Научно-исследовательский центр коллективного пользования «Материаловедение и металлургия»
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП Материаловедение и металлургия
Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 1998
Сайт ЦКП: http://www.centremisis.ru/
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2021 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
| ЦКП "Материаловедение и металлургия" - центр материаловедческого профиля. В центре проводится изучение состава, структуры и свойств твердых тел. Центр располагает уникальным комплексом аналитического и технологического оборудования и высококвалифицированными специалистами. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 13 ед., нет данных о загрузке за 2022 год):
|
Анализатор температуропроводности LFA 457 MicroFlash (Netzsch)
Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 404C Pegasus (Netzsch)
Комплекс оборудования для напыления тонких пленок Sunpla 40TM (установка магнетронного напыления)
Комплекс оборудования ТеТеМ для послеростовой подготовки поверхности (фемтосекундная система; установка плазмохимической обработки)
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System (Bede Scientific Instruments)
Просвечивающий электронный микроскоп с системой приготовления образцов Gatan (прецизионное ионное утонение)
Растровый электронный микроскоп с приставкой для катодолюминесценции
Растровый электронный микроскоп с холодноэмиссионной полевой электронной пушкой и приставкой для энергодисперсионного микроанализа JED-2300F (Jeol)
Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser, Bruker AXS
Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research)
Сканирующий ионный микроскоп Strata 201 с микроманипулятором для подготовки мембран для просвечивающего микроскопа
Спектрометр сканирующий фотоэлектронный PHI VersaProbe II 5000 (Physical Electronics) с системой анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов в интервале температур.
Электроэрозионный проволочно-вырезной станок DK7735 с ЧПУ и стойкой управления |
Услуги ЦКП (номенклатура — 23 ед.):
|
Краткое описание услуги: Локальное ионное травление поверхности образцов и ионностимулированное осаждение металлических и диэлектрических покрытий Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Локальное ионное травление поверхности образцов и подготовка образцов для исследования поперечного сечения методом электронной микроскопии высокого разрешения. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Локальное ионное травление поверхности образцов и ионностимулированное осаждение металлических и диэлектрических покрытий, приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследование поверхности твердых тел; высоковольтная микроскопия пьезоотклика (HV-PFM); исследование пробоя диэлектриков; сканирование в жидкости; сканирование мягких образцов (полимерных пленок, биомолекул и др.); получение топографии и механических свойств поверхности; распределение поверхностного потенциала и работы выхода Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Напыление металлических, диэлектрических и полупроводниковых материалов как простых веществ, так и сложных соединений Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение тепловых эффектов, температуры фазовых переходов и теплоемкости Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение теплопроводности и температуропроводности твердых материалов методом лазерной вспышки. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: структурная модификация материала, ассистирование процесса роста тонких пленок методом высокочастотного магнетронного распыления Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Анализ текстуры Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследование тонкопленочных (в том числе многослойных) структур. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение структурных параметров наночастиц в тонких слоях Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Оценка структурного совершенства кристаллов Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Фазовый анализ Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение химического состояния, валентности, химических связей в приповерхностных слоях твердых тел Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Определение фазового состава приповерхностных слоев твердых тел Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Полуколичественный и качественный элементный анализ поверхности твердых тел Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Послойный анализ (распределение примесей по глубине) и определение толщины покрытия Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Изучение элементного, фазового состава и морфологии поверхности (в/в РЭМ) с помощью высоковакуумного растрового электронного микроскопа. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследование элементного состава и морфологии поверхности с помощью низковакуумного растрового электронного микроскопа. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследование межфазных и межзеренных границ. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение размера формы частиц, в том числе наночастиц. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение толщины пленок и сплошности покрытий Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Определение толщины пленок и сплошности покрытий. Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 19 ед.):
|
Методика анализа структур термоэлектрических материалов по уширению дифракционных линий
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 12.12.2007 Методика уникальна: для всего мира
Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры наноматериалов и определения фазового состава.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 10.06.2011 Методика уникальна: для всего мира
Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Определение толщины и концентрации Ge в гетероэпитаксиальной системе Si1-xGex/Si.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 29.09.2010 Методика уникальна: для всего мира
Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Фазовый анализ порошковых поликристаллических наноматериалов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 23.09.2010 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерений молярных долей компонентов углерода с SP2 и SP3 -типом гибридизации.Метод количественного разделения SP2 и SP3 связанных атомов углерода в углеродных материалах со смешанным типом связей.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 09.04.2010 Методика уникальна: для всего мира
Методика выполнения измерений теплопроводности термоэлектрических материалов.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 15.06.2008 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерения химического состава оксидных наноразмерных структур.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 14.05.2010 Методика уникальна: для всего мира
Методика изготовления микроманипуляторов на основе материалов с ЭПФ различных конфигураций.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 03.12.2009 Методика уникальна: для всего мира
Методика калибровки рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 08.04.2012 Методика уникальна: нет
Методика контроля анизотропии свойств с помощью анализа текстуры
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 12.12.2007 Методика уникальна: нет
Методика контроля однородности состава термоэлектрических материалов по параметру решетки с помощью рентгеновского дифрактометра
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 12.12.2007 Методика уникальна: для всего мира
Методика определения линейных размеров объектов методом растровой электронной микроскопии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 14.09.2006 Методика уникальна: нет
Методика определения химического состава катализатора в нанопористых каталитических мембранных материалах методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 14.09.2006 Методика уникальна: для всего мира
Методика определения элементного состава с помощью функции цифрового картирования элементов
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 14.09.2006 Методика уникальна: нет
Методика оценки микронеоднородности состава по расщеплению Ka дублета дифракционных линий
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 24.07.2008 Методика уникальна: для всего мира
Методика приготовления образцов ZrO2, легированных Y2O3 для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 19.03.2010 Методика уникальна: для всего мира
Методика приготовления образцов методом скола при низких температурах.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
МИСиС Дата аттестации: 14.09.2006 Методика уникальна: нет
Методика определения фазового состава образца в локальных областях по дифракционной картине на просвечивающем электронном микроскопе
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИТУ "МИСиС" Дата аттестации: 16.06.2013 Методика уникальна: нет
Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры термоэлектрических материалов на просвечивающем электронном микроскопе
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИТУ "МИСиС" Дата аттестации: 18.03.2013 Методика уникальна: нет |
