Центры коллективного пользования

Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов (ЦКП ФГБНУ ТИСНУМ)

ЦКП создан в 2004 году

Данный ЦКП был поддержан в рамках мероприятия 5.2 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направления развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Базовая организация данного ЦКП является головной организацией отрасли по направлению развития нанотехнологий: "Конструкционные наноматериалы" в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы»
Адрес
Руководитель
  • 👤Прохоров Вячеслав Максимович
  • 📞(499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru
Контактное лицо
  • 👤Прохоров Вячеслав Максимович
  • 📞(499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
да12520.39
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ)

Информация о центре коллективного пользования (ЦКП)

ЦКП "Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов" создан в январе 2004 года. Он входит в состав всероссийской сети ЦКП. Как подразделение ФГБНУ ТИСНУМ, головной организации по направлению "Конструкционные наноматериалы" ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы", входит в Национальную нанотехнологическую сеть.
Направления исследований сконцентрированы в области сверхтвердых и углеродных материалов, в том числе наноструктурных. Приоритетно ЦКП обеспечивает доступ к исследовательскому и технологическому оборудованию участникам Федеральных целевых программ и Национальной нанотехнологической сети. Доступ к ресурсам ЦКП осуществляется по "Регламенту доступа к элементам инфраструктуры наноиндустрии в области диагностики веществ и материалов (исследования, испытания, измерения) в режиме ЦКП".

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП

  • Исследования структуры и элементного состава веществ методами электронной микроскопии, оптической спектроскопии и рентгеновской дифракции;
  • Исследования электрических, оптоэлектронных и акустоэлектронных свойств новых сверхтвердых, углеродных, композиционных материалов, разработка и изготовление различных видов сенсоров и активных устройств электроники, опто- и акустоэлектроники на их основе;
  • Комплексные исследования физико-механических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая тонкие пленки и покрытия, алмазы и алмазные порошки;
  • Исследования теплофизических и термоэлектрических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая алмазы и алмазные композиты;
  • Синтез и исследование новых углеродсодержащих материалов при давлениях 3-15 ГПа и температурах 20-2000 С;
  • Осаждение поликристаллических и эпитаксиальных монокристаллических алмазных пленок;
  • Испытания высокопрочных металлов и сплавов, улучшенных композитов, аэрокосмических и автомобильных конструкций, болтов, крепежных деталей и листовой стали.

142190, г. Москва, г. Троицк, ул. Центральная, д. 7а
📷

Оборудование (32)

Наименование Страна Фирма-изготовитель Марка Год
Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol)
Япония JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол) JSM-7600F 2010
Стенд для измерения прочности сверхтвердых монокристаллических материалов и трубопроводов высокого давления
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
Соединённые Штаты Америки Flow International Corporation Flow water jet 2012
Комплекс испытательного оборудования для исследования электромеханических свойств материалов в различных температурных условиях
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
Соединённые Штаты Америки Instron Instron 5965 2012
Комплекс для проведения литографических операций и модификации поверхности алмаза с использованием лазерного излучения
- дорогостоящее оборудование
Diamond trading company, PRIMUS, OPTIhot, Green Box VASP 2012
Перчаточный бокс с дополнительными опциями
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Braun Unilab 1200/78 2009
Машина универсальная напольная для электромеханических испытаний
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Instron Instron 5982 2010
Ростовой комплекс монокристаллических алмазных пленок
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Франция PLASSYS BESTEK SAS BJS150 MPACVD 2008
Установка термобаричесмкой обработки материалов на основе пресса ДО-044
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ФГУ ТИСНУМ УСУ-01/А 2008
Прибор для определения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека LSR-3 (LINSEIS)
Германия LINSEIS LSR-3 2010
Анализатор тепло- и температуропроводности
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия NETZSCH LFA 457/2/G 2010
Низкотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Perkin-Elmer Diamond DSC CRYOFILL 8000 2009
Лазерно-ультразвуовой дефектоскоп
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ОК"Винфин" УДЛ-2М 2009
Высокочастотный широкополосный импульсный акустический микроскоп
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Россия ИБХФ им.Эммануэля WFPAM-25 2001
Профилограф-нанопрофилометр
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Россия МИЭТ Профи-130 2007
Микроскоп
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Япония Olympus SZX9 2008
Микроскоп
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Япония Olympus BX51 2005
Весы лабораторные электронные с приставкой для измерения плотности
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Германия Kern & Sohn GmbH KERN-770-60/«Sartorius YDK 01 LP» 2005
Весы лабораторные
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Япония A&D GF-200 2009
Оборудование пробоподготовки. Автоматическое устр-во с микропроцессорным управлением для электрополировки и травления
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Дания Struers LaboPol 2 2005
Сканирующий нанотвердомер
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ФГУ ТИСНУМ НаноСкан (тм) 1999
Сканирующий нанотвердомер
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия ФГУ ТИСНУМ СуперНаноСкан (тм) 2008
Сканирующая зондовая нанолаборатория
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Россия НТ-МДТ Интегра-Прима 2009
Стенд магнетронного напыления металлов для металлизации и формирования контактов к изделиям
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки AJA International ORION 2009
Установка измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки LakeShore Cryotronics LakeShore 7504 2007
Комплекс всеволновой КР-спектроскопии монокристаллов
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Spectrophysics/Jobin Yvon Лазеры Ar/Ti-Сапфир/He-Cd; Triax 552 2003
Вакуумный Фурье-спектрометр c ИК микроскопом и криостатом от 80К
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Германия Bruker VERTEX 80v/HYPERION 2000 2009
ИК-Фурье спектрометр
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Соединённые Штаты Америки Thermo Nicolet Nexus 470 FT-IR 2003
Спектрофотометр
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Австралия Varian Cary 4000 2004
Комплекс для оптических спектральных исследований и КРС в диапазоне температур от 5 до 196 К на базе спектрометра TRIAX series
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Франция HORIBA Jobin Yvon Inc. TRIAX 2004
Рентгеновский комплекс исследования топографии
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Япония RIGAKU/Fuji-Film XRT-100 2008
Порошковый дифрактометр с детектором Пельтье
- приобретено в рамках государственного контракта
- дорогостоящее оборудование
- наиболее востребованное оборудование
Швейцария Thermo Scientific TETA ARL 2003
Просвечивающий электронный микроскоп
- приобретено в рамках государственного контракта
- наиболее востребованное оборудование
Япония JEOL JEM-2010 2004

Услуги (21)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Синтез методом химического газофазного осаждения монокристаллических пленок алмаза.
Индустрия наносистем
Термобарическая обработка материалов давлением до 13 ГПа при температурах до 2500 0С
Индустрия наносистем
Пробоподготовка образцов для металлографических исследований на оборудовании «Struers» c микропроцессорным управлением для электрополировки и травления
Индустрия наносистем
Металлизация и формирование контактов к полупроводниковым датчикам с помощью установки магнетронного напыления металлов ORION AJA
Индустрия наносистем
Измерение механических характеристик материалов. Машина для механических испытаний Instron 5982.
Индустрия наносистем
Измерения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека моно- и поликристаллов в диапазоне температур от комнатной до 800 С
Индустрия наносистем
Измерение теплопроводности образцов кристаллических материалов
Индустрия наносистем
Измерение тепловых свойств по изменению массы углеродных материалов при нагреве в вакууме и/или защитной среде
Индустрия наносистем
Измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик материалов для исследования элементов микро- и наноэлектроники. Измерения ЭДС Холла в магнитном поле до 2 Тесла
Индустрия наносистем
Измерение скоростей звука и упругих модулей твердых тел в образцах малых (1-2 мм) размеров
Индустрия наносистем
Прецизионные измерения фазовой скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Определение упругих модулей
Индустрия наносистем
Измерения нанотвердости и упругости на наноуровне, измерение твердости стандартными методами
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением методом сканирующей зондовой микроскопии в сканирующей зондовой лаборатории «Интегра-Прима»
Индустрия наносистем
Структурные исследования образцов «in situ» методами КРС и рентгеновской дифракции в сдвиговых аппаратах сверхвысоких давлений до 2,0 Мбар с алмазными наковальнями
Индустрия наносистем
Исследование состава наноматериалов методом ИК-спектроскопии и УФ-поглощения
Индустрия наносистем
Исследование состава наноматериалов методом КР-спектроскопии при комнатной и низких (азотных) температурах
Индустрия наносистем
Рентгеновская система исследования топографии монокристаллов алмаза
Индустрия наносистем
Определение in situ, в условиях высоких давлений, структуры и сжимаемости материалов методом рентгеновской дифрактометрии
Индустрия наносистем
Исследование структуры и качественного состава консолидированных наноматериалов методом рентгеновской порошковой дифрактометрии
Индустрия наносистем
Исследование структуры и химического состава наноматериалов и консолидированных наноматериалов методом сканирующей электронной микроскопии
Индустрия наносистем
Исследование микроструктуры наноматериалов методом просвечивающей микроскопии высокого разрешения
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем

Методики (35)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Методика измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции ФГУ ТИСНУМ
Методика определения относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин ФГУ ТИСНУМ
Методика определения предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин ФГУ ТИСНУМ
Методика определения предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин ФГУ ТИСНУМ
Методика измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин ФГУ ТИСНУМ
Методика определения удельного электрического сопротивления CVD слоя ФГУ ТИСНУМ
Методика определения концентрации примеси азота в CVD слое ФГУ ТИСНУМ
Методика измерения толщины покрытия; Определение толщины CVD слоя ФГУ ТИСНУМ
Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов ФГУ ТИСНУМ 26.06.2009
Методика определения теплопроводности теплоотвода ФГУ ТИСНУМ
Методика определения минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера ФГУ ТИСНУМ
Методика определения максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера ФГУ ТИСНУМ
Методика определения изгибной жесткости датчика-кантеливера ФГУ ТИСНУМ
Методика определения шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора ФГУ ТИСНУМ
Методика определения эффективного размера острия пирамиды наноиндентора ФГУ ТИСНУМ
Методика определения угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора ФГУ ТИСНУМ
Методика определения спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λмакс, токовой чувствительности при λмакс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления ФГУ ТИСНУМ
Методика определения края поглощения в УФ диапазоне ФГУ ТИСНУМ
Методика определения коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм) ФГУ ТИСНУМ
Методика определения ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте ФГУ ТИСНУМ
Методика определения удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза ФГУ ТИСНУМ
Методика определения концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза ФГУ ТИСНУМ
Методика определения микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза) ФГУ ТИСНУМ
Методика определения массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза) ФГУ ТИСНУМ
Методика определения линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза) ФГУ ТИСНУМ
Методика определения наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений модуля упругости и упругого восстановления ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений твердости материалов с твердостью от 0,1 до 80 ГПа ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений размеров и оценки распределения отдельных составляющих наноструктурированных элементов ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений твердости по восстановленому отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ "НаноСкан-3Д" ФГУ ТИСНУМ 24.06.2010
Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д» ФГУ ТИСНУМ 24.06.2010
Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д» ФГУ ТИСНУМ 24.06.2010
Методика измерения шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре ФГУ ТИСНУМ 27.06.2010
Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомете ПМТ-3М ФГУ ТИСНУМ 03.03.2009
Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra prima Basic ФГУ ТИСНУМ 03.03.2009

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий