ГлавнаяЦентры коллективного пользованияУслугиОбъектымикро- и нанорельефИсследование твердотельных образцов методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) высокого разрешения

Услуга центра коллективного пользования

Проведение структурных исследований микро- и наносистем методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) высокого разрешения, в том числе – на поперечных срезах

Данную услугу выполняет
Описание услуги

Услуга выполняется на базе просвечивающего электронного микроскопа с полевой эмиссией JEOL JEM-2100F-08 . Подробное описание оборудования комплекса, его технические характеристики и возможности на сайте ЦКП по адресу http://spm.unn.ru/equipment/15/.

Ваше имя*
Ваш E-mail*
Сообщение*
Защита от автоматических сообщений
CAPTCHA
Введите слово на картинке*

Заявка на оказание услуги




























Выбрать дату в календаре


CAPTCHA