Вебинары РИЭПП17 мая запланировано проведение вебинара на тему «Нормативно-правовая база функционирования центров коллективного пользования научным оборудованием (ЦКП) и особенности работы с порталом ckp-rf.ru».

Записаться на вебинар и посмотреть программу других вебинаров.

ГлавнаяЦентры коллективного пользованияУслугиОбъектымикро- и нанорельефКоличественный и морфологический анализ линейных размеров микрорельефа поверхности образцов методом атомно-силовой микроскопии

Услуга центра коллективного пользования

Количественный и морфологический анализ линейных размеров микрорельефа поверхности образцов методом атомно-силовой микроскопии

Данную услугу выполняет
Описание услуги

1) Количественный и морфологический анализ линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур (Полуконтактный метод АСМ); 2) Получение карты распределения характеристик материала образца, отображая неочевидные контрасты свойств материалов (Методика отображения фазы); 3) Более точное воспроизведение топографии (рельефа) поверхности, с отысканием мелких неоднородностей на фоне крупных и относительно гладких особенностей рельефа (Полуконтактный метод рассогласования); 4) Изучение распределения поверхностного потенциала по образцу (контактной разности потенциалов между зондом и образцом, многопроходные методики-метод Зонда Кельвина) ; 5) Определение модуля упругости и нанотвердости поверхности образца (индентирование при помощи наносклерометрического модуля); 6) Определение нанотвердости и изучение прочностных и адгезионных свойств тонких пленок (склерометрия при помощи наносклерометрического модуля)

Приоритетные направления
Ваше имя*
Ваш E-mail*
Сообщение*
Защита от автоматических сообщений
CAPTCHA
Введите слово на картинке*

Заявка на оказание услуги




























Выбрать дату в календаре


CAPTCHA