Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Распределенный Центр Коллективного Пользования Федерального государственного бюджетного учреждения науки Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения Российской академии наук

Сокращенное наименование ЦКП: РЦКП ИСМАН

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения им. А.Г. Мержанова Российской академии наук

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2008

Сайт ЦКП: http://www.ism.ac.ru/n_struct/rckp/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: Московская область
  • 142432, г. Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, д. 8

Руководитель ЦКП:

  • Сычев Александр Евгеньевич, кандидат технических наук
  • +7 (49652) 46384
  • sytschev@ism.ac.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 16Число публикаций, ед.: 9Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 12.31

Краткое описание ЦКП:

ЦКП ИСМАН (Распределенный центр коллективного пользования ИСМАН) создан на Базовой организации: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения им. А.Г. Мержанова РАН, (ИСМАН)

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • общая и структурная макрокинетика процессов горения и взрыва;
  • самораспространяющийся высокотемпературный синтез (СВС);
  • синтез и модификация материалов в условиях высоких динамических давлений;
  • управление процессами горения и взрыва, химическая энергетика.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 7 ед.):

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Ultra Plus (Carl Zeiss) на базе Ultra 55 с приставкой рентгеновского микроанализа INCA Energy 350 XT (Oxford Instruments)
Марка:  Ultra Plus (Carl Zeiss) на базе Ultra 55
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Времяпролетный масс-спектрометр TOF SIMS 5-100P в комплекте (IОNTOF)
Марка:  TOF, SIMS 5-100P
Фирма-изготовитель:  Германия,г. Мюнстер, ION-TOFGmbh
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Приставка к дифрактометру ARL X’TRA - высокотемпературная камера HTK 2000 (Thermo Scientific)
Марка:  высокотемпературная камера HTK2000
Фирма-изготовитель:  Швейцария, Thermo Scientific
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Thermo Scientific)
Марка:  ARL X’TRA
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 Superprobe (JEOL) с приставкой энерго-дисперсионного анализа INCA Energy SEM 300 Microanalysis System
Марка:  JCXA-733 «Superprobe»
Фирма-изготовитель:  Япония, JEOL
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 VP (Carl Zeiss)
Марка:  LEO1450
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Универсальная испытательная машина INSTRON-1195 (Instron Limited)
Марка:  INSTRON-1195
Фирма-изготовитель:  Instron Limited
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Услуги ЦКП (номенклатура — 6 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава. Для автоэмиссионного сканирующего электронного микроскопа сверхвысокого разрешения: разрешение до 1 нм при 15 кВ, анализируемые элементы 5В - 94Ри, для рентгеновского микроанализатора JCXA-733 разрешение во вторичных электронах в режиме SEI 7 нм, анализируемые элементы 5В - 92U

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Изучение механических свойств материалов, испытания при различных условиях нагружения, испытания при различных температурах, диапазон нагрузок 0.001 -10000кг, скорость нагружения от1 мкм/мин до 5см/мин., диапазон гемператур 4- 1300 К.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Исследования элементного и молекулярного состава поверхности, слоистых структур и межфазных границ, профилей легирования, получение трехмерных картин распределения элементов. Все исследования могут быть проведены в интервале температур от-150°С-600°С. Проведение спектроскопии поверхности,изображение поверхности, профилирование по глубине. Исследования в широком интервале температур,Массовый диапазон 1-10000 а.м.Температурный диапазон -150°С- 600°С. Массовое разрешение 10000.Разрешение по поверхности 60нм. Разрешение по глубине 3 нм.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Определение фазового состава поликристаллических материалов: диапазон : -8-164°, точность декодера: +-/- 0.00025°.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  _не указано
Краткое описание услуги:  Рентгенографическое исследование материалов при высоких температурах. Диапазон температур: от комнатной до 1600°С. Точность термопары: +/- 20°С.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 7 ед.):

Изучение механических свойств материалов, испытания при различных условиях нагружения, испытания при различных темпетарурах
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Великобритания, Instron Limited

Спектроскопия поверхности. Изображение поверхности. Профилирование по глубине. Исследования в широком интервале температур
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Германия, г. Мюнстер, ION-TOF Gmbh

Определение фазового состава поликристаллических образцов, исследование структуры аморфных, частично кристаллических и нанокристаллических материалов Рентгенографическое определение ориентировки монокристаллических образцов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Швейцария, Thermo Scientific

Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Германия, Carl Zeiss

Методика выполнение измерений для электронного микроскопа LEO 1450 и энерго-дисперсионной системы INCA Energy 300
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИСМАН
Дата аттестации:  24.11.2008

Методика для спектрального анализа поверхности образца на времяпролетный масс-спектрометр TOF, SIMS 5-100 P в
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИСМАН
Дата аттестации:  20.09.2008

Методика измерения величины пор паромере Auto pore-9220V203
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ИСМАН
Дата аттестации:  14.03.2004
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран