Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:

Вернуться к списку ЦКП

Центр коллективного пользования приборами и оборудованием «Высокие технологии и аналитика наносистем НГУ»

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ВТАН НГУ

Базовая организация: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Новосибирский национальный исследовательский государственный университет»

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2010

Сайт ЦКП: https://www.nsu.ru/n/research/divisions/physics/ckp/2774978/

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Сибирский
  • Регион: Новосибирская область
  • 630090, г. Новосибирск, ул. Пирогова, д. 2

Руководитель ЦКП:

  • Асеев Александр Леонидович, доктор физико-математических наук, профессор, академик РАН
  • +7 (383) 3634425
  • nsm@nsm.nsu.ru

Контактное лицо:

  • Гейдт Павел Викторович, ученая степень, полученная в иностранном государстве
  • +7 (383) 3634425
  • p.geydt@nsu.ru

Сведения о результативности за 2021 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: нетЧисло организаций-пользователей, ед.: 0Число публикаций, ед.: 0Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 0.00

Краткое описание ЦКП:

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Высокие технологии и аналитика наносистем» (ЦКП ВТАН) представляет собой научно-организационную структуру, которая обеспечивает проведение научных исследований и оказание услуг в интересах заинтересованных пользователей (юридических и физических лиц) на основе интеллектуального потенциала высококвалифицированных научно-инженерных кадров, использующих современное технологическое и аналитическое оборудование и уникальные приборы.

Основными задачами центра являются:

реализация научных, научно-технических и инженерно-технологических проектов, а также выполнение инженерно-конструкторских и технологических работ;
оказание услуг по широкому спектру аналитических и технологических исследований, по высокотехнологичным процессам и операциям;
подготовка высококвалифицированных научных и инженерных кадров благодаря участию студентов, магистрантов и аспирантов в фундаментальных научных и инженерно-технологических исследованиях;
повышение квалификации научных и инженерных кадров, проходящих стажировку в центре.
Организация взаимодействия с возможными клиентами осуществляется на основе утвержденного каталога услуг, предоставляемых с использованием имеющегося в центре оборудования, и типового договора на оказание этих услуг.

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • проведение исследований структурных, оптических, электрофизических и механических свойств материалов в наноразмерном масштабе и реализация технологических операций на основе молекулярной и атомарной сборки;
  • выполнение научных, научно-технических и инженерно-технологических проектов, а также конкретных инженерно-конструкторских и технологических работ;
  • подготовка высококвалифицированных научных и инженерных кадров во время участия студентов, магистрантов и аспирантов в выполнении фундаментальных научных и инженерно-технологических исследований;
  • повышение квалификации научных и инженерных кадров в ходе пребывания на стажировке в ЦКП ВТАН НГУ.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

    Индустрия наносистем

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 30 ед., средняя загрузка — 0%):

Автоматизированный микроскоп-интерферометр Ломо МИИ-4М-USB (Реверс)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  МИИ-4М-USB
Фирма-изготовитель:  ООО "Реверс"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Dimension Icon
Фирма-изготовитель:  Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Вакуумный лазерный эллипсометр КАТАКОН
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЗАО "КАТАКОН"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Газовый хроматомасс-спектрометр GCMS-QP2010NC Plus (Shimadzu)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GCMS-QP2010NC Plus
Фирма-изготовитель:  Shimadzu (Шимадзу)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1

ИК-Фурье спектрометр ФТ-801 (СИМЕКС)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ФТ-801
Фирма-изготовитель:  ООО НПФ "СИМЕКС"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Интерферометр Физо ESDI Intellium "Z100"
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Intellium Z100
Фирма-изготовитель:  ESDI
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Инфракрасная печь для высокотемпературного отжига образцов
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Mila-5000
Фирма-изготовитель:  Ulvac-Riko
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Квазиоптический субтерагерцовый ЛОВ-спектрометр (КДП)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ОАО КДП
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс мощных СВЧ генераторов: гиротрон (24 ГГц), магнетрон (2,45 ГГц)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИПФ РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс оборудования для лаборатории микроволновых воздействий (Микроволновая система Discover S-Class, Микроволновая система Explorer 48, Микроволновая система MARS XPRESS, Микроволновая система Voyager Stop Flow (CEM))
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Discover S-Class, Explorer 48, MARS XPRESS, Voyager Stop Flow
Фирма-изготовитель:  CEM GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплект микроэллипсометрический (в составе сканирующий лазерный эллипсометр)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЗАО "КАТАКОН"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Комплект оборудования лаборатории многослойных структур (Установка плазмохимического травления кремния, Установка совмещения и экспонирования ЭМ-5026М1, Центрифуга, Шкаф вытяжной, Микроскоп МИКРО 200Т-01)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ПХТ-150
Фирма-изготовитель:  ОАО "НИИТМ"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Малогабаритный Спектрометр "Колибри-Lum" (диапазон 310-1100 нм)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Колибри-Lum
Фирма-изготовитель:  ВМК-Оптоэлектроника
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Микроскоп-спектрофотометр ЛОМО "МСФУ-К"
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  МСФУ-К
Фирма-изготовитель:  ОАО "ЛОМО" г. Санкт-Петербург
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Многоцелевой имплантер ионов кислорода и водорода
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEOL "JEM-2200FS-CS"
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  JEM-2200FS-CS
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Libra 120
Фирма-изготовитель:  Zeiss
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Растровый электронный сканирующий микроскоп JCM-5700 "CarryScope"Jeol с энергодисперсионной приставкой
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  JCM-5700
Фирма-изготовитель:  JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский малоугловой дифрактометр Hecus S3-MICRO
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  S3-MICRO
Фирма-изготовитель:  Hecus
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Австрия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Рентгеновский порошковый дифрактометр Thermo Fisher Scientific ARL X’TRA
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ARL X'TRA
Фирма-изготовитель:  Thermo Fisher Scientific
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Система для измерения вольтамперных и емкостных характеристик (Установка измерительная электронная для измерения статических и высокочастотных емкостных характеристик и Установка измерительная электронная для слаботочных измерений вольт-амперных характери
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  E4980A Precision LCR Meter
Фирма-изготовитель:  Agilent Technologies
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий зондовый микроскоп (АСМ/СТМ-комбинированный) "SOLVER NEXT" (NT-MDT)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  SOLVER NEXT
Фирма-изготовитель:  ЗАО НТ-МДТ (ЗАО Нанотехнология МДТ, Инструменты нанотехнологий, Нанотехнология Санкт-Петербург, NT-MDT)
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектральный эллипсометр быстродействующий КАТАКОН
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ЗАО "КАТАКОН"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрометр комбинированного рассеивания света (KPC) T64000 (HORIBA JOBIN YVON)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  T64000
Фирма-изготовитель:  HORIBA
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Спектрофотометр ЛОМО "СФ-56"
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  СФ-56
Фирма-изготовитель:  ОАО "ЛОМО" г. Санкт-Петербург
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Субтерагерцовый источник излучения Terasense 140 ГГц
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  Terasense Group Inc
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2021
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

ТГц детектор SLT Sensor und Lasertechnick THZ-30
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  SLT SENSOR- UND LASERTECHNIK
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2020
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка для молекулярно-лучевой эпитаксии, оснащенная сверхвысоковакуумным сканирующим туннельным микроскопом с изменяемой температурой образца VT STM (Scienta Omicron)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  STM VT
Фирма-изготовитель:  CEO Omicron NanoTechnology GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка для нанесения алмазоподобных и нанокомпозитных покрытий
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  -
Фирма-изготовитель:  ИЯФ СО РАН
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Электронный литограф-электронный микроскоп (комбинированная нанофабрика) Raith "Pioneer"
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Pioneer
Фирма-изготовитель:  Raith
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП (номенклатура — 0 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию
Нет данных.

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 20 ед.):

Пробоподготовка поперечных сколов твердотельных образцов для JEM-2200-FS-CS
Методика уникальна:  нет

Оптическая микроскопия с высокими увеличениями на Axiostar Plus (Zeiss)
Методика уникальна:  нет

Растровая электронная микроскопия электропроводящих неорганических объектов на JCM-5700 CarryScope (JEOL)
Методика уникальна:  нет

Изучение спектров плотности мощности шероховатости из данных АСМ-топографии
Методика уникальна:  нет

Атомно-силовая микроскопия объектов в режиме пиковой силы на Dimension Icon (Bruker)
Методика уникальна:  нет

Атомно-силовая микроскопия твердых поверхностей в полуконтактном режиме на Солвер-Некст (НТ-МДТ)
Методика уникальна:  нет

Методика получения визуальной картины микро- и нанорельефа поверхности образца с помощью растровой электронной микроскопии
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика получения информации об атомной структуре веществ с помощью высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методики микроволновой обработки (нагрева) материалов с целью модификации их структуры и физических свойств
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика прецизионного измерения вольт-фарадных характеристик
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика прецизионного измерения вольт-амперных характеристик
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика контроля точности изготовления поверхностей оптических деталей и оптических систем
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика измерения микрорельефа поверхностных микроструктур (в том числе дифракционных) и тонких пленок.
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика определения размеров и формы частиц для жидких и твердых дисперсных систем в диапазоне от 1 до 70 нм
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика изучения роста слоёв материалов методом МЛЭ под контролем сверхвысоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика экспонирования образцов электронным пучком для проведения процедуры электронно-лучевой литографии с помощью электронного микроскопа-литографа Pioneer
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика восстановления диэлектрической функции планарных образцов на основе измерений их комплексных коэффициентов пропускания/отражения
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика спектральной и лазерной эллипсометрии
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика регистрации спектров ИК-поглощения
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Методика регистрации спектров комбинационного рассеяния света
Наименование организации, аттестовавшей методику :  нет
Дата аттестации:  01.01.2017
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран