Центр коллективного пользования «Структурная диагностика материалов» ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП "Структурная диагностика материалов" ФНИЦ "КиФ" РАН
Базовая организация: Федеральное государственное учреждение «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2002
Сайт ЦКП: https://kif.ras.ru/ckp/
УНУ в составе оборудования ЦКП:
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2020 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
| ЦКП ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН специализируется на структурной диагностике широкого класса материалов, разрабатывает новые методы и экспериментальные методики. Центр выполняет заказы сторонних организаций по исследованию структуры различных материалов, ведет самостоятельные фундаментальные и прикладные исследования. |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:
Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 32 ед., нет данных о загрузке за 2021 год):
|
Автоматическая установка контроля сопротивления Cresbox
Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Атомно-эмиссионный спектрометр ICap 7400
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой и анализатором обратно рассеянных электронов (EBSD) (FEI)
Зондовая станция SemiProbe LA150DC (Германия, 2020 г.)
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Комплекс механической и ионно-лучевой подготовки проб на базе станка механической обработки твёрдых образцов Leica TXP, Leica Microsystems (Германия, 2020 г.) и установки ионного травления Hitachi IM4000 Plus (Япония, 2020 г.)
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Монокристальный рентгеновский дифрактометр XtaLAB Synergy-DW, Rigaku Oxford Diffraction (Япония - Польша, 2020 г.)
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Оптический спектрометр ближнего и среднего ИК диапазона HRS-500
Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical)
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SuperX детектором
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford)
Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ORBIS PC EDAX (США, 2020 г.)
Ртутный порозиметр Poremaster-33
Система вакуумного термического напыления Angstrom Covap Series
Спектрофотометр Cary 5000 (Varian)
Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4 (NOVOCONTROL)
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии Pfeiffer Vacuum
Установка плазменной обработки Zepto
Флуоресцентный времяразрешающий спектрометр Fluotime 300
Хроматографическая система BUCHI Pure C-815 Flash advanced |
Услуги ЦКП (номенклатура — 21 ед.):
|
Краткое описание услуги: услуга реализуется с помощью нанотвердомера Nanoscan 3D (ТИСНУМ) Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Осуществляется с помощью рентгеновского дифрактометра Smartlab Rigaku Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Измерение размера частиц Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; противодействие техногенным, биогенным, социокультурным, информационным угрозам, терроризму; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Коэффициент поглощения среды и определение размеров частиц в суспензии Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Услуга осуществляется с помощью электронного микроскопа Tecnai G2 SPIRIT (FEI) Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов Краткое описание услуги: Быстрое построение карт распределения элементов в образце методом энергодисперсионного анализа на просвечивающем электронном микроскопе, в том числе с высоким разрешением помощью ПЭМ FEI Tecnai G2 30 ST Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследования методом высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии широкого класса материалов с помощью ПЭМ FEI Osiris Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; противодействие техногенным, биогенным, социокультурным, информационным угрозам, терроризму; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Термогравиметрия и сканирующая калориметрия Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Исследование микро- и нанорельефа, нанообъектов, состава, состав веществ и материалов (аналитический контроль) Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Линейные размеры микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика измерений с помощью растрового электронно-ионного микроскопа Scios Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Исследование линейных размеров микрорельефа померхности Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Измерение диэлектрических характеристик Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; противодействие техногенным, биогенным, социокультурным, информационным угрозам, терроризму; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Измерения на оптическом лазерном конфокальном микроскопе Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Получение и анализ тонких пленок различных полупроводниковых материалов Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Рентгенофазовый экспресс-анализа состава порошков Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения Краткое описание услуги: Дифракционный монокристаллические исследования при различных температурах с помощью дифрактометра XCalibur S Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; экологически чистая и ресурсосберегающая энергетика, глубокая переработка углеводородного сырья, новые источники энергии Краткое описание услуги: Дифракционные исследование порошков Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания Краткое описание услуги: Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа АСМ Solver Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): интеллектуальные транспортные и телекоммуникационные системы, освоение космического и воздушного пространства, Мирового океана, Арктики и Антарктики; персонализированная медицина, высокотехнологичное здравоохранение и технологии здоровьесбережения; цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект Краткое описание услуги: Исследование элементного состава различных материалов на уровне примесей Приоритетные направления Стратегии НТР РФ (п. 20): ответ на большие вызовы с учетом взаимодействия человека и природы, человека и технологий, социальных институтов; экологически чистое агро- и аквахозяйство, защита сельскохозяйственных растений и животных, безопасные продукты питания |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 30 ед.):
|
Линейные размеры микро-рельефа твердотельных материалов. Методика измерений c помощью растрового электронно-ионного микроскопа Scios
Наименование организации, аттестовавшей методику :
АО Научно -исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума Дата аттестации: 01.09.2020 Методика уникальна: для России
Анализатор размера и дзета-потенциала субмикронных частиц Delsa Nano (МК-69-ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 12.12.2014
ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра XPert PRO
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 10.03.2008
ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 09.11.0207
ГСИ. Латеральные и метрические параметры поверхности диэлектрических кристаллов и пленок. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемые в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа FIB Quanta 200 3D
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ОАО НИЦПВ Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 14.07.2006
ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1- 20 нм. Регистрация интенсивностей рефлексов в 3-х мерных электронно-дифракционных картинах в режиме «полого конуса». Методика выполнения измерений с использованием приставки к ПЭМ "Spinning Star"
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-30 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 21.11.2005
ГСИ. Метрические параметры полимерных микрокапсул в водных суспензиях. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Leica TCS SPE
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-16ПВ (свидетельство об аттестации № 16ПВ от 30.11.2004 г.
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИЦПВ Дата аттестации: 30.11.2004
ГСИ. Определение политипов монокристаллов карбида кремния. Методика выполнения измерений с помощьюрентгеновского дифрактометра Xcalibur S c координатным детектором
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 90-490 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружного ренгеновского дифрактометра Xcalibur S
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Размер и частиц в жидкой суспензии. Методика выполнения измерений с помощью автоматического анализатора Delsa Nano
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 01.09.2010
ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus «SAXS System 3»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 17.07.2006
ГСИ. Спектральные показатели ослабления конденсированных сред в диапазоне длин волн 0,2 до 3,3 мкм. Методика выполнения измерений с помощью спектрофотометра Cary5000 фирмы Agilent Technologies
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ГНМЦ ОАО «НИЦПВ» Дата аттестации: 30.11.2004
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности сапфировых подложек. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 10.03.2009
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 21.11.2005
ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью Сканирующей зондовой нанолаборатории "Ntegra Prima"
Наименование организации, аттестовавшей методику :
НИИ ЦПВ Дата аттестации: 14.06.2007
Линейные размеры микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика измерений с помощью растрового электронно-ионного микроскопа Scios
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 11.12.2015
Линейные размеры объектов, межатомные и межплоскостные расстояния кристаллических материалов. Методика измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа FEI Osiris
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 11.12.2015 Методика уникальна: нет
Электрические параметры образцов в различных газовых атмосферах при температурах от 25ºС до 1200ºС. Методика измерений с помощью установки Novotherm-1200 с анализатором импеданса Alpha-AT
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 12.12.2014
Метрические параметры вогнутых сферических поверхностей. Методика измерений с помощью настольного рентгеновского дифрактометра (МВИ - 238/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 11.12.2015
Параметры кристаллической решетки поликристаллических материалов. Методика прецизионных измерений методом внутреннего стандарта с помощью рентгеновского дифрактометра X'PERT PRO
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 06.06.2013
Параметры элементарной ячейки монокристаллов в области температур от 80 до 500 К. Методика измерения с помощью четырехкружного дифрактометра XcaliburS, оснащенного криосистемой Cobra (МВИ – 237/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 29.05.2015
Толщина ультратонких металлических пленок. Методика измерений с помощью растрового электронного микроcкопа методом энергодисперсионного рентгеновского анализа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
АО Научно -исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума Дата аттестации: 01.09.2020 Методика уникальна: для России
Топографические данные и энергодисперсионный рентгеновский микро анализ поверхности на субмикронных масштаб ах. Методика измерений с по мощью растрового электронного микроскопа JEOL JSM - 6000
Наименование организации, аттестовавшей методику :
АО Научно -исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума Дата аттестации: 01.09.2020 Методика уникальна: для России
Параметры кристаллической решетки, межатомные расстояния, параметры атомных смещений кристаллических веществ. Методика измерений c использованием монокристального рентгеновского дифрактометра Xcalibur EOS S2 в диапазонах температур 86-293К и 293-500К
Наименование организации, аттестовавшей методику :
АО Научно -исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума Дата аттестации: 01.09.2020 Методика уникальна: для России
Температуры и теплоты фазовых переходов первого рода. Методика измерений с помощью прибора синхронного термического анализа STA 499 F1 фирмы Netzsch
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ОАО НИЦПВ Дата аттестации: 06.06.2013
Толщины слоев эпитаксиальных структур и тонких пленок на поверхности кристаллических подложек. Методика измерений с помощью рентгеновского дифрактометра SmartLab (МВИ – 236/15 ПВ)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
Открытое акционерное общество Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (ОАО НИЦПВ) Дата аттестации: 29.05.2015 |
