Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Аналитический центр научного центра волоконной оптики РАН

Сокращенное наименование ЦКП: АЦ НЦВО РАН

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научный центр волоконной оптики Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2006

Сайт ЦКП: http://www.fibopt.ru/analytic_center.php

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 119333, г. Москва, ул. Вавилова, д. 38

Руководитель ЦКП:

  • Исхакова Людмила Дмитриевна, кандидат химических наук, старший научный сотрудник
  • +7 (499) 5038309
  • ldisk@fo.gpi.ru

Контактное лицо:

  • Исхакова Людмила Дмитриевна, кандидат химических наук, старший научный сотрудник
  • +7 (499) 5038309
  • Ldisk@fo.gpi.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 14Число публикаций, ед.: 10Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 57.44

Краткое описание ЦКП:

Основной деятельностью Аналитического центра НЦВО РАН является диагностика и исследование свойств различных классов объектов и материалов для волоконной оптики, фотоники, микро- и наноэлектроники и других областей науки и техники с использованием сочетания методов рентгеновской дифракции (дифрактометры D8 DISCOVER, D2 PHASER, программный пакет TOPAS 4.2 для рентгенофазового (РФА) и структурного анализа) и электронной микроскопии (JSM-5910LV, JEM-2100, сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия, энергодисперсионный микроанализ (ЭДМА), дифракция электронов).

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • электронная микроскопия;
  • рентгеноспектральный микроанализ;
  • дифракция обратно-рассеянных электронов, рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализы;
  • исследования различных классов неорганических материалов и нанообъектов: световоды на основе фотонных кристаллов и специальные волоконные световоды (брэгговские, радиационно-стойкие, радиационно-чувствительные, микроструктурированные), новые материалы для волоконной оптики, квантовой электроники и других областей современной науки и техники, наноматериалы (углеродные нанотрубки, наноразмерные оксиды, фториды и силикаты, наноструктурированная стеклокерамика), монокристаллы и композиты, неорганические реактивы и особо чистые вещества.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 5 ед.):

Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Марка:  AZtecEnergy
Фирма-изготовитель:  Oxford Instruments
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Марка:  ДРОН-4-13
Фирма-изготовитель:  НПП Буревестник
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1994
Количество единиц:  1

Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Марка:  D2 PHASER
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Марка:  D8 DISCOVER
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Марка:  JSM-5910LV
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП (номенклатура — 9 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  С использованием дифракционных методов (микрорентгенофазовый анализ и дифракция электронов в просвечивающем электронном микроскопе) проводится идентификация фазового состава микро- и нанокристаллических включений в волоконных световодах и преформах для их изготовления

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Проводится анализ продуктов, образовавшейся в результате индуцированной Y-квантами ядерной реакции, включающий в себя определение элементного состава образовавшихся микрочастиц и характеристику их микроструктуры с набором статистических данных по данным характеристикам

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы
Краткое описание услуги:  Качественный и количественный анализ волоконных световодов и заготовок методом рентгеноспектрального микроанализа, включающий анализ распределения элементов в сердцевинах и оболочках волоконных световодов и преформ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы; Рациональное природопользование; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  С использованием метода энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии устанавливается элементный состав различных классов неорганических соединений (оптические материалы, монокристаллы, керамика, мультиферроики, катализаторы и др.), включая наноматериалы. В исследуемых объектах определяется содержание основных компонентов и примесей

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Транспортные и космические системы
Краткое описание услуги:  С помощью рентгенофазового и микрорентгенофазового анализа проводится идентификация фаз в покрытиях и диффузионных прослойках образцов слоистого композиционного материала системы Al-Cr-Ni. С использованием методов электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа определяется элементный состав и проводится построение карт распределения элементов в композиционных материалах системы Al-Cr-Ni.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  С использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа проводится характеристика дефектов, образовавшихся в процессе изготовления или хранения изделий из благородных металлов

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  На основании рентгенографического исследования материалов с использованием программного комплекса TOPAS 4.2.0.2 определяются размеры блоков когерентного рассеяния (размеры кристаллитов) и микронапряжений в наноматериалах и образцах неорганических материалов (композиты, керамика, катализаторы и др.)

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Науки о жизни
Краткое описание услуги:  С использованием методов сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа устанавливается микростроение и химический состав в микропробах произведений искусства с целью предоставления сведений как для реставрации, так и атрибуции объектов культурного наследия.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Информационно-телекоммуникационные системы; Науки о жизни; Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Краткое описание услуги:  Проводится качественный и количественный фазовый анализ неорганических материалов, определение рентгенометрических характеристик и уточнение параметров элементарных ячеек фаз с использованием комплекса программ TOPAS 4.2.0.2.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 11 ед.):

Методика исследования микроструктуры и топографии поверхности материалов

Методика определения размеров кристаллитов (блоков когерентного рассеяния) и микронапряжений с помощью рентгеновской дифрактометрии

Методика определения рентгенометрических характеристик веществ (определение и уточнение параметров элементарных ячеек)

Методика качественного и количественного рентгенофазового анализа

Методика структурного микроанализа методом дифракции обратно-рассеянных электронов с построением карт пространственного распределения фаз и их кристаллографической ориентации

Методика построения карт распределения химических элементов в материалах

Методика оценки пористости материала на его поверхности

Методика исследования микроструктуры и топографии поверхности материалов

Методика определения элементного состава oсновных компонентов и примесей (от B до U) рентгеноспектральным анализом

Методика определения геометрических характеристик различных объектов в низком вакууме

Методика исследования распределения легирующих элементов в сердцевинах волоконных световодов и преформах

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран