-изготовитель:  Buehler (Бюлер)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Экспресс-анализатор на углерод
Марка:  АН-7529М
Фирма-изготовитель:  ГОМЕЛЬСКИЙ ЗИП
Страна происхождения:  Белоруссия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Элементный CN анализатор
Марка:  FlashEA 1112
Фирма-изготовитель:  ThermoScientific
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 10 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Геохронологические исследования, определение изотопного состава, изотопный анализ H, C, N, O, S

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Изучение состава и структуры органических и неорганических веществ методами электронного парамагнитного резонанса, оптической и ИК- спектроскопии, Мессбауэровской спектроскопии, люминесценции, хроматографии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Инструментальные геофизические наблюдения при помощи стационарных и автономных сейсмических станций, полевые электроразведочные и магниторазведочные исследования

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Исследование биоты, определение возраста и корреляция отложений

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование микро- и нанодисперсного состояния минерального вещества, строения и свойств наночастиц; микро- и нанообъектов в смежных областях материаловедения

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Комплексный анализ морфологии, филогении, экологии, палеогеографии важнейших групп древней фауны и флоры

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Минералого-технологические исследования, технологическая оценка минерального сырья

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Моделирование кристаллообразующих процессов, проведение экспериментов при высоких температурах и давлениях

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение наноструктурированных материалов на минеральной и органоминеральной основе

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Рациональное природопользование
Краткое описание услуги:  Рентгеноструктурные, дифрактометрические исследования и диагностика минералов и горных пород

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 29 ед.):

Методика волнового рентгеноспектрального определения элементного состава поверхности твердых тел

Методика идентификации фазового состава веществ и минералов с использованием Рамановского спектрометра LabRam HR 800 (HORIBA, Jobin Yvon)

Методика измерения электростатических и магнитных сил на поверхности твердых тел
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОАО Прогресс
Дата аттестации:  11.03.2011

Методика интерпретации спектров ЯГР 57Fe и расчета относительных содержаний структурных типов железа

Методика исследования поверхности объектов путем получения увеличенного изображения с разрешением от 3 нм и элементным анализом

Методика исследования потери массы образца с ростом температуры, контроля состава газовой атмосферы и выделения или поглощения тепла при морвологических превращениях

Методика концентрационных измерений электронно-дырочных центров в кварце методом ЭПР
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВИМС
Дата аттестации:  10.05.1986

Методика микроскопических исследований

Методика определения изотопного состава азота в воздухе

Методика определения изотопного состава азота в газовых смесях, фракциях нефти, углеводах, аминокислотах

Методика определения изотопного состава азота в органических и неорганических соединениях, фракциях нефти, нитратах

Методика определения изотопного состава водорода в органических соединениях и воде

Методика определения изотопного состава кислорода в воде
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ThermoFisher Scientific

Методика определения изотопного состава кислорода в органических и неорганических соединениях с температурой разложения менее 1300 °С

Методика определения изотопного состава кислорода в смесях газов, органических соединениях с температурой возгонки менее 300 °С

Методика определения изотопного состава углерода в воздухе

Методика определения изотопного состава углерода в газовых смесях, фракциях нефти, углеводах, аминокислотах

Методика определения изотопного состава углерода в органических соединениях, алмазах

Методика определения изотопного состава углерода и кислорода в карбонатах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ThermoFisher Scientific

Методика определения концентрации и изотопного состава Rb
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИГ Коми НЦ УрО РАН
Дата аттестации:  01.10.1989

Методика определения концентрации и изотопного состава Sr
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИГ Коми НЦ УрО РАН
Дата аттестации:  01.10.1989

Методика определения структурных параметров микрочастиц с использованием просвечивающего электронного микроскопа Tesla BS-500 (Чехия)

Методика получения топографических изображений поверхности с нанометровым разрешением
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ОАО Прогресс
Дата аттестации:  11.03.2011

Методика получения электронно-микроскопических изображений поверхности

Методика фазового анализа минералов по ИК-спектрам

Методика определения удельной поверхности и размера пор

Методика экспрессного определения методом ЭПР содержания изоморфных примесей в образцах кварцевого сырья
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВИМС
Дата аттестации:  12.06.1988

Методика энергодисперсинного рентгеноспектрального определения элементного состава твердых тел

Оценка неоднородности минералов ряда ильменит-рутил и продуктов их изменения рентгеноспектральным энергодисперсионным микроанализом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Федеральный научно-методический центр лабораторных исследований и сертификации минерального сырья "ВИМС"
Дата аттестации:  27.10.2017
Методика уникальна:  для России

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран