ГлавнаяЦентры коллективного пользованияОборудование ЦКПОборудование для оптических исследованийМикроскопы, микроанализаторы, видеокамерыЭлектронные микроскопыРастровые сканирующие микроскопыМноголучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)

Каталог оборудования центров коллективного пользования


Многолучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)


Владелец данного оборудования
  • ЦКП: Байкальский центр нанотехнологий
  • Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Иркутский национальный исследовательский технический университет»
  • Регион: Сибирский, Иркутская область
  • Адрес: 664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83
Назначение прибора

Изучение физико-химических свойств вещества при помощи электронной сканирующей микроскопии с разрешением до 5 нм, ионного травления с низким уровнем повреждения вещества, системы энергодисперсионного анализа элементного состава вещества в области исследования, системы дифракционного анализа параметров кристаллической решетки вещества

Информация об оборудовании

  • Марка: JIB-4501
  • Фирма-изготовитель: JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
  • Год выпуска: 2010
  • Количество единиц: 1
  • Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения

Назад в раздел


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий