ГлавнаяЦентры коллективного пользованияОборудование ЦКПОборудование для оптических исследованийМикроскопы, микроанализаторы, видеокамерыЭлектронные микроскопыМикроскопы с приставкой для микротомографического анализаСканирующий двухлучевой электронный/ионный микроскоп Zeiss CrossBeam 340 с приставкой энергодисперсионного рентгеноспектрального анализа Oxford Instruments X-Max 8

Каталог оборудования центров коллективного пользования


Сканирующий двухлучевой электронный/ионный микроскоп Zeiss CrossBeam 340 с приставкой энергодисперсионного рентгеноспектрального анализа Oxford Instruments X-Max 80


Владелец данного оборудования
  • ЦКП: Ресурсный центр коллективного пользования
  • Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет»
  • Регион: Южный, Ростовская область
  • Адрес: 344000, г. Ростов-на-дону, пл. Гагарина, 1, к. 2
Назначение прибора

Исследование структуры и морфологии поверхности с высоким разрешением (1 нм), исследование количественного химического состава поверхности с помощью энергодисперсионного рентгеноспектрального микроанализатора (ЭДС, EDS), наномодификация и нанотомография поверхности с помощью фокусированного ионного пучка (FIB), работа в режиме низкого вакуума

Информация об оборудовании

  • Марка: CrossBeam 340
  • Фирма-изготовитель: Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
  • Год выпуска: 2016
  • Количество единиц: 1

Назад в раздел


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий