Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Дальневосточный центр диагностики поверхности твердых тел

Сокращенное наименование ЦКП: ДВ ЦКП ДПТТ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2004

Сайт ЦКП: http://iacp.dvo.ru/structure/collective/centr2

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Дальневосточный
  • Регион: Приморский край
  • 690041, г. Владивосток, ул. Радио, 5

Руководитель ЦКП:

  • Саранин Александр Александрович, доктор физико-математических наук, профессор, член-корреспондент РАН
  • +7 (423) 2310426
  • saranin@iacp.dvo.ru

Контактное лицо:

  • Гаврилюк Юрий Леонидович
  • +7 (423) 2310426

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 1Число публикаций, ед.: 8Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 6.67

Краткое описание ЦКП:

Основной задачей ДВ ЦКП ДПТТ является предоставление возможностей использования уникального аналитического оборудования и приборов, находящихся в ИАПУ ДВО РАН для проведения научных работ всеми заинтересованными организациями, в том числе институтами ДВО РАН и университетами Дальнего Востока на высоком техническом уровне. ДВ ЦКП ДПТТ имеет аналитические возможности для исследования состава, атомной и электронной структуры, проводимости, подвижности носителей заряда на поверхности твердых тел в сверхвысокой вакууме.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Экспериментальные исследования состава, атомной и электронной структуры поверхности твердых тел, тонких пленок и структур пониженной размерности на полупроводниковых и диэлектрических подложках, проводимости, подвижности и концентрации носителей в данных системах, их оптических свойств, структуры и морфологии, как в условиях сверхвысокого вакуума, так и на воздухе;
  • Изучение процессов формирования, структуры и свойств субмонослойных пленок (поверхностных фаз) адсорбатов на поверхности полупроводниковых кристаллов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 14 ед.)

Атомный силовой микроскоп
Марка:  SOLVER P-47
Фирма-изготовитель:  NT-MDT
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Вакуумный инфракрасный Фурье-спектрометр c ИК-микроскопом
Марка:  VERTEX80v, Hyperion1000
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Гелиевый ожижитель в комплекте
Марка:  LHeP-12,LNP-20
Фирма-изготовитель:  Cryomech, Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплексная сверхвысоковакуумная установка Compact
Марка:  Compact
Фирма-изготовитель:  OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплексная установка для молекулярно-лучевой эпитаксии, оснащенная лазерным эллипсометром «ЛЭФ-754»
Марка:  ЛЭФ-754
Фирма-изготовитель:  Катунь
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1989
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп USM 1500
Марка:  USM 1500
Фирма-изготовитель:  Unisoku
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сканирующий зондовый микроскоп
Марка:  Bruker Multimode8
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий туннельный микроскоп Multiprobe Compact
Марка:  Multiprobe Compact
Фирма-изготовитель:  OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий туннельный микроскоп VT UHV STM
Марка:  VT UHV STM
Фирма-изготовитель:  OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2
Марка:  ADES-2
Фирма-изготовитель:  VARIAN
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1990
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для исследования поверхности твердых тел DEL-300
Марка:  DEL-300
Фирма-изготовитель:  RIBER
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  1977
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600
Марка:  LAS-600
Фирма-изготовитель:  RIBER
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  1978
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для исследования поверхности твердых тел SIENTA R3000 ARPES
Марка:  SIENTA R3000 ARPES
Фирма-изготовитель:  OMICRON NANO TECHOLOGY GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для низкотемпературных оптических измерений SOLAR TII
Марка:  SOLAR TII
Фирма-изготовитель:  ЗАО "РТИ, технологии, приборы, материалы"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП: (номенклатура — 9 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 10 ед.)

Атомная силовая микроскопия

Дифракция быстрых электронов

Дифракция медленных электронов

Лазерная эллипсометрия

Сканирующая туннельная микроскопия

Спектральная эллипсометрия

Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами

Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением

Четырехзондовый метод измерения удельного сопротивления

Электронная оже-спектроскопия

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран