Ваш браузер устарел!

Браузер, которым вы пользуетесь для просмотра этого сайта, устарел и не соответствует современным технологическим стандартам Интернета.

Вы можете установить последнюю версию подходящего браузера, воспользовавшись ссылками ниже:

Вернуться к списку ЦКП

Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов

Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ФГБНУ ТИСНУМ

Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ)

Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России

Год создания ЦКП: 2004

Сайт ЦКП: http://www.tisnum.ru/suec/suec.html

УНУ в составе оборудования ЦКП:

Заказать услуги ЦКП

Контактная информация:

Местонахождение ЦКП:

  • Федеральный округ: Центральный
  • Регион: г. Москва
  • 142190, г. Троицк, ул. Центральная, д. 7а

Руководитель ЦКП:

  • Прохоров Вячеслав Максимович, кандидат физико-математических наук
  • +7 (499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru

Контактное лицо:

  • Прохоров Вячеслав Максимович , кандидат физико-математических наук, доцент
  • +7 (499) 2722314
  • pvm@tisnum.ru

Сведения о результативности за 2021 год (данные ежегодного мониторинга)

Участие в мониторинге: даЧисло организаций-пользователей, ед.: 28Число публикаций, ед.: 16Загрузка в интересах внешних организаций-пользователей, %: 46.15

Краткое описание ЦКП:

ЦКП "Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов" создан в январе 2004 года. Он входит в состав всероссийской сети ЦКП. Как подразделение ФГБНУ ТИСНУМ, головной организации по направлению "Конструкционные наноматериалы" ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы", входит в Национальную нанотехнологическую сеть.
Направления исследований сконцентрированы в области сверхтвердых и углеродных материалов, в том числе наноструктурных. Приоритетно ЦКП обеспечивает доступ к исследовательскому и технологическому оборудованию участникам Федеральных целевых программ и Национальной нанотехнологической сети. Доступ к ресурсам ЦКП осуществляется по "Регламенту доступа к элементам инфраструктуры наноиндустрии в области диагностики веществ и материалов (исследования, испытания, измерения) в режиме ЦКП".

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:

  • Исследования структуры и элементного состава веществ методами электронной микроскопии, оптической спектроскопии и рентгеновской дифракции;
  • Исследования электрических, оптоэлектронных и акустоэлектронных свойств новых сверхтвердых, углеродных, композиционных материалов, разработка и изготовление различных видов сенсоров и активных устройств электроники, опто- и акустоэлектроники на их основе;
  • Комплексные исследования физико-механических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая тонкие пленки и покрытия, алмазы и алмазные порошки;
  • Исследования теплофизических и термоэлектрических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая алмазы и алмазные композиты;
  • Синтез и исследование новых углеродсодержащих материалов при давлениях 3-15 ГПа и температурах 20-2000 С;
  • Осаждение поликристаллических и эпитаксиальных монокристаллических алмазных пленок;
  • Испытания высокопрочных металлов и сплавов, улучшенных композитов, аэрокосмических и автомобильных конструкций, болтов, крепежных деталей и листовой стали.

Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):

  • Энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика
  • Индустрия наносистем

Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):

    цифровые технологии, роботизированные системы, новые материалы, большие данные, машинное обучение, искусственный интеллект

Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 32 ед., нет данных о загрузке за 2022 год):

