Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:


Вернуться к списку УНУ

Станция EXAFS спектроскопии «Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового Излучения»

Сокращенное наименование УНУ: Cтанция EXAFS спектроскопии

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт катализа им.Г.К.Борескова СО РАН

Ведомственная принадлежность: ФАНО России

Классификационная группа УНУ: Электрофизические установки и ускорители

Год создания УНУ: 2001

Размер занимаемых УНУ площадей, кв. м: 160

Заказать услуги УНУ

Контактная информация:

Местонахождение УНУ:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, Проспект Академика Лаврентьева, д. 11

Руководитель работ на УНУ:

  • Бухтияров Валерий Иванович
  • +7 (383) 3306771
  • vib@catalysis.ru

Сведения о результативности за 2017 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 16Число публикаций, ед.: 16Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 75.41

Информация об УНУ:

УНУ «Cтанция EXAFS спектроскопии» предназначена для получения спектров рентгеновского поглощения (EXAFS и XANES) различных, как правило, рентгеноаморфных образцов, в жидкофазном и твердом состояниях. Технические характеристики станции: - исследуются все химические элементы начиная с Ti; - энергетический диапазон работы спектрометра 4-35 кэВ; - концентрации изучаемого элемента: 0,01-100 масс. %; - область измеряемых межатомных расстояний: 1.5-8 А (+-0,5-1%); - погрешность определения координационных чисел: +- 10%; - погрешность определения фактора Дебая: +- 40%.

Главные преимущества, обоснование уникальности установки, в том числе сопоставление УНУ с существующими аналогами, многофункциональность и междисциплинарность УНУ:

До 2006 года данная установка являлась единственной в России и обеспечивала все необходимые исследования в области EXAFS спектроскопии в жесткой области рентгеновского излучения. В настоящий момент аналогичные исследования проводятся в Курчатовском источнике синхротронного излучения (КИСИ, г. Москва), однако в существенно меньшем объеме. Технические характеристики УНУ, приведенные выше, соответствуют мировым аналогам, и, например, сравнимы с характеристиками аналогичной станции Европейского центра синхротронного излучения ESRF, Гренобль, Франция. Полученные с помощью УНУ данные позволяют определять электронное строение, а также структуру – параметры ближнего локального окружения (координационное число, межатомные расстояния) исследуемых ионов, в том числе и для образцов, для которых неприемлемы рентгенографические структурные методы. Преимущественно УНУ используется для исследования высокодисперсных объектов - наноматериалов и катализаторов. В зависимости от применяемой методики анализируются: объём, поверхность либо приповерхностные слои. Реализованы 4 методики записи спектров: «на пропускание», полного фототока, рентгеновской флюоресценции, рентгено-стимулированной оптической люминесценции. Разработаны уникальные методики подготовки образцов для съёмки реакционно-активных соединений и катализаторов в инертных условиях. Возможно исследование образцов при температурах от 77 до 900 К в условиях заданной атмосферы (in situ).

Наиболее значимые научные результаты исследований (краткое описание):

Установлено строение локального окружения циркония в катализаторах скелетной изомеризации алканов на основе нанесенных наночастиц сульфатированного циркония. Выполнено комплексное исследование (EXAFS спектроскопия – основной метод) наноразмерных частиц оксида циркония стабилизированных на поверхности носителя с регулируемыми размерами. Полученные результаты выявили способы регулирования размера частиц и степени покрытия ими поверхности носителя. Самые мелкие частицы (размером до 1 нм) образуются при первой обработке носителя растворами соединений циркония независимо от их концентрации. Найдено, что регулирование размера наночастиц возможно двумя способами. Изучено влияние электронного состояния низкоразмерных халькогенидов на их локальную структуру и каталитические свойства в реакции гидрообессеривания. Разработан подход для изучения реальной структуры поверхности наночастиц и строения поверхностных дефектов с помощью декорирования поверхности молекулами-зондами содержащими атом тяжелого элемента за окружением которого можно следить методом EXAFS спектроскопии. Развита методика флюоресцентной EXAFS-спектроскопии в применении к низкопроцентным системам на "тяжелых" матрицах. Выполнено структурное EXAFS исследование состояния и особенностей стабилизации Au и Pd в нанодисперсных гетерогенных катализаторах окисления сахаров. Рассмотрены варианты структурных моделей. Найдено, что в системе происходит образование нано-сплава PdAu, ответственного за высокую селективность. Показана перспективность данного подхода.

Направления научных исследований, проводимых на УНУ:

  • исследование наноструктурных и аморфных материалов методом спектроскопии поглощения рентгеновских лучей (EXAFS-спектроскопия);
  • исследования структуры, фазовых переходов, в катализе для изучения природы катализаторов, и в материаловедении для охарактеризования новых материалов, наноматериалов.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Фотографии:

Состав УНУ и вспомогательное оборудование: (номенклатура — 9 ед.)

EXAFS спектрометр
Фирма-изготовитель:  Институт катализа СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2001
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение:Регистрация рентгеновских спектров поглощения.Технические характеристики:Энергетический диапазон работы спектрометра 4-35 кэВ; угловой шаг гониометра 0.002 гр.; воспроизводимость 0.0002 гр.;  монохроматизация рентгеновского излучения - разрезной кристалл-монохроматор Si(111); регистрация первичного излучения - ионизационные камеры; погрешность измерений ионизационной камеры 0.01%; регистрация рентгеновской флуоресценции - ФЭУ со сцинтиллятором в токовом режиме; погрешность измерения флуоресценции - 0.1%; подавление высших порядков рентгеновского излучения - зеркало полного внешнего отражения в монохроматическом пучке.

Двухкристальный рентгеновский монохроматор
Фирма-изготовитель:  ИК СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение: Монохроматизация  рентгеновского излучения

Измеритель перемещения
Фирма-изготовитель:  ИК СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2005
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение: определение изменения положения рентгеновской оптики

Криостат азотный ABBESS CHC-6H
Фирма-изготовитель:  Abbess
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2000
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение:Исследование фазовых превращений при низких температурах;Повышение чувствительности метода в области межатомных расстояний 0.3 - 0.5 нм.Технические характеристики:Рабочая температура на образце - 77-425 К;точность выдерживания температуры образца ±0.1 К;время смены образца - 10 мин.

Линзы рентгеновские
Фирма-изготовитель:  ТОСС
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  3
Назначение, краткая характеристика: Назначение:Концентрирование  в пятно диаметром 40 мкм для изучения малых количеств исследуемого химического элемента - до 1мкг в образце диаметром 50 мкм.Технические характеристики:Диаметр пятна рентгеновского излучения в фокусе - 40 мкм;Рабочий диапазон  5-14кэВ;Достигаемое увеличение яркости  - 103 раз.

Наклонная/поворотная платформа
Фирма-изготовитель:  Phisik Instrumente
Страна происхождения:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение: установка требуемого положения образца для проведения  измерений.

Пропорциональные камеры ионизационные для EXAFS спектроскопии
Фирма-изготовитель:  Катакон
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  3
Назначение, краткая характеристика: Назначение: Измерение коэффициента поглощения рентгеновского излучения.

Система дистанционной диагностики высокотемпературных процессов
Фирма-изготовитель:  Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Страна происхождения:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение:Проведение исследований в контролируемом температурном режиме и в потоках заданных газов.Технические характеристики:Управление температурным режимом проведения каталитической реакции с точностью  ±1гр.;Управление газовыми потоками - расход до 0.2 л/мин;количество подаваемых газов - до трех.

Установка для напуска газов
Фирма-изготовитель:  Stanford Research System
Страна происхождения:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Назначение, краткая характеристика: Назначение: подготовка и анализ состава газовых смесей для обработки исследуемых образцов

Услуги УНУ: (номенклатура — 8 ед.)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):  Индустрия наносистем

Методики измерений, применяемые на УНУ: (номенклатура — 3 ед.)

Методика выполнения измерений на станции «EXAFS спектроскопия» в бункере СИ ВЭПП-З. АТТЕСТАТ № 197-2010/253.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии»
Дата аттестации:  17.08.2010

Методика измерений рентгеновских спектров поглощения (спектров EXAFS) методом полного внешнего отражения предназначенная для измерений на станции EXAFS спектроскопии «Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового Излучения». СВИДЕТЕЛЬСТВО об аттестации методики (метода) измерений № 253.0130/01.00258/2012.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии».
Дата аттестации:  14.06.2012

Методика измерений рентгеновских спектров поглощения (спектров EXAFS) методом регистрации рентгеновской флюоресценции в режиме счета квантов, предназначенная для измерений на станции EXAFS спектроскопии «Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового Излучения». СВИДЕТЕЛЬСТВО об аттестации методики (метода) измерений № 253.0129/01.00258/2012.
Наименование организации, аттестовавшей методику:  ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии».
Дата аттестации:  14.06.2012

Вернуться к списку УНУ

 

Для просмотра сайта поверните экран