ГлавнаяЦентры коллективного пользованияОборудование ЦКПРастровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)

Каталог оборудования центров коллективного пользования


Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)


Владелец данного оборудования
Назначение прибора

Получение электронно-микроскопического изображения аморфных и кристаллических материалов. Подготовка образцов с помощью сфокусированного ионного пучка.

Информация об оборудовании

  • Марка: Quanta 200 3D FIB
  • Фирма-изготовитель: FEI
  • Год выпуска: 2008
  • Количество единиц: 1


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий