Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:

Вернуться к списку ЦКП

Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии»

Сокращенное наименование ЦКП: УЦКП СН УрФУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2007

Сайт ЦКП: http://nanocenter.urfu.ru/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Уральский
  • Регион: Свердловская область
  • 620000, г. Екатеринбург, ул. Куйбышева, д. 48

Руководитель ЦКП:

  • Шур Владимир Яковлевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (343) 3899568
  • vladimir.shur@urfu.ru

Контактное лицо:

  • Шур Владимир Яковлевич, доктор физико-математических наук, профессор
  • +7 (343) 3899568
  • vladimir.shur@urfu.ru

Сведения о результативности за 2021 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 52Число публикаций, ед.: 184Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 40.05

Краткое описание ЦКП:

12 декабря 2007 года в Екатеринбурге был открыт Уральский Центр Коллективного Пользования «Современные нанотехнологии» Уральского федерального университета (УЦКП СН УрФУ).

За последние десять лет УЦКП СН УрФУ стал точкой притяжения для исследователей в области нанотехнологий, региональным консультативным центром. Деятельность центра собрала воедино три направления – образование, науку и инновационный процесс.

Основными задачами центра, объединяющего физиков, химиков и биологов, являются и решение широкого круга исследовательских задач для преподавателей и ученых УрФУ, вузов города и региона, институтов Уральского отделения РАН, а также, на договорной основе, предприятий Свердловской области, имеющих наукоемкое производство подготовка специалистов в области нанотехнологий. Особое место занимает обеспечение образовательного процесса по направлению бакалавриата и магистратуры «Нанотехнология».

В настоящее время УЦКП СН УрФУ является одним из наиболее хорошо оснащенных российских ЦКП в области нанотехнологий. В нем сосредоточены новейшие образцы аналитического и технологического оборудования, предназначенного для исследований и производства наноматериалов.

Оборудование УЦКП СН УрФУ позволяет проводить комплексные исследования разнообразных нанообъектов в вакууме и жидкости, в широком диапазоне температур, в том числе при 0,1К без применения жидких хладоагентов. Уникален набор сканирующих зондовых микроскопов: NTEGRA-Aura - с возможностью измерений в вакууме, NTEGRA-Therma - с возможностью измерений при повышенных температурах, NTEGRA-Spectra - с возможностями сканирующей оптической, ближнепольной и лазерной конфокальной микроскопии, и спектроскопии комбинационного рассеяния, Solver HV-MFM – для измерений в высоком вакууме и контролируемой атмосфере. Имеется сканирующий электронный микроскоп Auriga CrossBeam, Carl Zeiss со сфокусированным ионным пучком и системами рентгеновского микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, компенсации заряда и электронно-лучевой литографии. Оптический и механический профилометры обеспечивают измерение рельефа поверхности с субнанометровым разрешением. Анализаторы производства компаний Shimadzu, Brookhaven и Malvern позволяют измерять размеры нано- и субмикронных частиц. Имеется СКВИД-магнитометр MPMS XL7, Quantum Design с рекордной чувствительностью. В «чистой комнате» размещен комплект современного оборудования для фотолитографии. Имеется установка плазменного травления. Механическая обработка поверхности кристаллов обеспечивает шероховатость менее нанометра. Для изготовления наноструктурированных кристаллов и синтеза наночастиц используются технологические лазеры.

УЦКП СН УрФУ играет важную роль в развитии и популяризации наноиндустрии в Свердловской области. Центр регулярно посещают гости города, официальные лица, представители промышленности и науки, студенты и школьники. Общее количество посетителей за последние полтора года превысило тысячу человек.

Для развития наноиндустрии необходимо не только современное научное и технологическое оборудование, но и консультации ученых. Именно поэтому УЦКП СН рассматривается промышленными предприятиями Уральского региона не только как место проведения исследований с использованием самого современного оборудования, обслуживаемого высококлассными специалистами, но и как консультационный и координационный центр в области нанотехнологий. В свою очередь помощь предприятий востребована для инновационной деятельности ученых. Взаимодействие УЦКП СН с промышленными предприятиями включает: 1) проведение комплексных исследований на уникальном аналитическом оборудовании, 2) оказание услуг на технологическом оборудовании, 3) консультации по использованию и приобретению оборудования, 4) повышение квалификации и переподготовку специалистов в области нанотехнологий.

Подписаны соглашения о сотрудничестве с такими крупными промышленными предприятиями, как ОАО «ПО «Уральский оптико-механический завод», Екатеринбург; ФГУП НПО автоматики, Екатеринбург; ЗАО «Нанотехнология МДТ», Зеленоград; и ОАО «Пермская научно-производственная приборостроительная компания», Пермь. На примере ОАО НПК «Уралвагонзавод» реализуется пилотный проект по взаимодействию передовой промышленности и современной науки. Подписан договор о сотрудничестве, предусматривающий финансирование НИР и НИОКР, и повышение квалификации специалистов Предприятия в области нанотехнологий. Выполняется НИР «Исследование различных видов обработки конструкционных сталей для машиностроения методами сканирующей зондовой микроскопии». Использование уникальных методик, реализованных на оборудовании УЦКП СН, позволило получить качественно новую информацию о характеристиках наноструктурированных поверхностных слоев.

Образовательная деятельность УЦКП СН ведется с использованием оборудования коллективного пользования силами сотрудников УрФУ и привлечением ведущих российских и иностранных специалистов. Проводится переподготовка и повышение квалификации представителей образовательных учреждений и промышленных предприятий, а также других категорий заинтересованных слушателей.

Повышение квалификации сотрудников промышленных предприятий включает краткосрочное обучение руководящего состава и специалистов по 24 и 72-часовым программам. Содержание курсов изменяется в соответствии с интересами конкретного предприятия. Проводятся практические занятия на образцах заказчика. Используется дистанционное обучение с использованием «телемостов». Большой популярностью пользуются практические занятия на базе учебного класса СЗМ Наноэдьюкатор.

19 ноября 2009 года УЦКП СН в составе Испытательного центра веществ, материалов и продукции наноиндустрии ФГУП «Уральский научно-исследовательский институт метрологии» был аккредитован Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии на техническую компетентность и независимость и получил аттестат аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.22НН02.

В 2014 г. Уральский Центр Коллективного Пользования "Современные нанотехнологии" успешно прошел аккредитацию и 23.12.2014 получил аттестат об аккредитации испытательной лаборатории (центра) № РОСС RU.0001.21УН01. Область аккредитации - нанопокрытия на основе черных металлов, нанопокрытия на основе цветных металлов,твердые тела, нанопорошки, жидкие и твердые (замороженные растворы и взвеси, стекла, порошки, поликристаллы, керамика) диэлектрики с малыми потерями на частотах 9-10 ГГц

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Формирование прецизионных периодических микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках для нелинейной оптики и функциональной электроники;
  • Эволюция микро- и нано-доменных структур в сегнетоэлектриках и релаксорах;
  • Использование лазерных технологий для создания устройств функциональной электроники;
  • Поиск, синтез и исследование свойств новых материалов;
  • Физико-химические основы создания новых полифункциональных кристаллических, гибридных и композитных материалов;
  • Морфология, свойства и доменная структура магнитных наносистем;
  • Разработка методик химического количественного определения элементов в магнитных сплавах;
  • Доменная структура и гистерезисные свойства тонких магнитных слоев;
  • Явления переноса и фазовых превращений в пористых, капиллярных и гетерогенных системах, газах и на межфазных границах;
  • Квантовые явления в низкоразмерных системах;
  • Фотоэмиссионные и люминесцентные свойства наноструктур и тонких пленок;
  • Магниторезонансные и спектроскопические исследования энергетического спектра, структуры и динамики дефектов в кристаллах;
  • Разработка технологий нанесения покрытий и электродов;
  • Реология полярных и высококонцентрированных суспензий;
  • Новые материалы для спиновой электроники;
  • Термодинамика, фазовые превращения и структура жидких кристаллов в механическом и магнитном полях;
  • Исследование полупроводниковых гетероструктур;
  • Исследование свойств высокомолекулярных соединений;
  • Тепломассоперенос и фазовые превращения в мелкопористых капиллярных системах;
  • Термодинамика структура и свойства многокомпонентных полимерных систем;
  • Синтез гибридных функционализированных органо-неорганических сорбционных материалов;
  • Нанотоксикология.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 20 ед., нет данных о загрузке за 2022 год):

Комплекс оборудования для анализа состава поверхности: 1)Спектрометр рентгенофлуоресцентный Nanohunter на полном внутреннем отражении; 2) Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный многофункциональный; 3)Лазерно-искровой эмиссионной спектрометр
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Nanohunter; 2) K-ALPHA; 3) LEA – S500
Фирма-изготовитель:  1) Rigaku Corp.; 2) Thermo Fisher Scientific(Великобритания); 3) SOL instruments (Белоруссия)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для измерения параметров лазерного излучения: 1)Импульсный твердотельный лазер с гармониками Brilliant; 2)Лазерная система для обработки материалов
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Brilliant; 2) VL-300/40
Фирма-изготовитель:  1) Quantel; 2) ООО «Центр лазерных технологий»
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Франция
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для измерения физических свойств материалов: 1) ; Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов AG-50kNXD; 2) Измерительная система DMS-1000 (Dryogenic)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) AG-50kNXD; 2) DMS-1000
Фирма-изготовитель:  1) Shimadzu (Япония); 2) Dryogenic
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для исследования сегнетоэлектрических материалов:1)Многофункциональная система AixACCT TF 2)Микроскоп исслед.универсальный с системой высокоскор.видео съемки,3)Интерферометрический изм.комплекс;4)Термостолики для опт. микроскопии
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) AixACCT TF Analyzer 2000; 2) BX61; FC-13 3) Thorlabs; 4) TS1500EV-7/6 ; THMS600
Фирма-изготовитель:  1)AixACCT Systems GmbH (Германия); 2) Olympus (Япония); FastVision (США) 3) Thorlabs (США); 4) Linkam Scientific (Великобритания)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для магнитных измерений: 1) Измеритель свойств пост. магнитов; 2) Магнитооптич. Керр-микроскоп; 3) Установка автоматизир. для измерения магнитокалорического эффекта, 4) Спектрометр ЭПР и двойного электронно-ядерного резонанса
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Permagraf-L; 2) Evico; 3) MagEq MMS; 4) EMX Plus
Фирма-изготовитель:  1) Magnet Physik GmbH; 2)Evico magnetics; 3) ООО ПМТиК (Россия); 4) Bruker BioSpin Corp
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс оборудования для магнитометрии: 1)СКВИД-магнитометр MPMS XL7 (Quantum Design); 2) Вибрационный магнитометр 7407 VSM
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) MPMS XL7; 2) 7407 VSM
Фирма-изготовитель:  1) Quantum Design; 2) Lake Shore Cryotronics
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для нанесения тонких пленок: 1)Установка вакуумного напыления Auto 500 (BOC Edwards); 2) Установка вакуумного напыления Auto 500; 3)Установка магнетронного распыления;4) Вакуумное технологическое оборудование ELATO-350
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Plasmalab 80 plus RIE; 2)Auto 500; 3) Orion-8; 4) ELATO-350
Фирма-изготовитель:  1) Oxford Instruments; 2) BOC Edwards; 3) AJA International; 4) ООО "ИЗОВАК"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для определения состава материалов: 1)Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой; 2)Спектрометр атомно-абсорбционный; 3) Жидкостный хроматограф; 4) Газовый хроматограф
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) iCAP 6500 Duo; 2)Solaar M6; 3) LC-20; 4) Thermo Focus GC
Фирма-изготовитель:  1) Thermo Scientific; 2) Thermo Scientific; 3) Shimadzu(Япония) 4) Thermo Scientific;
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для прецизионной механической обработки кристаллических пластин в составе: 1)Станок для прецизионной шлифовки и полировки PM5; 2)Алмазная дисковая и проволочная пила; 3) Автоматическая установка резки DAAD 3220
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) PM5; 2) Model 15; 3) DAAD 3220
Фирма-изготовитель:  1) Logitech; 2) Logitech; 3) DISCO;
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для рентгеновской дифрактометрии: 1)Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD; 2)Дифрактометр порошковый рентгеновский EQUINOX
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) XRD 7000S; 2) EQUINOX 3000
Фирма-изготовитель:  1) Shimadzu (Шимадзу); 2) INEL SAS (Франция)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для синтеза коллоидных растворов наночастиц металлов: 1) Система прецизионной лазерной маркировки МиниМаркер 2; 2)Лазерная система для обработки материалов Fmark-20; 3)Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano; 4)Камера инфракрасная
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  МиниМаркер 2 - М20; Fmark-20 RL; Zetasizer Nano; NEC H2640
Фирма-изготовитель:  ООО "Лазерный центр"; ООО «Центр лазерных технологий»; Malvern Instruments Ltd; ООО Диагностика
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для термического анализа: 1)Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра; 2) Термогравиметрический анализатор; 3) Дилатометр; 4) Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) STA 409 Luxx/QMS 403 C; 2) PYRIS 1 TGA; 3) DIL 402 C; 4) TriStar 3000
Фирма-изготовитель:  1) Netzsch (Geratebau GnbH); 2) Perkin Elmer(США); 3) Netzsch-Gerätebau GmbH; 4) Micromeritics Instrument Co
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования для термообработки материалов:1)Высокотемпературная печь; 2) Печь камерная; 3) Компактная трубчатая печь; 4) Муфельная электропечь
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) LHT 01/17 D/P480; 2) LHT 08/18; 3)R 50/250/13/C450; 4) ТК.8-1150 М.1Ф
Фирма-изготовитель:  1) Nabertherm GmbH; 2)Nabertherm GmbH; 3)Nabertherm GmbH; 4)ООО "НПО "Термокерамика"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс оборудования для фотолитографии: 1. Чистое производ. помещение кл. ГОСТ ИСО 5, 2. Установка жидк. очистки пластин, 3. Центрифуга, 4. Установка совмещения фотошаблона и пластины; 5.С-ма контроля качества фотолитографии; 6) С-ма очистки воды
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1. Викинг-С, 2. OPTIwet ST30, 3. SM180-HP250HDMS, 4. SUSS MJB4, 5. Olympus BX-51, 6) Elix 10
Фирма-изготовитель:  1. СК "РОСТ"(Россия), 2. SSE GmbH (Sister Semiconductor Equipment GmbH)(Германияя), 3. Sawatec (Лихтенщтейн), 4. SUSS MicroTec(Германия), 5. Olympus Corporation (Япония), 6) Milipore (Франция)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для хромато-масс спектрометрии: 1)Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp); 2)Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Xevo QTof UPLC; 2) STA 409 Luxx/QMS 403 C
Фирма-изготовитель:  1) Waters Corp; 2) Netzsch (Geratebau GnbH)(Германия)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования конфокальной микроскопии: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-SPECTRA ; 2)Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния Alpha 300 AR
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Ntegra-SPECTRA; 2) Alpha 300 AR
Фирма-изготовитель:  1) ЗАО «НТ-МДТ»; 2) Witec (Германия)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования оптичекой микроскопии: 1) Микроскоп оптический BX51 Olympus с системой фоторегистрации; 2) Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco Instruments Inc); 3) Система бесконтактных измерений Kestrel-200 / Peregrine (Vision Engineering)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) BX51; 2) Wyko NT 1100; 3) Kestrel-200/Peregrine
Фирма-изготовитель:  1) Olympus; 2) Veeco Instruments Inc; 3) Vision Engineering
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования сканирующей зондовой микроскопии: 1) Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-AURA; 2) Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-THERMA; 3) Микроскоп сканирующий зондовый MFP-3D Classic; 4) Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер НаноС
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Ntegra-AURA; 2) Ntegra-THERMA; 3) MFP-2D Classic; 4) НаноСкан-4Д
Фирма-изготовитель:  1) ЗАО «НТ-МДТ»; 2) ЗАО «НТ-МДТ»; 3) Asylum Research; 4) ФГБНУ ТИСНУМ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оборудования электронной микроскопии: 1) Электронно-ионный микроскоп AURIGA с cистемой пробоподготовки; 2) Микроскоп электронный автоэмиссионный сканирующий Мerlin; 3)Сканирующий электронный микроскоп EVO ; 4)Сканирующий электронный микроскоп
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Work Station AURIGA CrossBeam; 2) Merlin; 3) EVO LS 10; 4) VEGA 3SBH
Фирма-изготовитель:  1) Carl Zeiss NTS; 2) Carl Zeiss NTS; 3) Carl Zeiss NTS; 4) TESCAN(Чехия)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2020
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплекс оптической спектрометрии: 1) ИК-спектрометр Фурье Nicolet 6700 ; 2) Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама ; 3)Двухлучевой прецизионный спектрофотометр Agilent Cary 5000
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1) Nicolet 6700; 2) Флюорат-02-Панорама; 3) Agilent Cary 5000
Фирма-изготовитель:  1)Thermo Scientific; 2) Группа компаний Люмэкс; 3) Agilent Technologies group
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия; Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП (номенклатура — 44 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 97 ед.):

«Методика определения прочности на изгиб стандартного образца при испытании на изгиб 3-х и 4-х точечным методом» МВИ
Методика уникальна:  нет

«Изучение закономерностей модифицирования оксидных поверхностей методом ИК - Фурье спектроскопии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений вязкости и напряжения сдвига в широком интервале скоростей сдвига методом ротационной вискозиметрии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей» МВИ

«Методика выполнения измерений массовой доли адсорбатов (H2O, CO, CO2, O2) в керамических наноструктурных материалах и оксидных нанопорошках методом газовой масс-спектрометрии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом » МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений массовых долей примесей железа и меди в наноматериалах атомно-эмиссионным анализом с индуктивно-связанной плазмой» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений параметров функции распределения по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений пьезоэлектрических, пироэлектрических и сегнетоэлектрических свойств системой Aixacct TF Anyaliser 2000» МВИ

«Методика выполнения измерений размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений размеров частиц порошкообразных веществ методом оптической микроскопии» МВИ

«Методика выполнения измерений температурной зависимости теплоемкости наноструктурных материалов релаксационным методом» МВИ

«Методика выполнения измерений термодинамических параметров взаимодействия в полимерсодержащих системах методом статической сорбции» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  10.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений удельной площади поверхности, удельного объема и среднего размера нанопор пористых материалов методом газовой адсорбции» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  07.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов методами рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа» МВИ

«Методика выполнения измерений электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом» МВИ

«Методика идентификации неорганических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ

«Методика идентификации органических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии» МВИ

«Методика измерений g-фактора парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  18.12.2015
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений величины шероховатости поверхности методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений геометрических параметров периодических структур сегнетоэлектрических доменов методами сканирующей зондовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.07.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений дзета-потенциала коллоидных растворов анализатором частиц Zetasizer Nano ZS»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.04.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений количества парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  18.12.2015
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений линейных размеров и массовой доли элементов методом растровой электронной микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  11.05.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений линейных размеров трехмерных объектов на плоскости XY системой бесконтактных измерений Kestrel»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  23.03.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитного момента наноструктурных материалов на установке магнитоизмеительной MPMS-XL-7 EC магнитометрическим методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитных потерь магнитомягких наноматериалов замкнутой формы на установке контроля магнитных потерь УКМП 0,05-100 индукционным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений магнитных характеристик магнитотвердых материалов в замкнутой магнитной цепи индукционно-непрерывным методом»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  24.12.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений массовой доли ионов меди (II) в витаминно-минеральных комплексах методом капиллярного зонного электрофореза»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.02.2012
Методика уникальна:  нет

«Методика выполнения измерений массовых долей примесей свинца, сурьмы в медьсодержащих наноматериалах атомно-абсорбционным анализом с электротермической атомизацией» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  09.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  01.08.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений температуры стеклования, плавления, коэффициента термического расширения полимерных материалов методом термомеханического анализа» МВИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений толщины нанопокрытий методом атомно-силовой микроскопии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  22.09.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  01.08.2013
Методика уникальна:  нет

«Методика измерений усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов и изделий на их основе методом дилатометрии»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  15.04.2010
Методика уникальна:  нет

«Методика измерения внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки в наноразмерных объектах и наноматериалах методом рентгеновской дифракции» МВИ

«Методика измерения геометрических параметров рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллических пластин» МВИ

«Методика измерения параметров лазерных пучков» МВИ

«Методика измерения спектрального состава излучения материалов методом спектрофотометрии» МВИ

«Методика измерения спектров комбинационного рассеяния наноматериалов в режиме сканирующей лазерной конфокальной микроскопии» МВИ

«Методика изучения влияния лазерного излучения на физические и биологические объекты»

«Методика изучения электрофоретической подвижности методом капиллярного зонного электрофореза» МВИ

«Методика импедансной спектроскопии для комплексного исследования проводимости материалов, электролит-электродных наноструктур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот и значений проводимости, широком диапазоне температур и типов атмосфер» МВИ

«Методика механо-химической полировки поверхности монокристаллических материалов с шероховатостью в субнанометровом диапазоне»

«Методика определения валентных состояний примесей металлов с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ

«Методика определения величины гигантского магнитосопротивления с использованием СКВИД-магнетометра» МВИ

«Методика определения кажущейся плотности наноматериалов посредством гидростатического взвешивания» МВИ

«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-абсорбционной спектроскопии» МВИ

«Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой» МВИ

«Методика определения насыпной плотности сыпучих наноматериалов посредством взвешивания стандартного объема» МВИ

«Методика определения прочности на разрыв и пластичности наноматериалов при испытании на разрыв стандартного образца» МВИ

«Методика определения состава газовых смесей методом газовой хроматографии» МВИ

«Методика определения состава газовых смесей методом масс-спектрометрии» МВИ

«Методика определения удельной поверхности и пористости сложнооксидных материалов с помощью анализатора поверхности» МВИ

«Методика определения фазового состава материалов методом растровой электронной микроскопии» МВИ

«Методика определения элементного состава материалов методом энергодисперсионного электронного микроанализа» МВИ

«Методика получения изображений методом оптической микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений пространственного распределения намагниченности материалов с помощью магнито-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в бесконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в контактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методика получения изображений рельефа поверхности проводящих материалов с нанометровым пространственным разрешением методом сканирующей туннельной микроскопии» МВИ

«Методика получения пленок методом ионно-плазменного напыления»

«Методика получения тонких пленок диэлектриков методом электронно-лучевого испарения»

«Методика получения тонких пленок металлов магнетронным распылением»

«Методика получения тонких пленок металлов методом электронно-лучевого испарения»

«Методика прецизионной очистки монокристаллических пластин для нанесения слоя фоторезиста, металлических или диэлектрических тонких пленок»

«Методика проведения элементного анализа методом рентгеновской флуоресценции на полном отражении» МВИ

«Методика формирования металлических масок для фотолитографии с помощью лазерного излучения»

«Методика формирования прецизионного рисунка в диэлектрическом покрытии на поверхности монокристаллических пластин»

«Методика формирования прецизионного рисунка металлических электродов на поверхности монокристаллических пластин»

«Методика формирования прецизионного рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллической пластины»

«Методики измерения микротвердости и модуля упругости материалов методом нано-индентирования» МВИ

«Методики получения изображений поверхности гетерофазных систем в режиме фазового контраста атомно-силовой микроскопии» МВИ

«Методики получения изображений пространственного распределения электрического поля, электростатического потенциала концентрации и типа носителей заряда с нано-метровым разрешением с помощью сканирующей зондовой микроскопии» МВИ

«Определение содержания меди, железа, висмута, цинка методом атомной спектроскопии с индуктивносвязанной плазмой в наноматериалах на основе цветных металлов с помощью спектрометра iCAP 6500
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  13.12.2010
Методика уникальна:  нет

Атомно-абсорбционное определение меди в электролитах с помощью спектрометра SOLAAR M6 фирмы Thermo Fisher Electron
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  09.12.2010
Методика уникальна:  нет

Методика измерений величины шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra SPECTRA
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  21.12.2015
Методика уникальна:  нет

Методика измерений массовой доли серебра в припоях оловянных и оловянно-свинцовых
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  12.11.2013
Методика уникальна:  нет

Методика измерений массовой доли элементов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10

Методика измерений массовой концентрации палладия в водных растворах сорбционно-атомно-абсорбционным методом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  26.06.2016
Методика уникальна:  нет

Методика измерений размеров наночастиц с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУП «УНИИМ»
Дата аттестации:  27.11.2014
Методика уникальна:  нет

Методика измерений твердости и модуля упругости с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д

Методика масс-спектрометрического определения молекулярной массы соединений с помощью гибридного квадрупольного хромато-масс-спектрометра Xevo QTof UPLC
Методика уникальна:  нет

Методика измерения пьезоэлектрических свойств методами сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика
Методика уникальна:  нет

Методика травления поверхности сфокусированным ионным пучком
Методика уникальна:  нет

Методика исследования поверхности методом микроскопии модуляции силы
Методика уникальна:  нет

Методика исследование кристаллической структуры поверхности методом дифракции отраженных электронов
Методика уникальна:  нет

Методика измерения морфологии методом просвечивающей электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Методика определения химического состава методом рентгеновской фотоэлектронной спектрометрии
Методика уникальна:  нет

Методика измерения морфологии методом сканирующей электронной микроскопии
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран