Каталог оборудования центров коллективного пользования


Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SuperX детектором


Владелец данного оборудования
Назначение прибора

Cовременный просвечивающий электронный микроскоп с электронной пушкой XFEG, имеющий высокое разрешение до 0,12 нм в светлопольном режиме и до 0,18 нм в STEM-режиме, с новейшим сверхбыстрым и эффективным (в режиме реального времени) EDX-анализатором (Super-X SDD), с возможностью построением карт распределения элементов в образце с разрешением менее 1 нм.

Информация об оборудовании

  • Марка: Osiris
  • Фирма-изготовитель: FEI Company
  • Год выпуска: 2014
  • Количество единиц: 1
  • Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

Назад в раздел


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий