Дальневосточный центр диагностики поверхности твердых тел
Сокращенное наименование ЦКП: ДВ ЦКП ДПТТ
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2004
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
| Основной задачей ДВ ЦКП ДПТТ является предоставление возможностей использования уникального аналитического оборудования и приборов, находящихся в ИАПУ ДВО РАН для проведения научных работ всеми заинтересованными организациями, в том числе институтами ДВО РАН и университетами Дальнего Востока на высоком техническом уровне. ДВ ЦКП ДПТТ имеет аналитические возможности для исследования состава, атомной и электронной структуры, проводимости, подвижности носителей заряда на поверхности твердых тел в сверхвысокой вакууме. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 14 ед.):
|
Атомный силовой микроскоп
Вакуумный инфракрасный Фурье-спектрометр c ИК-микроскопом
Гелиевый ожижитель в комплекте
Комплексная сверхвысоковакуумная установка Compact
Комплексная установка для молекулярно-лучевой эпитаксии, оснащенная лазерным эллипсометром «ЛЭФ-754»
Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп USM 1500
Сканирующий зондовый микроскоп
Сканирующий туннельный микроскоп Multiprobe Compact
Сканирующий туннельный микроскоп VT UHV STM
Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2
Установка для исследования поверхности твердых тел DEL-300
Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600
Установка для исследования поверхности твердых тел SIENTA R3000 ARPES
Установка для низкотемпературных оптических измерений SOLAR TII |
Услуги ЦКП (номенклатура — 9 ед.):
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899): Индустрия наносистем |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 10 ед.):
|
Атомная силовая микроскопия
Дифракция быстрых электронов
Дифракция медленных электронов
Лазерная эллипсометрия
Сканирующая туннельная микроскопия
Спектральная эллипсометрия
Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением
Четырехзондовый метод измерения удельного сопротивления
Электронная оже-спектроскопия
|