3D-сканер System Sense Next Gen 3D Systems
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  System Sense Next Gen
Фирма-изготовитель:  3D Systems
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Автоматический анализатор удельной поверхности и пористости
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  NOVAtouch NT 2LX-1
Фирма-изготовитель:  Quantachrome
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Автоматический электрогидравлический пресс для горячей запрессовки образцов. С комплектующими и расходными материалами Mecapress 3 Presi
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Mecapress 3
Фирма-изготовитель:  Presi
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Франция
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Анализатор тепло- и температуропроводности
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  LFA 457/2/G
Фирма-изготовитель:  NETZSCH Group
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Вакуумный Фурье-спектрометр c ИК микроскопом и криостатом от 80К
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  VERTEX 80v/HYPERION 2000
Фирма-изготовитель:  Bruker
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Гомогенизатор ультразвуковой Sonics VCX 750 Sonics & Materials
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Гомогенизатор ультразвуковой Sonics VCX 750
Фирма-изготовитель:  Sonics & Materials
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс для исследования магнитооптических и электрооптических свойств синтет. алмазов и др. широкозонных полупроводниковых материалов в диапазоне температур от 2 до 400 К
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  PPMS EverCool II
Фирма-изготовитель:  Quantum Design
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Комплекс для проведения литографических операций и модификации поверхности алмаза с использованием лазерного излучения
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  VASP
Фирма-изготовитель:  Diamond trading company, PRIMUS, OPTIhot, Green Box
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Австрия
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс испытательного оборудования для исследования электромеханических свойств материалов в различных температурных условиях
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Instron 5965
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2012
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Комплекс термомеханического анализа свойств образцов графитов, углеродных композитов, керамик, металломатричных углеродных композитов
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  NETZSCH TMA 402 FI Hyperion, NETZSCH QMS 403 Aeolos
Фирма-изготовитель:  NETZSCH Group
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Криостат заливной LN-121-SPECTR
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  LN-121-SPECTR
Фирма-изготовитель:  ООО "Криотрейд инжиниринг"
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2020
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерная многоволновая система для возбуждения и регистрации спектров фотолюминесценции и комбинационного рассеяния света в ультрафиолетовом (213 и 266 нм) и фиолетовом (405 нм) спектральных диапазонах
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Impress 213
Фирма-изготовитель:  XITON
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Лазерный комплекс для высокоточной разметки и нагрева образцов аллотропных форм углерода с визуальным и радиометрическим контролем с возможностью исследования фазовых переходов методом рамановской микроскопии
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  RAYMARK-50, A-9836-4875 RENISHAW 405L-21A INTEGRATED OPTICS, VGEN-ISP-POD-30
Фирма-изготовитель:  RAYMARK, RENISHAW, NEWPORT
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Лазерный маркировочно-обрабатывающий центр
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Фирма-изготовитель:  IPG Photonics
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Машина универсальная напольная для электромеханических испытаний
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Instron 5982
Фирма-изготовитель:  Instron
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Микроскоп стереоскопический SZX2-ZB16 Olympus
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  SZX2-ZB16
Фирма-изготовитель:  Olympus
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Оптический профилометр
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  S neox 3D
Фирма-изготовитель:  SENSOFAR
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Испания
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор для ионной полировки (система ионного утонения)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ЕМ-09100IS Ion Slicer
Фирма-изготовитель:  Jeol Ltd.
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2018
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Прибор для определения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека LSR-3 (LINSEIS)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  LSR-3
Фирма-изготовитель:  LINSEIS
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Просвечивающий электронный микроскоп
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  JEM-2010
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2004
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Рамановский спектрометр-микроскоп 0914-20 Renishaw
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  in Via 0914-20 Renishaw
Фирма-изготовитель:  Renishaw
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Великобритания
Год выпуска:  2014
Количество единиц:  7
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Рентгеновский комплекс исследования топографии
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  XRT-100
Фирма-изготовитель:  RIGAKU/Fuji-Film
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Ростовая установка на базе ДО-044 для отраб.техпроцесса синтеза синтетических алмазов
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ДО-044
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Ростовая установка на базе пресса GY850
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GY850
Фирма-изготовитель:  Guilin Guide Superhard Material Co, Ltd.
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Китайская Народная Республика (КНР)
Год выпуска:  2020
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Ростовая установка на базе пресса GY850 с бустерным насосом сверхвысокого давления
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  GY850
Фирма-изготовитель:  Guilin Guide Superhard Material Co., Ltd.
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Китайская Народная Республика (КНР)
Год выпуска:  2020
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Система термического механического анализа вертикальной конструкции TMA 402 F1 Hyperion NETZSCH
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  TMA 402 F1 Hyperion
Фирма-изготовитель:  NETZSCH Group
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Германия
Год выпуска:  2017
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Сканирующий зондовый микроскоп
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  НаноСкан3D(тм)
Фирма-изготовитель:  ФГБНУ ТИСНУМ
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Россия
Год выпуска:  2008
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol)
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  JSM-7600F
Фирма-изготовитель:  JEOL
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Япония
Год выпуска:  2010
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Стенд магнетронного напыления металлов для металлизации и формирования контактов к изделиям
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  ORION
Фирма-изготовитель:  AJA International
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2009
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  нет

УНУ Рентгеновская установка
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Рентгеновская установка
Фирма-изготовитель:  PANalytical, Rigaku, Newport
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Нидерланды
Год выпуска:  2013
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Установка измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  LakeShore 7504
Фирма-изготовитель:  LakeShore Cryotronics
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2007
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  да

Установка прототипирования 3D-принтер Form2 FormLabs
Загрузка прибора: нет данных за 2022 год
Марка:  Form2
Фирма-изготовитель:  FormLabs
Страна происхождения фирмы-изготовителя:  Соединённые Штаты Америки
Год выпуска:  2016
Количество единиц:  1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения:  не указано

Услуги ЦКП (номенклатура — 21 ед.):

Для подачи заявки на оказание услуги щелкните по ее наименованию

Краткое описание услуги:  Измерение механических характеристик материалов. Машина для механических испытаний Instron 5982.

Краткое описание услуги:  Измерение скоростей звука и упругих модулей твердых тел в образцах малых (1-2 мм) размеров

Краткое описание услуги:  Измерение тепловых свойств по изменению массы углеродных материалов при нагреве в вакууме и/или защитной среде

Краткое описание услуги:  Измерение теплопроводности образцов кристаллических материалов

Краткое описание услуги:  Измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик материалов для исследования элементов микро- и наноэлектроники. Измерения ЭДС Холла в магнитном поле до 2 Тесла

Краткое описание услуги:  Измерения нанотвердости и упругости на наноуровне, измерение твердости стандартными методами

Краткое описание услуги:  Измерения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека моно- и поликристаллов в диапазоне температур от комнатной до 800 С

Краткое описание услуги:  Исследование микроструктуры наноматериалов методом просвечивающей микроскопии высокого разрешения

Краткое описание услуги:  Исследование состава наноматериалов методом ИК-спектроскопии и УФ-поглощения

Краткое описание услуги:  Исследование состава наноматериалов методом КР-спектроскопии при комнатной и низких (азотных) температурах

Краткое описание услуги:  Исследование структуры и качественного состава консолидированных наноматериалов методом рентгеновской порошковой дифрактометрии

Краткое описание услуги:  Исследование структуры и химического состава наноматериалов и консолидированных наноматериалов методом сканирующей электронной микроскопии

Краткое описание услуги:  Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением методом сканирующей зондовой микроскопии в сканирующей зондовой лаборатории «Интегра-Прима»

Краткое описание услуги:  Металлизация и формирование контактов к полупроводниковым датчикам с помощью установки магнетронного напыления металлов ORION AJA

Краткое описание услуги:  Определение in situ, в условиях высоких давлений, структуры и сжимаемости материалов методом рентгеновской дифрактометрии

Краткое описание услуги:  Прецизионные измерения фазовой скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Определение упругих модулей

Краткое описание услуги:  Пробоподготовка образцов для металлографических исследований на оборудовании «Struers» c микропроцессорным управлением для электрополировки и травления

Краткое описание услуги:  Исследования топографии монокристаллов алмаза

Краткое описание услуги:  Синтез методом химического газофазного осаждения монокристаллических пленок алмаза.

Краткое описание услуги:  Структурные исследования образцов «in situ» методами КРС и рентгеновской дифракции в сдвиговых аппаратах сверхвысоких давлений до 2,0 Мбар с алмазными наковальнями

Краткое описание услуги:  Термобарическая обработка материалов давлением до 13 ГПа при температурах до 2500 0С

Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 51 ед.):

Измерение концентрации нескомпенсированной примеси бора в монокристалле алмаза
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомере ПМТ-3М
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  03.03.2009
Методика уникальна:  для России

Методика измерений модуля упругости и упругого восстановления
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерений размеров и оценки распределения отдельных составляющих наноструктурированных элементов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерений твердости материалов с твердостью от 0,1 до 80 ГПа
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Методика уникальна:  для России

Методика измерений твердости по восстановленному отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ "НаноСкан-3Д"
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010
Методика уникальна:  для России

Методика определения изгибной жесткости датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения концентрации примеси азота в CVD слое
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения края поглощения в УФ диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λмакс, токовой чувствительности при λмакс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения теплопроводности теплоотвода
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения удельного электрического сопротивления CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика определения эффективного размера острия пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  26.06.2009

Методика выполнения измерений геометрии алмазно-твердосплавных пластин методом оптической профилометрии. Характеризация геометрии алмазно-твердосплавных пластин.
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений геометрии острия алмазных наконечников методом оптической профилометрии. Характеризация формы алмазных наконечников типа Беркович.
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений геометрии острия алмазных наконечников методом оптической профилометрии. Характеризация формы алмазных наконечников типа Виккерс.
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений геометрии параболических плоско-вогнутых алмазных линз. Характеризация формы алмазных линз.
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010

Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  24.06.2010

Методика выполнения измерений концентрации электрически активной легирующей примеси в дрейфовом слое диодной структуры с контактом Шоттки с помощью вольт-фарадных измерений
Методика уникальна:  нет

Методика измерения тока утечки алмазного диода Шоттки при высоких обратных напряжениях
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений фактической кристаллографической ориентации заготовки монохроматора методом Лауэ
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости методом многоциклового индентирования с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости методом царапания с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений модуля упругости отдельных фаз твердых материалов методом инструментального индентирования
Методика уникальна:  нет

Методика выполнения измерений твердости покрытий методом инструментального индентирования
Методика уникальна:  нет

Методика измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения концентрации примеси азота в монокристаллических CVD-слоев на легированных алмазных подложках
Методика уникальна:  нет

Методика измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения плотности дислокаций в легированных бором пластинах алмаза с высокой проводимостью
Методика уникальна:  нет

Методика измерения подвижности носителей заряда в легированных бором пластинах алмаза
Методика уникальна:  нет

Методика измерения толщины покрытия; Определение толщины CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ

Методика измерения удельного электрического сопротивления монокристаллических CVD-слоев на легированных алмазных подложках
Методика уникальна:  нет

Методика измерения шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре
Наименование организации, аттестовавшей методику :  ФГУ ТИСНУМ
Дата аттестации:  27.06.2010

Методика измерения шероховатости с помощью оптического профилометра
Методика уникальна:  нет

Вернуться к списку ЦКП

 

Для просмотра сайта поверните экран