ГлавнаяЦентры коллективного пользованияУслугиОбъектымикро- и нанорельефПолучение СЭМ изображений поверхности образца

Услуга центра коллективного пользования

Получение изображений морфологии поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии

Данную услугу выполняет
Описание услуги

Получение изображений морфологии поверхности образцов во вторичных электронах на увеличениях от 30 до 800 000 крат; Получение изображений морфологии поверхности образцов в отраженных электронах на увеличениях от 30 до 800 000 крат;

Приоритетные направления
Ваше имя*
Ваш E-mail*
Сообщение*
Защита от автоматических сообщений
CAPTCHA
Введите слово на картинке*

Заявка на оказание услуги




























Выбрать дату в календаре


CAPTCHA