Центры коллективного пользования

Электронная и зондовая микроскопия (ЦКП ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» «Электронная и зондовая микроскопия», ЦКП «Электронная и зондовая микроскопия»)

ЦКП создан в 2017 году

Адрес
  • Южный, Республика Крым
  • 295007, г. Симферополь, проспект Вернадского, д. 4
  • 🌎http://nano.cfuv.ru/
Руководитель
  • 👤Михайлова Татьяна Владиславовна
  • 📞(3652) 510864
  • tatvladismikh@cfuv.ru
Контактное лицо
  • 👤Михайлова Татьяна Владиславовна
  • 📞(3652) 510864
  • tatvladismikh@cfuv.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Крымский федеральный университет имени В. И. Вернадского»

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

Центр коллективного пользования научным оборудованием Федерального государственного автономного образовательного учреждения высшего образования «Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского» «Электронная и зондовая микроскопия» создан в 2017 году на базе научно-исследовательских и учебно-исследовательских лабораторий Физико-технического института (структурное подразделение) ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» (приказ ректора № 343 от 05 мая 2017 г.).

Целью создания Центра является развитие научной, инновационной и коммерческой деятельности в области современных методов диагностики функциональных материалов и биообъектов, требующих нанометрового разрешения, на основе тесного междисциплинарного взаимодействия, концентрации научного и образовательного потенциала ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского», объединения и коллективного использования уникальных, дорогостоящих приборов и оборудования

Задачи деятельности Центра
◾Осуществление научных исследований по приоритетным направлениям развития фундаментальной и прикладной науки и критическим технологиям;
◾Обеспечение приоритетных направлений реализации и выполнения соответствующих мероприятий Программы развития
ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского»;
◾Обеспечение доступа исследователям к современной инфраструктуре сектора исследований и разработок на принципах коллективного пользования научным оборудованием;
◾Участие в подготовке высококвалифицированных специалистов и научно-педагогических кадров на базе современного научного оборудования;
◾Поддержка создания и развития отечественных научных школ на научно-методической и материально-технической базе Центра;
◾Разработка новых и совершенствование существующих методов и методик научных исследований мирового уровня в рамках приоритетных научных направлений;
◾Предоставление возможности доступа к научному оборудованию и оказание других услуг на основе заявок и согласованных технических заданий подразделениям   ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и на договорной основе внешним пользователям

Центр является элементом научной инфраструктуры ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и Физико-технического института (структурное подразделение)   ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и осуществляет свою научную деятельность в рамках следующих приоритетных направлений развития науки и технологий Российской Федерации:
◾Индустрия наносистем (Перечень приоритетных направлений развития науки, технологий и техники РФ – № 7);
◾Технологии диагностики наноматериалов и наноустройств и технологии получения и обработки функциональных наноматериалов (Перечень критических технологий РФ – № 11 и № 17, соответственно)

Типовые услуги:
◾Выполнение исследований морфологии поверхности проводящих  и диэлектрических объектов на растровом электронном микроскопе;
◾Качественный и количественный рентгеноспектральный микроанализ проводящих и диэлектрических объектов;
◾Исследование методами атомно-силовой микроскопии состояния поверхностей твердых тел и биологических объектов с нанометровым разрешением;
◾Исследование магнитной или электрической морфологии поверхности функциональных материалов;
◾Исследование доменной структуры прозрачных магнетиков методами ближнепольной оптической микроскопии;
◾Предварительная экспресс диагностика материалов методами сканирующей зондовой и оптической микроскопии

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

    ◾Исследование морфологии поверхности твердых тел с нанометровым разрешением; ◾Исследование магнитной и электрической морфологии поверхности функциональных материалов различного назначения, в том числе на различных этапах формирования их кристаллической структуры; ◾Исследование структурной, электромагнитной и плазмохимической модификации поверхности твердых тел и наноразмерных объектов; ◾Исследование условий формирования наноразмерных структур для целей фотоники, плазмоники, магноники и спинтроники; ◾Диагностика поверхности подложек для изделий микроэлектроники и сенсорики; ◾Исследование и диагностика нанобиообъектов на различных этапах их формирования и функционального состояния

Приоритетные направления
295007, г. Симферополь, проспект Вернадского, д. 4
📷

Оборудование (3)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Растровый электронный микроскоп
Украина ОАО «СЭЛМИ» РЭМ-106 2005
Комплекс для учебно-исследовательской работы в области нанофизики и нанотехнологий на базе СЗМ «НаноЭдюкатор»
Россия ЗАО «Нанотехнология-МДТ» Nanoeducator II 2016
Автоматизированный комплекс для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов (Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA; Сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator II)
Россия ЗАО «Нанотехнология-МДТ» NTEGRA PRIMA с модификацией для проведения оптических измерений; Nanoeducator II 2015

Услуги (6)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Предварительная экспресс диагностика материалов методами сканирующей зондовой и оптической микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование доменной структуры прозрачных магнетиков методами ближнепольной оптической микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование магнитной или электрической морфологии поверхности функциональных материалов
Индустрия наносистем
Исследование методами атомно-силовой микроскопии состояния поверхностей твердых тел и биологических объектов с нанометровым разрешением
Индустрия наносистем
Качественный и количественный рентгеноспектральный микроанализ проводящих и диэлектрических объектов
Индустрия наносистем
Выполнение исследований морфологии поверхности проводящих и диэлектрических объектов на растровом электронном микроскопе
Индустрия наносистем

Методики (12)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика проведения качественного и количественного рентгеноспектрального микроанализа проводящих и диэлектрических объектов в режиме высокого и низкого регулируемого вакуума: в точке; вдоль линии; на определенной площади
Методика проведения анализа поверхности диэлектрических объектов с помощью растровой электронной микроскопии, в том числе получение контраста по атомному номеру без предварительного нанесения проводящего покрытия для снятия заряда в режиме низкого регулируемого вакуума в отраженных электронах
Методика получения изображения поверхности проводящих объектов в режиме высокого вакуума в отраженных электронах, получение контраста по атомному номеру с помощью растровой электронной микроскопии
Методика получения изображения поверхности проводящих объектов в режиме высокого вакуума во вторичных электронах с помощью растровой электронной микроскопии
Методика проведения экспресс диагностики функциональных материалов методами оптической микроскопии
Методика проведения экспресс диагностики функциональных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии на воздухе и в жидкости
Исследование магнитной и электрической морфологии поверхности функциональных материалов
Методика получения изображения доменной структуры прозрачных магнетиков методами сканирующей лазерной поляризационной микроскопии
Методика получения изображения доменной структуры прозрачных магнетиков методами ближнепольной оптической микроскопии
Методика измерения рельефа поверхности биологических объектов с использованием методов атомно-силовой микроскопии
Методика измерения рельефа поверхности твердых тел с использованием методов атомно-силовой микроскопии
Методика отображения распределения магнитной структуры поверхности материалов с помощью магнитно-силовой микроскопии

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий