Государственный инжиниринговый центр
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ГИЦ
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2008
Сайт ЦКП: http://ckp-stankin.ru/ru
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2020 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
Работы по развитию ЦКП ГИЦ осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России по теме: «Развитие центра коллективного пользования научным оборудованием для обеспечения решения приоритетной научной задачи. «Исследование и разработка материалов с принципиально новыми свойствами на основе методов атомно-молекулярного конструирования». Соглашение № 14.593.21.0004 от 04.12.2014 г. Уникальный идентификатор работ (проекта)RFMEFI59314X0004. Центр предназначен для проведения фундаментальных и прикладных исследований по следующим направлениям: • разработки новых твердосмазочных износостойких покрытий на основе наночастиц; • технологии механотроники и создания микросистемной техники; • нанотехнологии и наноматериалы; • технологии обработки полимеров и эластомеров; • обработка поверхности (пассивация) при высоких (3000-5000 атм) давлениях; • анализ поверхности с помощью методик: атомно-силовой микроскопии высокого разрешения и модуляционной интерференционной лазерной микроскопии; • аттестация эталонов и тестовых образцов с помощью атомно-силового микроскопа; • исследование механизмов трения и износа новых тонкопленочных покрытий различного функционального назначения (антифрикционных, самосмазывающихся, износо- и корозионно - стойких, (сверх) твердых и пр.), полученных методом лазерного, ионно-плазменного и вакуумно-дугового осаждения; • исследование химического состава поверхности методом рамановской спектроскопии образцов халькогенидных покрытий до и после трибометрических испытаний; • структурно-фазовые исследования, зондовые исследования до и после трибоиспытаний; • анализ результатов структурно-фазовых исследований покрытий методом комбинационного рассеяния света; • исследование свойств поверхности образцов методом флюоресцентной спектроскопии. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:














Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 56 ед., нет данных о загрузке за 2021 год):
Измерительная высокоточная станция 1500 TMM (MarPreset)
Индикатор электронный цифровой
Интерферометр
Инфракрасный Фурье-Спектрометр VERTEX 70 (Bruker)
Комбинированная установка вакуумного напыления многослойных нанокомпозитных покрытий с контролируемым структурно-фазовым составом
Комплекс высоковакуумный NTK-USPM-REELS (НТ-МДТ)
Комплекс для бесконтактного непрерывного сканирования
Комплекс для контактного непрерывного сканирования GLOBAL Perfomance
Комплекс измерительный автоматизированный
Комплекс лазерный 5-ти координатный LASER 600
Комплект аттестованных наборов
Контурограф MarSurfXC 20
Координатно-измерительная машина с ЧПУ GLOBAL 05.05.05
Лазерная интерферометрическая измерительная система XL-80 (Renishawplc)
Машина измерительная для контроля микроинструмента
Машина испытатательная электродинамическая
Машина испытательная гидравлическая универсальная
Машина испытательная электромеханическая Instron 5989
Машина координатная измерительная мультисенсорная WerthScopeCheck (HELLICHECK PLUS)
Микроскоп металлографический Olimpus GX71
Микроскоп настольный сканирующий Phenom G2
Микроскоп с видеосистемой Werth ScopeCheck 200
Микротвердомер
Модуль энергодисперсионного анализа поверхности Phenom G2 (Phenom-World)
Нанотвердомер M1 Nanovea Mechanical Testing
Оптико-эмиссионный спектрометр с искровым источником возбуждения Q4 TASMAN (Bruker Elemental)
Оптико-эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD-Profiler 2 (HORIBA)
Оптическая система измерения деформаций
Портативная система стереоскопического измерения (КИМ)
Прецизионный 5-координатный электроэрозионный обрабатывающий центр Seibu S500MG
Прибор для измерения параметров шероховатости и профиля HommelTester T8000 (Hommelwerke)
Проектор измерительный
Рентгенофлуоресцентный спектрометр S8 TIGER (Bruker AXS)
Система водяного охлаждения
Станок автоматический отрезной с автоподачей Discotom-6 (Stuers)
Станок вертикально-фрезерный
Станок высокоточный отрезной и шлифовальный Stuers Accutom 50
Станок вышлифовачно-заточной пятиосевой
Станок вышлифовочно-заточной
Станок гидравлический плоскошлифовальный
Станок заточной 8-осевой
Станок заточной универсальный
Станок полуавтоматический шлифовально-полировальный
Станок сверлильный с колонной коробчатого сечения
Станок токарный
Станок токарный универсальный
Станок фрезерный
Станок фрезерный
Станок электроэрозионный
Стенд производственно-учебный базовый
Установка для искрового плазменного спекания
Установка рентгенговского контроля печатных плат
Центр заточной для инструмента
Центр обрабатывающий лазерный 5-ти координатный
Щуп
Ячейка гибкая производственная |
Услуги ЦКП (номенклатура — 49 ед.):
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 49 ед.):
Метод тепловой волны. Термодиагностика в неразрушающем контроле.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ООО "ИРТИС"
Методика автоматизированного выбора методов измерений отклонений ориентации
Дата аттестации:
14.06.2015
Методика выполнения измерений. Амплитудная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ-МДТ»
Методика выполнения измерений. Магнитно - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод зонда Кельвина.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод модуляции силы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод отображения фазы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Микроскопия латеральных сил.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Отображение сопротивления растекания.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Резонансная атомно-силовая микроскопия (полуконтактная, бесконтактная).
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая микроскопия пьезоотклика.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Сканирующая емкостная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Сканирующая туннельная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Токовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Туннельная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Фазовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Электростатическая - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика контроля. Призмы поверочные и разметочные с одной призматической выемкой и накладкой. МИ 2029-89
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИизмерения Дата аттестации: 01.07.1990
Методика определения концентрационных профилей в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий на основе диэлектрических материалов
Дата аттестации:
14.06.2015
Методика по исследованию геометрических параметров субмикронных структур
Дата аттестации:
19.03.2015
Методика по исследованию исходных порошков для получения функциональных композитных материалов, полученных аддитивными технологиями (послойного выращивания)
Дата аттестации:
14.06.2015
методика по материалографическим и металлофизическим исследованиям композитных материалов, изготовленных аддитивными технологиями
Дата аттестации:
09.11.2015
Методика по определению температурных деформаций концевых мер длины в нанометровом диапазоне
Дата аттестации:
19.03.2015
Методика по проведению тепловизионного контроля электрооборудования.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Ростехнадзор по Смоленской области.
Методика поверки. Головки измерительные пружинные с ценой деления 0,05 и 0,02 мм. МИ 1725-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.03.1988
Методика поверки. Индикаторы многооборотные с ценой деления 0,001 и 0,002 мм. МИ 1876-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 11.02.0088
Методика поверки. Машины измерительные портативные Arm2000 SIGMA, Arm2000 OMEGA фирмы "ROMER (Hexagon Metrology), Франция.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.08.2006
Методика поверки. Приборы для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20 фирмы «Mahr GmbH», Германия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» Дата аттестации: 27.01.2007
Методика поверки. Уровни электронные. МИ 390-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.01.1987
Методика поверки.ГСИ. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. МИ 782-85
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 13.03.1985
Методика определения предела чувствительности лазерного фазово-поляризационного микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика определения химического и фазового состава в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика комплексной оценки трибологических характеристик экспериментальных материалов с нано-композитными ионно-плазменными покрытиями
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика нанесения наноструктурных износостойких покрытий на металлорежущий инструмент из режущей керамики
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика поверки уровень электронный М-050
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМ" Дата аттестации: 05.12.2008
Методика испытаний прибора МИМ
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 04.05.2012
Методики исследования субмикронных структур в области материаловедения на лазерном микроскопе
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 05.12.2012
Методика поверки машина координатно-измерительная портального типа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 27.12.1999
Методика поверки машина измертельные портативные Arm 2000 SIGMA, OMEGA
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.09.2006
Методика поверки прибор для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 20.08.2007
Методика поверки координатная измерительная мультисенсорная машина Scope Check.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 21.12.2009
Методика поверки лазерной координатно-измерительной системы Leica Trancker
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.09.2006
Методика испытаний опытного образца лазерного микроскопа МИМ с длинноходовым предметным столом
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ООО "Лаборатория Амфора" Дата аттестации: 19.10.2011
Методические указания. ГСИ. Меры длины концевые плоскопараллельные. Общие требования к методикам поверки. МИ 1604-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 12.12.1987
МИ 2569-99 «Машины координатно-измерительные портального типа. Методика поверки».
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 27.12.1999
Щупы. Методика контроля. МИ 1893-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.01.1989 |