Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования при Институте химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В.Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ИХТРЭМС КНЦ РАН

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Федеральный исследовательский центр «Кольский научный центр Российской академии наук»

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Год создания ЦКП: 2002

Сайт ЦКП: http://chemi-ksc.ru/m-osnovnoe/tsentr-kollektivnogo-polzovaniya

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Северо-Западный
  • Регион: Мурманская область
  • 184209, г. Апатиты, ул. Ферсмана, 26а Академгородок

Руководитель ЦКП:

  • Кузнецов Сергей Александрович, доктор химических наук, старший научный сотрудник
  • +7 (81555) 79316
  • gromov@chemy.kolasc.net.ru

Контактное лицо:

  • Громов Петр Борисович, кандидат технических наук
  • +7 (81555) 79563
  • gromov@chemy.kolasc.net.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • разработка методик анализа минерального сырья Кольского полуострова, продуктов его переработки, чистых металлов, сплавов и соединений;
  • разработка экспрессных методик группового и селективного извлечения металлов из природных, промышленных и сточных вод для экологических целей;
  • изучение механизмов и кинетики электродных процессов, природы комплексообразования в галогенидных и оксигалогенидных расплавах;
  • химия и электрохимия редких тугоплавких и редкоземельных металлов в расплавленных солях;
  • разработка методов электрохимического синтеза и анализа новых соединений на основе управления химическим и фазовым составом продуктов и контроля состава первой и второй координационной сферы комплексов и создание материалов различного функционального назначения с повышенным комплексом физико-химических свойств с целью последующего их использования в специальных отраслях техники;
  • выращивание монокристаллов из расплавов методом Чохральского;
  • исследование электрофизических, акустических и оптических свойств керамических и монокристаллических сегнетоэлектрических материалов;
  • исследования ИК-Фурье спектров, спектров комбинационного рассеивания, ИК спектров поглощения сегнетоэлектрических монокристаллов и керамик в широком диапазоне температур;
  • ядерно-физические, радиохимические исследования состава веществ, радиационная оценка технологий минерального сырья, содержащего примеси естественных радиоактивных элементов;
  • методы исследования поведения радионуклидов в природных и технологических процессах с применением альфа-бета-гамма-радиометрии;
  • применение электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Рациональное природопользование
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Научное оборудование ЦКП: (номенклатура — 61 ед.)

Автоматизированная спектрометр RamanSpec RSO 785 (Thermo Scientific)
Марка:  RamanSpec RSO 785
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Автоматизированная установка «Гранат» для выращивания кристаллов
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Автоматизированная установка для исследования диэлектрических характеристик и диэлектрической дисперсии в широком диапазоне частот
Фирма-изготовитель:  ИХТРЭМС, Ивановский госуниверситет
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1993
Количество единиц:  1

Альфа-бета радиометр УМФ-1500Д
Марка:  УМФ–1500Д
Фирма-изготовитель:  НПП Доза
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Анализатор импеданса и амплитуд-фазовых характеристик
Марка:  Solartron 1260
Фирма-изготовитель:  Solartron Analytical
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Анализатор поверхности Flow Sorb 2300 (Micromeritics)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Micromeritics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1

Анализатор серы и углерода CS-2000 (ELTRA)
Марка:  CS-2000 ELTRA
Фирма-изготовитель:  «ELTRA GmbH»
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Анализатор удельной площади поверхности и пористости методом физической сорбции газов
Марка:  TriStar 3020
Фирма-изготовитель:  Micromeritics
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Анализатор частотного отклика импеданса Solartron 1260
Страна происхождения:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Атомно-абсорбционный спектрометр "Квант-2А"
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ООО «КОРТЭК МАРКЕТИНГ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Атомно-абсорбционный спектрофотометр A-Analyst 400 в ком.
Фирма-изготовитель:  PerkinElmer LAS
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Атомно-силовой микроскоп
Марка:  Nano Rule
Фирма-изготовитель:  Pacific Nano Technology
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Аэрозольный альфа-радиометр РАА-20П2
Фирма-изготовитель:  НПО «Доза»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Аэрозольный альфа-радиометр РАА-20П2 "Поиск" (НПП Доза)
Марка:  РАА-20П2
Фирма-изготовитель:  НПП Доза
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Гамма-бета-спектрометрический комплекс "Прогресс-АБРГ" с альфа-радиометром
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Научно-производственное предприятие «Доза»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Дериватограф Q-1500 D
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Венгерский оптический завод
Страна происхождения:  Венгрия
Год выпуска:  1987
Количество единиц:  1

Дериватограф ОД-102
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Венгерский оптический завод
Страна происхождения:  Венгрия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Динамическая электрохимическая лаборатория VoltaLab 40
Фирма-изготовитель:  Radiometer Analytical SAS
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Динамическая электрохимическая лаборатория VoltaLab 50 (Radiometer)
Марка:  VoltaLab 50
Фирма-изготовитель:  Radiometer
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Дифрактометр рентгеновский ДРОН-2.0
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ПО «Буревестник»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр среднего ИК диапазона
Марка:  Nicolet 6700 FT-IR
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

ИСП-масс-спектрометрическая система ELAN 9000 (Perkin Elmer)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  PerkinElmer LAS
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц
Марка:  SALD-201V модель II
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Малогабаритный растровый электронный микроскоп МРЭМ 100
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1993
Количество единиц:  1

Микрозондовая приставка INKA ENERGY-400 к сканирующему цифровому электронному микроскопу SEM LEO-420 (Carl Zeiss) с программным обеспечением
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  «Карл Цейс Йена»
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Микроскоп инвертированный Axiovert 200 MAT
Марка:  Axiovert 200 MAT
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Микроскоп металлографический "Метам РВ-21" (ЛОМО) с анализатором изображений "ВидеоТест"
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  «ИСТА видеотест»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1

Микроскоп петрографмческий. со сп. цифровой камерой Lieca DM2500P
Фирма-изготовитель:  Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Оптический эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой IСPЕ-9000 (Shimadzu)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Оригинальный автоматизированный спектрометр для исследования спектров комбинационного рассеяния света при высоких температурах (до 1300 К)
Фирма-изготовитель:  Институт спектроскопии РАН (ИСАН)
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2000
Количество единиц:  1

Потенциостат Autolab PGSTAT 20
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Австрия
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1

Потенциостат-гальваностат AUTOLAB PGSTAT 302
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Нидерланды
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Прибор синхронного термического анализа STA409 (NETZSCH)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  HETZSCH
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Приставка к ИК-Фурье спектрометру для расширения диапазона в дальнюю ИК область
Фирма-изготовитель:  Thermo Scientific
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Профилограф-профилометр М252
Марка:  М252
Фирма-изготовитель:  Завод «Калибр»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2003
Количество единиц:  1

Профилометр модели 130
Марка:  модель 301
Фирма-изготовитель:  ООО "Протон-МИЭТ"
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Радиометр-спектрометр – МКС-А03-1Н
Фирма-изготовитель:  Научно-производственное предприятие «Доза»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Рамановский спектрометр T 64000 T6 4000 (Yobin)
Марка:  T6 4000
Фирма-изготовитель:  «Yobin Yvon»
Страна происхождения:  Франция
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1

Растровый электронный микроскоп РЭМ 200
Фирма-изготовитель:  Производственное объединение Электрон
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1

Рентгено-флуоресцентный спектрометр "Спектроскан МАКС-GV"
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  НПО «Спектрон- ОПТЭЛ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Рентгеновский спектрометр СПАРК-1
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ПО «Буревестник»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1981
Количество единиц:  1

Рентгенофазовый дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1

Романовский спектрометр Triple Raman System T64000
Марка:  Triple Raman System T64000
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Ростовая установка
Марка:  «Ника-3»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Ростовая установка
Марка:  «Ника-3»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1

Сканирующий мульти -микроскоп СММ-2000Т (Протон-МИЭТ)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Завод «Протон-МИЭТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий нанотвердомер НаноСкан
Фирма-изготовитель:  Завод «Протон-МИЭТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Сканирующий цифровой электронный микроскоп с программным обеспечением
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп S405-A
Фирма-изготовитель:  Hitachi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  1996
Количество единиц:  1

Сканирующий электронный микроскоп S405-A
Фирма-изготовитель:  Hitachi
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1

Спектрометр для регистрации спектров комбинационного рассеяния света
Фирма-изготовитель:  Andor Technologi
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  1999
Количество единиц:  1

Спектрометр ДФС-24
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1982
Количество единиц:  1

универсальный малофоновый альфа – бета – радиометр УМФ – 2000
Марка:  УМФ – 2000
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1998
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Универсальный программно-управляемый комплекс д/метрол. поверхностей
Фирма-изготовитель:  Завод «Протон-МИЭТ»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1

Установка для выращивания монокристаллов методом Чохральского "Кристалл-2М"
Марка:  Кристалл-2М
Фирма-изготовитель:  -
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  1986
Количество единиц:  1

Установка для изучения оптической флюоресценции кристаллов
Год выпуска:  2006
Количество единиц:  1

Установка для исследования оптической однородности монокристаллов
Фирма-изготовитель:  ИХТРЭМС КНЦ РАН
Страна происхождения:  Россия
Количество единиц:  1

Установка комплексного изучения пленок (Cпектроскопический эллипсометр)
Марка:  VASE
Фирма-изготовитель:  J.A. Woolam Co., Inc.
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Флуоресцентный рентгеновский спектрометр VRA-2 (Carl Zeiss)
Марка:  VRA-2
Фирма-изготовитель:  Carl Zeiss
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Хромато-масс-спектрометр GCMS-QP2010 (Shimadzu)
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Shimadzu
Страна происхождения:  Япония
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1

Центробежно-планетарная мельница АГО-2
Фирма-изготовитель:  ЗАО «Новиц»
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2002
Количество единиц:  1

Услуги ЦКП: (номенклатура — 0 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию
Нет данных.

Методики измерений, применяемые в ЦКП: (номенклатура — 24 ед.)

определение содержания редкоземельных элементов (Y, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu), натрия, алюминия, калия, кальция, титана, железа, тория и урана в карбонатном концентрате редкоземельных элементов методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой № МИ-32-09-2014 взамен МИ-32-09-2013.
Методика уникальна:  нет

определение содержания редкоземельных элементов (Y, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu), натрия, алюминия, калия, кальция, титана, железа, тория и урана в апатитовом минеральном сырье и фосфогипсе методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой МИ-32-08-2014 взамен МИ-32-08-2013.
Методика уникальна:  нет

Методика определения величины обьемного эффекта фоторефракции в монокристаллах ниобата лития разного состава по спектрам комбинационного рассеяния света (М 1-25-2009)
Методика уникальна:  для России

Методика дозиметрического контроля радиоактивного загрязнения металлолома - М ЛРК 2.6.1-03-2006 (регистрационная система САРК).
Дата аттестации:  13.07.2006
Методика уникальна:  нет

Методика определения естественных радионуклидов на бета-альфа-радиометре «Спутник» (М ЛРК ИХ 2.6.1.-01-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  нет

Методика дозиметрического контроля радиоактивного загрязнения металлолома (М ЛРК ИХ 2.6.1.-03-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  нет

Методика определения радиационно-гигиенических характеристик почвы и донных осадков (ЛРК ИХ 2.6.1.-10-2007).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  для России

Методика определения радиационно-гигиенических характеристик растительных объектов (М ЛРК ИХ 2.6.1.-09-2007).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  для России

Методика определения радиационно-гигиенических характеристик снежного покрова (М ЛРК ИХ 2.6.1.-08-2007).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  для России

Методика определения радиационно-гигиенических характеристик минеральных удобрений и мелиорантов (М ЛРК ИХ 2.6.1.-06-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  нет

Методика определения радиационно-гигиенических характеристик строительных материалов (М ЛРК ИХ 2.6.1.-02-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  для России

Методика радиологического обследования жилых и общественных зданий (М ЛРК ИХ 2.6.1.-07-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  для России

Методика измерения гамма-фона в городах и населенных пунктах, на территориях застройки (пешеходным методом; М ЛРК ИХ 2.6.1.-04-2006-08).
Дата аттестации:  14.01.2008
Методика уникальна:  нет

Методика проведения исследований методом растровой микроскопии.
Методика уникальна:  нет

Определение удельной поверхности различных материалов.
Методика уникальна:  нет

Определение фазового состава неорганических соединений, изучение структур новых композиционных соединений. ТО на ДРОН-2, ДРОН-УМ1, ДРОН-УМ2, ДРФ-2.
Методика уникальна:  нет

Методика измерения мощности экспозиционной дозы.
Методика уникальна:  нет

Методика измерения суммарной альфа-бета-активности исследуемых проб, определение содержания природных радионуклидов в геологических образцах.
Дата аттестации:  13.09.2001
Методика уникальна:  для России

Методика измерения суммарной альфа-бета-активности исследуемых проб.
Методика уникальна:  нет

Методика определения радона с использованием программного обеспечения ПРОГРЕСС
Методика уникальна:  для России

Методика измерения активности бета-излучающих радионуклидов в счетных образцах с использованием программного обеспечения ПРОГРЕСС
Методика уникальна:  для России

Методика измерения активности альфа-излучающих радионуклидов в счетных образцах с использованием программного обеспечения ПРОГРЕСС.
Методика уникальна:  нет

Методика измерения активности бета-альфа-излучающих радионуклидов в счетных образцах
Методика уникальна:  нет

Методика измерения активности радионуклидов в счетных образцах на сцинтилляционном гамма-спектрометре с использованием программного обеспечения ПРОГРЕСС.
Методика уникальна:  для России

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран