Центр коллективного пользования «Высокоразрешающая спектроскопия газов и конденсированных сред»
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП «Спектроскопия и оптика»
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2002
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2020 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
| Значительная часть исследований, выполняемых в ЦКП, связана с изучением свойств новых (в том числе наноструктурированных) материалов, фотонных кристаллов, сенсоров и систем диагностики (в т.ч. на основе волоконной оптики). Исследования в этих областях открывают новые возможности для создания суперпризм, волноводов, оптических фильтров, микрорезонаторов, метаматериалов и т.д. Появляются новые перспективы в управлении оптическим излучением и его свойствами, в создании принципиально новых схем волоконных лазеров. Прикладные исследования, проводимые в ЦКП, связаны с развитием технологий элементов волоконной и дифракционной оптики. Эти исследования базируются на широком спектре технологического и метрологического оборудования. Все работы в ЦКП выполняются под научным руководством специалистов мирового уровня. Регулярно проводятся совместные семинары с участием сотрудников институтов СО РАН. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 35 ед., нет данных о загрузке за 2021 год):
|
Высокоразрешающий тепловизор (Fluke)
Генератор фемтосекундного излучения накачки TERA ATsG
Диодная лазерная система в комплекте TEC 520-1950-020
Измеритель длин волн лазерного излучения
Лабораторный микроскоп проходящего света
Лазерный интерферометр ФИЗО ЗАО «ДИФРАКЦИЯ» ФТИ-100PS-GbE-R
Оборудование для цифрового анализа лазерного излучения и сигналов
Одномодовый волоконный лазер 500 Вт с волокном 25 мкм (в комплекте с коллиматором и чиллером)
Оптическая система контроля Колибри-2
Прецизионный круговой позиционер
Прибор для измерения показателя преломления, толщины слоев оптических структур (призменная измерительная система)
Прибор для определения профиля поверхности на микро- и нано- масштабах (АСМ) с системой плазменной подготовки поверхности образцов
Резервное оборудование ЦКП (спектрометрическое)
Резервное оборудование ЦКП (технологическое)
Резервное оборудование ЦКП для прецизионного прототипирования
Резервное оборудование ЦКП для анализа топологии и состава поверхности
Рефлектометр высокого разрешения
Система для сварки и обработки оптического волокна
Система мультиспектральной синхронной генерации фемтосекундных лазерных импульсов
Система нестационарной терагерцовой спектроскопии на основе титан-сапфирового лазера с многопроходным усилителем
Система прецизионной 3D печати
Система синхронной регистрации электромагнитного излучения в различных диапазонах
Спектрометр TFP-1 (JRS Scientific Instruments) в комплекте с источником излучения EXLSR-532-200-CD
Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
Спектрофлюориметр Cary Eclipse (Agilent Technologies)
Стенд для лазерной литографии Х-Y ЛНЛ
Терагерцовая лазерная спектроскопическая платформа TERASCAN1550
Тройной Рамановский спектрометр
Усилитель пикосекундных импульсов
Установка для прецизионного магнетронного осаждения металлов АТС-2200Н
Установка лазерной безмасковой фотолитографии DWL 66+HiRes
Установка осаждения покрытий VSE-PVD-100-2
Установка плазмохимического реактивно-ионного травления с источником высокоплотной плазмы
Фемтосекундный лазер PHAROS РН1-20
Чистый бокс класса 5 ISO |
Услуги ЦКП (номенклатура — 22 ед.):
|
Краткое описание услуги: Изготовление волоконных: - Ответвителей 2х2 с заданным коэффициентом деления 0-99%. - Направленных спектральных ответвителей 2х2. Спектральный интервал: 600-2500 нм. Краткое описание услуги: Изготовление дифракционных оптических элементов для задач оптического контроля методов сканирующей лазерной записи и реактивного ионного травления. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Прямая лазерная запись на пленках фоторезиста или металлов микроструктурированных оптических элементов, характеризация оптических свойств изготовленных элементов. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Измерение КРС при возбуждении ИК-лазером с помощью комплекса спектрометра ИК-Фурье Vertex 80 V и блока RAMII. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Измерение методами интерферометрии формы оптических компонентов с поверхностями плоской, сферической и асферической формы. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Измерение оптического спектра волоконных источников в диапазонах: - 200-1100 нм методом дифракционной решетки. - 600-1700 нм методом дифракционной решетки. - 1000-2600 нм методом Фурье-спектроскопии. Краткое описание услуги: Измерение энергии и мощности светового пучка Измерение пространственных характеристик светового пучка (критерий М2). Краткое описание услуги: Измерение спектров пропускания конденсированных сред в среднем ИК диапазоне на спектрометре ИК-Фурье Vertex 80 V Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: По спектру светового сигнала отраженного от брегговских решеток производится измерение температуры или механических деформаций вдоль оптического волокна с высоким пространственным разрешением Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Измерение толщины и показателя преломления тонких пленок Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Измерение формы микро-нано-рельефа поверхности на атомно-силовом микроскопе PARK XE-15 Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Анализ характеристик световых импульсов с длительностью в десятки фемтосекунд. Краткое описание услуги: Анализ характеристик электрических импульсов (ширина полосы до 2 ГГц). Краткое описание услуги: Спектроскопия низкочастотного комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая определять форму и интенсивность бозонного пика, вклад быстрой релаксации, характеристики низкочастотных оптических фононов в кристаллических средах. Спектральный диапазон 2 -500 см-1, разрешение – порядка 1 см-1. Краткое описание услуги: Люминесцентная спектроскопия. Содержание хим. элементов на уровне 100 ppb Краткое описание услуги: Магнетронное напыление металлических (Cr, Cu, Al) пленок на подложки до 300 мм в диаметре. Краткое описание услуги: Напыление тонкопленочных покрытий на подложки до 30 мм диаметром. Металлические пленки: Cu, Al, Ti, Ni, Cr, Nb. Полупроводниковые пленки: Si. Диэлектрические покрытия: TiO2, SiO2, Al2O3. Краткое описание услуги: Спектроскопия комбинационного рассеяния света для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, биологические клетки, растворы), позволяющая определять колебательный спектр исследуемого вещества. Спектральный диапазон 100 -5000 см-1, разрешение – порядка 1 см-1, предельное разрешение - 0.3 см-1 Краткое описание услуги: Прецизионное измерение длины волны лазерного излучения. Краткое описание услуги: Спектроскопия Мандельштама-Бриллюэна для конденсированных сред (жидкости, стекла, кристаллы, композиционные материалы, сегнетоэлектрики, растворы), позволяющая бесконтактно определить скорости звука в гигагерцовом диапазоне, рассчитать модули упругости, времена и спектр релаксации. Спектральный диапазон 0.1-1000 ГГц, резкость – 1000, контраст инструментального контура до 1010. Краткое описание услуги: Спектрофлуориметрия жидкостей, твердых тел, порошков. Спектральное разрешение - до 1.5 нм, Спектральный диапазон - 200-900 нм, Временное разрешение - 1 мкс. Краткое описание услуги: Нестационарная терагерцовая спектроскопия, дистанционная диагностика полупроводниковых материалов и структур, в т. ч. систем пониженной размерности, а также биологических объектов, без нарушения их функционирования. Спектральный диапазон, 0,1 – 2,5 ТГц, спектральное разрешение менее 10 ГГц, динамический диапазон более 60 дБ, временное разрешение менее 1 пс. |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 30 ед.):
|
Методика измерения температуры или механических деформаций вдоль оптического волокна с высоким пространственным разрешением
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.12.2019 Методика уникальна: для России
Методика контроля спектрального распределения коэффициентов отражения / пропускания диэлектрических слоев при вакуумном нанесении многослойного покрытия
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика измерений температурной и временной зависимости теплоемкости методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика измерений глубины бинарного микрорельефа дифракционных оптических элементов по спектру отражения света
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика измерения глубины и искажений формы микрорельефа многоуровневых рельефно-фазовых оптических элементов путем анализа профиля синусоидальных тестовых структур
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для всего мира
Методика измерения временных, мощностных и пространственных параметров интенсивности оптического сигнала
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: нет
Методика измерения спектра оптического сигнала волоконных источников
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Измерение спектров поглощения, люминесценции и комбинационного рассеяния света в ближнем и среднем ИК диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика измерения эталонного и сигнального терагерцовых импульсов и определение оптических и диэлектрических характеристик материалов в терагерцовом диапазоне с помощью алгоритмов решения обратной задачи и цифровой коррекции ошибок
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика измерения нелинейных показателей преломления и поглощения методом продольного сканирования (Z-scan) в видимой и ближней ИК области спектра
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика измерения скорости звука в конденсированных средах в гигагерцовом диапазоне частот бесконтактным способом
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Исследование кинетики терагерцовых спектров с субпикосекундным временным разрешением после возбуждения образца импульсами оптического излучения с длинами волн 800 и 400 нм
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.11.2018 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений дефектности и упорядоченности периодических поверхностных структур по анализу их СЭМ и АСМ изображений
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.09.2020 Методика уникальна: для всего мира
Методика выполнения измерений оптических и диэлектрических свойств образцов жидкостей методом импульсной терагерцовой спектроскопии
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерения оптических и диэлектрических свойств тонких пленок в терагерцовом диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений параметров волоконно-оптических ответвителей
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 30.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерений. Определение упругого модуля вещества методом рассеяния Мандельштама - Бриллюэна
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений спектров комбинационного рассеяния света на спектрометре Trivista 777
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений толщины и показателя преломления тонких пленок в видимой и ближней ИК области спектра
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика выполнения оптических измерений с использованием компактного вакуумного криостата
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика определения химического состава микрообразцов по K-, L- эмиссионным спектрам химических элементов
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерений пространственных параметров лазерного пучка матричным профилометром
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерений параметров отклонений формы плоских оптических поверхностей размером до 100 мм с применением интерферометра лазерного ФТИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений параметров волоконно-оптических ответвителей
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерения степени гидратации фосфолипидных мембран методом измерения спектров поглощения в ближнем и среднем ИК диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика выполнения измерений параметров волоконных брэгговских решеток
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика измерений параметров отклонений формы выпуклых сферических поверхностей размером до 90 мм и вогнутых сферических поверхностей до 300 мм с применением интерферометра лазерного ФТИ
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМС Дата аттестации: 25.09.2020 Методика уникальна: для России
Методика проведения калибровки оптического OFDR рефлектометра высокого разрешения OBR 4600
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: нет
Технологическая методика. Формирование микрорельефа на подложках из плавленного кварца с помощью установки плазмохимического реактивно-ионного травления с источником высокоплотной плазмы «ПЛАЗМА ТМ 200-01»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России
Технологическая методика. Сварка семисердцевинных оптических волокон
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ИАиЭ СО РАН Дата аттестации: 10.09.2020 Методика уникальна: для России |
