Услуга центра коллективного пользования

Исследование морфологии поверхности и электрических свойств структур методом растровой электронной микроскопии

Данную услугу выполняет
Описание услуги

Методом растровой электронной микроскопии исследуется топография нанометровых объектов.

Приоритетные направления
Ваше имя*
Ваш E-mail*
Сообщение*
Защита от автоматических сообщений
CAPTCHA
Введите слово на картинке*

Заявка на оказание услуги




























Выбрать дату в календаре


CAPTCHA