Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Тверской региональный межведомственный центр коллективного пользования научной аппаратурой и оборудованием

Сокращенное наименование ЦКП: Тверской ЦКП

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Тверской государственный университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 1999

Сайт ЦКП: http://ckp.tversu.ru

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: Тверская область
  • 170002, г. Тверь, Садовый пер., 35

Руководитель ЦКП:

  • Супонев Николай Петрович, кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (4822) 581493
  • Nick.Suponev@tversu.ru

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 5Число публикаций, ед.: 30Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 3.76

Краткое описание ЦКП:

Миссия ЦКП ТвГУ – создание эффективных условий для активизации научной и инновационной деятельности в области высоких и наукоемких технологий в Тверском государственном университете и развития образовательного, научно-технического, инновационного и производственного потенциалов Тверской области.
Цель функционирования ЦКП ТвГУ - организация доступа ученых и специалистов к уникальному научному оборудованию на принципах коллективного пользования.
Задачи ЦКП ТвГУ:
-  координации усилий ученых в области развития фундаментальных и прикладных исследований по особо важным научным направлениям;
- подготовки специалистов, научных и научно-педагогических кадров на уровне мировых квалификационных требований;
- развитие научных школ для реализации проектов по приоритетным направлениям развития науки, технологий и техники Российской Федерации;
- разработка передовых производственных технологий и проведение отдельных исследований в интересах предприятий и организаций реального сектора экономики региона;
- аутсорсинг вспомогательных бизнес-процессов по менеджменту и маркетингу научных исследований, организуемых с использованием уникального научного оборудования;
- мониторинг технического состояния уникального оборудования и перспективное планирование его замены (модернизации) и дополнительного приобретения для расширения спектра решаемых задач;
- обеспечение максимальной загрузки уникального оборудования ТвГУ и обеспечение его окупаемости.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • рентгеноструктурный анализ в интересах научных исследований в области физики конденсированного состояния вещества и физического материаловедения, металлургии, минералогии и геологии, цементной, стеклянной и керамической отраслей промышленности, здравоохранения и охраны окружающей среды и других отраслей;
  • анализ состава и структуры материалов, определение причин выхода из строя деталей, исследование соединительных элементов из разных материалов;
  • измерение теплоемкости, температуропроводности, теплопроводности в интервале температур от -50 до + 500 С;
  • разработка технологии процессов выращивания крупногабаритных монокристаллов германия, диоксида теллура, кремния, соединений на основе РЗМ;
  • исследование минеральных сырьевых ресурсов Тверской области (сапропеля, глин, торфа, песка, зол бурых углей и торфов);
  • проведение структурных исследований новых функциональных материалов для различных отраслей науки и промышленности;
  • проведение научных анализов и математических расчетов в области физики полимеров, компьютерное моделирование полимерных систем;
  • программирование научно-технических задач в области физики конденсированных сред;
  • проводение термогравиметрических и калориметрических измерений, исследования процессов стеклования, кристаллизации, полиморфных переходов, плавления, испарения, разложения, определения температуры воспламенения и теплоты горения;
  • анализ проб объектов окружающей среды на выявление загрязнений, анализ топографии поверхности различных физических, химических и биологических материалов, анализ диэлектрических свойств.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 41 ед.):

3D-принтер
Марка:  Printbox 3D
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2).
Марка:  ДСО-2В2 (DSO-2V2).
Фирма-изготовитель:  ООО ИТЦ РАДИКОН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Гидравлически закрытая система (термостат) для охлаждения и нагрева оборудования
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Дериватограф Термоскан-2
Марка:  Термоскан-2
Фирма-изготовитель:  ООО"Аналитприбор"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Дополнительное оборудование к ИК Фурье спектрометру Vertex 70
Марка:  Vertex 70
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

ИК-спектрометр Фурье Vertex 70
Марка:  Vertex 70
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1

Инвертированный микроскоп отраженного света Axiovert 200 MAT (Carl Zeiss) с опцией устройства проходящего света
Марка:  Axiovert 200 MAT.
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете NanoMap 1000WLI (электронно-оптический комплекс для анализа морфологии кристаллов)
Марка:  NanoMap 1000WLI
Фирма-изготовитель:  SEAP TECHNOLOGY
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Испаритель
Марка:  1.0541-000СБ
Фирма-изготовитель:  БИОТЕХНО
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Кластерный комплекс IBM BladeCenter H
Марка:  IBM, США
Фирма-изготовитель:  IBM, США
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Кластерный комплекс Intel MFSYS25V2 2 штуки
Марка:  Intel
Фирма-изготовитель:  Intel
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Комплекс для экологического мониторинга воды, почвы и воздуха
Марка:  iCAP 6300 DUO; MIRAN 250B SapphIRe XL
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific; Thermo Electron Cor-poration
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Комплекс оборудования для исследования супрамолекулярных систем в комплектации, включая вискозиметр (Zetasizer Nano ZS)
Марка:  Zetasizer Nano ZS
Фирма-изготовитель:  Malvern Instruments Ltd
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Комплект оборудования для кручения и трощения хирургических нитей
Страна происхождения:  Турция
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Метаболограф VO 2000
Марка:  VO 2000
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Мобильный комплекс по определению показателей энергоэффективности
Марка:  -
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Модульная ВЖХ-система UltiMate 3000 с изократическим насосом и фотометрическим детектором (хроматограф)
Марка:  UltiMate 3000
Фирма-изготовитель:  Dionex (Дайонекс)
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Намоточный станок с программным управлением параметров намотки
Страна происхождения:  Украина
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Парогенератор для обогрева технологического оборудования
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Парогенератор для пропарки и очистки технологического оборудования
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Печь трубчатая трехзонная в компл.с турбомолекуляр. стендом TZF15/610
Марка:  TZF15/610
Фирма-изготовитель:  Carbolite
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Прибор синхронного термического анализа STA449F3 Jupiter
Марка:  STA449F3
Фирма-изготовитель:  Netzsch
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Программно-аппаратный комплекс JEOL JSM-6610LV для микроанализа и морфологического анализа поверхности (растровый электронный микроскоп)
Марка:  JEOL JSM-6610LV
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Программно-аппаратный комплекс для микроанализа и морфологического анализа поверхности NanoEducator2
Марка:  Nanoeducator II SPM02ED
Фирма-изготовитель:  ЗАО «НТИ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Программно-аппаратный комплекс для многоколоночной хроматографии
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Программно-аппаратный комплекс для синтеза образцов оксидных соединений
Марка:  CyberStar
Фирма-изготовитель:  CyberStar
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Рабочий комплекс для упаковки медицинских изделий в пакеты для газовой стерилизации
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рабочий комплекс для упаковки медицинских изделий в рулоны для газовой стерилизации
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Реактор-плавитель
Марка:  1.0543-000СБ
Фирма-изготовитель:  БИОТЕХНО
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47
Марка:  Solver P47
Фирма-изготовитель:  НТ-МДТ
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Сканирующий ИК-микроскоп "Hyperion 1000" (Bruker)
Марка:  “Hyperion 1000”
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Спектрометр УФ и видимой области спектра Evolution Array
Марка:  Evolution Arrey
Фирма-изготовитель:  Evolution Arrey
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Стерилизатор
Марка:  8XLP Steri-Vac
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сушилка для гранулированного полимера
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сушилка для сушки мономеров и биополимеров
Страна происхождения:  КНР
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Установка для получения и последующего сжижения азота NL 280
Марка:  NL 280
Фирма-изготовитель:  Kelvin IC
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Центрифуга с фильтрующей системой
Фирма-изготовитель:  Alfa laval
Страна происхождения:  Швеция
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Цифровой осциллограф смешанных сигналов MS04034B
Марка:  Tektronix
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Эктрузионная линия для 3D-жилки
Страна происхождения:  КНР
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Электромиограф НЕЙРО МВП-8
Марка:  НЕЙРО МВП-8
Фирма-изготовитель:  ООО «Нейрософт»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Энергосберегающий выпарной аппарат
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Услуги ЦКП (номенклатура — 0 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию
Нет данных.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 26 ед.):

Выявление особенностей физического и химического внешних воздействий на материалы методом профилометрии.
Методика уникальна:  нет

Определение параметров шероховатостей шлифованной и полированной поверхностей
Методика уникальна:  нет

Методика получения 2-D и 3-D профилей поверхностей исследуемых материалов
Методика уникальна:  нет

Программный комплекс GAMES
Наименование организации, аттестовавшей методику :  МГУ, РФ
Дата аттестации:  01.01.2013

Программный комплекс GAUSSIAN 03
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Pitsturg University, USA
Дата аттестации:  01.01.2006

Методика определения параметров шероховатости оптических поверхностей
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НТиУЦ Аккустооптики НИТУ МИСиС
Дата аттестации:  21.12.2008

Методика измерения отклонений поверхностей от кристаллографических плоскостей в монокристаллах германия и парателлурита
Наименование организации, аттестовавшей методику :  НТиУЦ Аккустооптики НИТУ МИСиС
Дата аттестации:  09.01.2009

Методика выращивания крупногабаритных монокристаллов из расплава парателлурита
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ООО «Фотоника»
Дата аттестации:  17.01.2013

Разработка методов и устройств неразрушающего контроля материалов электронной техники

Метод контактной спектроскопии для определения модуля Юнга

Микроскопия пъезоотклика

Метод магнитно-силовой микроскопии

Метод контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии

Метод разделения в адсорбционных ситах воздуха и последующее сжижение азота посредством цикла Гиффорда-Макмагана

Метод зонда Кельвина

Метод темного поля, Метод светлого поля

Метод полярного эффекта Керра

Метод резистивного нагрева

Метод разделения в адсорбционных ситах воздуха и последующее сжижение азота посредством цикла Гиффорда-Макмагана

Определение химического состава образцов с помощью анализатора Oxford Instruments INCA

Определение параметров микро-, наноструктуры металлов и сплавов, материалов электронной техники, функциональных и композитных материалов, порошков, плёнок, строительных материалов, минералов, полимеров, керамики, биологических объектов

Методика выполнения измерений содержания элементов в твердых объектах методами спектрометрии с индуктивно связанной плазмой ЦВ 5.18.19.01-2005
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «Центр исследования и контроля воды»
Дата аттестации:  26.10.2005

Методика выполнения измерений массовой концентрации элементов в пробах питьевой, природных, сточных вод и атмосферных осадков методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой ЦВ 3.19.08-2008
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «Центр исследования и контроля воды»
Дата аттестации:  18.09.2008

Силовая литография

Сканирующая туннельная микроскопия

Полуконтактная атомно-силовая микроскопия

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран