Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов
Сокращенное наименование ЦКП: ЦКП ФГБНУ ТИСНУМ
Базовая организация: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов (ТИСНУМ)
Ведомственная принадлежность: Минобрнауки России
Год создания ЦКП: 2004
Сайт ЦКП: http://www.tisnum.ru/suec/suec.html
УНУ в составе оборудования ЦКП:
Контактная информация:
Местонахождение ЦКП:
|
Руководитель ЦКП:
|
Контактное лицо:
|
Сведения о результативности за 2020 год (данные ежегодного мониторинга)
|
Краткое описание ЦКП:
ЦКП "Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов" создан в январе 2004 года. Он входит в состав всероссийской сети ЦКП. Как подразделение ФГБНУ ТИСНУМ, головной организации по направлению "Конструкционные наноматериалы" ФЦП "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы", входит в Национальную нанотехнологическую сеть. Направления исследований сконцентрированы в области сверхтвердых и углеродных материалов, в том числе наноструктурных. Приоритетно ЦКП обеспечивает доступ к исследовательскому и технологическому оборудованию участникам Федеральных целевых программ и Национальной нанотехнологической сети. Доступ к ресурсам ЦКП осуществляется по "Регламенту доступа к элементам инфраструктуры наноиндустрии в области диагностики веществ и материалов (исследования, испытания, измерения) в режиме ЦКП". |
Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:
|
Приоритетные направления (указ Президента РФ N 899):
|
Приоритетные направления Стратегии НТР (п. 20):
|
Фотографии ЦКП:

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 37 ед., средняя загрузка — 0%):
3D-сканер System Sense Next Gen 3D Systems
Автоматический анализатор удельной поверхности и пористости
Автоматический электрогидравлический пресс для горячей запрессовки образцов. С комплектующими и расходными материалами Mecapress 3 Presi
Анализатор тепло- и температуропроводности
Вакуумный Фурье-спектрометр c ИК микроскопом и криостатом от 80К
Весы лабораторные электронные с приставкой для измерения плотности
Гомогенизатор ультразвуковой Sonics VCX 750 Sonics & Materials
Комплекс для исследования магнитооптических и электрооптических свойств синтет. алмазов и др. широкозонных полупроводниковых материалов в диапазоне температур от 2 до 400 К
Комплекс для оптических спектральных исследований и КРС в диапазоне температур от 5 до 196 К на базе спектрометра TRIAX series
Комплекс для проведения литографических операций и модификации поверхности алмаза с использованием лазерного излучения
Комплекс испытательного оборудования для исследования электромеханических свойств материалов в различных температурных условиях
Комплекс термомеханического анализа свойств образцов графитов, углеродных композитов, керамик, металломатричных углеродных композитов
Лазерная многоволновая система для возбуждения и регистрации спектров фотолюминесценции и комбинационного рассеяния света в ультрафиолетовом (213 и 266 нм) и фиолетовом (405 нм) спектральных диапазонах
Лазерный комплекс для высокоточной разметки и нагрева образцов аллотропных форм углерода с визуальным и радиометрическим контролем с возможностью исследования фазовых переходов методом рамановской микроскопии
Лазерный маркировочно-обрабатывающий центр
Лазерный ультразвуковой дефектоскоп
Машина универсальная напольная для электромеханических испытаний
Микроскоп стереоскопический SZX2-ZB16 Olympus
Низкотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр
Оборудование пробоподготовки. Автоматическое устр-во с микропроцессорным управлением для электрополировки и травления
Оптический профилометр
Перчаточный бокс с дополнительными опциями
Прибор для ионной полировки (система ионного утонения)
Прибор для определения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека LSR-3 (LINSEIS)
Просвечивающий электронный микроскоп
Рамановский спектрометр-микроскоп 0914-20 Renishaw
Рентгеновский комплекс исследования топографии
Ростовая установка на базе ДО-044 для отраб.техпроцесса синтеза синтетических алмазов
Система термического механического анализа вертикальной конструкции TMA 402 F1 Hyperion NETZSCH
Сканирующая зондовая нанолаборатория
Сканирующий зондовый микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol)
Стенд магнетронного напыления металлов для металлизации и формирования контактов к изделиям
УНУ Рентгеновская установка
Установка измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик
Установка прототипирования 3D-принтер Form2 FormLabs
Установка синтеза на базе пресса ДО-138Б/044 |
Услуги ЦКП (номенклатура — 21 ед.):
Краткое описание услуги: Измерение механических характеристик материалов. Машина для механических испытаний Instron 5982. Краткое описание услуги: Измерение скоростей звука и упругих модулей твердых тел в образцах малых (1-2 мм) размеров Краткое описание услуги: Измерение тепловых свойств по изменению массы углеродных материалов при нагреве в вакууме и/или защитной среде Краткое описание услуги: Измерение теплопроводности образцов кристаллических материалов Краткое описание услуги: Измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик материалов для исследования элементов микро- и наноэлектроники. Измерения ЭДС Холла в магнитном поле до 2 Тесла Краткое описание услуги: Измерения нанотвердости и упругости на наноуровне, измерение твердости стандартными методами Краткое описание услуги: Измерения электрического сопротивления и коэффициента Зеебека моно- и поликристаллов в диапазоне температур от комнатной до 800 С Краткое описание услуги: Исследование микроструктуры наноматериалов методом просвечивающей микроскопии высокого разрешения Краткое описание услуги: Исследование состава наноматериалов методом ИК-спектроскопии и УФ-поглощения Краткое описание услуги: Исследование состава наноматериалов методом КР-спектроскопии при комнатной и низких (азотных) температурах Краткое описание услуги: Исследование структуры и качественного состава консолидированных наноматериалов методом рентгеновской порошковой дифрактометрии Краткое описание услуги: Исследование структуры и химического состава наноматериалов и консолидированных наноматериалов методом сканирующей электронной микроскопии Краткое описание услуги: Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением методом сканирующей зондовой микроскопии в сканирующей зондовой лаборатории «Интегра-Прима» Краткое описание услуги: Металлизация и формирование контактов к полупроводниковым датчикам с помощью установки магнетронного напыления металлов ORION AJA Краткое описание услуги: Определение in situ, в условиях высоких давлений, структуры и сжимаемости материалов методом рентгеновской дифрактометрии Краткое описание услуги: Прецизионные измерения фазовой скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Определение упругих модулей Краткое описание услуги: Пробоподготовка образцов для металлографических исследований на оборудовании «Struers» c микропроцессорным управлением для электрополировки и травления Краткое описание услуги: Исследования топографии монокристаллов алмаза Краткое описание услуги: Синтез методом химического газофазного осаждения монокристаллических пленок алмаза. Краткое описание услуги: Структурные исследования образцов «in situ» методами КРС и рентгеновской дифракции в сдвиговых аппаратах сверхвысоких давлений до 2,0 Мбар с алмазными наковальнями Краткое описание услуги: Термобарическая обработка материалов давлением до 13 ГПа при температурах до 2500 0С |
Методики измерений, применяемые в ЦКП (номенклатура — 52 ед.):
Измерение концентрации нескомпенсированной примеси бора в монокристалле алмаза
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомете ПМТ-3М
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 03.03.2009
Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra prima Basic
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 03.03.2009
Методика измерений модуля упругости и упругого восстановления
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений размеров и оценки распределения отдельных составляющих наноструктурированных элементов
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений твердости материалов с твердостью от 0,1 до 80 ГПа
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерений твердости по восстановленому отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ "НаноСкан-3Д"
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 24.06.2010
Методика определения изгибной жесткости датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения концентрации примеси азота в CVD слое
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения края поглощения в УФ диапазоне
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λмакс, токовой чувствительности при λмакс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения теплопроводности теплоотвода
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения удельного электрического сопротивления CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика определения эффективного размера острия пирамиды наноиндентора
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 26.06.2009
Методика выполнения измерений геометрии алмазно-твердосплавных пластин методом оптической профилометрии. Характеризация геометрии алмазно-твердосплавных пластин.
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений геометрии острия алмазных наконечников методом оптической профилометрии. Характеризация формы алмазных наконечников типа Беркович.
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений геометрии острия алмазных наконечников методом оптической профилометрии. Характеризация формы алмазных наконечников типа Виккерс.
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений геометрии параболических плоско-вогнутых алмазных линз. Характеризация формы алмазных линз.
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 24.06.2010
Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 24.06.2010
Методика выполнения измерений концентрации электрически активной легирующей примеси в дрейфовом слое диодной структуры с контактом Шоттки с помощью вольт-фарадных измерений
Методика уникальна:
нет
Методика измерения тока утечки алмазного диода Шоттки при высоких обратных напряжениях
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений фактической кристаллографической ориентации заготовки монохроматора методом Лауэ
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений твердости методом многоциклового индентирования с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений твердости методом царапания с помощью нанотвердомера НаноСкан-4 D
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений модуля упругости отдельных фаз твердых материалов методом инструментального индентирования
Методика уникальна:
нет
Методика выполнения измерений твердости покрытий методом инструментального индентирования
Методика уникальна:
нет
Методика измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерения концентрации примеси азота в монокристаллических CVD-слоев на легированных алмазных подложках
Методика уникальна:
нет
Методика измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерения плотности дислокаций в легированных бором пластинах алмаза с высокой проводимостью
Методика уникальна:
нет
Методика измерения подвижности носителей заряда в легированных бором пластинах алмаза
Методика уникальна:
нет
Методика измерения толщины покрытия; Определение толщины CVD слоя
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ
Методика измерения удельного электрического сопротивления монокристаллических CVD-слоев на легированных алмазных подложках
Методика уникальна:
нет
Методика измерения шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре
Наименование организации, аттестовавшей методику :
ФГУ ТИСНУМ Дата аттестации: 27.06.2010
Методика измерения шероховатости с помощью оптического профилометра
Методика уникальна:
нет |