Уникальные научные установки

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования параметров тонких пленок (МКФИП ТП)

УНУ создана в 2007 году

Данная УНУ была поддержана в рамках мероприятия 1.8 ФЦП «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы»
Адрес
  • Центральный
  • 390005, г. Рязань, ул. Гагарина, д. 59/1
Руководитель работ
  • 👤Гуров Виктор Сергеевич
  • 📞 (4912) 46-03-03
  • gurov.v.s@rsreu.ru
Сведения о результативности за 2016 год (данные мониторинга)
Участие в мониторинге Число организаций-пользователей, ед. Число публикаций, ед. Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %
нет000.00
Базовая организация

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Рязанский государственный радиотехнический университет»

Информация об уникальной научной установке (УНУ)

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования морфологических электрофизических, оптических, физико-механических свойств наноразмерных и наноструктурированных пленок и покрытий содержит необходимое оборудование, адаптированное для исследования наноразмерных пленок и слоев. С использованием многофункционального комплекса возможно выполнение исследований в различных областях: солнечная энергетика, энергосбережение, нанотехнологии, микросистемная техника и других.

Главные преимущества, обоснование уникальности установки, в том числе сопоставление УНУ с существующими аналогами

Многофункциональный комплекс для формирования и исследования морфологических электрофизических, оптических, физико-механических свойств наноразмерных и наноструктурированных пленок и покрытий содержит необходимое оборудование, адаптированное для исследования наноразмерных пленок и слоев с использованием следующих методов: - сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) с атомарным разрешением; - атомно- силовая микроскпия (АСМ); - электронно-зондовая микроскопия (ЭЗМ); - масс-спектрометрия, спектрофотометрия; - наноиндентирование и др. На базе УСУ «МКФИП ТП» возможно проведение полного объема исследований по разработке методики комплексной диагностики субмикронных и наноразмерных пленок и покрытий. Приборная база УСУ «МКФИП ТП» специально адаптирована для исследования различных типов пленок и покрытий. УСУ «МКФИП ТП» является уникальной научной установкой, объединяющей в единый комплекс основные методы формирования и исследования тонких (субмикронных и наноразмерных пленок).

Основные направления научных исследований, проводимых с использованием УНУ

  • физика неупорядоченных полупроводников;
  • наноструктурированные и наноразмерные просветляющие и проводящие слои фотоэлектрических (солнечных) элементов четвертого поколения;
  • наноразмерные эрозионностойкие покрытия для магнитоуправляемых контактов и MEMS-коммутаторов;
  • низкоэмиссионные покрытия энергосберегающих стекол.

390005, г. Рязань, ул. Гагарина, д. 59/1
📷

Перечень объектов в составе УНУ (43)

Наименование Изготовитель Страна Год выпуска Количество единиц
Макет установки для измерения ВАХ Россия 2008 1
Измерительная установка для исследования барьерных структур Россия 2008 1
Установка УВМ Россия 1
Установка вакуумного напыления УВМ-3 Россия 1990 1
Спектрометр 1
Спектрограф ИСП-30 Россия 2001 1
Отлад. ср-во DSP-DEVKIT-2S60 2006 1
Насос ТМН-500 Россия 2005 1
Нановольтметр Р341 СССР 1999 1
Мультиплексор 1
Монохромотограф УМ-2 Россия 1994 1
Модулятор МЛ-102А Россия 1983 2
Масс-спектрометр МСХ-6 Россия 1990 1
Масс-спектрометр М8730 Россия 1980 1
Люкс-яркометр ТКА-ПКМ Россия 2005 1
Лазер ЛГИ 4-703 Россия 1
Лазер ЛГ-70 Россия 1991 1
Компрессор COSMOS Fiac, Италия 1
Комплекс КБНС-4 СССР 1990 1
Измеритель ФК2-12 Россия 1990 1
Высоковакуумная установка АВП-05 Россия 1987 1
Водоохладитель ВДО-0,35 Россия 1
Вакууметр ВИ-14 Россия 1995 1
Вакуумный пост “Вершина” Россия 1990 1
Вакуумный насос НМД -0,25 Россия 1989 1
Анализатор СК4-59 Россия 1995 1
Анализатор СК4-58 Россия 1995 1
Учебнаянанолаборатория зондовой микроскопии "Nanoeducator" НТ-МДТ, Россия 2008 1
Лаборатория электрофизических исследований на базе цифровой измерительной техники 1990 1
Масс-спектрометр МХ-7303 НИТИ, СССР 1983 1
Масс-спектрометр МС-7201 НИТИ, СССР 1984 1
Масс-спектрометр МХ-7304 НИТИ, СССР 1983 1
Масс-спектрометр МХ-7304 НИТИ, СССР 1979 1
Оже-спектрометр 09ИОС-3 НИТИ, СССР 1991 1
Растровый электронный микроскоп 09ИОЭ-100-005ВКУ НИТИ, СССР 1989 1
Рентгеновский микроанализатор JXA-50a JEOL, Япония 1977 1
Растровый электронный микроскоп JSM – 50a JEOL, Япония 1983 1
Рабочая станция для СЗМ Solver-Pro на базе персонального компьютера Asus, Тайланд 2004 1
STM-головка с предусилителем для сканирующего зондового микроскопа Solver-Pro НТ-МДТ, Россия 2004 1
Универсальный автоматизированный измерительно-аналитический комплекс сканирующей зондовой микроскопии (зондоваянанолаборатория "Ntegra-Aura") НТ-МДТ, Россия 2005 1
Оптический научный микроскоп NU-2E Карл Цейс, Йена, ГДР 1980 1
Туннельный и атомно-силовой микроскоп «Solver-Pro» НТ-МДТ, Россия 2004 1
Атомно-силовой микроскоп «Смена – В» НТ-МДТ, Россия 2003 1

Услуги (6)

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию.
Наименование Приоритетное направление
Выполнение прикладных исследований направленных на повышение качества выпускаемой продукции
Индустрия наносистем
Выполнение научных исследований направленных на разработку новой продукции
Индустрия наносистем
Проведение исследований направленных на повышение качества выпускаемой продукции и диверсификации производства
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Выполнение научных исследований направленных на разработку новых типов продукции
- наиболее востребованная услуга
Информационно-телекоммуникационные системы
Выполнение научных исследований направленных на совершенствование эксплуатационных характеристик, выпускаемой продукции
- наиболее востребованная услуга
Индустрия наносистем
Выполнение научных исследований, направленных на увеличение выхода годных изделий
Индустрия наносистем

Методики (9)

Наименование методики Наименование организации, аттестовавшей методику Дата аттестации
Исследование наноструктурированных поверхностей электродов газонаполненных и вакуумных магнитоуправляемых контактов. ЗАО "НТ-МДТ"
Химический микроанализ покрытий электродов газонаполненных и вакуумных магнитоуправляемых контактов. ЗАО "НТ-МДТ"
Исследование морфологии поверхности и распределения поверхностного сопротивления алмазоподобных покрытий методами сканирующей зондовой микроскопии
Отработка режимов удалённого доступа к сканирующему туннельному микроскопу и его виртуальному симулятору ФГБОУ ВПО "РГРТУ" 06.10.2010
Измерение спектрального коэффициента отражения низкоэмиссионных нанопокрытий энергосберегающих стёкол методом спектрофотометрии. PerkinElmer, Inc 15.03.2004
Исследования поверхности катодов импульсных вакуумных приборов
Исследование стабильности электрических характеристик компонентов РЭА
7. Определение плотности поверхностного заряда и концентрации ионизированных поверхностных и объемных состояний в пленках неупорядоченных полупроводников методом атомно-силовой микроскопии. ЗАО "НТ-МДТ" 20.11.2009
Исследование микротекстуры поверхности контактов герконовых реле методами атомно-силовой и туннельной микроскопии

Возврат к списку


0 комментариев

Комментарии отсутствуют!

Вы можете оставить свое сообщение первым.

Написать комментарий