Каталог центров коллективного пользования научным оборудованием

Дальневосточный центр диагностики поверхности твердых тел

Сокращенное наименование ЦКП: ДВ ЦКП ДПТТ
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук
Ведомственная принадлежность: ФАНО России
Год создания ЦКП: 2004
Сайт ЦКП: http://iacp.dvo.ru/structure/collective/centr2
Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

Федеральный округ: Дальневосточный
Регион: Приморский край
690041, г. Владивосток, ул. Радио, 5

Руководитель ЦКП:

Саранин Александр Александрович, доктор физико-математических наук, профессор, член-корреспондент РАН
+7 (423) 2310426
saranin@iacp.dvo.ru

Контактное лицо:

Гаврилюк Юрий Леонидович
+7 (423) 2310426

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: да

Число организаций-пользователей, ед.: 1

Число публикаций, ед.: 8

Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 6.67

Краткое описание ЦКП:

Основной задачей ДВ ЦКП ДПТТ является предоставление возможностей использования уникального аналитического оборудования и приборов, находящихся в ИАПУ ДВО РАН для проведения научных работ всеми заинтересованными организациями, в том числе институтами ДВО РАН и университетами Дальнего Востока на высоком техническом уровне. ДВ ЦКП ДПТТ имеет аналитические возможности для исследования состава, атомной и электронной структуры, проводимости, подвижности носителей заряда на поверхности твердых тел в сверхвысокой вакууме.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

Экспериментальные исследования состава, атомной и электронной структуры поверхности твердых тел, тонких пленок и структур пониженной размерности на полупроводниковых и диэлектрических подложках, проводимости, подвижности и концентрации носителей в данных системах, их оптических свойств, структуры и морфологии, как в условиях сверхвысокого вакуума, так и на воздухе;
Изучение процессов формирования, структуры и свойств субмонослойных пленок (поверхностных фаз) адсорбатов на поверхности полупроводниковых кристаллов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 14 ед.)

Атомный силовой микроскоп
Марка: SOLVER P-47
Фирма-изготовитель: NT-MDT
Страна происхождения: Россия
Год выпуска: 2003
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Вакуумный инфракрасный Фурье-спектрометр c ИК-микроскопом
Марка: VERTEX80v, Hyperion1000
Фирма-изготовитель: Bruker
Страна происхождения: Германия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2011
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Гелиевый ожижитель в комплекте
Марка: LHeP-12,LNP-20
Фирма-изготовитель: Cryomech, Inc.
Страна происхождения: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2010
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Комплексная сверхвысоковакуумная установка Compact
Марка: Compact
Фирма-изготовитель: OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения: Германия
Год выпуска: 2009
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Комплексная установка для молекулярно-лучевой эпитаксии, оснащенная лазерным эллипсометром «ЛЭФ-754»
Марка: ЛЭФ-754
Фирма-изготовитель: Катунь
Страна происхождения: Россия
Год выпуска: 1989
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп USM 1500
Марка: USM 1500
Фирма-изготовитель: Unisoku
Страна происхождения: Япония
Год выпуска: 2016
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

Сканирующий зондовый микроскоп
Марка: Bruker Multimode8
Фирма-изготовитель: Bruker Corporation
Страна происхождения: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2011
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Сканирующий туннельный микроскоп Multiprobe Compact
Марка: Multiprobe Compact
Фирма-изготовитель: OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения: Германия
Год выпуска: 1999
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Сканирующий туннельный микроскоп VT UHV STM
Марка: VT UHV STM
Фирма-изготовитель: OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения: Германия
Год выпуска: 2004
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2
Марка: ADES-2
Фирма-изготовитель: VARIAN
Страна происхождения: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 1990
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка для исследования поверхности твердых тел DEL-300
Марка: DEL-300
Фирма-изготовитель: RIBER
Страна происхождения: Франция
Год выпуска: 1977
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600
Марка: LAS-600
Фирма-изготовитель: RIBER
Страна происхождения: Франция
Год выпуска: 1978
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка для исследования поверхности твердых тел SIENTA R3000 ARPES
Марка: SIENTA R3000 ARPES
Фирма-изготовитель: OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения: Германия
Год выпуска: 2008
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка для низкотемпературных оптических измерений SOLAR TII
Марка: SOLAR TII
Фирма-изготовитель: ЗАО "РТИ, технологии, приборы, материалы"
Страна происхождения: Россия
Год выпуска: 2006
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет