Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ФГБНУ ТИСНУМ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ)

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2004

Сайт ЦКП: http://www.tisnum.ru/suec/suec.html

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 142190, г. Москва, г. Троицк, ул. Центральная, д. 7а

Руководитель ЦКП:

  • Прохоров Вячеслав Максимович, кандидат физико-математических наук
  • +7 (499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru

Контактное лицо:

  • Прохоров Вячеслав Максимович , кандидат физико-математических наук
  • +7 (499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 17Число публикаций, ед.: 11Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 47.63

Краткое описание ЦКП:

ЦКП "Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов" создан в январе 2004 года. Он входит в состав всероссийской сети ЦКП. Как подразделение ФГБНУ ТИСНУМ, головной организации по направлению "Конструкционные наноматериалы" ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы", входит в Национальную нанотехнологическую сеть.
Направления исследований сконцентрированы в области сверхтвердых и углеродных материалов, в том числе наноструктурных. Приоритетно ЦКП обеспечивает доступ к исследовательскому и технологическому оборудованию участникам Федеральных целевых программ и Национальной нанотехнологической сети. Доступ к ресурсам ЦКП осуществляется по "Регламенту доступа к элементам инфраструктуры наноиндустрии в области диагностики веществ и материалов (исследования, испытания, измерения) в режиме ЦКП".

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследования структуры и элементного состава веществ методами электронной микроскопии, оптической спектроскопии и рентгеновской дифракции;
  • Исследования электрических, оптоэлектронных и акустоэлектронных свойств новых сверхтвердых, углеродных, композиционных материалов, разработка и изготовление различных видов сенсоров и активных устройств электроники, опто- и акустоэлектроники на их основе;
  • Комплексные исследования физико-механических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая тонкие пленки и покрытия, алмазы и алмазные порошки;
  • Исследования теплофизических и термоэлектрических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая алмазы и алмазные композиты;
  • Синтез и исследование новых углеродсодержащих материалов при давлениях 3-15 ГПа и температурах 20-2000 С;
  • Осаждение поликристаллических и эпитаксиальных монокристаллических алмазных пленок;
  • Испытания высокопрочных металлов и сплавов, улучшенных композитов, аэрокосмических и автомобильных конструкций, болтов, крепежных деталей и листовой стали.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
  • Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 46 ед.)

3D-сканер System Sense Next Gen 3D Systems
Марка:  System Sense Next Gen
Фирма-изготовитель:  3D Systems
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Автоматический электрогидравлический пресс для горячей запрессовки образцов. С комплектующими и расходными материалами Mecapress 3 Presi
Марка:  Mecapress 3
Фирма-изготовитель:  Presi
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор тепло- и температуропроводности
Марка:  LFA 457/2/G
Фирма-изготовитель:  NETZSCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Вакуумный Фурье-спектрометр c ИК микроскопом и криостатом от 80К
Марка:  VERTEX 80v/HYPERION 2000
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Весы лабораторные
Марка:  GF-200
Фирма-изготовитель:  A&D
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Весы лабораторные электронные с приставкой для измерения плотности
Марка:  KERN-770-60/«Sartorius YDK 01 LP»
Фирма-изготовитель:  Kern & Sohn GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Высокочастотный широкополосный импульсный акустический микроскоп
Марка:  WFPAM-25
Фирма-изготовитель:  ИБХФ им.Эммануэля
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Газоаналитическая система на базе квадрупольного масс-спектрометра с программным обеспечением для подключения газоанализатора к системе термического механического QMS 403 D Aeolos NETZSCH
Марка:  QMS 403 D Aeolos
Фирма-изготовитель:  QMS 403 D Aeolos
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Гомогенизатор ультразвуковой Sonics VCX 750 Sonics & Materials
Марка:  Гомогенизатор ультразвуковой Sonics VCX 750
Фирма-изготовитель:  Sonics & Materials
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

ИК-Фурье спектрометр
Марка:  Nexus 470 FT-IR
Фирма-изготовитель:  Thermo Nicolet
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс всеволновой КР-спектроскопии монокристаллов
Марка:  Лазеры Ar/Ti-Сапфир/He-Cd; Triax 552
Фирма-изготовитель:  Spectrophysics/Jobin Yvon
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс для исследования спектральных зависимостей магнитооптических эффектов в полупроводниковых материалах при низких температурах
Марка:  PPMS EverCool II
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс для оптических спектральных исследований и КРС в диапазоне температур от 5 до 196 К на базе спектрометра TRIAX series
Марка:  TRIAX
Фирма-изготовитель:  HORIBA Jobin Yvon Inc.
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс для проведения литографических операций и модификации поверхности алмаза с использованием лазерного излучения
Марка:  VASP
Фирма-изготовитель:  Diamond trading company, PRIMUS, OPTIhot, Green Box
Страна происхождения:  Австрия; Великобритания; Германия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс испытательного оборудования для исследования электромеханических свойств материалов в различных температурных условиях
Марка:  Instron 5965
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Лазерная многоволновая система для возбуждения и регистрации спектров фотолюминесценции и комбинационного рассеяния света в ультрафиолетовом (213 и 266 нм) и фиолетовом (405 нм) спектральных диапазонах
Марка:  Impress 213
Фирма-изготовитель:  XITON
Страна происхождения:  Великобритания; Германия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная система для высокоточной разметки изделий из аллотропных форм углерода RAYMARK-50 RAYMARK
Марка:  RAYMARK-50
Фирма-изготовитель:  RAYMARK
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная система для многоволновой рамановской микроскопии A-9836-4875 RENISHAW 405L-21A INTEGRATED OPTICS
Марка:  Лазерная система для многоволновой рамановской микроскопии A-9836-4875 RENISHAW 405L-21A INTEGRATED OPTICS
Фирма-изготовитель:  RENISHAW
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная система, для нагрева в наковальнях образцов аллотропных форм углерода с визуальным и радиометрическим контролем процесса нагрева и регистрацией спектров КРС исследуемых образцов нагрева и регистрацией спектров КРС исследуемых образцов VGEN-ISP-PO
Марка:  VGEN-ISP-POD-30
Фирма-изготовитель:  NEWPORT
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерно-ультразвуовой дефектоскоп
Марка:  УДЛ-2М
Фирма-изготовитель:  ОК"Винфин"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Машина универсальная напольная для электромеханических испытаний
Марка:  Instron 5982
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп
Марка:  SZX9
Фирма-изготовитель:  Olympus
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Микроскоп стереоскопический SZX2-ZB16 Olympus
Марка:  SZX2-ZB16
Фирма-изготовитель:  Olympus
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Низкотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр
Марка:  Diamond DSC CRYOFILL 8000
Фирма-изготовитель:  Perkin-Elmer
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оборудование пробоподготовки. Автоматическое устр-во с микропроцессорным управлением для электрополировки и травления
Марка:  LaboPol 2
Фирма-изготовитель:  Struers
Страна происхождения:  Дания
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Перчаточный бокс с дополнительными опциями
Марка:  Unilab 1200/78
Фирма-изготовитель:  Braun
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Порошковый дифрактометр с детектором Пельтье
Марка:  TETA ARL
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Швейцария
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Прибор для определения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека LSR-3 (LINSEIS)
Марка:  LSR-3
Фирма-изготовитель:  LINSEIS
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Просвечивающий электронный микроскоп
Марка:  JEM-2010
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Профилограф-нанопрофилометр
Марка:  Профи-130
Фирма-изготовитель:  МИЭТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рамановский спектрометр-микроскоп 0914-20 Renishaw
Марка:  in Via 0914-20 Renishaw
Фирма-изготовитель:  Renishaw
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  7
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский комплекс исследования топографии
Марка:  XRT-100
Фирма-изготовитель:  RIGAKU/Fuji-Film
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Ростовая установка на базе ДО-044 для отраб.техпроцесса синтеза синтетических алмазов
Марка:  ДО-044
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Ростовой комплекс монокристаллических алмазных пленок
Марка:  BJS150 MPACVD
Фирма-изготовитель:  PLASSYS BESTEK SAS
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система термического механического анализа вертикальной конструкции TMA 402 F1 Hyperion NETZSCH
Марка:  TMA 402 F1 Hyperion
Фирма-изготовитель:  Netzsch (Geratebau GnbH)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сканирующая зондовая нанолаборатория
Марка:  Интегра-Прима
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий зондовый микроскоп
Марка:  НаноСкан3D(тм)
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий нанотвердомер
Марка:  НаноСкан (тм)
Фирма-изготовитель:  ФГУ ТИСНУМ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol)
Марка:  JSM-7600F
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Спектрофотометр
Марка:  Cary 4000
Фирма-изготовитель:  Varian
Страна происхождения:  Австралия
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Стенд для измерения прочности сверхтвердых монокристаллических материалов и трубопроводов высокого давления
Марка:  Flow water jet
Фирма-изготовитель:  Flow International Corporation
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Стенд магнетронного напыления металлов для металлизации и формирования контактов к изделиям
Марка:  ORION
Фирма-изготовитель:  AJA International
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

УНУ Рентгеновская установка
Марка:  Рентгеновская установка
Фирма-изготовитель:  PANalytical (Philips Analytical), Rigaku, Newport
Страна происхождения:  Нидерланды; Соединённые Штаты Америки; Япония
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик
Марка:  LakeShore 7504
Фирма-изготовитель:  LakeShore Cryotronics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка прототипирования 3D-принтер Form2 FormLabs
Марка:  Form2
Фирма-изготовитель:  FormLabs
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка синтеза на базе пресса ДО-138Б/044
Марка:  Установка синтеза на базе пресса ДО-138Б/044
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ (Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП: (номенклатура — 21 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение механических характеристик материалов. Машина для механических испытаний Instron 5982.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение скоростей звука и упругих модулей твердых тел в образцах малых (1-2 мм) размеров

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение тепловых свойств по изменению массы углеродных материалов при нагреве в вакууме и/или защитной среде

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерение теплопроводности образцов кристаллических материалов

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик материалов для исследования элементов микро- и наноэлектроники. Измерения ЭДС Холла в магнитном поле до 2 Тесла

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерения нанотвердости и упругости на наноуровне, измерение твердости стандартными методами

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Измерения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека моно- и поликристаллов в диапазоне температур от комнатной до 800 С

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование микроструктуры наноматериалов методом просвечивающей микроскопии высокого разрешения

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование состава наноматериалов методом ИК-спектроскопии и УФ-поглощения

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование состава наноматериалов методом КР-спектроскопии при комнатной и низких (азотных) температурах

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование структуры и качественного состава консолидированных наноматериалов методом рентгеновской порошковой дифрактометрии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследование структуры и химического состава наноматериалов и консолидированных наноматериалов методом сканирующей электронной микроскопии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением методом сканирующей зондовой микроскопии в сканирующей зондовой лаборатории «Интегра-Прима»

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Металлизация и формирование контактов к полупроводниковым датчикам с помощью установки магнетронного напыления металлов ORION AJA

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Определение in situ, в условиях высоких давлений, структуры и сжимаемости материалов методом рентгеновской дифрактометрии

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Прецизионные измерения фазовой скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Определение упругих модулей

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Пробоподготовка образцов для металлографических исследований на оборудовании «Struers» c микропроцессорным управлением для электрополировки и травления

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Исследования топографии монокристаллов алмаза

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Синтез методом химического газофазного осаждения монокристаллических пленок алмаза.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Структурные исследования образцов «in situ» методами КРС и рентгеновской дифракции в сдвиговых аппаратах сверхвысоких давлений до 2,0 Мбар с алмазными наковальнями

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем
Краткое описание услуги:  Термобарическая обработка материалов давлением до 13 ГПа при температурах до 2500 0С

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 42 ед.)

Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомете ПМТ-3М
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  03.03.2009

Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra prima Basic
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  03.03.2009

Методика измерений модуля упругости и упругого восстановления
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерений размеров и оценки распределения отдельных составляющих наноструктурированных элементов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерений твердости материалов с твердостью от 0,1 до 80 ГПа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерений твердости по восстановленому отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ "НаноСкан-3Д"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010

Методика определения изгибной жесткости датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения концентрации примеси азота в CVD слое
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения края поглощения в УФ диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λмакс, токовой чувствительности при λмакс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения теплопроводности теплоотвода
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения удельного электрического сопротивления CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения эффективного размера острия пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  26.06.2009

Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010

Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010

Методика выполнения измерений концентрации электрически активной легирующей примеси в дрейфовом слое диодной структуры с контактом Шоттки с помощью вольт-фарадных измерений
Методика уникальна:  нет

Методика измерения тока утечки алмазного диода Шоттки при высоких обратных напряжениях
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений фактической кристаллографической ориентации заготовки монохроматора методом Лауэ
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости методом многоциклового индентирования с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости методом царапания с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений модуля упругости отдельных фаз твердых материалов методом инструментального индентирования
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости покрытий методом инструментального индентирования
Методика уникальна:  нет

Методика измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения толщины покрытия; Определение толщины CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  27.06.2010

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран