ГлавнаяЦентры коллективного пользованияОборудование ЦКПОборудование для оптических исследованийМикроскопы, микроанализаторы, видеокамерыЭлектронные микроскопыРастровые сканирующие микроскопыРастровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов

Каталог оборудования центров коллективного пользования


Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов

Владелец данного оборудования
Назначение прибора

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.

Информация об оборудовании

  • Марка: JSM 6460LV
  • Фирма-изготовитель: JEOL
  • Год выпуска: 2003
  • Количество единиц: 1

Назад в раздел


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий