Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Испытательный центр нанотехнологий и перспективных материалов

Сокращенное наименование ЦКП: ИЦ НПМ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики металлов имени М.Н.Михеева Уральского отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2008

Сайт ЦКП: http://www.imp.uran.ru/?q=ru/about_ckp

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Уральский
  • Регион: Свердловская область
  • 620990, г. Екатеринбург, ул. Софьи Ковалевской, д. 18

Руководитель ЦКП:

  • Ринкевич Анатолий Брониславович, доктор физико-математических наук, старший научный сотрудник, член-корреспондент РАН
  • +7 (343) 3744331
  • rinkevich@imp.uran.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 20Число публикаций, ед.: 54Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 35.96

Краткое описание ЦКП:

ЦКП «Испытательный центр нанотехнологий и пер-спективных материалов» (далее ИЦ НПМ) осуществляет свою деятельность с 2008 г. под руководством Ученого Совета и дирекции Федерального государственного бюджетного учреждения науки  Института физики металлов им.  М.Н. Михеева Уральского отделения РАН и Совета по научному оборудованию    УрО РАН.
ЦКП «ИЦ НПМ» создан для выполнения фундаментальных и прикладных исследовательских работ на высоком современном уровне и для обеспечения наиболее полной загрузки уникального и дорогостоящего оборудования. «ИЦ НПМ» является научно-техническим подразделением, входящим в структуру института и специализируется на выполнении измерений физических свойств материалов, в первую очередь твердых тел, металлов, сплавов, наноматериалов и наноструктур в рамках научных программ, выполняемых институтом физики металлов УрО РАН, а также другими организациями УрО РАН, предприятиями и научными институтами уральского региона.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • исследования химического и фазового состава, параметров кристаллической, электронной и магнитной структуры, механических, магнитных и электрических свойств образцов, типов и концентрации дефектов в области физики конденсированного состояния веществ и исследований новых материалов, в т.ч. наноматериалов (нанотехнологий).

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 27 ед.):

Автоматизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник)
Марка:  ДРОН-6
Фирма-изготовитель:  Буревестник
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вибрационный магнитометр на электромагните модель 7407 VSM
Марка:  модель 7407 VSM
Фирма-изготовитель:  Lake Shore Cryotronics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вольтметр В7-46/1 (2 шт.),источник питания PPF-6020 в установке сильных импульсных магнитных полей
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИФМ УрО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Гелиевый ожижитель LHeP18 (Cryomech)
Марка:  LHeP18
Фирма-изготовитель:  Cryomech Inc
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№20419)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№35842)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1978
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№41377)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№42182)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№42183)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№43760)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Испытательная машина АИМА (№43761)
Марка:  АИМА 5-2
Фирма-изготовитель:  ЗИП
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1979
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплексная система измерения физических свойств материалов PPMS-9 (Quantum Design)
Марка:  PPMS-9
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Малоинерционная трубчатая печь
Марка:  МТП-2М
Фирма-изготовитель:  ОП СФ ВНИИМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микротвердомер универсальный ПМТ 3М (ЛОМО)
Марка:  ПМТ 3М
Фирма-изготовитель:  ОАО ЛОМО
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Печь муфельная
Марка:  ПМ-1.0-7
Фирма-изготовитель:  Теплоприбор
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Просвечивающий электронный микроскоп G2 Tecnai G2 (FEI)
Марка:  Tecnai G2
Фирма-изготовитель:  компания FEI
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200CX (JEOL)
Марка:  JEM-200CX
Фирма-изготовитель:  JEOL Ltd
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1985
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Просвечивающий электронный микроскоп СМ30 Philips CM30 (FEI)
Марка:  Philips CM30
Фирма-изготовитель:  компания FEI
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI) с системой Pegasus для элементного и текстурного анализа
Марка:  Quanta 200
Фирма-изготовитель:  компания FEI
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский дифрактометр Imp фирмы PANalytical
Марка:  Imp (Empyrean)
Фирма-изготовитель:  PANalytical
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр оптический эмиссионный с индуктивно связанной плазмой параллельного действия ICPE-9000 (Shimadzu)
Марка:  IC 9000
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Спектрофотометр UV-mini-1240 (Shimadzu)
Марка:  UV-mini-1240
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Супермикровесы электронные
Марка:  SE2
Фирма-изготовитель:  Sartorius
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Универсальная электромеханическая испытательная машина Instron 5982
Марка:  Instron 5982
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для исследования механических свойств поверхности на наноуровне NanoTest-600 (Micro Materials Ltd)
Марка:  NanoTest-600
Фирма-изготовитель:  Micro Materials Ltd.
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для получения жидкого гелия LHeP18 (CRYOMEX)
Марка:  LHeP18
Фирма-изготовитель:  CRYOMEX
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка магнитометрическая (СКВИД – магнитометр) MPMS-5XL (Quantum Design)
Марка:  MPMS-5XL
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1997
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 15 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение микротвердости на микротвердомере ПМТ-3

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение магнитного момента объемных и пленочных образцов на вибрационном магнитометре 7407 VSM

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 33 ед.):

Методика измерений структурных элементов материалов методом растровой электронной микроскопии высокого разрешения. ЭМ 03-16
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "Сертимет" АХУ УрО РАН
Дата аттестации:  15.02.2016
Методика уникальна:  нет

Методика измерения магнитных параметров в сильных импульсных магнитных полях
Методика уникальна:  нет

Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников
Наименование организации, аттестовавшей методику :  утвержден и введен в действие постановлением Государственного комтета стандартов Совета Министров СССР от 09.01.76 №68
Дата аттестации:  08.01.1976
Методика уникальна:  нет

Метод испытания на изгиб. (ГОСТ 14019-2003 (ИСО7438:1985), ГОСТ 27208-87)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Металлы. Метод испытания на длительную прочность (ГОСТ 10145-81)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Металлы. Метод испытания на ползучесть (ГОСТ 3248-81)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Метод испытания на сжатие (ГОСТ 27208-87, ГОСТ 25.503-97 )
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Методы испытания на растяжение (ГОСТ 1497-84 (ИСО6892-84), ГОСТ 12004-81, ГОСТ 27208-87)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Метод измерения твердости по Роквеллу (ГОСТ 9013-59 (ИСО 6508-86)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Метод измерния твердости по Бриннелю (ГОСТ 9012-59 (ИСО410-82,ИСО6506-81)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Сталь. Метод атомно-эмиссионного анализа с индуктивно связанной плазмой (ГОСТ Р 55079-2012) и другие
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Росстандарт
Дата аттестации:  31.12.2013
Методика уникальна:  нет

Сталь и чугун. Масс-спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой. Часть 1. Определение содержания олова, сурьмы, церия, свинца и висмута (ГОСТ Р ИСО 16918-1-2013)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Росстандарт
Дата аттестации:  30.09.2014
Методика уникальна:  нет

Сплавы никелевые. Определение содержания ниобия. Спектрометрический метод атомной эмиссии с индуктивно связанной плазмой (ГОСТ Р ИСО 22033-2014 )
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Росстандарт
Дата аттестации:  11.06.2014
Методика уникальна:  нет

Сплавы никелевые. Определение содержания тантала. Спектрометрический метод атомной эмиссии с индуктивно связанной плазмой (ГОСТ Р ИСО 22725-2014)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Росстандарт
Дата аттестации:  10.06.2014
Методика уникальна:  нет

Металлы и сплавы. Метод измерения твердости по Виккерсу. (ГОСТ 2999-75, ГОСТ Р ИСО 6507-1 2007)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Гостандарт
Методика уникальна:  нет

ЕСКЗ. Стали и сплавы высокопрочные.Методы ускоренных испытаний на коррозионное растрескивание. ГОСТ 9.903-81
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Госстандарт
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений массовой доли никеля в жаропрочных сплавах титриметрическим методом (№ 88-16341-99-2010)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр метрологии и сертификации Сертимет Уральского отделения РАН
Дата аттестации:  10.11.2010
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений массовой доли марганца в жаропрочных сплавах титриметрическим методом ( № 88-16341-109-2010)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр метрологии и сертификации Сертимет Уральского отделения РАН
Дата аттестации:  30.11.2010
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений периода сверхструктуры в материалах наноструктурных многослойных методом рентгеновской дифракции. МВИ 04-09
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП УНИИМ
Дата аттестации:  27.08.2009
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений электрического сопротивления, магнитного момента,теплоемкости на установке PPMS-9
Методика уникальна:  нет

Наноматериалы наноструктурные многослойные. Методика измерений электрического сопротивления, магнитосопротивления на установке РРMS-9
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр "Сертимет" УрО РАН
Дата аттестации:  30.07.2017
Методика уникальна:  для России

Методика измерения гальвано-магнитных эффектов и электросопротивления с использованием системы сверхнизких температур

Методика измерения массовой доли кремния в жаропрочных сплавах гравиметрическим методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр метрологии и сертификации Сертимет Уральского отделения РАН
Дата аттестации:  31.10.2011
Методика уникальна:  нет

Методика определения фазового состава (идентификация) кристаллических фаз
Методика уникальна:  нет

Методика получения изображений методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения наночастиц (нанопорошков) и других наноразмерных объектов.Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанообъектов, степени их агломерируемости, химическом и фазовом составе и других особенностях структуры и морфологии
Методика уникальна:  нет

Методика измерений твердости нанесенных покрытий (нанопокрытий)

Методика измерения магнитного момента образцов индукционным методом

Методика измерений массовой доли алюминия в сплавах методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Центр метрологии и сертификации Сертимет Уральского отделения РАН
Дата аттестации:  12.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика количественного фазового анализа (определения процентного содержания кристаллических фаз)
Методика уникальна:  нет

Методика определения структуры вещества с использованием метода Ритвельда (уточнения кристаллической структуры,параметров решетки, вероятности заполнения атомных позиций,межатомных расстояний)
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений магнитных свойств веществ, в т.ч. нанопрошков на СКВИД-магнитометре MPMS-5XL
Методика уникальна:  нет

Методика измерения оптической плотности растворов веществ на спектрофотометре и определение количественного содержания химических элементов
Методика уникальна:  нет

Методика измерений твердости наноматериалов и толщины нанесенных покрытий, модуля упругости на установке NanoTest-600
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран