Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:

Вернуться к списку ЦКП

Государственный инжиниринговый центр

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ГИЦ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2008

Сайт ЦКП: http://ckp-stankin.ru/ru

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 127994, г. Москва, Вадковский пер., д.3а

Руководитель ЦКП:

Контактное лицо:

Сведения о результативности за 2021 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 16Число публикаций, ед.: 29Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 30.61

Краткое описание ЦКП:

Работы по развитию ЦКП ГИЦ осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России по теме: «Развитие центра коллективного пользования научным оборудованием для обеспечения решения приоритетной научной задачи. «Исследование и разработка материалов с принципиально новыми свойствами на основе методов атомно-молекулярного конструирования». Соглашение № 14.593.21.0004 от 04.12.2014 г. Уникальный идентификатор работ (проекта)RFMEFI59314X0004.
Центр предназначен для проведения фундаментальных и прикладных исследований по следующим направлениям:
•    разработки новых твердосмазочных износостойких покрытий на основе наночастиц;
•    технологии механотроники и создания микросистемной техники;
•    нанотехнологии и наноматериалы;
•    технологии обработки полимеров и эластомеров;
•    обработка поверхности (пассивация) при высоких (3000-5000 атм) давлениях;
•    анализ поверхности с помощью методик: атомно-силовой микроскопии высокого разрешения и модуляционной интерференционной лазерной микроскопии;
•    аттестация эталонов и тестовых образцов с помощью атомно-силового микроскопа;
•    исследование механизмов трения и износа новых тонкопленочных покрытий различного функционального назначения (антифрикционных, самосмазывающихся, износо- и корозионно - стойких, (сверх) твердых и пр.), полученных методом лазерного, ионно-плазменного и вакуумно-дугового осаждения;
•    исследование химического состава поверхности методом рамановской спектроскопии образцов халькогенидных покрытий до и после трибометрических испытаний;
•    структурно-фазовые исследования,  зондовые исследования до и после трибоиспытаний;
•    анализ результатов структурно-фазовых исследований покрытий методом комбинационного рассеяния света;
•    исследование свойств поверхности образцов методом флюоресцентной  спектроскопии.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • технологии микрообработки;
  • технологии пластического деформирования, резания материалов;
  • технологии изготовления и контроля режущих инструментов, проектирование, испытание и ремонт металлорежущих станков;
  • гидроабразивная обработка, проектирование и испытание гидравлических и пневматических систем и машин;
  • технологии нанесения покрытий и термообработки;
  • технологии автоматизированного и безлюдного механообрабатывающего производства;
  • аддитивные технологии, технологии быстрого изготовления деталей из пластмасс;
  • технологии обработки концентрированными потоками энергии;
  • технологии промышленной робототехники, мобильной и специальной робототехники, мехатронных модулей и цифровых приводов;
  • технологии производства электронных модулей;
  • технологии изготовления и испытаний изделий из полимерных композиционных материалов;
  • технологии изготовления, испытаний и ремонта прецизионных и высокоскоростных механических узлов;
  • технологии заготовительного производства;
  • технологии многоосевой механообработки;
  • метрология.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Индустрия наносистем
  • Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники
  • Транспортные и космические системы
  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 39 ед., средняя загрузка — 0%):

Измерительная высокоточная станция 1500 TMM (MarPreset)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  1500 TMM
Фирма-изготовитель:  MarPreset
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1

Индикатор электронный цифровой
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Millitast 1083
Фирма-изготовитель:  Millitast
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Интерферометр
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ПИУ-2, Т-2
Фирма-изготовитель:  ПИУ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Инфракрасный Фурье-Спектрометр VERTEX 70 (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  VERTEX 70
Фирма-изготовитель:  Bruker Optik GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Комбинированная установка вакуумного напыления многослойных нанокомпозитных покрытий с контролируемым структурно-фазовым составом
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  π 311
Фирма-изготовитель:  Platit AG
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Швейцария
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс высоковакуумный NTK-USPM-REELS (НТ-МДТ)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  NTK-USPM-REELS
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1

Комплекс для бесконтактного непрерывного сканирования
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GLOBAL Perfomance
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс для контактного непрерывного сканирования GLOBAL Perfomance
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GLOBAL Perfomance
Фирма-изготовитель:  GLOBAL
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Комплекс измерительный автоматизированный
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Scope-Check 200х200х200
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс лазерный 5-ти координатный LASER 600
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  LASER600
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Швейцария
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Контурограф MarSurfXC 20
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  MarSurfXC 20
Фирма-изготовитель:  MarSurf
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Координатно-измерительная машина с ЧПУ GLOBAL 05.05.05
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GLOBAL 05.05.05
Фирма-изготовитель:  GLOBAL
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Италия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерная интерферометрическая измерительная система XL-80 (Renishawplc)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  XL-80
Фирма-изготовитель:  Renishawplc
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Машина измерительная для контроля микроинструмента
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Walter Helicheck Plus
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Машина испытатательная электродинамическая
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Electro Plus E10000
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Машина испытательная гидравлическая универсальная
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  INSTRON 3500KPX
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Швейцария
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Машина испытательная электромеханическая Instron 5989
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Instron 5989
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Машина координатная измерительная мультисенсорная WerthScopeCheck (HELLICHECK PLUS)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  WerthScopeCheck
Фирма-изготовитель:  HELLICHECK PLUS
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Швейцария
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп металлографический Olimpus GX71
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Olimpus GX71
Фирма-изготовитель:  Olimpus
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп настольный сканирующий Phenom G2
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Phenom G2
Фирма-изготовитель:  Phenom
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Нидерланды
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп с видеосистемой Werth ScopeCheck 200
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Werth ScopeCheck 200
Фирма-изготовитель:  Werth
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микротвердомер
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  StereoSCAN T2500 R6113
Фирма-изготовитель:  StereoSCAN
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2011
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Модуль энергодисперсионного анализа поверхности Phenom G2 (Phenom-World)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Phenom G2
Фирма-изготовитель:  Phenom-World
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Нидерланды
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Нанотвердомер M1 Nanovea Mechanical Testing
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Nanovea Mechanical Testing
Фирма-изготовитель:  Nanovea Mechanical Testing
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Оптико-эмиссионный спектрометр с искровым источником возбуждения Q4 TASMAN (Bruker Elemental)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Q4 TASMAN
Фирма-изготовитель:  Bruker Elemental GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Оптико-эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD-Profiler 2 (HORIBA)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GD - Profiler 2
Фирма-изготовитель:  HORIBA (Хориба)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Портативная система стереоскопического измерения (КИМ)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Actiris 350
Фирма-изготовитель:  ActiCM
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Франция
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прецизионный 5-координатный электроэрозионный обрабатывающий центр Seibu S500MG
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  084HEX0052
Фирма-изготовитель:  M2AG
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Прибор для измерения параметров шероховатости и профиля HommelTester T8000 (Hommelwerke)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  HommelTester T8000
Фирма-изготовитель:  Hommelwerke
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Проектор измерительный
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгенофлуоресцентный спектрометр S8 TIGER (Bruker AXS)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  S8 TIGER
Фирма-изготовитель:  Bruker AXS GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2015
Количество единиц:  1

Система водяного охлаждения
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Станок автоматический отрезной с автоподачей Discotom-6 (Stuers)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Discotom-6
Фирма-изготовитель:  Stuers
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Дания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

Станок высокоточный отрезной и шлифовальный Stuers Accutom 50
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Stuers Accutom 50
Фирма-изготовитель:  Stuers
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Дания
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Станок электроэрозионный
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  DRILL20 GF
Фирма-изготовитель:  AgieCharmilles
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка для искрового плазменного спекания
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Центр заточной для инструмента
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Walter Helitronic Micro
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Центр обрабатывающий лазерный 5-ти координатный
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Trulaser Cell 3008 LMD
Фирма-изготовитель:  Trulaser
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Ячейка гибкая производственная
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  CTX beta 1250 TC 4A
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Италия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП (номенклатура — 49 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 50 ед.):

Методика исследования трибологических свойств материалов при работе в условиях повышенных температур
Методика уникальна:  для России

Метод тепловой волны. Термодиагностика в неразрушающем контроле.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ООО "ИРТИС"

Методика автоматизированного выбора методов измерений отклонений ориентации
Дата аттестации:  14.06.2015

Методика выполнения измерений. Амплитудная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ-МДТ»

Методика выполнения измерений. Магнитно - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Метод зонда Кельвина.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Метод модуляции силы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Метод отображения фазы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Микроскопия латеральных сил.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Отображение сопротивления растекания.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Резонансная атомно-силовая микроскопия (полуконтактная, бесконтактная).
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Силовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Силовая микроскопия пьезоотклика.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Силовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Сканирующая емкостная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Сканирующая туннельная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Токовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Туннельная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Фазовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика выполнения измерений. Электростатическая - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ЗАО «НТ - МДТ»

Методика контроля. Призмы поверочные и разметочные с одной призматической выемкой и накладкой. МИ 2029-89
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИизмерения
Дата аттестации:  01.07.1990

Методика определения концентрационных профилей в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий на основе диэлектрических материалов
Дата аттестации:  14.06.2015

Методика по исследованию геометрических параметров субмикронных структур
Дата аттестации:  19.03.2015

Методика по исследованию исходных порошков для получения функциональных композитных материалов, полученных аддитивными технологиями (послойного выращивания)
Дата аттестации:  14.06.2015

методика по материалографическим и металлофизическим исследованиям композитных материалов, изготовленных аддитивными технологиями
Дата аттестации:  09.11.2015

Методика по определению температурных деформаций концевых мер длины в нанометровом диапазоне
Дата аттестации:  19.03.2015

Методика по проведению тепловизионного контроля электрооборудования.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  Ростехнадзор по Смоленской области.

Методика поверки. Головки измерительные пружинные с ценой деления 0,05 и 0,02 мм. МИ 1725-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  01.03.1988

Методика поверки. Индикаторы многооборотные с ценой деления 0,001 и 0,002 мм. МИ 1876-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  11.02.0088

Методика поверки. Машины измерительные портативные Arm2000 SIGMA, Arm2000 OMEGA фирмы "ROMER (Hexagon Metrology), Франция.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  01.08.2006

Методика поверки. Приборы для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20 фирмы «Mahr GmbH», Германия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС»
Дата аттестации:  27.01.2007

Методика поверки. Уровни электронные. МИ 390-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  01.01.1987

Методика поверки.ГСИ. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. МИ 782-85
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  13.03.1985

Методика определения предела чувствительности лазерного фазово-поляризационного микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  08.12.2014

Методика определения химического и фазового состава в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  08.12.2014

Методика комплексной оценки трибологических характеристик экспериментальных материалов с нано-композитными ионно-плазменными покрытиями
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  08.12.2014

Методика нанесения наноструктурных износостойких покрытий на металлорежущий инструмент из режущей керамики
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  08.12.2014

Методика поверки уровень электронный М-050
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМ"
Дата аттестации:  05.12.2008

Методика испытаний прибора МИМ
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  04.05.2012

Методики исследования субмикронных структур в области материаловедения на лазерном микроскопе
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН"
Дата аттестации:  05.12.2012

Методика поверки машина координатно-измерительная портального типа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  27.12.1999

Методика поверки машина измертельные портативные Arm 2000 SIGMA, OMEGA
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  01.09.2006

Методика поверки прибор для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  20.08.2007

Методика поверки координатная измерительная мультисенсорная машина Scope Check.
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  21.12.2009

Методика поверки лазерной координатно-измерительной системы Leica Trancker
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  01.09.2006

Методика испытаний опытного образца лазерного микроскопа МИМ с длинноходовым предметным столом
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ООО "Лаборатория Амфора"
Дата аттестации:  19.10.2011

Методические указания. ГСИ. Меры длины концевые плоскопараллельные. Общие требования к методикам поверки. МИ 1604-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  12.12.1987

МИ 2569-99 «Машины координатно-измерительные портального типа. Методика поверки».
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС"
Дата аттестации:  27.12.1999

Щупы. Методика контроля. МИ 1893-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ВНИИМ им Д.И. Менделеева
Дата аттестации:  01.01.1989

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран