Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Электронная и зондовая микроскопия

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» «Электронная и зондовая микроскопия», ЦКП «Электронная и зондовая микроскопия»

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Крымский федеральный университет имени В. И. Вернадского»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2017

Сайт ЦКП: http://nano.cfuv.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Южный
  • Регион: Республика Крым
  • 295007, г. Симферополь, проспект Вернадского, д. 4

Руководитель ЦКП:

  • Михайлова Татьяна Владиславовна, кандидат физико-математических наук
  • +7 (3652) 510864
  • tatvladismikh@cfuv.ru

Контактное лицо:

  • Михайлова Татьяна Владиславовна, кандидат физико-математических наук
  • +7 (3652) 510864
  • tatvladismikh@cfuv.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования научным оборудованием Федерального государственного автономного образовательного учреждения высшего образования «Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского» «Электронная и зондовая микроскопия» создан в 2017 году на базе научно-исследовательских и учебно-исследовательских лабораторий Физико-технического института (структурное подразделение) ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» (приказ ректора № 343 от 05 мая 2017 г.).

Целью создания Центра является развитие научной, инновационной и коммерческой деятельности в области современных методов диагностики функциональных материалов и биообъектов, требующих нанометрового разрешения, на основе тесного междисциплинарного взаимодействия, концентрации научного и образовательного потенциала ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского», объединения и коллективного использования уникальных, дорогостоящих приборов и оборудования

Задачи деятельности Центра
◾Осуществление научных исследований по приоритетным направлениям развития фундаментальной и прикладной науки и критическим технологиям;
◾Обеспечение приоритетных направлений реализации и выполнения соответствующих мероприятий Программы развития
ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского»;
◾Обеспечение доступа исследователям к современной инфраструктуре сектора исследований и разработок на принципах коллективного пользования научным оборудованием;
◾Участие в подготовке высококвалифицированных специалистов и научно-педагогических кадров на базе современного научного оборудования;
◾Поддержка создания и развития отечественных научных школ на научно-методической и материально-технической базе Центра;
◾Разработка новых и совершенствование существующих методов и методик научных исследований мирового уровня в рамках приоритетных научных направлений;
◾Предоставление возможности доступа к научному оборудованию и оказание других услуг на основе заявок и согласованных технических заданий подразделениям   ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и на договорной основе внешним пользователям

Центр является элементом научной инфраструктуры ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и Физико-технического института (структурное подразделение)   ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского» и осуществляет свою научную деятельность в рамках следующих приоритетных направлений развития науки и технологий Российской Федерации:
◾Индустрия наносистем (Перечень приоритетных направлений развития науки, технологий и техники РФ – № 7);
◾Технологии диагностики наноматериалов и наноустройств и технологии получения и обработки функциональных наноматериалов (Перечень критических технологий РФ – № 11 и № 17, соответственно)

Типовые услуги:
◾Выполнение исследований морфологии поверхности проводящих  и диэлектрических объектов на растровом электронном микроскопе;
◾Качественный и количественный рентгеноспектральный микроанализ проводящих и диэлектрических объектов;
◾Исследование методами атомно-силовой микроскопии состояния поверхностей твердых тел и биологических объектов с нанометровым разрешением;
◾Исследование магнитной или электрической морфологии поверхности функциональных материалов;
◾Исследование доменной структуры прозрачных магнетиков методами ближнепольной оптической микроскопии;
◾Предварительная экспресс диагностика материалов методами сканирующей зондовой и оптической микроскопии

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

    ◾Исследование морфологии поверхности твердых тел с нанометровым разрешением; ◾Исследование магнитной и электрической морфологии поверхности функциональных материалов различного назначения, в том числе на различных этапах формирования их кристаллической структуры; ◾Исследование структурной, электромагнитной и плазмохимической модификации поверхности твердых тел и наноразмерных объектов; ◾Исследование условий формирования наноразмерных структур для целей фотоники, плазмоники, магноники и спинтроники; ◾Диагностика поверхности подложек для изделий микроэлектроники и сенсорики; ◾Исследование и диагностика нанобиообъектов на различных этапах их формирования и функционального состояния

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 3 ед.)

Автоматизированный комплекс для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов (Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA; Сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator II)
Марка:  NTEGRA PRIMA с модификацией для проведения оптических измерений; Nanoeducator II
Фирма-изготовитель:  ЗАО «Нанотехнология-МДТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс для учебно-исследовательской работы в области нанофизики и нанотехнологий на базе СЗМ «НаноЭдюкатор»
Марка:  Nanoeducator II
Фирма-изготовитель:  ЗАО «Нанотехнология-МДТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Растровый электронный микроскоп
Марка:  РЭМ-106
Фирма-изготовитель:  ОАО «СЭЛМИ»
Страна происхождения:  Украина
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП: (номенклатура — 6 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение изображения поверхности проводящих и диэлектрических объектов

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение ближнепольнооптических изображений доменной структуры прозрачных магнетиков с использованием конфигурации СЗМ Ntegra c оптической головкой и апертурным кантилевером. Используемая схема возбуждения-сбора излучения - просвечивающая. Построение изображения основано на эффекте Фарадея.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение изображений магнитной или электрической морфологии поверхности различных функциональных материалов - тонких пленок и структур, с использованием методик магнитно-силовой и электросиловой микроскопии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Получение изображение рельефа поверхности объектов с пользованием методов атомно-силовой микроскопии (контактной, полуконтактной) на СЗМ Ntegra. Возможно исследование морфологии поверхности объектов в жидкости.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Проведение качественного и количественного рентгеноспектрального микроанализа проводящих и диэлектрических объектов в режиме высокого и низкого регулируемого вакуума: в точке; вдоль линии; на определенной площади.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Осуществление предварительного микроскопического исследования поверхности различных образцов с использованием оптического микроскопа и сканирующего зондового микроскопа Nanoeducator II (при возможности реализации измерений на образце методами сканирующей зондовой микроскопии)

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 12 ед.)

Методика проведения качественного и количественного рентгеноспектрального микроанализа проводящих и диэлектрических объектов в режиме высокого и низкого регулируемого вакуума: в точке; вдоль линии; на определенной площади
Методика уникальна:  нет

Методика проведения анализа поверхности диэлектрических объектов с помощью растровой электронной микроскопии, в том числе получение контраста по атомному номеру без предварительного нанесения проводящего покрытия для снятия заряда в режиме низкого регулируемого вакуума в отраженных электронах
Методика уникальна:  нет

Методика получения изображения поверхности проводящих объектов в режиме высокого вакуума в отраженных электронах, получение контраста по атомному номеру с помощью растровой электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика получения изображения поверхности проводящих объектов в режиме высокого вакуума во вторичных электронах с помощью растровой электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика проведения экспресс диагностики функциональных материалов методами оптической микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика проведения экспресс диагностики функциональных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии на воздухе и в жидкости
Методика уникальна:  нет

Исследование магнитной и электрической морфологии поверхности функциональных материалов
Методика уникальна:  нет

Методика получения изображения доменной структуры прозрачных магнетиков методами сканирующей лазерной поляризационной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика получения изображения доменной структуры прозрачных магнетиков методами ближнепольной оптической микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика измерения рельефа поверхности биологических объектов с использованием методов атомно-силовой микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика измерения рельефа поверхности твердых тел с использованием методов атомно-силовой микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика отображения распределения магнитной структуры поверхности материалов с помощью магнитно-силовой микроскопии
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран