Государственный инжиниринговый центр
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ГИЦ
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2008
Сайт ЦКП: http://ckp-stankin.ru/ru
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2019 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
|
Работы по развитию ЦКП ГИЦ осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России по теме: «Развитие центра коллективного пользования научным оборудованием для обеспечения решения приоритетной научной задачи. «Исследование и разработка материалов с принципиально новыми свойствами на основе методов атомно-молекулярного конструирования». Соглашение № 14.593.21.0004 от 04.12.2014 г. Уникальный идентификатор работ (проекта)RFMEFI59314X0004. Центр предназначен для проведения фундаментальных и прикладных исследований по следующим направлениям: • разработки новых твердосмазочных износостойких покрытий на основе наночастиц; • технологии механотроники и создания микросистемной техники; • нанотехнологии и наноматериалы; • технологии обработки полимеров и эластомеров; • обработка поверхности (пассивация) при высоких (3000-5000 атм) давлениях; • анализ поверхности с помощью методик: атомно-силовой микроскопии высокого разрешения и модуляционной интерференционной лазерной микроскопии; • аттестация эталонов и тестовых образцов с помощью атомно-силового микроскопа; • исследование механизмов трения и износа новых тонкопленочных покрытий различного функционального назначения (антифрикционных, самосмазывающихся, износо- и корозионно - стойких, (сверх) твердых и пр.), полученных методом лазерного, ионно-плазменного и вакуумно-дугового осаждения; • исследование химического состава поверхности методом рамановской спектроскопии образцов халькогенидных покрытий до и после трибометрических испытаний; • структурно-фазовые исследования, зондовые исследования до и после трибоиспытаний; • анализ результатов структурно-фазовых исследований покрытий методом комбинационного рассеяния света; • исследование свойств поверхности образцов методом флюоресцентной спектроскопии. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 88 ед., нет данных о загрузке за 2020 год):
|
Автоколлиматор электронный
Автомат плазменной резки
Виброметр лазерный сканирующий PAV-400-3D (Polytec)
Высотомер
Гониометр
Дифрактометр рентгеновский Empyrean (PANanylitical)
Измерительная высокоточная станция 1500 TMM (MarPreset)
Индикатор электронный цифровой
Интерферометр
Инфракрасный Фурье-Спектрометр VERTEX 70 (Bruker)
Климатическая камера MHU-225CLSA (TERCHY)
Комбинированная установка вакуумного напыления многослойных нанокомпозитных покрытий с контролируемым структурно-фазовым составом
Комплекс высоковакуумный NTK-USPM-REELS (НТ-МДТ)
Комплекс для бесконтактного непрерывного сканирования
Комплекс для контактного непрерывного сканирования GLOBAL Perfomance
Комплекс измерительный автоматизированный
Комплекс лазерный 5-ти координатный LASER 600
Комплект аттестованных наборов
Контурограф MarSurfXC 20
Координатно-измерительная машина OGP SMARTSCOPE
Координатно-измерительная машина с ЧПУ GLOBAL 05.05.05
Копер маятниковый MPX (INSTRON)
Кругломер
Лазерная интерферометрическая измерительная система XL-80 (Renishawplc)
Машина измерительная для контроля микроинструмента
Машина испытатательная электродинамическая
Машина испытательная гидравлическая универсальная
Машина испытательная электромеханическая Instron 5989
Машина координатная измерительная мультисенсорная WerthScopeCheck (HELLICHECK PLUS)
Машина координатная измерительная портативная PRISMO Navigator - MASS - 9/12/ 7 S-ACC (HELLICHECK PLUS)
Микроскоп металлографический Olimpus GX71
Микроскоп настольный сканирующий Phenom G2
Микроскоп с видеосистемой Werth ScopeCheck 200
Микротвердомер
Модуль энергодисперсионного анализа поверхности Phenom G2 (Phenom-World)
Нанотвердомер M1 Nanovea Mechanical Testing
Оптико-эмиссионный спектрометр с искровым источником возбуждения Q4 TASMAN (Bruker Elemental)
Оптико-эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD-Profiler 2 (HORIBA)
Оптическая система измерения деформаций
Оснастка к измерительной машине для контроля микроинструмента
Портальная установка с системой линейных приводов VNITER
Портативная система стереоскопического измерения (КИМ)
Пресс автоматический для горячей запрессовки
Пресс гидравлический
Прецизионный электроэрозионный копировально-прошивочный обрабатывающий центр
Преционный 5-координатный электроэрозионный обрабатывающий центр
Прибор для измерения параметров шероховатости и профиля HommelTester T8000 (Hommelwerke)
Проектор измерительный
Профилограф-контурограф
Рентгенофлуоресцентный спектрометр S8 TIGER (Bruker AXS)
Система водяного охлаждения
Станок автоматический отрезной с автоподачей Discotom-6 (Stuers)
Станок вертикально-фрезерный
Станок высокоточный отрезной и шлифовальный Stuers Accutom 50
Станок вышлифовачно-заточной пятиосевой
Станок вышлифовочно-заточной
Станок гидравлический плоскошлифовальный
Станок для шлифования
Станок заточной 8-осевой
Станок заточной универсальный
Станок копировально-прошивочный
Станок круглошлифовальный
Станок ленточнопильный автоматический
Станок ножовочно-отрезной
Станок полуавтоматический шлифовально-полировальный
Станок сверлильный с колонной коробчатого сечения
Станок токарно-винторезный
Станок токарный
Станок токарный
Станок токарный универсальный
Станок универсальный круглошлифовальный
Станок фрезерный
Станок фрезерный
Станок фрезерный 3-х координатный
Станок электроэрозионный
Стенд производственно-учебный базовый
Токарный обрабатывающий центр
Токарный обрабатывающий центр
Установка для искрового плазменного спекания
Установка для контроля качества соединений по типу БВ-7805 в сборе (комплект)
Установка для селективного электронно-лучевого плавления
Установка рентгенговского контроля печатных плат
Фрезерный обрабатывающий центр
Фрезерный обрабатывающий центр
Центр заточной для инструмента
Центр обрабатывающий лазерный 5-ти координатный
Щуп
Ячейка гибкая производственная |
Услуги ЦКП (номенклатура — 49 ед.):
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 49 ед.):
|
Метод тепловой волны. Термодиагностика в неразрушающем контроле.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ООО "ИРТИС"
Методика автоматизированного выбора методов измерений отклонений ориентации
Дата аттестации:
14.06.2015
Методика выполнения измерений. Амплитудная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ-МДТ»
Методика выполнения измерений. Магнитно - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод зонда Кельвина.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод модуляции силы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Метод отображения фазы.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Микроскопия латеральных сил.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Отображение сопротивления растекания.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Резонансная атомно-силовая микроскопия (полуконтактная, бесконтактная).
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая микроскопия пьезоотклика.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Силовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Сканирующая емкостная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Сканирующая туннельная микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Токовая литография.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Туннельная спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Фазовая спектроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика выполнения измерений. Электростатическая - силовая микроскопия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ЗАО «НТ - МДТ»
Методика контроля. Призмы поверочные и разметочные с одной призматической выемкой и накладкой. МИ 2029-89
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИизмерения Дата аттестации: 01.07.1990
Методика определения концентрационных профилей в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий на основе диэлектрических материалов
Дата аттестации:
14.06.2015
Методика по исследованию геометрических параметров субмикронных структур
Дата аттестации:
19.03.2015
Методика по исследованию исходных порошков для получения функциональных композитных материалов, полученных аддитивными технологиями (послойного выращивания)
Дата аттестации:
14.06.2015
методика по материалографическим и металлофизическим исследованиям композитных материалов, изготовленных аддитивными технологиями
Дата аттестации:
09.11.2015
Методика по определению температурных деформаций концевых мер длины в нанометровом диапазоне
Дата аттестации:
19.03.2015
Методика по проведению тепловизионного контроля электрооборудования.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Ростехнадзор по Смоленской области.
Методика поверки. Головки измерительные пружинные с ценой деления 0,05 и 0,02 мм. МИ 1725-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.03.1988
Методика поверки. Индикаторы многооборотные с ценой деления 0,001 и 0,002 мм. МИ 1876-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 11.02.0088
Методика поверки. Машины измерительные портативные Arm2000 SIGMA, Arm2000 OMEGA фирмы "ROMER (Hexagon Metrology), Франция.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.08.2006
Методика поверки. Приборы для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20 фирмы «Mahr GmbH», Германия.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» Дата аттестации: 27.01.2007
Методика поверки. Уровни электронные. МИ 390-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.01.1987
Методика поверки.ГСИ. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. МИ 782-85
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 13.03.1985
Методика определения предела чувствительности лазерного фазово-поляризационного микроскопа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика определения химического и фазового состава в наноразмерных слоях многослойных нанокомпозитных покрытий
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика комплексной оценки трибологических характеристик экспериментальных материалов с нано-композитными ионно-плазменными покрытиями
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика нанесения наноструктурных износостойких покрытий на металлорежущий инструмент из режущей керамики
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 08.12.2014
Методика поверки уровень электронный М-050
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМ" Дата аттестации: 05.12.2008
Методика испытаний прибора МИМ
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 04.05.2012
Методики исследования субмикронных структур в области материаловедения на лазерном микроскопе
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГБОУ ВПО МГТУ "СТАНКИН" Дата аттестации: 05.12.2012
Методика поверки машина координатно-измерительная портального типа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 27.12.1999
Методика поверки машина измертельные портативные Arm 2000 SIGMA, OMEGA
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.09.2006
Методика поверки прибор для измерений шероховатости поверхности MarSurf XCR 20
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 20.08.2007
Методика поверки координатная измерительная мультисенсорная машина Scope Check.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 21.12.2009
Методика поверки лазерной координатно-измерительной системы Leica Trancker
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 01.09.2006
Методика испытаний опытного образца лазерного микроскопа МИМ с длинноходовым предметным столом
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ООО "Лаборатория Амфора" Дата аттестации: 19.10.2011
Методические указания. ГСИ. Меры длины концевые плоскопараллельные. Общие требования к методикам поверки. МИ 1604-87
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 12.12.1987
МИ 2569-99 «Машины координатно-измерительные портального типа. Методика поверки».
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГЦИ СИ ФГУП "ВНИИМС" Дата аттестации: 27.12.1999
Щупы. Методика контроля. МИ 1893-88
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ВНИИМ им Д.И. Менделеева Дата аттестации: 01.01.1989 |
