Центры коллективного пользования

Аналитический центр научного центра волоконной оптики РАН (АЦ НЦВО РАН)

ЦКП создан в 2006 году

Адрес
Руководитель
  • 👤Исхакова Людмила Дмитриевна
  • 📞(499) 5038309
  • ldisk@fo.gpi.ru
Контактное лицо
  • 👤Исхакова Людмила Дмитриевна
  • 📞(499) 5038309
  • Ldisk@fo.gpi.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да151555.54
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научный центр волоконной оптики Российской академии наук

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Основной деятельностью Аналитического центра НЦВО РАН является диагностика и исследование свойств различных классов объектов и материалов для волоконной оптики, фотоники, микро- и наноэлектроники и других областей науки и техники с использованием сочетания методов рентгеновской дифракции (дифрактометры D8 DISCOVER, D2 PHASER, программный пакет TOPAS 4.2 для рентгенофазового (РФА) и структурного анализа) и электронной микроскопии (JSM-5910LV, JEM-2100, сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия, энергодисперсионный микроанализ (ЭДМА), дифракция электронов).

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • электронная микроскопия;
  • рентгеноспектральный микроанализ;
  • дифракция обратно-рассеянных электронов, рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализы;
  • исследования различных классов неорганических материалов и нанообъектов: световоды на основе фотонных кристаллов и специальные волоконные световоды (брэгговские, радиационно-стойкие, радиационно-чувствительные, микроструктурированные), новые материалы для волоконной оптики, квантовой электроники и других областей современной науки и техники, наноматериалы (углеродные нанотрубки, наноразмерные оксиды, фториды и силикаты, наноструктурированная стеклокерамика), монокристаллы и композиты, неорганические реактивы и особо чистые вещества.

Приоритетные направления
119333, г. Москва, ул. Вавилова, д. 38
📷

Оборудование (5)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Россия НПП Буревестник ДРОН-4-13 1994
Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Германия Bruker D2 PHASER 2013
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Германия Bruker D8 DISCOVER 2010
Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Великобритания Oxford Instruments AZtecEnergy 2013
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Япония JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол) JSM-5910LV 2001

Услуги (9)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Определение дефектов в изделиях из благородных металлов методами электронной микроскопии
_не указано
Определение химического состава и морфологии микропроб произведений искусства
Науки о жизни
Исследование микроструктуры и элементного состава поверхности и диффузионных прослоек образцов слоистого композиционного материала системы Al-Cr-Ni.
Транспортные и космические системы
Анализ элементного состава и микроструктуры продуктов, образовавшейся в результате индуцированной Y-квантами ядерной реакции
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Фазовый анализ микро-и нанокристаллических включений в световодах и заготовках
Информационно-телекоммуникационные системы
Определение размеров блоков когерентного рассеяния и микронапряжений в образцах неорганических материалов
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Исследование качественного и количественного состава неорганических материалов и определение рентгенометрических характеристик фаз
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Определения элементного состава основных компонентов и примесей (от B до U) рентгеноспектральным анализом
Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
Анализ распределения элементов в волоконных световодах и заготовках методом рентгеноспектрального микроанализа
Информационно-телекоммуникационные системы

Методики (12)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика исследования микроструктуры и топографии поверхности материалов
Методика определения размеров кристаллитов (блоков когерентного рассеяния) и микронапряжений с помощью рентгеновской дифрактометрии
Методика определения рентгенометрических характеристик веществ (определение и уточнение параметров элементарных ячеек)
Методика микрорентгенофазового анализа
Методика качественного и количественного рентгенофазового анализа
Методика структурного микроанализа методом дифракции обратно-рассеянных электронов с построением карт пространственного распределения фаз и их кристаллографической ориентации
Методика построения карт распределения химических элементов в материалах
Методика оценки пористости материала на его поверхности
Методика исследования микроструктуры и топографии поверхности материалов
Методика определения элементного состава oсновных компонентов и примесей (от B до U) рентгеноспектральным анализом
Методика определения геометрических характеристик различных объектов в низком вакууме
Методика исследования распределения легирующих элементов в сердцевинах волоконных световодов и преформах

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий